TW200818149A - Optical disk unit, control method for optical disk unit, and computer readable storage medium - Google Patents

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200818149 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於包括CD-ROM、CD-R、CD-RW驅動 器、DVD 驅動器、Blu-Ray Disc(登錄商標）（Blu-Ray. Disc)驅動器等在內之光碟裝置、其控制方法、及程式。 【先前技術】 近年來，各式各樣之光碟媒體被開發出來，而對應目 的來分別使用。光碟媒體，一般係具有層積配置著複數之 層之構造。亦即，任一光碟媒體之媒體之兩表面皆具備保 護層，以該保護層夾著記錄著信號之資料記錄層而構成。 然而，光碟媒體本身之厚度、從保護層之表面至記錄資料 之層之表面（信號面）爲止之距離、信號面之數（例如，D V D 具有最大2層之信號面）、以及用以從信號面讀取資訊所 使用之雷射光之波長等，有許多不同之参數。 因此，光碟媒體之各種類通常會使用專用之驅動器。 然而，因爲必須針對光碟媒體之各種類購入並設置專用之 驅動器，利用者必須熟悉各驅動器之操作，此外，經濟負 擔也較大。因此，要求能對應複數種類之光碟媒體之驅動 器（光碟裝置）。 爲了對應複數種類之光碟媒體之驅動器，而進行以下 之技術開發，亦即，利用各光碟媒體之種類之讀取資訊所 使用之光源（雷射）之波長不同，使用具有波長選擇特性之 光學元件，改變1個接物鏡之透鏡數値孔徑之技術。 -4- 200818149 以此種驅動器爲目的之光學拾波器1 示，係含有輸出複數波長之雷射光之發光 鏡1 2、光偵測器1 3、以及接物鏡體1 4而1 物鏡體14係含有接物鏡ML及含有繞射光 件14H而構成。 發光元件1 1，例如，係3個輸出相互 射光之半導體雷射元件（所謂3波長雷射）。 長對應於例如 Blu-Ray · Disc 、 VersatileDisk)、以及 CD(Compact Disc)時 Ray .Disc輸出405奈米、針對DVD輸出 對CD輸出780奈米之波長之雷射光之方式 分束鏡1 2係將發光元件1 1所輸出之光 體1 4側。此外，該分束鏡1 2將於光碟媒體 物鏡體1 4輸入之光導引至光偵測器1 3 13，例如，具備配置成ΝχΝ之矩陣狀之 件。此外，該光偵測器1 3以檢測光束口 如，具備柱狀透鏡。藉由分束鏡12進行導 該柱狀透鏡，分別到達複數之受光元件。其 1 3分別輸出複數受光元件分別檢測到之： 號。 接物鏡體14之全相圖元件14Η將介Ε 所導引之媒體反射之雷射光，以針對各波長 値孔徑（ΝΑ)之方式進行繞射，而導引至分 外，接物鏡14L係非球面透鏡，將通過分讳 ，如第 8圖所 件1 1、分束 :成。此外，接 柵之全相圖元 不同波長之雷 此處，3個波 DVD(Digital ，以針對Blu-6 5 0奈米、針 來進行控制。 導引至接物鏡 反射且通過接 側。光偵測器 複數光檢測元 徑爲目的，例 引之光，介由 次，光偵測器 光之強度之信 6接物鏡體1 4 預先決定之數 •束鏡12。此 ί鏡1 2及全相 -5- 200818149 圖元件1 4H而從發光元件1 1導引之雷射光，以於距離因 各波長而不同之特定焦點距離F之位置形成焦點之方式’ 使其進行折射輸出。此外，該接物鏡1 4L實施媒體所反射 之雷射光之集光，並將其導引至全相圖元件14H。 從光偵測器1 3所輸出之信號（RF信號），產生用以表 示相對於光學碟片媒體之記錄面之雷射光之焦點之偏離之 信號（聚焦誤差信號；FE信號）、及到達受光元件之光之 強度之和之信號（引入信號；PI信號）。此外，從該光偵測 器13所輸出之信號，通常也會產生用以表示追縱誤差之 信號（TE信號）等，然而，此處省略其詳細說明。 此處，PI(引入）信號係如第9圖之（a)所示之信號。亦 即，該PI信號於焦點位置具有峰値。此外，FE信號係如 第9圖之（b)所示之信號。亦即，FE(聚焦誤差）信號於對 焦時大致爲「〇」。此外，以對焦位置爲中心，光碟媒體 及接物鏡體1 4之距離產生變動時，於對焦位置零交叉（與 基準位置交叉），與接物鏡體1 4有特定距離時，係分別具 有正負之峰値之信號。 第9圖中，以與光碟媒體有一定距離之位置爲起點， 使光學拾波器1之接物鏡1 4L朝接近光碟媒體表面之方向 移動時之各信號之實例。於光碟媒體表面反射之光，到達 光學拾波器1內之形成焦點之位置時，PI信號如第9圖 之（a)所示，產生表面反射之峰値（S)。光學拾波器1之接 物鏡14L更接近光碟媒體之表面時，表面反射之光於光學 拾波器1之內部會成爲漫射光。將該漫射光視爲僞信號進 -6 - 200818149 行檢測（Fake)。該僞信號並未限制爲一個，有時爲複數。 當光學拾波器1進一步接近碟片面時，則進行信號面之反 射光（T)之檢測。 此外’ FE信號亦相同，如第9圖之（b)所示，於分別 可得到表面反射（S)、僞信號（Fake)、以及信號面之反射光 (T)之位置，檢測到用以表示已成像之信號。 光碟裝置，以使從接物鏡1 4L之平面部P至媒體內部 之信號面爲止之距離成爲上述焦點距離F之方式，亦即， 以聚焦於信號面之方式，控制接物鏡體1 4及媒體表面之 距離，故可對應複數之光碟媒體來讀取信號。此處，是否 對焦，係利用上述FE信號及/或PI信號，例如，FE信號 之絕對値超過第1閾値（FZC1)再低於第2閾値（FZC2)(接 近於「〇」）時，判斷成對焦。此外，亦可將PI信號超過 特定閾値時，判斷成對焦。 此種利用光學拾波器之光碟裝置之實例，如日本特許 29865 87號公報所示。 然而，有些光碟媒體，其信號面會沿著徑向軸方向而 傾斜。此時，從接物鏡至信號面爲止之距離會隨著光碟媒 體之旋轉，而依旋轉之周期進行變動。該現象被稱爲軸向 偏轉（Axial runout) 〇 若發生軸向偏轉，於PI信號及FE信號，有時會重複 發現複數次之僞信號（Fake)，重複出現大致相同程度之峰 値位準之僞信號（Fake)，結果（F2、F3)，有時會難以辨識 真正聚焦之信號面之反射光（T)、及因爲軸向偏轉而出現 200818149 之僞信號（第9圖）。 因此’一般而言，會著眼於信號面之反射光（T)之位 準高於僞信號（Fake)，以實驗方式決定位準高於軸向偏轉 所導致之預先考慮到之僞信號（Fake)之位準之閾値，例 如，可以考慮以下之方法，亦即，於工廠出貨時等，將其 寫入讀取專用記憶體（R0M)來進行設定，將超過該閾値之 信號視爲信號面之反射之方法（第 9圖之虛線所示之 FOK、FZC1)。 然而，因爲裝設之光碟媒體之反射率之誤差及附著於 光學拾波器之污垢、以及溫度等之環境變化，如第1 0圖 所示，光學拾波器所檢測之信號之位準全體較低時，如上 面所述，預先決定閾値F0K、FZC1，而隨時使用固定之 値時，有時信號面之反射光之位準爲該閾値以下時，就難 以於信號面形成聚焦。 【發明內容】 本發明有鑑於上述事實，其目的之一係在提供，不管 光學拾波器之狀態如何，可針對信號面實施聚焦控制之光 碟裝置。 依據本發明，可以提供一種光碟裝置，係用以讀取記 錄於光碟媒體之信號之光碟裝置，具備：選擇地使複數之 相互不同波長當中之其中任一波長之光，通過1個接物鏡 照射於光碟媒體，依據光碟媒體之反射光輸出信號之光學 拾波器；使前述光學拾波器之接物鏡相對於光碟媒體面進 -8 - 200818149 行相對移動之驅動部；受取光碟媒體所反射之光’依據該 受取之光輸出受光信號之信號輸出部；以及藉由前述驅動 部，一邊使前述接物鏡相對於光碟媒體面進行相對移動’ 一邊依據光碟媒體面之表面反射，檢測生成於前述受光信 號之僞信號之峰値位準，比較以該檢測到之峰値位準爲基 準所決定之閾値及前述受光信號，檢測資料記錄層之反射 光之控制部。 【實施方式】 參照圖面，針對本發明之實施形態進行說明。本發明 之實施形態之光碟裝置，如第1圖所示，具備：媒體支持 部21、轉軸馬達22、光學拾波器23、雙軸致動器24、步 進馬達25a、聚焦控制致動器25b、驅動器放大器26、RF 放大器27、伺服信號處理部28、伺服處理控制部29、信 號處理部3 0、以及驅動控制器3 1。 媒體支持部2 1以可旋轉之狀態支持著光碟媒體。此 外，該媒體支持部2 1藉由轉軸馬達2 2所傳達之動力使光 碟媒體進行旋轉。光學拾波器23係與第8圖所示之光學 拾波器相同，此處，可藉由雙軸致動器24而於光碟媒體 之徑向方向、及垂直於光碟媒體之面之方向之2個方向（2 軸）移動。 雙軸致動器24可藉由步進馬達25a而沿著光碟媒體 之徑向方向移動。此外，該雙軸致動器24具備可使光學 拾波器23於垂直於光碟媒體之面之方向移動之致動器（聚 -9- 200818149 焦控制致動器）2 5b。藉此，控制光學拾波器23所含有之 接物鏡體14、及光碟媒體之表面之距離。 驅動器放大器2 6控制步進馬達2 5 a之旋轉量。此 外，該驅動器放大器26依據伺服信號處理部28所輸入之 信號，驅動雙軸致動器24之聚焦控制致動器25b。 RF放大器27受取光學拾波器23所輸出之複數之光 檢測元件之各輸出信號。RF放大器27依據所受取之輸出 信號，產生並輸出受光信號之FE信號及PI信號之至少一 方。 伺服信號處理部28，例如，係利用將伺服信號轉換 成數位信號之A/D轉換器及執行該轉換所得到之數位信 號之處理之 DSP(Digital Signal Processer)來實現。該伺 服信號處理部28檢測RF放大器27所輸出之PI信號之峰 値。 此外，伺服信號處理部28檢測該PI信號是否超過預 先決定之PI信號之閾値（F0K ; Focus 0K)。該伺服信號處 理部28更針對RF放大器27所輸出之FE信號，利用預 先決定之FE信號閾値（FZC ; Focus Zero Cross)執行特定 處理。後面會針對該處理進行詳細說明。伺服信號處理部 28將該等檢測之結果及特定處理之結果輸出至伺服處理 控制部2 9。 伺服信號處理部2 8更依據伺服處理控制部2 9所輸入 之指示，對驅動器放大器26輸出聚焦控制致動器25b之 驅動相關信號。 -10- 200818149 伺服處理控制部2 9係含有例如微電腦、執行模組、 以及記憶元件。該伺服處理控制部29之記憶元件係儲存 著應執行之程式及各種參數之電腦可讀之記錄媒體。此 外，該程式係以儲存於DVD-ROM等其他之電腦可讀之記 錄媒體之狀態來提供’亦可以複製於該記憶元件者。伺服 處理控制部2 9之執行模組係依據儲存於該記憶元件之程 式執行處理。 該伺服處理控制部29受取伺服信號處理部28所輸入 之信號（PI信號之峰値檢測之結果相關信號、及FE信號 相關之處理結果之信號）等。其次，伺服處理控制部29依 據該等受取之信號，執行將光學拾波器23及光碟媒體之 距離設定成對焦於信號面之位置之處理（聚焦控制處理）。 針對該聚焦控制處理，後面會詳細說明。 信號處理部30依據RF放大器27所輸出之信號，實 施記錄於光碟媒體之信號之解調。其次，信號處理部3 0 實施該經過解調之信號之輸出。驅動控制器3 1係連結於 主機之個人電腦、家庭用遊戲機本體、或視頻解碼器等， 對應來自主機之要求，驅動驅動器放大器26，使光學拾 波器23移動至光碟媒體上之期望位置。其次，將信號處 理部3 0所輸出之從記錄於光碟媒體之信號解調而得之信 號，輸出至主機側。 此處，針對利用本實施形態之光碟裝置執行之聚焦控 制處理進行說明。本實施形態時，係藉由伺服處理控制部 29，以軟體方式實現。亦即，伺服處理控制部29之機能 -11 - 200818149 上，如第2圖所示，係含有起始化部41、僞信號檢測部 42、峰値位準運算部43、以及信號層檢測部44而構成。 起始化部4 1係旋轉驅動轉軸馬達22而使光碟媒體進 行旋轉。此外，該起始化部4 1將光學拾波器23放射之光 之波長設定成預先決定之値做爲起始値。此外，起始化部 4 1以使光學拾波器23之接物鏡移動至距離光碟媒體之表 面最遠之位置（起始位置）之方式，驅動聚焦控制致動器 2 5b。其次，起始化部41將光學拾波器23之接物鏡移動 至起始位置後，開始執行使該接物鏡以特定速度朝光碟媒 體之表面移動之控制。 僞信號檢測部42從伺服信號處理部28所輸出之PI 信號或FE信號，檢測表面反射。檢測該表面反射後之最 先出現之僞信號。具體實例如下，該僞信號檢測部42利 用起始化部41開始移動光學拾波器23之接物鏡後之FE 信號，於FE信號最先通過上側峰値而與基準位置交叉（零 交叉）時，判斷成檢測到表面反射。其次，下一次FE信號 通過上側峰値而爲零交叉時，判斷成檢測到最先之僞信號 (Fake)。此外，該僞信號檢測部42具有峰値保存電路， 用以保存之前之峰値。其次，僞信號檢測部42將最先之 僞信號（Fake)判斷成聚焦時，將保存於峰値保存電路之峰 値pbase輸出至峰値位準運算部43。該峰値pbase被當做 檢測信號層時所使用之値之基礎値使用。 此外，該僞信號檢測部42之其他具體實例，亦可以 爲如下所示，亦即，利用起始化部4 1開始光學拾波器23 -12- 200818149 之接物鏡之移動後之pi信號，決定以檢測信號層爲目的 之閾値之基礎峰値Pbase。此時，僞信號檢測部42於PI 信號之値首度成爲峰値時，判斷成檢測到表面反射。其 次，而當下一次之PI信號成爲峰値時，判斷成檢測到最 先之僞信號（Fake)。此外，到目前爲止之峰値檢測，爲了 除去雜訊之影響，設定超過雜訊位準之閾値（雜訊除去閾 値），檢測到超過該雜訊除去閾値之最先之峰値時，視爲 檢測到表面反射，而將下一次檢測到峰値時，視爲檢測到 僞信號（Fake)。此外，該僞信號檢測部42具備峰値保存 電路，用以保存之前之峰値。其次，僞信號檢測部42判 斷聚焦於最先之僞信號（Fake)時，將峰値保存電路所保存 之峰値視爲以檢測信號層爲目的之閾値之基礎峰値 pbase，並輸出至峰値位準運算部43。 僞信號檢測部42之另一其他實例，係利用起始化部 4 1開始實施光學拾波器23之接物鏡之移動後之PI信號 及FE信號之雙方，決定以檢測信號層爲目的之閾値之基 礎之峰値pbase。此時，僞信號檢測部42於PI信號之値 首度成爲峰値時，判斷成檢測到表面反射。該峰値之檢測 時，爲了除去雜訊之影響，設定超過雜訊位準之閾値（雜 訊除去閾値），首度檢測到超過該雜訊除去閾値之峰値 時，視爲檢測到表面反射。 其次，僞信號檢測部42於利用PI信號檢測到表面反 射後，FE信號通過上側峰値而成爲零交叉時，判斷成首 度檢測到僞信號（F a k e)。此外，該僞信號檢測部4 2具備 -13- 200818149 峰値保存電路，利用該峰値保存電路保存先前之FE信號 之峰値。其次，僞信號檢測部42判斷成聚焦於首度之僞 信號（Fake)時，將保存於峰値保存電路之峰値pFE，視爲 以檢測信號層爲目的之閾値之基礎之峰値pbase，並輸出 至峰値位準運算部43。 此外，即使僞信號檢測部42檢測到FE信號之峰値 pFE時，一倂進行檢測到表面反射後之下一次之PI信號 之峰値（僞信號（Fake)檢測時之峰値）PPI之檢測，將該FE 信號之峰値pFE視爲pbase進行輸出，而且，也一倂將該 pPI輸出至峰値位準運算部43，並應用於信號層檢測。 峰値位準運算部43受取僞信號檢測部42所輸入之峰 値pbase。峰値位準運算部43將此處所受取之峰値pbase 當做以檢測信號層爲目的之閾値之基礎値來使用。亦即， 峰値位準運算部43依據該峰値pbase決定閾値，並將該 決定之閾値輸出至信號層檢測部44。此處之閾値亦可以 爲峰値pbase本身，僞信號檢測部42亦可考慮峰値之檢 測誤差，而針對峰値pbase將位準提高一定之比例（例 如，5 至 10%)(pbasexl.05 至 pbasexl.l)。此外，如前面 之說明所示，利用FE信號實施信號層之檢測時，使用第 1、第 2 閾値 FZC1、FZC2(|FZC1|>|FZC2|)，而成爲 FE 信 號之絕對値超過第1閾値（FZC1)之峰値，在FE信號之絕 對値小於第2閾値（FZC2)時，判斷成已對焦。因此，僞信 號檢測部42將FE信號之僞信號之峰値pFE視爲其基礎 之値pbase輸出時，該峰値位準運算部43將依據該pbase -14- 200818149 所產生並輸出之閾値視爲峰値之位準相關閾値之第1閾値 FZC1。 此外，僞信號檢測部42將PI信號之僞信號之峰値 PPI視爲其基礎之値pbase輸出時，也會依據僞信號檢測 部42所輸出之峰値Pbase( = PPI)決定閾値，並將該決定之 閾値輸出至信號層檢測部44。此處之閾値亦可以爲峰値 pbase本身，考慮僞信號檢測部42之峰値之檢測誤差，可 針對峰値 pbase將位準提高一定之比例（例如，5至 10%)(ρχ1·0 5至pxl.l)。此時，峰値位準運算部43所輸出 之閾値被當做PI信號相關之FOK使用。 此外，即使僞信號檢測部42將FE信號之僞信號之峰 値pFE當做其基礎之値pbase輸出時，PI信號之首度之 僞信號（Fake)檢測時之峰値pPI被一倂輸入時，亦會依據 pbase，決定閾値FZC1，而且，依據該峰値pPI，運算以 PI信號爲目的之閾値FOK。此處之FOK，亦可直接使用 輸入之峰値PPI，亦可將位準提高一定之比例（例如，5至 10%)。此時，峰値位準運算部43會將PI信號相關之 FOK與FE信號相關之第1閾値FZC1 —起輸出。 亦即，信號層檢測部44利用伺服信號處理部2 8所輸 出之PI信號或FE信號當中之僞信號檢測部42所使用之 信號，檢測聚焦於信號層之位置。具體實例，使用FE信 號時，FE信號超過峰値位準運算部43所決定之閾値 FZC1後，低於預先決定之第 2閾値FZC2(FZC2<FZC1) 時，判定成檢測到信號層。 -15- 200818149 此外，峰値位準運算部43輸出針對PH信號之閾 FOK及針對FE信號之閾値FZC1時，信號層檢測部44 輸入之PI信號超過閾値FOK之期間內，執行利用FE 號之信號層之檢測動作。亦即，該期間內，FE信號超 峰値位準運算部43所決定之閾値FZC 1後，低於預先 定之第2閾値FZC2(FZC2<FZC1)時，判定成檢測到信 層。 此外，只使用PI信號時，信號層檢測部44受取峰 位準運算部43所輸出之閾値（PI信號相關之FOK)，從 信號檢測到超過該閾値FOK之峰値時，判斷聚焦於信 層。 藉由以上之構成，本實施形態之光碟裝置執行以下 動作。亦即，光學拾波器23檢測到之信號之位準係未 低之狀態時，光學拾波器2 3之接物鏡從遠離光碟媒體 位置朝光碟媒體接近，如第3圖所示，於PI信號及FE 號檢測出表面反射之成像（S)。其次，於接物鏡更接近 碟媒體之位置檢測出僞信號（F ak e)。本實施形態之光碟 置決定位準爲此處檢測到之僞信號（Fake)之位準以上之 値（FOK、FZC1)。此外，第 3圖中，爲了說明，針對 信號及FE信號之雙方圖示著閾値，然而，亦可以只爲 中—方。 此處，因爲光碟媒體進行旋轉，軸向偏轉會使光碟 體之表面及光學拾波器23之距離產生周期性地變化， 時會觀測到複數次之僞信號（Fake)(F2、F3、…）。此處 値 於 信 過 決 號 値 PI 號 之 降 之 信 光 裝 閾 PI 其 媒 有 之 -16- 200818149 僞信號（Fake)，因爲係周期性地出現之原來之僞信號 (Fake)，故會出現未超過f〇k及FZC1之峰値。 其次’接物鏡更接近光碟媒體時，於PI信號及FE信 號可分別檢測到高於依據僞信號（Fake)之位準所決定之閾 値（FOK及FZC1)之峰値（T)。 光碟裝置使用PI信號對信號面執行聚焦處理時，判 斷於超過PI信號所決定之閾値FOK之位置（T)檢測到信號 面’進入聚焦伺服之控制。亦即，啓動接物鏡之聚焦伺 服’開始進行追隨光碟媒體之上下移動之移動，執行資料 之再生。 另一方面，光碟裝置使用FE信號對信號面執行聚焦 處理時’判斷於超過FE信號所決定之閾値FZC1且於低 於預先決定之閾値FZC2之位置（T)檢測到信號面，進入聚 焦伺服之控制。 其次，該光碟裝置係針對光學拾波器23檢測之信號 之位準降低時進行說明。此時，光學拾波器2 3之接物鏡 亦從遠離光碟媒體之位置朝光碟媒體接近，如第4圖所 示，於PI信號及FE信號檢測到表面反射之成像（S)。其 次，從接物鏡更接近光碟媒體之位置檢測到僞信號 (Fake)。此處之僞信號（Fake)之位準，係對應於光學拾波 器23檢測到之信號之位準之降低，而低於第3圖所示之 位準。 本實施形態之光碟裝置決定位準爲此處檢測到之僞信 號（Fake)之位準以上之閾値（FOK、FZC1)。該第4圖中， -17- 200818149 亦爲了說明，針對pi信號及fe信號之雙方圖示著閾値， 然而，亦可以爲其中任一方。此處所決定之閾値（或 FOK、FZC1之其中任一方），與第3圖所示之實例相比， 其位準配合僞信號（Fake)之位準降低而降低。 此外，光碟媒體之旋轉及軸向偏轉導致光碟媒體之表 面及光學拾波器23之距離產生周期性地變化，有時會觀 測到複數次之僞信號（Fake)(F2、F3、…）。此處之僞信號 (Fake)，因爲係周期性地出現之原來之僞信號（Fake)，故 會出現未超過FOK及FZC1之峰値。 其次，接物鏡更接近光碟媒體時，於PI信號及FE信 號可分別檢測到高於依據僞信號（Fake)之位準所決定之閾 値（FOK及FZC1)之峰値。 光碟裝置使用PI信號對信號面執行聚焦處理時，判 斷於超過PI信號所決定之閾値FOK之位置檢測到信號 面，進入聚焦伺服之控制。 另一方面，光碟裝置使用FE信號對信號面執行聚焦 處理時，判斷於超過FE信號所決定之閾値FZC 1且於低 於預先決定之閾値FZC2之位置檢測到信號面，進入聚焦 伺服之控制。 如此’依據本實施形態，藉由表面反射光檢測光學拾 波器23內所產生之僞信號（Fake)，可以利用該僞信號 (Fake)之信號位準，檢測信號層之反射光。因此，即使附 著於光學拾波器2 3之污垢或溫度等之環境變化導致光學 拾波器23檢測信號之位準全體降低時，亦可藉由利用僞 -18- 200818149 信號（Fake)之信號位準進行補正之閾値檢測信號層 光，故不管光學拾波器23之狀態如何，可以聚焦 層。 此外，此處之峰値位準運算部43 ’係針對直 信號檢測部42之峰値pbase當做閾値、或將該峰ί0 之位準提高一定之比例者當做閾値進行輸出之實例 明，然而，並未受限於此，亦可以爲如下所示者。 首先，於光碟裝置，利用以軸向偏轉試驗爲目 驗用碟片媒體，檢測複數次之僞信號（Fake)之位準 檢測到之位準當中之位準高於平均値Ave之分散σ 5倍（4 ¢7至5 σ )之値Ref，以 a =Ref/Ave 決定係數α並進行記憶。 其次，峰値位準運算部43則利用僞信號檢測3 測到之峰値Ρ及其係數α，以 ρχ a 運算閾値。 如此，若針對各光碟裝置決定係數α，即可計 到各光碟裝置之個體差之閾値。 此外，此處係針對使用以軸向偏轉試驗爲目的 碟片媒體來決定係數α之實例進行說明，然而，亦 用軸向偏轉之試驗所使用之試驗用碟片媒體，而使 之光碟媒體。 此外，該係數^亦可針對各機種（使用之電路、 之反射 於信號 接將僞 ί pbase 進行說 的之試 。參照 之4至 42檢 算考慮 之試驗 可不使 用一般 DSP、 -19- 200818149 微電腦之種類、組合）來決定。 此外，到目前爲止之說明，信號層檢測部44係針對 利用PI信號或FE信號之其中之一來檢測信號層者進行說 明，然而，亦可以利用其雙方。亦即，信號層檢測部44 亦可以如第5圖所示，於檢測到超過依據僞信號（Fake)發 生時之PI信號之位準所決定之閾値FOK之PI信號之範 圍（R)，利用FE信號對信號面執行聚焦處理。此外，此 時，亦可依據僞信號（Fake)發生時之FE信號之位準來決 定FE信號相關之閾値FZC1。 本實例時，FOK及FZC1亦可以爲僞信號（Fake)發生 時之對應之信號之位準本身、或對各信號之位準乘以特定 係數所得之値。此外，以計算FOK爲目的而乘以僞信號 (Fake)發生時之PI信號之係數、及以計算FZC1爲目的而 乘以僞信號（Fake)發生時之FE信號之係數亦可以不同。 亦即，本實施形態之伺服處理控制部29執行如第6 圖所示之動作。亦即，伺服處理控制部29執行起始化處 理（S1)，旋轉驅動轉軸馬達22而使光碟媒體進行旋轉， 此外，將光學拾波器2 3所放射之光之波長設定成預先決 定之起始値之値。此外，使光學拾波器23之接物鏡移至 距離光碟媒體表面最遠之位置（起始位置）之方式，驅動聚 焦控制致動器25b。 其次，伺服處理控制部29開始使光學拾波器23之接 物鏡以特定速度朝光碟媒體之表面移動（S)。 伺服處理控制部29利用光學拾波器23之接物鏡開始 -20- 200818149 移動後之PI信號，爲了除去雜訊之影響，直到首度檢測 到大於超過雜訊位準之閾値（雜訊除去閾値）之峰値（亦 即，表面反射）爲止，進行待機（S3)。 其次，伺服處理控制部29檢測到表面反射，開始其 後之PI信號及FE信號之峰値之保存（保存檢測到之最大 値之處理）（S4)，其次，於表面反射之檢測後，直到FE信 號通過首度通過出現之上側峰値並與基準位置交叉（零交 叉）爲止，進行待機（S5)。FE信號通過首度出現之上側峰 値並爲零交叉時，伺服處理控制部29判斷檢測到首度之 僞信號（Fake)。其次，伺服處理控制部29依據保存之PI 信號及FE信號（之絕對値）之峰値（分別以Ppi、PFE表 示，此處，pFE>0)，決定以檢測信號面爲目的之PI信號 之閾値FOK及FE信號之閾値FZC1(FZC1>0)(S)。 例如，該處理S 6時，利用 FOK = pPx β 、 FZCl=pFEx γ 即可。此處之/3、r ，係例如「1」或「0 5」至「1 . 1」 等之「1」以上之値。/3 、7可以相同之値，亦可以不 同。 伺服處理控制部29直到PI信號成爲處理S6所決定 之FOK以上且FE信號超過FZC1爲止，進行待機（S7)。 其次，至PI信號成爲處理S6所決定之FOK以上且FE信 號之絕對値超過FZC1時，而且，PI信號成爲處理S6所 決定之FOK以上且 FE信號之絕對値小於預先決定之 -21 - 200818149 FZC2(0<FZC2<FZC1)爲止，進行待機（S 8 )。其次，伺服處 理控制部29於PI信號成爲處理S6所決定之FOK以上且 FE信號之絕對値小於預先決定之FZC2(0<FZC2<FZC1) 時，判定檢測到信號層，以使光學拾波器23之接物鏡朝 光碟媒體之表面移動後，啓動聚焦伺服而進入聚焦伺服之 控制之方式，控制聚焦控制致動器25 b(S 9)。 此外，其他之實例時，本實施形態之伺服處理控制部 2 9執行如第7圖所示之動作。此外，與第6圖之動作相 同之部份，附與相同符號並省略詳細說明。亦即，伺服處 理控制部29執行起始化處理（S1)，開始使光學拾波器23 之接物鏡以特定速度朝光碟媒體之表面移動（S 2)。 伺服處理控制部29利用光學拾波器23之接物鏡開始 移動後之PI信號，爲了除去雜訊之影響，直到首度檢測 到大於超過雜訊位準之閾値（雜訊除去閾値）之峰値（亦 即，表面反射）爲止，進行待機（S3)。 其次，伺服處理控制部29檢測表面反射時，開始保 存其後之PI信號之峰値（S 14)，其次，直到PI信號檢測 到首度出現之峰値爲止，進行待機（S 15)。檢測到PI信號 之峰値時，伺服處理控制部29判斷檢測到首度之僞信號 (Fake)，依據保存之PI信號之峰値（標記成PPI)，決定以 檢測信號面爲目的之PI信號之閾値F0K(S16)。 例如，該處理S 16時，利用 FOK = pPIx β 即可，此處之冷，係例如「1」或「1·〇5」至「1.1」等之 -22- 200818149 「1」以上之値。 伺服處理控制部2 9直到PI信號成爲處理S 1 6所決定 之FOK以上爲止，進行待機（S17)。其次，PI信號成爲處 理S 1 6所決定之FOK以上時，判定成檢測到信號層，以 使光學拾波器23之接物鏡朝光碟媒體之表面移動，啓動 聚焦伺服，進入聚焦伺服之控制之方式，控制聚焦控制致 動器 25b(S19)。 此外，第6圖、第7圖之實例時，任一皆是利用PI 信號來檢測表面反射，然而，亦可利用 FE信號進行檢 測。 此外，此處係針對檢測到信號面後，啓動聚焦伺服來 執行信號之再生之實例進行說明，然而，亦可以於檢測到 信號面後，檢測信號層之反射率時，於上述第6圖或第7 圖之實例之處理S 9及處理S 1 9時，停止接物鏡之動作來 檢測信號層之反射率。 【圖式簡單說明】 第1圖係本發明之實施形態之光碟裝置之構成例之方 塊圖。 第2圖係本發明之實施形態之光碟裝置之例之機能方 塊圖。 第3圖係本發明之實施形態之光碟裝置之光學拾波器 所檢測之信號之實例之說明圖。 第4圖係本發明之實施形態之光碟裝置之光學拾波器 -23- 200818149 所檢測之信號之其他實例之說明圖。 第5圖係本發明之實施形態之光碟裝置之聚焦處理之 動作相關信號例之說明圖。 第6圖係本發明之實施形態之光碟裝置之聚焦處理之 動作實例之流程圖。 第7圖係本發明之實施形態之光碟裝置之聚焦處理之 動作之其他實例之流程圖。 第8圖係本發明之實施形態之光碟裝置所使用之光學 拾波器之構造例之槪要圖。 第9圖係光碟裝置之光學拾波器所檢測之信號之一實 例之說明圖。 第1 〇圖係光碟裝置之光學拾波器所檢測之信號之其 他實例之說明圖。 【主要元件符號說明】 1 1 :發光元件 1 2 :分束鏡 1 3 :光偵測器 1 4 :接物鏡體 1 4 Η :全相圖元件 14L :接物鏡 21 :媒體支持部 22 :轉軸馬達 2 3 :光學拾波器 -24- 200818149 24 : 25a 25b 2 6 ： 27 : 28 : 29 : 30 : 3 1: 41 : 42 ： 4 3 ·· 44 : 雙軸致動器 :步進馬達 :焦點控制致動器 驅動器放大器 RF放大器 伺服信號處理部 伺服信號控制部 信號處理部 驅動控制器 起始化部 僞信號檢測部 峰値位準運算部 信號層檢測部 -25

Claims (1)

1. 200818149 十、申請專利範圍 κ 一種光碟裝置，用以讀取記錄於光碟媒體之信 號，其特徵爲含有： 光學拾波器，選擇地使複數之相互不同波長當中之其 中任一波長之光，通過1個接物鏡照射於光碟媒體，依據 光碟媒體之反射光輸出信號； 馬區雲力部’使前述光學拾波器之接物鏡相對於光碟媒體 面進行相對移動； 信號輸出部，受取光碟媒體所反射之光，依據該受取 之光輸出受光信號；以及 控制部，藉由前述驅動部，一邊使前述接物鏡相對於 光碟媒體面進行相對移動，一邊依據光碟媒體面之表面反 射’檢測生成於前述受光信號之僞信號之峰値位準，比較 以該檢測到之峰値位準爲基準所決定之閾値及前述受光信 號，檢測資料記錄層之反射光。 2 ·如申請專利範圍第1項所記載之光碟裝置，其中 前述控制部決定大於前述檢測到之僞信號之峰値位準 之値做爲前述閾値。 3. 一種控制方法，係用以控制用以讀取記錄於光碟 媒體之信號之光碟裝置，其特徵爲： 控制光學拾波器，使其選擇地使複數之相互不同波長 當中之其中任一波長之光，通過1個接物鏡照射於光碟媒 體，並依據光碟媒體之反射光輸出信號， 使前述光學拾波器之接物鏡相對於光碟媒體面進行相 -26- 200818149 對移動， 受取光碟媒體所反射之光，依據該受取之光，輸出受 光信號， 藉由驅動部，一邊使前述接物鏡相對於光碟媒體面進 行相對移動，一邊依據光碟媒體面之表面反射，檢測生成 於前述受光信號之僞信號之峰値位準， 比較以該檢測到之峰値位準爲基準所決定之閾値及前 述受光信號，檢測資料記錄層之反射光。 4. 一種電腦可讀之記錄媒體，其特徵爲： 儲存著使用以讀取記錄於光碟媒體之信號之光碟裝置 執行以下之處理之程式， 控制光學拾波器，選擇地使複數之相互不同波長當中 之其中任一波長之光，通過1個接物鏡照射於光碟媒體， 依據光碟媒體之反射光輸出信號， 使前述光學拾波器之接物鏡相對於光碟媒體面進行相 對移動， 受取光碟媒體所反射之光，依據該受取之光，輸出受 光信號， 藉由驅動部，一邊使前述接物鏡相對於光碟媒體面進 行相對移動，一邊依據光碟媒體面之表面反射，檢測生成 於前述受光信號之僞信號之峰値位準， 比較以該檢測到之峰値位準爲基準所決定之閾値及前 述受光信號，檢測資料記錄層之反射光。 -27-