TW200402649A - Method for improving positioned accuracy for a determined touch input - Google Patents

Description

200402649 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係普遍針對一種觸摸感測器，且更尤甚者係針對 一種用於判斷觸控式螢幕上之觸摸位置的方法及系統。 【先前技術】 觸控式螢幕對電腦或其它資料處理裝置提供一種簡單、 直覺<介面。使用者並非使用键盤鍵入資料，而是可藉著 在螢幕上觸摸圖像、窝字或畫圖經由觸控式螢幕轉換資 訊。觸控式螢幕係用在各種資訊處理應用中。透明之觸控 式螢幕尤其係用於行動電話（cell phone)、個人資料助理器 (PDA)、以及手持式或膝上型電腦之類的應用。 已有各種用於判斷觸摸位置的方法，包含電容式、電阻 式、耸晉及紅外線技術。觸摸位置亦可藉著經由耦接至觸 摸表面之力道感測器所感測到的力道予以判斷。藉由感測 觸摸力道而運作的觸控式螢幕具有許多優於其它上述技術 的伋點。首先，力道感測器不需要由特殊材料所組成之觸 摸表面，該等特殊材料會抑制通過觸摸表面之光傳輸，如 同在％阻式觸摸感測器一般。再者，力道感測器不依賴對 地之漏電性連接，如同電容性觸控式螢幕所需一般，且可 精由手指觸摸、穿戴手套的手、指紋或其它非導電性觸摸 儀备予以運作。與表面聲波技術不同，力道感測器對於觸 摸表面上之污減物、灰塵、或液體之累積較不受影響。最 =，力道感測器較不會將與觸摸表面之緊密會接偵測為真 賁觸摸，這一點係紅外線觸控式螢幕的共同問題。 84621 200402649 基於力道的觸控式螢幕可能容易導致經由許多來源在間 接（reported)觸摸位置所產生的誤差。由觸控式螢幕力道感 測器所產生之力道反應式觸摸信號會受各種靜態和動態因 素加上觸摸力道所影響。這些因素可視為與觸摸信號有關 之雜訊源。雜訊可經由觸控式螢幕電子元件產生，或其性 質可呈機械性。例如，電性雜訊可在觸摸感測、放大、資 料轉換或信號處理階段中產生。機械性雜訊可由觸控式榮 幕之扭轉、觸控式螢幕裝置之移動、觸控式螢幕之震動、 以及其它因素引起。觸控式螢幕力道感測器會受觸摸表面 之重量和製造期間施加於力道感測器之預載力道所影響。 另外，雜訊可由觸摸本身引起。 觸摸力道通常在整個觸摸期間快速變化。單一位置中之 觸摸產生一觸摸力道，觸摸力道於施加觸摸時強度增加且 於移除觸摸時強度減少。觸摸亦可穿越觸摸螢幕之表面移 動，於每一個力道感測器產生一變動信號。對於觸摸位置 之精確判斷需要分析經由觸摸力道所產生之觸摸力道信 號，並且消除影響觸控式螢幕之靜態和動態雜訊信號。 【發明内容】 一般而言，本發明係關於一種用於在觸摸感測器上偵測 觸摸位置的方法及系統。本發明之特徵在與一基於微處理 器之系統結合時尤其有用，其中該基於微處理器之系統操 控一藉由透明之觸控式螢幕予以增強之顯示裝置。 依據一本發明之具體實施例，一用於在觸控式螢幕上判 斷觸摸位置的方法包含擷取一對應於觸控式螢幕上之觸摸 84621 200402649 之觸摸信號、偵測觸摸信號中觸摸信號形狀之第一次出 現、以及利用反應偵測觸摸信號形狀所得到之觸摸信號資 訊判斷觸摸位置。 另一本發明之具體實施例包含使一觸摸信號形狀與觸摸 仏就决差之位準產生關聯。擴取到一^對應於觸控式勞幕上 之觸摸之觸摸信號。偵測到觸摸信號中觸摸信號形狀之第 一次出現。觸摸位置係利用反應偵測觸摸信號形狀所得到 之觸摸信號資訊予以判斷。 又一本發明之具體實施例包含使一觸摸信號形狀與一觸 摸偽號中出現之觸感式誤差之局部最小值產生關聯。擷取 到觸摸信號並判斷觸摸信號形狀出現在觸摸信號中之特 疋時間。觸摸位置係利用在該特定時間得到之觸摸信號資 訊予以判斷。 依據另一本發明之具體實施例，一用於在觸控式螢幕上 判斷觸摸之方法包含擷取由觸控式螢幕上之觸摸力道所引 觸摸k唬以及在與最大觸摸力道相關之觸摸信號週期 内七、測觸摸信號形狀。觸摸位置係利用反應偵測觸摸信 狀所得到之觸摸信號資訊予以判斷。本發明之另一觀 丄"擷取一反應觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信號，該觸 虎”有一與觸摸信號改變率有關之誤差。一特定時間 1 系名爭 m %» ' A件到觸摸信號資訊以基於觸摸信號改變率判 斷觸摸位胃 口 觸摸位置係利用在該特定時間得到之觸摸信 唬資訊予以判斷。 本盔明 < 具體實施例中，一觸控式螢幕系統包含一 84621 200402649 觸摸表面及複數個實體耦接至該觸摸表面之觸摸感測器。 每一個觸摸感測器皆反應一施加於觸摸表面之觸摸產生一 感測器信號。一耦接至觸摸感測器之控制系統接收感測器 信號並自該等對應於觸控式螢幕上之觸摸之感測器信號擷 取一觸摸信號，偵測觸摸信號中之觸摸信號形狀之第一次 出現，以及利用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信號 資訊判斷觸摸位置。 另一本發明之具體實施例係針對一觸控式螢幕顯示系 統。在該具體實施例中，一觸控式螢幕顯示系統包含一觸 摸表面和複數個實體耦接至該觸摸表面之觸摸感測器。每 一個觸摸感測器皆反應一施加於觸摸表面之觸摸產生一感 測器信號。一耦接至該等觸摸感測器之控制系統接收感測 器信號並自該等對應於觸控式螢幕上之觸摸之感測器信號 擴取一觸摸信號，偵測觸摸信號中之觸摸信號形狀之第一 次出現’以及利用反應偵測該觸摸信號形狀而得到之觸摸 信號資訊判斷觸摸位置。該觸控式螢幕顯示系統另外包含 一用於經由觸控式螢幕顯示資訊之顯示器。 另一本發明之具體實施例係針對一顯示系統，該顯示系 統包含一觸控式螢幕系統、一用於顯示資訊之顯示器、以 及一處理器，其中該處理器係耦接至觸控式螢幕和顯示器 用於處理顯示在顯示器上之資料和接收來自觸控式螢幕控 制系統之資訊。 依據又一本發明之具體實施例，一系統包含用於擷取一 對應於觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信號、用於偵測觸摸信 84621 200402649 號中之觸摸信號形狀之第一次出現、以及用於利用反應偵 測觸摸#號形狀而得到之觸摸信號資訊判斷觸摸位置之構 件。 又一本發明之方法係針對一系統，該系統包含用於使一 觸摸信號形狀與一觸摸信號誤差位準產生關聯之構件、用 於擷取一對應於觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信號的構件、 用於偵測觸摸信號中之觸摸信號形狀之第一次出現的構 件、以及用於利用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信 號資訊判斷觸摸位置的構件。 再本發明之具體實施例包含一系統，該系統提供用於 擷取一由觸控式螢幕上之觸摸力道所引起之觸摸信號的構 件、用於在與最大觸摸力道相關之觸摸信號之期間内偵測 一觸摸信號形狀之構件、以及用於利用反應偵測觸摸信號 形狀而得到之觸摸信號資訊判斷觸摸位置的構件。 依據另本發明之具體實施例，一電腦可讀取式媒體係 以可執行之指令予以架構，用以使一或多部電腦執行一種 在觸控式螢幕上判斷觸摸位置的方法，該方法包含擷取一 對應於觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信號、偵測觸摸信號中 之觸摸4唬形狀之第一次出現、以及利用反應偵測觸摸信 號形狀而得到之觸摸信號資訊判斷觸摸位置。 C本％明之說明並非意欲於說明本發明中之每一個經 描述<具體實施例或所有實現。底下之圖示及詳細說明更 尤其是作為這些具體實施例之例予。 【實施方式】 84621 200402649 在底下經描述之具體實施例之說明中，已對附加之圖式 施加參考編號作為圖式之一部分，且已藉由描述以表示本 發明可藉以實行之各種具體實施例。要瞭解可使用其它具 體貪施例’且可作架構及功能變化而不脫離本發明之範疇。 如上述，且基於其它將因為閱讀本詳細說明書而變得明 顯並於底下予以描述之理由，需要一種方法及系統用以精 確判斷觸摸表面上之手指觸摸或儀器觸摸位置。另外需要 種藉由改良過之信號對雜訊比計算觸摸位置、以及增加 觸摸位置判斷精確度的方法和系統。 本盔月了應用於觸摸感測技術，且相信在本發明之特徵 與一操控藉由透明之觸控式螢幕予以增強之顯示裝置之資 料處理系統結合時尤其有用。例如，—本發明之觸控式榮 幕可用在桌上型、手持式或膝上型電腦系統、一端點銷 售終端機、-個人資料助理器（PDA)、或—行動電話中。雖 然係結合基於微處理器之系統予以說明，若有必要，本發 明（觸控式螢幕裝置可與任何基於邏輯之系統結合。 本發明為精確判斷觸控式螢幕上之觸摸位置作準備。— 觸摸可藉由-些觸摸感測器予以感測並藉由—或多個觸摸 信號予以表示。精確之觸摸位置判斷包含在觸控式螢幕上 Μ㈣間於-較㈣間量測—或多個觸摸信號之強度。 該用於執行觸摸位置量敎較佳時間可藉由偵義摸信號 形狀《特徵了以為疋。觸摸位置量測可於反應偵測觸摸信 號形狀特性之較佳時間予以執行。 傳統方法使用—種基於強度之技術於觸摸信號大於固定 84621 -10- 200402649 臨限強度時制觸摸信號。該用於傳統方法之臨限強度係 經選擇以提供—可接收之信號對雜訊比，而與信號於所選 之特定臨限值交錯時呈現之觸感式誤差位準無關。相對 地，本發明之系統^法在與較低觸摸信m誤差相關之觸 摸信號圖形内於一特定時間執行一觸摸位置量測。於該特 定時間之龍信號量測會產生大致導因於簡信號誤差減 少之較高信號對雜訊比。本發明使降低之觸摸信號誤差點 對觸摸信號形狀之特徵產生關聯。因此，本發明使用一種 基於形狀之方法，用於偵測較佳時間以執行觸摸位置量 測。一觸摸#號形狀之特徵在於少到僅有兩個觸摸信號點 或整組點代表一個觸摸信號。在一實施例中，一觸摸信號 之斜率係一持徵在於兩個觸摸信號點之觸摸信號形狀。 代表作用在觸控式螢幕上之觸摸力道之觸摸信號係藉由 一或多個耦接至一觸控式螢幕之觸摸表面之觸摸感測器予 以產生。一觸摸信號可自單一感測器、或藉由結合來自二 或多個觸控式螢幕之感測器信號予以導出。觸摸位置之判 斷包含分析藉由觸膜感測器所產生之感測器信號。單一位 置中之輕敲式觸摸典型地產生一隨著施加觸摸而強度增加 且然後隨著移除觸摸而強度減少之觸摸信號。一觸摸可為 一連續性觸摸，其中該觸摸在觸摸表面上維持一段時間。 例如，觸摸可在單一位置出現一段時間。另外，觸摸可為 一 π串流式觸摸”，其中該觸摸係施加於一位置，穿越觸控 式螢幕之表面而移動’並於另一位置予以移除，導致在每 一個感測器產生一連續變動之信號。 84621 -11 - 200402649 一觸控式螢幕之廣義圖係描繪於圖1。一觸摸表面100係 耦接至一或多個觸摸感測器110、120、130、140。在圖示 之具體實施例中，觸摸感測器110、120、130、140係配置 於一矩形觸摸表面的四個角落。雖然圖1所繪的觸控式螢幕 係呈角落置有感測器之矩形，各種使用三或四個觸摸感測 器且具有不同觸摸表面形狀的架構仍然可予以使用。 感測器110、120、130、140舉例可呈小型電容性力道感 測器，其架構為兩個由一間隔（gap)予以分開之電容極板。 一電容性力道感測器可經配置以致當一具有充分強度和方 向之觸摸力道施加至觸摸表面時，一電容器極板偏向第二 極板。偏斜改變電容極板之間的距離，從而改變感測器之 電容值。觸摸力道可由控制系統電路予以量測為施加至觸 摸感測器之交流電信號之改變。一適用於觸控式螢幕應用 之電容性力道感測器具體實施例係說明於西元2001年4月 13曰所申請之美國專利申請案第USSN 09/835,040號中，其 標題為’’用於以力道為基礎之觸摸輸入之方法及裝置 (Method and Apparatus for Force-Based Touch Input)’’。力道 感測器係適合搭配液晶顯示器（LCD)、陰極射線管（CRT)或 其它透明顯示器使用，且係概要描繪於圖2。在該特定具體 實施例中，感測器基於一電容性元件之電容值變化量測所 施加之力道。 一觸摸表面210 (或重疊面）係位於一構造外罩215内。該 觸摸表面210通常為透明，而得以通過該觸摸表面210看到 顯示幕或其他物體。在其他應用中，該觸摸表面210為半透 84621 -12- 200402649 明。 該構造外罩215可配備一大中央孔徑，而看到顯示幕。若 希望，該構造外产215的下表面可直接緊靠著顯示幕表面放 置’而覆盍主動區域的四周邊界。在另一項實施例中，如 上所述，可使用包含一顯示單元（例如，LCD)的結構來取代 該重疊面。 一電容性感測器220可置於觸摸表面2丨〇與外罩2 i 5之 間。一具有附著地件233之互連物225可藉由焊接、黏結或 其它方法予以耦接至外罩215。一導電區在互連物225上形 成一第一導電元件234。一具有一中央突出物24〇,例如一 個酒窩，之第二導電元件235舉例係藉由焊接附著至互連物 225之地件233。一小間隔280係憑藉第二導電元件235之形 狀或藉由使第二導電元件235附著至互連物225之過程兩者 其中 < 一予以形成於第一導電元件234與第二導電元件235 之間。間隔280之寬度舉例約為}密爾（mil)。一電容係藉由 以間隔280予以分開之導電元件234、235予以形成。 選擇性承載面270可插置於觸摸表面21〇與第二導電元 牛5之間。這可防止觸摸表面21〇免於由突出物240所引起 之凹1½或抽壞，尤其是在覆蓋物係以焊料製成的情況下。 承載面270亦可經由一彈性體或高柔軟性黏劑之薄層（未示） 女裝至觸摸表面210，藉以提供一橫向軟化功能。在正常操 作下將鑑知觸摸表面21〇或承載面27〇係與突出物24〇接 觸這些7c件係僅為了描繪之清楚性而予以分開表示。 第二導電元件235結合彈簧及電容極板的功能。當一垂直 84621 -13- 200402649 力道施加至觸摸表面210時，第二導電元件235屈曲，減少 間隔280之寬度並增加感測器220之電容值。電容值之變化 可予以量測並與施加至觸摸表面210之力道有關。雖然說明 了 一種利用電容性力道感測器之觸控式螢幕，其它種類之 力道感測器仍可依類似方式予以使用，舉例包含壓電式感 測器（piezoelectric sensor)和高感度壓電式感測器（价也 sensor) ° 基於力道之觸控式螢幕之優點之一在於顯示單元與使用 者之間所放置之低光學性區別層數目。一般而言，置於顯 示單元上方之覆蓋物係由玻璃或較硬聚合物所構成之單一 層，其中該較硬聚合物係聚碳酸酯之類可基於適當光學品 質予以選擇之化學物。這與其它種類之觸控式螢幕形成對 照’例如在顯示單元上需要許多潛在光漏失層之電阻性或 電容性觸控式螢幕。該等電阻性或電容性觸控式螢幕所需 的導電薄膜通常具有高折射率，導致位於介面的反射性漏 失增加。這在電阻性螢幕中係一特殊問題，其中電阻性勞 幕具有额外之固態/空氣介面且反反射塗層沒有幫助，理由 在於導電層必須能夠造成實體接觸。然而，基於力道之觸 担式螢幕所用之勞幕覆蓋物僅具有上及下表面；這些表面 可經處理以降低反射性漏失並降低強光。例如，覆蓋物可 具有暗淡之表面以降低鏡式反射，及/或可具有反反射塗層 以降低反射性漏失。 一觸控式螢幕之立體圖係概要描繪於圖3。一觸摸表面 3〇〇係經表示與置於觸摸表面300相關角落之力道感測器 84621 -14 - 200402649 310、320、330、340鄰近而置。當一尖筆、手指或其它觸 控裝置352按壓觸摸表面300時，一觸摸力道355係施加於觸 摸表面300之觸摸位置350上。觸摸力道355在力道感測器 310、320、330、340上產生垂直於觸摸表面300之力道F1、 F2、F3、F4。力道感測器310、320、330、340可用一交流 電信號予以驅動。垂直力道FI、F2、F3、F4使力道感測器 310、320、330、340之電容值改變，藉以使經由力道感測 器310、320、330、340耦接之信號改變。由力道感測器310、 320、330、340所導出之力道反應式信號可用於計算力道位 置。 - 例如，可利用力道反應式觸摸感測器信號之組合執行觸 摸位置之計算。觸摸感測器所產生之力道反應式信號可用 於计算各種觸摸信號，包含沿著y軸之力矩My、沿著X軸之 力矩、以及總z方向力道FTz。觸摸位置之座標可由觸摸 感測器信號予以判斷，如方程式1所述，假設一位於觸控式 勞幕中央之參考點、沒有誤差、出現除了觸摸力道之外的 背景波動或干擾。

Ftz [1] γ=Μι

Ftz 其中 Mx = (FI + F2) - (F3 + F4);

My = (F2 + F4)-(Fl+F3);及 Pjz == FI + F2 + F3 + F4. 代表各種觸摸信號圖形之實例性波形，如總z方向力道 Ftz ’係對於各種觸摸種類予以描繪於圖4。雖然描繪了總力 84621 -15 - 200402649 道FTZ之觸摸信號圖形，感測器信號之其它組合㈣產生類 似圖形。 觸摸信號圖形對於各種觸摸種類之形狀可取決於觸摸種 類大幅改變。輕敲式觸摸410之形狀具有較短之上升和下降 時間且可佔有較短之時距，例如約15毫秒。慢速觸摸42〇之 圖形可呈現較慢之上升時間和較長之持續時間。然而，觸 摸信號之相對強度可能是無預期的。一連續性觸摸信號可 代表一觸控式螢幕上之位置中的觸摸延續（t〇uch Hngering)， 或可代表穿越觸控式螢幕而移動之觸摸。移動式觸摸舉例 可用於執行繪畫或拖放功能。對於一移動式觸摸之圖形可 延績較長之時間，例如2秒或更長之時間。 感測益信號係針對一由力道反應式感測器信號判斷一觸 摸位置之控制系統。圖5概要描纟會依據本發明之原理呈功能 方塊配置之觸控式螢幕500和觸控式螢幕控制系統550之方 塊圖。將鑑知存在許多可配置這些功能方塊之可能架構。 圖5所描繪之實施例為一種可能之功能配置。 在圖5所描繪之實例性具體實施例中，一觸摸表面505係 經架構而與觸摸表面505相關角落之四個力道感測器501、 502、503、504鄰近接而置。感測器501、502、503、504可 選自各種感測技術，包含電容性、壓電式及高感度壓電式 感測器。感測器5〇1、502、503、和504量測在感測器位置 偵測到的觸摸力道且係耦接至置於控制系統550内部之驅 動/感測電路510、520、530、540。或者，驅動/感測電路之 某些元件可置於相對應感測器的附近。驅動電路512、522、 84621 -16- 200402649 532、542中對每一個感測器所產生之加能信號係用於加能 感測器 501、502、503、504。每一個感測器 5(H、502、503、 504產生一觸摸力道信號，該觸摸力道信號對應於一經由觸 摸表面505施加至感測器之觸摸力道。每一個感測器501、 502、503、504所產生之觸摸力道信號係由置於控制系統550 内部之感測電路511、521、531、541予以偵測。 代表每一個感測器位置之觸摸力道之類比電壓係由感測 電路511、521、531、541予以產生。類比電壓係以一足以 擷取力道反應式感測器信號之用以判斷觸摸存在性及位置 之適當代表之速率藉由取樣電路560予以取樣並多工處 理。經過取樣之信號係藉由一類比對數位（A/D)轉換器570 予以數位化。經過數位化之感測器信號係送至處理器電路 580。處理器電路580執行計算以判斷一觸摸位置。處理器 電路580亦可包含用於信號過濾（conditioning)之濾波電路 582及用於儲存觸摸信號值之記憶電路586。處理器電路580 亦可包含一或多個用於判斷與較佳時間判斷有關之各種觸 摸信號時距與延遲時間以執行觸摸位置量測之計時器 584。處理器電路580可執行一些额外的控制系統功能，包 含控制觸摸信號取樣電路560、多工器電路560、以及A/D轉 換器570。 在單一混合模式積體電路晶片上實現觸控式螢幕控制系 統550、或其對等系統可發現具有優點。在該種實現中，以 一組分別對應每一個信號通道且平行運作之差和式 (delta-sigma)轉換器取代取樣電路560及A/D轉換器570可具 84621 -17- 200402649 有優點。 基於力道之觸控式螢幕係受到一些來源所引起之間接觸 摸位置誤差之潛在影響。這些誤差可分成三類。首先，觸 摸位置誤差可由非觸摸相關性雜訊所引起。非觸摸相關性 誤差係由與觸摸本身無關之雜訊源或干擾所引起，且其對 於連續性力矩或連續性觸摸是無法預測的。其次，在間接 觸摸位置中可能存在靜態觸摸位置誤差。靜態觸摸位置誤 差係觸摸位置之可再生函數，同時也是穩態力道之函數。 最後，動態觸摸位置誤差可由觸摸本身引起。動態觸摸位 置誤差會在觸摸力道快速變化期間發生或在觸摸力道快速 變化之後立即發生。 觸摸位置<計算可與某些關於產生力道信號之實體過程 d又相谷。因此，由方程式1計算出之觸摸位置可與運作 (貫體假設相容，可稱為靜態限制。亦即，方程式！對於一 位置點之穩定觸摸或速度不會太快之觸摸力道和力矩會是 精：的。然而，對於夠快速之觸摸力道變化而言，位：感 4备 < 力道持~與位於觸摸點之力道呈靜態相等或僅稍微 自㈣摸點予以移除的說法不再成為真實。這對於特定之 觸摸信號形狀各壤热π $山1 θ導致可再生和觸摸信號值與連續性靜態相 算' 信號值之間的嚴重偏差。這會依次導致經過計 异<觸摸位置盥直奢 /、/、貫位置惑間的可再生偏差。該等導致位 置决差《因素在本文中一 為觸感式位置誤差二=悲觸摸位置誤差或等同 差或等同為觸咸々二、〜〈乜號偏羞可稱為動態信號誤 、'、〜、式信號誤差，然而，注意到該可再生信號 84621 -18- 200402649 誤差係相關於特定之觸摸位置計算予以界定，如方程式1之 計算。相同信號中明顯之誤差對於其它觸摸位置計算之方 式看起來會不一樣；該等方式理論上會藉由對最近之信號 歷史藉由包含合適之敏感度補償動態效應。或者，且更加 簡單地，本發明之方法於一經過降低之誤差之特定時間指 導對方程式1之使用，該等時間係配合對最近信號歷史之合 適敏感度予以選擇，如觸摸信號形狀所證。動態觸摸位置 誤差可舉例由抑制觸摸表面後方補捉到之空氣之氣腔效應 所引起之阻尼誤差予以產生。阻尼誤差於具有較高相對斜 率之位置點係較大的。當來自力道覆蓋物後方之氣流受到 限制時，架構中之阻尼效應產生顯著之觸摸信號誤差。阻 尼$吳差可藉由增加之接口（porting)及/或使用較硬之覆蓋物 予以降低。然而，觸摸信號在觸摸力道快速上升時會持續 顯出誤差。 阻尼誤差在空氣於觸摸表面架構後方受到堵塞時呈現一 種氣腔阻尼效應（pneumatic dashpot effect)。觸摸表面後方 之凹處係以總體積作為其特徵。由於觸摸表面之彈性曲 率位於特足位置之觸摸係以觸摸表面後方之凹處體積 變化作為其特徵。體積變化會導致穿越觸摸表面架構之瞬 間壓力差’改變施加於力道感測器之力道並產生動態誤 差。在-般的設計中，離力道感測器甚遠之觸摸產生較大 的觸摸表面曲率’該曲率係與相應較大之體積變化相關。 相對地’曲率對於由力道咸測哭p处、# 叫々邋恐冽奋挺供灸鄰近硬式支承物之 力道是會非常小的。 -19· 84621 3 200402649 在一常見的情況中，氣流阻力主要係於觸摸表面上升。 這情況是出現在下方空氣必須經由小於觸摸表面後方凹處 之欄框或封條中之抑制物釋出的地方，例如經由小於覆蓋 物與顯示器之間之間隙之欄框或封條中的抑制物。誤差力 道接著係由均句分饰之力道予以產生，且係等於施加於觸 摸表面中央之單一幻覺誤差力道。在另一實施例中，觸摸 表面之位置係緊鄰顯示器，但其邊緣係完全開放的。在種 情況下，假性誤差力道將落在螢幕中央與最大曲率點之間 的某個地方。 上述的阻尼效應使總力道量測之上升和下降延遲，但對 於兩沿著X與γ軸之力矩量測具有少許效應。因此，由觸摸 信號圖形之上升部分期間之資料計算出來的位置係由真實 位置向外呈輻射狀顯示。計算出的位置接著經由真實位置 向内送並在圖形之下降部分期間極深地移向中央。若觸摸 係一由手指向下輕敲所引起之串流式觸摸，則計算出的位 置由外侧開始，經由真實位置向内移動並接著反向移至真 位置。 一由阻尼效應導致的FTz誤差實施例係繪於圖17中，該阻 尼效應會引起輕射位置誤差。圖17與時間有關比較觸摸力 道、感測力道、以及誤差信號。實線1710表示垂直於觸摸 表面通過力道感測器在遽波之後呈現的總力道。高斯曲線 係用於本實施例中，因為高斯曲線係普遍代表濾波之後的 幸至敲式觸摸信號。長破折號曲線17 2 0代表會阻礙屈曲觸摸 表面移動之阻尼力道。這實質與感測器力道曲線之第一次 84621 •20- 200402649 導數成比例。感測器力道係直接與觸摸表面曲率成比例， 因為感測器力道係將力道傳送至感測器之觸摸表面之定束 彎曲（beam bending)。阻尼力道係示於圖17，其具有一大約 最大觸摸力道峰值的4°/。，但這數值會取決於觸摸表面架構 之配置而改變。短破折號曲線17 3 0代表施加於使用者接觸 點之真實總力道，該力道係在濾波之後出現，直接代表一 可得之信號。曲線1730代表感測器力道與阻尼力道的總 和，就整體平衡而言為總施加觸摸力道。 交錯式破折號曲線1740對於每一個時間點描繪部份誤差 (fractional error)，該部份誤差將於該時間使總感測器力道 1710成為真實觸摸力道而產生。曲線174〇描繪力矩量測上 沒有阻尼效應時計算出之觸摸信號中的部份輻射位置誤 差。因此’在本實施例中，於脈波上升25〇/〇處得到之量測值 係經過計算而於一真實位置向外輻射位移約1〇%之位置下 降。一於脈波上升75%處得到之量測值具有大約5%之輻射 誤差。於峰部得到之量測值沒有誤差。 動態觸摸信號誤差的另一可能來源在於觸摸表面架構之 負I ’該質量會在彎曲期間產生慣性力道。由於存在阻尼 夕文應’這些對於產生最大曲率之力道係最大的。取決於用 以處理觸摸信號之濾波器之脈衝響應及觸摸信號圖形，慣 性誤差的最低點會或不會與阻尼效應誤差之最低點一致。 w兩個誤差於時間軸之某些位置趨向於彼此抵消。 由觸摸表面架構之質量所導致之慣性誤差對總力道量測 之衫響大於對力矩量測之影響。總力道於感測器之出現首 84621 -21- 200402649 先係經過延遲，接著靠近觸摸信號之辛部量測太大，然後 ^回之觸摸表面停止時再次量測太小。搭配_㈣波器 一般輕敲觸摸計算出的觸摸位置趨向於經由真實位置點 朝觸摸表面中央向内傳送，接著在力道達到峰部時再次朝 真貫位置點傳送。若阻尼和慣性誤差在此一系統中皆顯著 有效，則最小之誤差會因選擇稍在力道爭部之前之觸摸位 置量測時間而產生。 精確之觸摸位置判斷包含在觸摸信號圖形内部選擇-較 佳時:以量測觸摸信號，藉以判斷觸摸位置。該用於觸摸 位置量測之較佳時間在所要量測之觸摸信號強度高於與各 種影響觸控式勞幕之誤差有關之雜訊強度時出現。選擇觸 ，位置量測時間之傳統方法代表在觸摸信號圖形内部儘可 犯早地選擇具有可接受之信號對雜訊比之位置量測點的趨 勢這二選擇觸摸位置量測時間之傳統方法係最適於非觸 摸相關性雜訊居於主導地位之情況。非觸摸相關性雜訊的 最大預期值可為一固定極限。在傳統方法所考慮的情況 下’觸摸位置量測點可經選擇以對應觸摸信號之振幅，其 中觸摸信號之振幅對最大預期雜訊值產生可接收之信號對 滹訊比右觸摸位置量測係針對超出給定臨限值之第一觸 摸#號資料予以執行，對於該觸摸信號資料之信號雜訊比 應該等於或超過臨限值對最大近似雜訊值之比率。因此， 夠问的臨限點對於確保計算出之觸摸位置具有某種精確度 係有關聯的。 利用超出特定臨限點之第一觸摸資料以計算觸摸位置之 84621 -22- 200402649 傳、、先方法對於觸感式雜訊之出現會沒有效果。當觸感式雜 訊出現時’最大近似信號對雜訊比不僅僅為觸摸信號振幅 &函數’因為動態觸感式雜訊隨著觸摸力道增加而與觸摸 。I 起增加。因此，代表觸摸信號特定振幅之臨限點會 與特定信號對雜訊比有關。 另外’當觸感式雜訊出現時，信號對雜訊比會隨著觸摸 L號圖形系統性變化，且會在圖形内的特定時間固守最大 值仏號對雜訊比之強度和時間兩者之中的最大值可由觸 摸信號圖形予以有效預測。 因此，當觸感式雜訊出現時，執行觸摸位置量測之較佳 時間元全取決於觸摸信號上升超過一特定振幅之最早時間 點以執行位置量測，如同傳統方法一般。觸感式雜訊會隨 著佗唬位準經由觸摸信號圖形之某些初始部分增加而減 少。所以，執行觸摸位置量測之較佳時間會取決於識別導 因於消減之雜訊振幅及增加之觸摸信號振幅的改良後之信 號雜訊比。執行觸摸位置量測之較佳時間相關於在信號上 升超出一特定位準之最早時間時擷取一位置量測值之方 法’會有某種程度的延遲。然而，在許多應用中，擷取觸 摸位置資訊時之些許延遲是無法被使用者偵測到的。另 外，於最低雜訊之較隹時間執行觸摸位置量測所達到之增 強後之精確度超出任何擴取位置量測值時之些微延遲。本 發明提供一種有利判斷在觸感式誤差和其它誤差源存在的 情況下，執行觸摸位置量測之較佳時間的方法及系統。 兩個強度不等的觸摸信號在其持續期間相同以及其中之 84621 -23 - 200402649 -的振幅在每-時點皆科另—信號振幅之較倍數 況下係視為具有相同的圖形。根據本發明之方法，觸丹 置量測之較佳時間代表動態觸感式誤差相對較小之時= 另外’對於觸摸位置量測之較佳時間係趨向以一觸摸 形狀之特性為特徵，其中該觸摸信號形狀之特性在认^ 觸摸信號圖形内係與一特定時間有關，而與觸摸信i = 無關。本發明之方法可與使用固定振幅臨限值之先前技ς 方法成對比。該等傳統方法計算在—給定之觸摸信; 於可變時間所取得之觸摸位置。藉由傳統方法，觸摸信^ 圖形相同，觸摸更加辦強 ϋ 點之資料予以計算。^《觸摸位置係由取於更加早期時 根據本發明，館招· A μ 觸摸位置可由觸摸信號圖形内部於一 時點集結之資料予以計算。藉由本方法對於觸摸位

之較佳時間精確_必需含括兩㈣斷 L 開始之判斷，以爲^ ^ ^ )’於觸摸位置量測之較佳時間已妹來 =判斷。這些判斷可依任一前後順序或同時予以^來 以及觸斷皆會反應觸摸信號最近歷史之某些範圍 觸^置直測時之信號值。因此，首先可判斷一觸摸 ^ π精由超出—狀臨限值之觸摸信號予以判斷一 般。相對於傳絲 / ，*觸摸信號超過一預定臨限值時， 件以偵測一觸經 點可在一、摸狀況，但卻未執行觸摸位置量測。一位置 時予以」於執行觸摸位置量測狀況之較佳時間得到滿足 可首先予以I :者，對於位置量測狀況之較佳時間之出現 丁以確立，並接著檢測力道歷史。若力道歷史顯示 84621 -24- 200402649 夠大之強度自一靜止位準緩步上升，則一觸摸狀況可視為 存在且對於位置量測之較佳時間係於較佳時間狀況發生之 時點予以取得。 一用於觸摸位置量測之較佳時點可由一藉由加總所有感 測斋#號之輸出所擷取到之觸摸信號予以判斷。然而，在 某二應用中由感測器#號或各種感測器信號之組合判 斷幸乂佳時間會是有利W。另夕卜，一用於觸摸位置量測之 不同較佳時間可針對每一個感測器信號予以韻。觸摸位 置精確度亦可藉由插人—觸摸信號或感測器信號以尋找觸 摸信號^樣值之間用於位置量測之信號值予以改良。 要注意用於告知一觸摸輸入之臨限值或力道信號歷史不 需承擔對傳統方法用於判斷觸摸位置之臨限值之關係。就 八本身％㈣’本發明可用於判if強度較小之觸摸輸入位 、在傳統万法中因缺乏達到一預定值而尚未予以顯示。 ^據本發明，1於韻—觸摸位置之方法包含識別-興較低觸摸信號祕 、 性。觸搓㈣ 週期呈相關性之觸摸信號形狀之特 旦測μ 圖形之特性偵測對應於—用於執行觸摸信號 里以判斷觸撞/上 、 始觸摸位置量測、、 相。在—實施财，用於啟 ^ ^ 觸摸信號形狀之特性係該觸摸信號之斜 率。當觸摸信號 予以執行。在另— 财值時，觸摸位置量測可 於觸發財’可制—相料率以作為用 計算作為於—#觸摸信號形狀。相對斜率可經過 予以除算之_ 精由在該特定時間之觸摸信號強度 丹<觸摸信號斜率。 84621 -25· 200402649 圖6A至6E之流程圖以概括且一般性術語描述本發明之 各種方法。本發明在圖6A之流程圖中予以概念性描述之方 法包含擷取一對應於一觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信號 (步騾605)。偵測觸摸信號中觸摸信號形狀之第一次出現（步 騾610)。利用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信號資 訊判斷觸摸位置（步騾615)。 依據本發明在圖6B所描述的另一種方法，使一觸摸信號 形狀與一觸摸信號誤差位準呈相關性（步驟620)。觸摸信號 誤差位準可表示與最大觸摸信號誤差相比更低之誤差位 準。與觸摸信號誤差位準呈相關性之觸摸信號形狀之識別 可由已知之觸控式螢幕設計特性予以計算，或可藉由其它 方式予以判斷。擷取一對應於觸控式螢幕上之觸摸之觸摸 信號（步騾625)並偵測觸摸信號形狀在觸摸信號中的第一次 出現（步騾630)。利用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸 信號資訊判斷觸摸位置（步騾635)。 本發明在圖6C之流程圖中概念性予以描述之另一方法包 含使一觸摸信號形狀與該觸摸信號中呈現之觸感式誤差局 部最小值產生相關性（步驟640)。觸感式誤差舉例可包含阻 尼效應誤差及/或慣性效應誤差。得以擷取一對應於觸控式 螢幕上之觸摸之觸摸信號（步騾645)並判斷觸摸信號形狀出 現於觸摸信號中之特定時間（步騾650)。使用在特定時間得 到之觸摸信號資訊判斷觸膜位置（步驟655)。 本發明之又一方法係在圖6D之流程圖中予以概念性描 述。根據該方法，得以擷取一由觸控式螢幕上之觸摸力道 84621 -26- 200402649 所引起之觸摸信號（步騾660)。得以偵測與最大力道有關聯 性之觸摸信號之時距内的觸摸信號形狀（步騾665)。與最大 觸摸力道有關聯性之時距可在第一次施加觸摸開始並在達 到觸摸信號峰部之後結束。在一實施例中，該時距在觸摸 信號降到低於一預定強度時結束。在另一實例中，當觸摸 仏號低於一預定強度時，時間間隔結束。觸摸位置係利用 反應偵測觸摸信號形狀而量測之觸摸信號資訊予以判斷 (步騾670)。 在本發明之再一方法中，得以擷取一與觸摸信號改變率 有關之誤差（步騾675)。得以基於觸摸信號改變率偵測取得 觸摸信號資訊時的特定時間（步騾680)。觸摸位置係利用在 特足時間所取得之觸摸信號資訊予以判斷（步驟685)。 圖6A至6E之流程圖中所描述之方法係進一步藉由圖7之 曲線圖予以描述。圖7描繪一觸摸信號7〇〇之實例性曲線 圖’其代表一具有一般圖形和持續時間之觸摸力道。來自 一或多個力道感測器之信號可用各種濾波及/或處理技術 予以處理並加以結合以形成觸摸信號700。觸摸事件已發生 之判斷舉例可對應於觸摸出現臨限點7〇5之偵測。一落於最 大觸摸力道740之内的觸摸信號形狀720提供一對應於一較 佳時間之位置點710，用以取得觸摸位置資訊込。對應於較 佳時間用以取得觸摸位置之觸摸信號形狀可舉例為一觸摸 信號之預定斜率。與一觸摸信號最大值相關之時距可於施 加觸摸之時點tINT1開始並在觸摸信號斜率於觸摸力道峰值 之後的時間點tINT2對應於一預定值730時結束。或者，時距 可在觸摸信號下降至低於一預定強度時結束。該結束時距 34; 84621 -27- 200402649 之預定強度舉例可經選擇以與自觸控式螢幕移除觸摸之時 間產生關聯。 觸摸位置量測可用例如有限脈衝響應（FIR)或無限脈衝響 應（IIR)滤波器等低通線性非時變（LT⑽波器予以改良以處 理觸摸信號。遽波處理可施加於感測器信號或該等感測器 信號之線性組合，如代表總觸摸力道之感測器信號之總 合。由於對抑制高頻機械式共振的需要，所選擇之以〗濾波 器呈現比一般輕敲式觸摸之持續時間還廣之脈衝響應。這 意指對於降低觸感式雜訊效應係最為重要之快速觸摸而 3，經過濾波之觸摸信號圖形之形狀緊密地對應於濾波器 脈衝響應。依此方式錢觸摸信號可提供—致性和可預測 性《等級予具有最高觸感式誤差成分之快速觸摸信號。另 夕，卜，快速難信號之形狀可藉由選擇特定m脈衝響應 予以控制到某-程度。控制及制快速變動觸摸信號形狀 <能力可更簡單且更有效地判斷觸摸位置量測之較佳時 間。例如，在考慮所有觸感式雜訊之形式，最高信號對雜 訊比之時點會發生在稍離峰部之時點。隨著一產生一致性 經過濾波之觸摸信號圖形之輕敲式觸摸，較佳時間可於一 偏離學部之特定時間偏離值、或—相對斜率之特定非零值 予以取得。 7 根據一發明之各種具體實施例，觸摸位置量測之較㈣ 間可藉由圖8至U中所述之許多方法予以判斷。在—圖8之 流程圖所描述之具體實施例中，較佳相可經取得而為^ 對斜率降至-預定值下時之第—相。如圖㈣述，觸摸作 84621 -28 - 200402649 號係精由前述方法予以取樣（步職G)且相對斜率亦叙 述万法予以計算（步驟82G)。當相對斜率下降到低於—預定 值時（步驟83G)，執行觸摸位置量測（步驟84〇)。 在圖9所述的另一具體實施例中，觸摸位置量測之較 間:為觸摸信職於峰㈣。基於♦部之㈣判斷觸摸位 f量測之較佳時間可依許多方式予以體現。時間圖形之第 -時曰間導數藉由將時間t2時量測到的總力道減去在稍前時 間h里測到 < 總力道予以近似算出。相對斜率接著可 對時間t2時總力道之比值。 在一具體實施例中，觸摸位置量測之較佳時間係相對斜 =或此情況下等同為絕對斜率，符號由正轉負表示觸摸 仏號峰邵之時間。觸摸信號係經取樣（步驟910)且相對斜率 係經計算（步驟92〇)。一開始，當觸摸信號上升時，相對斜 率為正。當相對斜率變為負值時（步驟93〇)，偵測到峰部並 執行觸摸位置量測（步驟94〇)。 圖10之流程圖描述另一具體實施例，其中較佳時間可經 由相對斜率之絕對值低於某預定值時之最大時距下降一半 時予以算出。觸摸信號係經取樣（步驟1010)且相對斜率係經 計算（步騾1020)。反應觸摸信號下降到低於一預定值時之相 對斜率（步騾1025)，觸摸信號值係經儲存（步騾1〇3〇)。只要 在（步驟1045)計算出之相對斜率低於一預定值（步騾 1〇5〇)，則依據（步騾1〇30至1050)所界定之迴圈取樣觸摸信 號（步騾103 5)並儲存觸摸信號值（步騾1〇3〇)。當相對斜率大 於或等於預定值時（步騾1050)，執行觸摸位置量測之較佳時 84621 -29- 200402649 間係判斷為經由㈣存之觸摸信號值之串流為—半時之時 ，步二1055)。此方法藉由首先尋找寬廣辛部之邊緣定位其 央朴，且更可通用於1部較廣且平之滤波器脈衝響 應。此方法需要在寬廣導部之兩個邊緣已予判斷時保存記 憶體内之資料，其中保存時間係長収以㈣中間睾部。 另一具體實施㈣描述於wn之流程时，其中觸摸位 置量測之較佳時間在相料钱少之後於—固定延遲時距 I較低預定值。延遲時距可經選擇以匹配已由滤波 器所提供之頂部寬且扁之脈衝響應其峰部寬度之一半。一 觸摸尨唬係經取樣（步驟m〇)且相對斜率係經計算（步驟 113〇)。反應減少至低於一預定值之相對斜率（步驟114〇)， 一延遲係對於一預定時距予以啟始（步驟1150)。在延遲時距 之後，執行觸摸位置量測（步驟1160)。其它用於判斷一執行 觸摸位置量測較佳時間之方法及變形將為本行人士所明 白0 兩項额外之考量會因慢速觸摸或串流式觸摸的情況而產 生。對於慢速觸摸，夠慢之慢速觸摸有可能得到過量時間 以觸發觸摸位置量測之較佳時間。延遲在使用者顯而易見 且一較早響應已具有充分精確度之情況下可視為過度的。 另考量可為對一用於執行緣圖或拖拉功能之移動式觸摸 提供位置座標之連續或串接性流串。 一描述於圖12之流程圖中之本發明具體實施例降低在慢 速觸摸的情況下判斷執行觸摸位置量測之較佳時間時之過 度延遲效應。為了緩和過度延遲效應，可監測由於目前觸 -30 - 3S6 84621 200402649 摸狀況首先已予偵測而用去的時間，且在觸摸位置量測之 車乂佳時間已予判斷之前延遲超過一預定值的情況下可確立 逾時（time-out)。如圖12所述，觸摸信號係經取樣（步騾12〇5) 直到偵測到一觸摸狀況（步騾1210)。反應偵測觸摸狀況（步 驟1210)，觸摸信號持續受到取樣（步騾122〇)而計時器則遞 增（步騾1215)。若觸摸位置量測之較佳時間係在逾時（步騾 1240)<前偵測到（步騾123〇)，則執行觸摸位置量測（步騾 1270)。若觸摸位置量測之較佳時間未在逾時（步騾ι24〇)之 則债測到’則依據應用採取動作。在蓄意採用（taken as deliberate)慢速觸摸（步騾1245)的情況下，可於逾時時設立 位置量測點（步驟1250)。在一實施例中，觸摸系統可由使用 者设乂以假設慢速觸摸係蓄意的。在另一實施例中，控制 器可經配置以判斷何時可蓄意採用慢速觸摸。若觸摸之慢 速特性產生少量與觸摸有關之誤差，則為了達到充分之精 確度’不需於較佳時間執行觸摸位置量測。在應用之特性 建議該等慢速觸摸非蓄意（步騾1245)，而是導因於不小心的 情況下（步騾1260)，則可遮蔽觸摸信號直到目前之觸摸狀況 已予移除1265且新的觸摸狀況已產生，其中觸摸狀況之移 除係以觸摸信號強度下降到低於一臨限值的狀況予以標 示，而新觸摸狀況之產生係以觸摸信號強度上升至高於一 臨限值的狀況予以標示。 一串流式觸摸信號表示一觸摸穿越觸控式螢幕表面之移 動。此種觸摸類型產生連貫之觸摸座標定位，該等觸摸座 標定位係在初始向下觸摸座標之後產生且可持續直到觸摸 84621 -31- 200402649 狀況隨著觸摸信號下降至低於一預定之固定臨限值择束。 向下觸摸時之初始座標可依據任一上述方法所設立之位置 量測點予以計算。一般而言，串流式座標值將由經過處理 和過滤之力道感測益資料，選擇性地附加用以使座標串流 平滑之濾波過程予以連續計算。然而，當力道快速變動時， 有可能自觸摸相關性動態雜訊產生誤差。於該等時候，可 有利於忽略座標輸出，或重複最後一組精確值，直到力道 再次停止快速變動。該變動通常恰在向下觸摸之後呈快速 <力道下沈而發生，且若手指瞬間提起，於觸摸結束時再 次發生。 在一具體實施例中，改良之串流效應係在每當相對斜率 落於零值附近之預定範圍外時藉由抑制座標更新予以達 成。本具體實施例係描述於圖13之流程圖中。觸摸信號係 經取樣（步騾1305)直到觸摸位置量測之較佳時間已偵測到 (步驟1310)。反應偵測位置量測之較佳時間（步驟i3i〇”向 下觸摸位置係經計算並予以輸出(步驟1315)。在串流式觸摸 之情況下，觸摸正穿越觸控式螢幕之表面而移動，產生— 連績足觸摸狀況。觸摸信號持續經過取樣（步騾132〇)且總觸 摸力道係與一預疋之觸發（t〇uch_〇ff)臨限值作比較（步驟 1322)。，若力道低於串流式臨限值，則串流式觸摸輸出停 ^计算狀怨舉例可立即返回等待下一次觸摸（步騾13〇5)。 當總力道持續超出觸發臨限值時，料算信號之相對斜率 (步驟1325)。右相對斜率落於一預定範圍外（步驟丨33〇)，例 如零附近n則表示會因觸摸相關性動態誤差而導欲 84621 -32- 200402649 錯誤之快速變動信號。在此情況下，觸摸位置座標更新係 觉到抑制且最新計算出之位置值係予以輸出（步驟1335)。若 相斜率維持在預定範圍内（步騾133〇)，例如零附近之範圍 (步驟133G)，則執行另外之觸摸位置量測並予以輸出成串流 式觸摸位置（步騾1340)。 在另一具體實施例中，向下觸摸後所得到之第一串流座 心重複向下觸摸值，為時_預;^最小時間，或直到串流位 置私動土 y -最小預^距離。本具體實施例係以圖Μ之流 私圖予以描述。觸摸信號係經取樣（步騾“Μ)直到觸摸位置 量測之較佳時間已予偵測（步騾141〇)。當觸摸位置量測之較 佳時間债測到時（步驟141G)，則計算並輸出向下觸摸位置 (步驟1415)。在串流式觸摸之情況下，觸摸正穿越觸控式勞 幕之表面而移動’產生-連續之觸摸狀況。觸摸信號持續 經過取樣（㈣142G)總龍力道㈣—财觸發臨限值作 比=(步驟1422)。若力道低於觸發臨限值，則串流式觸摸輸 ^止。計算狀態舉例可立即返回取樣觸摸信號（步驟剛） 二^待下/人觸摸。若總力道持續超出觸發臨限值，則計 算，摸位置座標（步驟1425)。若自向下觸摸開始已經過一預 足最小時間（步驟143〇)，職出最近計算出之_位置座標 步騍1435)。同樣地，若向下觸摸位置與目前觸摸位置之間 勺距離超出一預定最小距離（步驟1440)，則輸出最近计算出 7摸位置座標（步驟1435)。若尚未經過該㈣最小時間 」^ 1430)且觸摸位置尚未移動該偏離向下觸摸位置之預 疋取小距離（步驟144G)，冑重複向下觸摸座標（步驟1445)。 as 84621 -33 - 200402649 若另外之濾波動作恰在最後輸出之前予以施加至座標位 置，則有利於保留濾波器輸入而非輸出。 一本發明之觸控式螢幕系統可用各種資料處理系統予以 有利地實現。立刻轉到圖15，一利用整合之觸控式螢幕與 顯示器之資料處理系統1500之方塊圖係依據一本發明之具 體實施例予以表示。系統1500使用一配置於一顯示器15〇8 上方<透明觸控式螢幕15〇6，該顯示器，如LCD顯示器， 係適用於資料處理應用。可使用其它如CRT顯示器、電漿 顯示器、LED顯示器、有機電致發光顯示器等類型之顯示 器。顯示器1508需要用於接合顯示器與資料處理器電腦 1510之顯示器控制系統電路15〇9，一觸控式螢幕控制系統 1507依據一本發明之具體實施例包含上述之驅動/感測電路 再加上觸控式勞幕控制系統處理器。觸控式螢幕控制系 統15 0 7係耦接至資料處理器電腦i 5丨〇以提供依據本發明之 方法而得到觸摸資訊。 資料處理器1510取決於電腦系統應用可包含各種元件。 例如，資料處理器可包含一微處理器1512、各種記憶體電 路型式1514、-電源供應器·以及一或多個輸入/輸出介 面1516。輸入/輸出介面1516使資料處理系統連接至任何數 目之週邊I/O裝置1520，如鍵盤1521、指向裝置1522、以及 包含麥克風和揚聲器在内之音效裝置1523。資料處理系統 可另外包含一媒體資料儲存裝置1530，例如硬碟機或唯讀 光碟機，且可經由一實體或無線網路連接1540予以網路^ 接至其它資料處理系統。 84621 -34- 200402649 ㈤依據本發明描繪-觸控式螢幕系統1600，其中引用 圖1至：所描述之處理過程可予以實際體現為-電腦可讀 ，媒把或載體’例如一或多個圖16中所描繪之固定式及/或 可移除式貝料错存裝置161()，或者其它資料儲存或資料通 訊裝置。一或多個表示體現在可移除式資料儲存裝置1610 上，處理過程< 電腦程式162〇可予以載入各種置於觸控式 勞幕控制系統164〇内部之記憶體元件163〇，用以根據本發 明配置觸控式螢幕系統刪使其運作。電腦程式1620包含 才曰令，孩等指令在藉由圖16之觸控式螢幕系統處理器1650 予以喂取並執行時’使觸控式螢幕系統1600進行依據本發 明之原理執行用於偵測觸控式螢幕上之觸摸位置之步騾或 元件所需之步騾。 根據本發明之原理之觸摸感測方法及系統提供許多優 點。例如’觸摸位置量測可在觸摸信號之信號對雜訊比高 時予以執行。本文所述之觸摸感測方法係適合與各種資料 處理系統配合使用，其中資料處理系統包含個人資料助理 器（PDA)、電子儀表、手機、以及包含手持式、膝上型和桌 上型電腦在内之電腦。 本發明不應予以考濾為侷限於上述之特定實施例，而應 予以瞭解為含括所有本發明在附加之申請專利範圍内完全 提及之觀點。各種修改、等同處理過程、以及許多本發明 可予以應用之架構在複習本詳細說明書之後即將為本發明 所針對之本行人士所顯知。該等申請專利範圍係易欲於含 括該等修改及處理過程。 84621 -35- 200402649 【圖式簡單說明】 本發明可配合附加之圖式藉由本發明在上述各種具體實 施例中之詳細說明令人更加完整明瞭，其中： 圖1根據一本發明之具體實施例，概要描繪一於角落置有 力道感測器之觸控式螢幕之上視圖； 圖2根據一本發明之具體實施例，概要描繪一電容性力道 感測器之剖面圖； 圖3根據一本發明之具體實施例，概要描繪一於角落置有 力道感測器之觸控式螢幕之立體圖； 圖4描緣各種觸摸類型中力道強度與時間的關係圖； 圖5係根據一本發明之具體實施例，一觸控式螢幕和觸控 式勞幕控制系統的方塊圖； 圖6A-6E係根據本發明的具體實施例，描繪各種判斷觸摸 位置之方法的概念性流程圖； 圖7係根據一本發明之具體實施例，描繪一用於取得觸摸 位置資訊之觸摸信號臨限點和觸摸信號位置點； 圖8係根據一本發明之具體實施例，一朞於相對斜率預定 值判斷觸摸位置之較佳時間之方法的流程圖； 圖9係根據一本發明之具體實施例，一基於相對斜率符號 變化判斷觸摸位置之較佳時間之方法的流程圖； 圖1 〇係根據一本發明之具體實施例，一基於對應於相對 斜率預定值之觸摸信號範圍中間點判斷觸摸位置之較佳時 間之方法的流程圖； 圖11係根據一本發明之具體實施例，判斷一較佳時間之 84621 •36- 200402649 方法的流程圖，該較佳時間你選作在—寿應於相舒斜率預 定值之觸摸信號值之後之預定延遲之後的時間； /、 圖12係根據-本發明之具體實施例，—判斷—較佳時間 之方法的流程圖，該較佳時間係用於慢速觸摸之觸摸位= 量測； 圖13係根據一本發明之具體實施例，在相對斜率落於一 預足範圍之外時抑制串流式觸摸之觸摸位置值之方法的流 程圖； 圖14係根據-本發明之具體實施例，用於判斷—串流式 觸摸之觸摸位置之方法的流程圖； 圖15係根據-本發明之具體實施例，—利用觸摸感測介 面之資料處理系統的方塊圖； 圖16依據-本發明之具體實施例描續一觸控式控制器； 以及 圖17描繪經由抑制觸摸表面動作所導致之信號交變。 f發明可作各種修改及變形。本發明之特定具體實施例 已藉由圖式之貫施例予以表示且已作詳細說明。然而，應 瞭解本發明並不侷限於所說明之特定具體實施例。相對 地，意圖在於函括所有落於如附件申請專利圍所界定之 本發明料内之修改、同等物、及替代物。 【圖式代表符號說明】 100 觸摸表面 110’ 120, 130, 140觸摸感測器 210 觸摸表面 84621 -37- 200402649 215 220 225 233 234, 235 240 270 280 300 310, 320, 330, 340 350 352 355 410 420 430 500 501， 502, 503, 504 505 510, 520, 530, 540 511， 521， 531， 541 512, 522, 532, 542 550 560 84621 構造體或外罩 電容性感測器 互連物 附著地件 導電元件 中央突出物 承載面 間隔 觸摸表面 力道感測器 觸摸位置 觸摸裝置 觸摸力道 輕拍式觸摸 輕撫 連續性觸摸 觸控式螢幕 力道感測器 觸控式螢幕控制系統 驅動/感測電路 感測電路 驅動電路 控制系統 取樣電路及多工！§ -38- 類比對數位轉換器 處理器電路 滤波電路 計時器 記憶電路 擴取一對應於一觸控式螢幕605上之 觸摸之觸摸信號 偵測一觸摸信號形狀在觸摸信號中 的第一次出現 利用反應偵測觸摸信號形狀而得到 之觸摸信號資訊判定觸摸位置 使一觸摸信號形狀與一觸摸信號誤 差位準呈相關性 擴取一對應於觸控式螢幕上之觸摸 之觸摸之觸摸信號 偵測觸摸信號形狀在觸摸信號中的 第一次出現 利用反應偵測觸摸信號形狀而得到 之觸摸信號資訊判定觸摸位置 使一觸摸信號形狀與該觸摸信號中 呈現之觸感式誤差局部最小值產生 相關性 擷取一對應於觸控式螢幕上之觸摸 之觸摸信號 -39- 200402649 650 判定觸摸信號形狀出現於觸摸信號 中之特定時間 655 利用於特定時間得到之觸摸信號資 訊判定觸摸位置 660 擴取一由觸控式螢幕上之觸摸力道 所引起之觸摸信號 665 偵測與最大力道有關聯性之觸摸信 號之時距内的觸摸信號形狀 670 利用反應偵測觸摸信號形狀而量測 " 之觸摸信號資訊判定觸摸位置 675 擷取一與觸摸信號改變率有關之誤差 680 基於觸摸信號改變率偵測取得觸摸 信號資訊時的特定時間 685 利用在特定時間所取得之觸摸信號 資訊判定觸摸位置 700 觸摸信號 705 觸摸出現臨限點 710 位置點 720 觸摸信號形狀 730 預定值 740 最大觸摸力道 810 取樣觸摸信號 820 計算相對斜率 830 判定相對斜率是否小於預定值 84621 -40- 200402649 840 取得觸摸位置資訊的較佳時間 910 取樣觸摸信號 920 計算相對斜率 930 相對斜率是否為負值 940 取得觸摸位置訊的較佳時間 1010 取樣觸摸信號 1020 計算相對斜率 1025 判斷相對斜率是否小於預定值 1030 儲存觸模信號 1035 _ 取樣觸摸信號 1045 計算相對斜率 1050 判斷相對斜率是否小於預定值 1055 判定相對斜率值之中間點為取得觸 摸位置資訊之較佳時間 1110 取樣觸摸信號 1130 計算相對斜率 1140 判斷相對斜率是否小於預定值 1150 預定時距之延遲 1160 取得觸摸位置資訊的較佳時間 1205 取樣觸摸信號 1210 是否偵測到觸摸狀況 1215 啟始計時器 1220 取樣觸摸信號 1230 是否偵測到較佳時間 84621 200402649 1240 是否暫停 1245 是否蓄意減慢觸摸 1250 取得觸摸位置資訊的較佳時間 1260 不小心減慢觸摸 1265 遮蔽觸摸狀況直到已予移除 1270 取得觸摸位置資訊的較佳時間 1305 取樣觸摸信號 1310 是否為取得位置資訊之較佳時間 1315 計算並輸出向下觸摸位置 1320 取樣觸摸信號 1322 是否低於觸發臨限值 1325 計算相對斜率 1330 相對斜率是否在範圍之外 1335 執行觸摸位置量測並予以輸出成串 流式觸摸位置 1340 抑制觸摸位置座標更新並予以輸出 成串流式觸摸位置 1405 取樣觸摸信號 1410 是否為取得位置資訊之較佳時間 1415 計算並輸出向下觸摸位置 1420 取樣觸摸信號 1422 是否低於觸發臨限值 1425 計算觸摸位置 1430 是否已經過最小時間 1435 輸出計算出之觸摸位置 84621 -42- 是否偵測到最小距離 輸出向下觸摸位置座標 資料處理系統 透明觸控式螢幕 觸控制螢幕控制系統 顯示器 顯示器控制系統電路 資料處理器電腦 微處理器 記憶體電路 輸入/輸出介面 電源供應器 週邊I/O裝置 鍵盤 指向裝置 音效裝置 媒體資料儲存裝置 網路連接 觸控式螢幕系統 固定式及/或可移除式資料儲存裝置 電腦程式 記憶體元件 觸控式螢幕控制系統 觸控制螢幕系統處理器 觸摸位置資訊 -43 -

Claims (1)

1. 200402649 拾、申請專利範固： L 一種用於判斷一位於觸控式螢幕上之觸摸位置的方法，其 包含： 擷取一對應於一位於觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信 號； 使用固足之咳限值以判斷該觸摸信號代表一正確之 觸摸輸入； 销測觸摸信號中一預定形狀之第一次出現；以及 使用反應偵測該觸摸信號形狀所得到之觸摸信號資訊 判斷觸摸位置。 β 2·如申请專利範圍第丨項之方法，其中擷取該觸摸信號進一 步包含搞取一代表一觸摸力道之信號。 如申叫專利範圍第1項之方法，其中偵測該預定形狀之第 一出現包含偵測一取得觸摸信號資訊以判斷觸摸位置之 較佳時間。 4·如申請專利範圍第3項之方法，其中偵測該較佳時間包含 在觸摸信號中的觸摸信號誤差為最小時偵測一時間。 •如申請專利範圍第3項之方法，其中偵測該較佳時間包含 在觸摸信號中的阻尼效應誤差為最小時偵測一時間。 如申请專利範圍第3項之方法，其中偵測該較佳時間包含 在觸摸k號中的慣性效應誤差為最小時债測一時。 7 •如申請專利範圍第1項之方法，其中偵測該預定形狀之第 —次出現進一步包含偵測一觸摸信號之預定斜率。 如申清專利範圍第1項之方法，其中偵測該預定形狀之第 3B4 846之1 200402649 一次出現包含偵測一觸摸信號之預定相對斜率。 9·如申請專利範圍第8项之方*，其中偵測該預定相對斜率 包含，於-特定時間以該特定時間之觸摸信號強度除算 一觸摸信號斜率。 说如申請專利範圍第8項之方法，其中_該就形狀之第 —次出現包含，偵測相對斜率下降至低於一預定值之第 一次出現。 U·如申請專利範圍第8項之方法’其中偵測該預定形狀之第 —次出現包含，偵測相對斜率改變符號之第一次出現。 12·=申請專利第8項之方法，其中偵測該就形狀之第 久出現包含，偵測—觸摸信號點經過一觸摸信號之時 距為-半時之第-次出現，該相對斜率經過該觸摸信號 之時距係小於一預定值。 13·:申請專利範圍第8項之方法，其中偵㈣預定形狀之第 —次出現包含’在相對斜率下降至低於—預定值之後經 過-預定延遲時距偵測—觸摸信號點之第_次出現。 4’如申請專利範圍第丨項之*法，其中使用—固定之臨限值 以判斷該觸摸錢代表—正確之難輸人進—步包含， 判斷觸摸信號在觸摸信號中默形狀之第一次出 現之前超出一預定強度。 is .如申請專利範圍第i項之Μ，其中使用m臨限值 乂判斷,¾觸摸#號代表—正確之觸摸輸人進—步包含， $驗4觸摸k號以彳貞測該觸摸信號在偵測觸摸信號中預 疋形狀之第一次出現之後上升至高於一預定強度。 3£s δ46^ΐ -2- 200402649 16·如_請專利範園第3項之方法，其進一步包含，如果在一 預疋時距I後未偵測到該較佳時間且如果觸摸係蓄意慢 速的情況下取得觸摸位置資訊。 17·如申請專利範園第3項之方法，其進一步包含，如果在一 預疋時距4後未偵測到該較佳時間且如果觸摸係非蓄意 慢速的情況下遮蔽一觸摸信號輸出直至卜目#之觸摸狀 況已予移除。 认如申請專利範固第17項之方法，其中該目前之觸摸狀況係 在觸摸信號強度下降到低於一預定強度時予以移除。 19·如申請專利範圍第3項之方法，其進—步包含在觸摸係一 連續性觸摸的情況下於偵測到該較佳時間之後判斷一連 串觸摸位置。 如申請專利範圍第19項之方法，其中該在觸摸係一連續性 觸摸的情況下於偵測到該較佳時間之後判斷—連串觸摸 位置包含在㈣斜率下降龍於—環繞零值附近之預定 範圍時遮蔽一觸摸位置輸出。 如申請專利範圍第19項之方法，其進一步包含報告該一連 串觸摸位置中之第-觸摸位置作為—觸摸位置輸出直到 已經過一預定之時間時距為止。 22·如申請專利範圍第19項之方法，其進—步包含報主兮一連 串觸摸位置中之第一觸摸位置作為—觸摸位置輸出直到 觸摸位置經計算為一偏離該第一觸摸位置之預定距離為 23· 一種用於判斷一位於一 觸控式螢幕上之觸摸 位置的方 368 84621 200402649 法，其包含： 使一觸摸信號與一觸摸信號誤差位準產生關聯，· 擴取一觸摸信號，該觸摸信號係對應於一位於該觸控 式螢幕上之觸摸； 偵測觸摸信號中觸摸信號形狀之第一次出現；以及 使用反應偵測該觸摸信號形狀而得到之觸摸信號資訊 判斷觸摸位置。 24·如申請專利範圍第23項之方法，其中擷取該對應於位於觸 控式螢幕上之觸摸之觸摸信號進一步包含擴取一代表一 觸摸力道之信號。 25·如申請專利範圍第23項之方法，其中偵測該觸摸信號形狀 之第一次出現進一步包含偵測一觸摸信號之預定斜率。 26·如申请專利範圍第23項之方法，其中偵測一觸摸信號形狀 之第一次出現包含偵測該觸摸信號之預定相對斜率。 27·如申請專利範圍第23項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 觸摸信號誤差之位準產生關聯包含使觸摸信號形狀與一 和最大觸摸信號誤差相比位準更低之觸摸信號誤差產 生關聯。 28.如申請專利範圍第23項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 觸摸信號誤差位準產生關聯包含，在觸摸信號中之阻尼 政應誤差為最小時偵測一時間。 29·如申請專利範圍第23項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 觸摸信號誤差位準產生關聯包纟，在賴信$中之慣性 坆應誤差為最小時偵測一時間。 84621 200402649 如：：：利範園第22項之方法’其中偵測該觸摸信號形狀 ，卜次出現包含㈣—取得觸摸信號資訊以判斷觸摸 位置之較佳時間。 31· 一種用於判斷一觸控式螢幕上之觸摸位置的方法，其包 含： ’、 使-觸摸信號形狀與一觸感式誤差之局部最小值產生 關聯； 擷取一由一觸摸引起之觸摸信號； 判斷一特定時間，其中觸摸信號形狀係於該時間呈現 於觸摸信號t;以及 使用於孩特定時間取得之觸摸信號資訊判斷觸摸位 置。 2·如申請專利範圍第31項之方法，其中該擴取一由一觸摸引 起之觸摸信號包含擷取一代表一觸摸力道之信號。 如申凊專利範圍第31項之方法，其中偵測該觸摸信號形狀 於觸摸信號中呈現之特定時間包含判斷一取得觸摸信號 資訊用以判斷觸摸位置之較佳時間。 H如申請專利範圍第31項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 呈現於觸摸信號中之觸感式誤差之局部最小值產生關聯 包含使觸摸信號形狀與一觸摸信號期間阻尼效應誤差為 最小之時間有關聯。 35·如申請專利範圍第31項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 呈現於觸摸信號中之觸感式誤差之局部最小值產生關聯 包含使觸摸信號形狀與一觸摸信號期間慣性效應誤差為 36δ 8462l 200402649 最小之時間有關聯。 36·如申請專利範園第31項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 王現於觸摸信號中之觸感式誤差之局部最小值產生關聯 進一步包含，使一觸摸信號之預定斜率與觸摸信號中呈 現之觸感式誤差之局部最小值產生關聯。 37’如申請專利範圍第31項之方法，其中使該觸摸信號形狀與 呈現於觸摸信號中之觸感式誤差之局.部最小值產生關聯 進一步包含，使一觸摸信號之預定相對斜率與觸摸信號 中呈現之觸感式誤差之局部最小值產生關聯。 8·—種用於判if 一觸控式螢幕上之觸摸位置之方法，其包 含： 擴取一由一觸控式螢幕上之觸摸力道引起之觸摸信 號； 於一與最大觸摸力道有關聯之觸摸信號之時距内偵測 —觸摸信號形狀；以及 使用反應偵測觸摸信號形狀而取得之觸摸信號資訊判 斷觸摸位置。 9·如申請專利範圍第38項之方法，其中於該與最大觸摸力道 有關聯之觸摸信號之時距内偵測觸摸信號形狀包含，在 一開始於一觸摸施加且在一觸摸信號之斜率下降至低於 一預定值時結束之時距内偵測觸摸信號形狀。 4〇·如申請專利範圍第38項之方法，其中於該與最大觸摸力道 有關聯之觸摸信號之時距内偵測觸摸信號形狀包含，在 —開始於一觸摸施加且在一觸摸信號之強度下降至低於 36 S 84621 200402649 一預定值時結束之時距内偵測觸摸信號形狀。 41·如申請專利範圍第38項之方法，其中於該與最大觸摸力道 有關聯之觸摸信號之時距内偵測一觸摸信號形狀包本， 偵測一取得觸摸信號資訊用以判斷觸摸位置之較佳時 間。 42·如申請專利範圍第41項之方法，其中偵測該較佳時間包 含，在觸摸信號中之觸摸信號誤差為最小時偵測一時間。 43·如申請專利範圍第41項之方法，其中偵測該較佳時間包 含，在觸摸信號中之阻尼效應誤差為最小時偵測一時間。 44·如申請專利範圍第37項之方法，其中偵測該較佳時間包 含，在觸摸信號中之慣性效應誤差為最小時偵測一時間。 45·如申請專利範圍第38項之方法，其中在該與最大觸摸力道 有關聯之觸摸信號之時距内偵測觸摸信號形狀進一步包 含，偵測一觸摸信號之預定斜率。 6·如申請專利範圍第38項之方法，其中在該與最大觸摸力道 有關聯之觸摸信號之時距内偵測觸摸信號形狀包含，偵 測一觸摸信號之預定相對斜率。 47·-種用於判斷-觸控式勞幕上之觸摸位置的方法，其包 含： 擷取一代表一觸控式螢幕上之觸摸之觸摸信號，該觸 摸信號具有一與觸摸信號變動率有關之誤差； 基於孩觸摸信號變動率偵測一取得觸摸信號資訊用以 判斷觸摸位置之特定時間；以及 使用於居特足時間取得之觸摸信號資訊判斷觸摸位

   84621 200402649 置。 48. 一種觸控式勞幕系統’其包含： 一觸摸表面； 複數個觸摸感測器，其中每一個觸摸感測器皆實體耦 接至觸摸表面，並反應一施加至觸摸表面之力道而產生 一感測器信號；以及 一摘接至該等觸摸感測器並接收該等感測器信號之控 制系統，該控制系統擷取一對應於觸控式螢幕上之觸摸 之觸摸信號、偵測觸摸信號中之觸摸信號形狀之第一次 出現、以及使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信 號資訊判斷觸摸位置。 49. 如申請專利範圍第4 8項之系統，其中該等觸摸感測器包含 力道感測器。 50·如申請專利範圍第48項之系統，其中該等觸摸感測器包含 電容性力道感測器。 51·如申請專利範圍第48項之系統，其中該觸摸表面呈實質麵 形’且在觸控式勞幕之每一個角落各置有一觸摸感測器。 52·如申請專利範圍第51項之系統，其中每一個觸摸感測器皆 產生感測器信號’該感測器信號代表一於一位於觸摸感 測器之位置感測到之觸摸力道。 53·如申請專利範圍第48項之系統，其中該控制系統藉由結合 一或多個感測器信號驅動一或多個觸摸信號。 54·如申請專利範圍第48項之系統，其中該控制系統包含一濾 波器，該濾波器係用於濾波由該等觸摸感測器所產生之 ^4621 200402649 觸摸信號。 55·如申請專利範圍第54項之系統，其中該濾波器包含一數位 濾波器。 •如申請專利範圍第55項之系統，其中該數位濾波器包含一 有限脈衝響應濾波器或一無限脈衝濾波器。 57 如申請專利範圍第48項之系統，其中該用於判斷觸摸位置 之觸摸信號形狀包含一由處理器所計算之觸摸信號斜 率。 58 如申請專利範圍第48項之系統，其中該處理器於一特定時 間藉由觸摸信號於該特定時間之強度進行除算以計算一 觸摸信號之相對斜率作為觸摸信號之斜率。 種觸控式螢幕顯示系統，其包含·· —觸控式螢幕系統，其包括： 一觸摸表面； 複數個觸摸感測器，其中每一個觸摸感測器皆實體 輕接至觸摸表面，並產生一反應施加於該觸摸表面之 觸摸之感測器信號； 一搞接至該等觸摸感測器並接收該等感測器信號之 控制系統’該控制系統擷取一對應於觸控式螢幕上之 觸摸&觸摸信號、偵測觸摸信號中觸摸信號形狀之第 一次出現、並且使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之 觸摸馆號資訊判斷觸摸位置；以及 顯示器，该顯示器係用於顯示通過觸控式螢幕系矣、 之資訊。 ·、、死 37 ^4621 200402649 6〇·如申請專利範圍第59項之系統，其中該顯示器係一液晶顯 不器、一發光二極體顯示器、一電漿顯示器、一有機電 致發光顯示器、或一陰極射線管顯示器。 61. 如申請專利範圍第59項之系統，其中該等觸摸感測器包含 力道感測器。 62. 如申請專利範圍第59項之系統，其中每一個觸摸感測器皆 產生一感測器信號，該感測器信號代表一於一觸摸感測 器之位置感測到之觸摸力道。 63·如申請專利範圍第59項之系統，其中該控制系統藉由結合 或夕個感測备^[吕號而取得一或多個觸摸信號。 64· —種顯示系統，其包含： 一觸控式螢幕系統，其包括： 一觸摸表面； 複數個觸摸感測器，其中每一個觸摸感測器皆實體 李馬接至觸摸表面，並產生一反應施加於該觸摸表面之 觸摸之感測器信號； 一耦接至該等觸摸感測器並接收該等感測器信號之 控制系統，該控制系統擷取一對應於觸控式螢幕上之 觸摸之觸摸信號、偵測觸摸信號中觸摸信號形狀之第 一次出現、並且使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之 觸摸信號資訊判斷觸摸位置； 一用於顯示資訊之顯示器；以及 一耦接至顯示器和觸控式螢幕系統之處理器，該處理 器係用於處理要予以顯示在顯示器上之資料及來自觸控 咏21 - 10 - 200402649 式螢幕系統所接收到之資訊。 65·如申請專利範圍第以項之系统，丨中該顯示器顯示通過觸 控式螢幕之資訊。 66. 如申請專利範圍第64項之系統，其中該顯示器係一液晶顯 示器、一發光二極體顯示器、一電漿顯示器、一有機電 致發光顯7F器、或一陰極射線管顯示器。 67. 如申請專利範圍第64項之系統，其中該處理器接收與一產 生於觸控式勞幕上之觸摸有關之資訊，其中該資訊係相 對於顯示在顯示器上之資訊。 申明專利範圍第64項之系統，其中該等觸摸感測器包含 力道感測器。 69·如申請專利範園第64项之系妨甘+ > ^ 圓示斗/、义糸統，其中每一個觸摸感測器皆 產生感測器信號，該咸測哭於咕+士 、 ^ 邊悠測詻“唬代表一於一觸摸感測器 之位置感測到之觸摸力道。 7〇·如申請專利範圍第64謂之系餘、 、 <糸、、死，其中孩控制系統藉由結合 或^個感/則器^號而取得一或多個觸摸信號。 L如申請專利範圍第64項之系統，其進一步包含： 一或多個耦接至該處理器用於儲存資料之資料儲存 置； 一或多個用於將資訊傳送至處理器之輸入裝置；以及 一或多個用於自處理器傳送資訊之輸出裝置。 72·如申請專利範圍第64項之系統，其進一步包含一或多個用 於將該系統耦接至一或多個網路之介面。 73· —種用於判斷一觸控式螢幕上之觸摸位置的系統，其包 以4 84621 -11- 200402649 含： 用於擷取一觸摸信號的構件，該觸摸信號係對應於一 觸控式螢幕上之觸摸； 用於偵測一觸摸信號中觸摸信號形狀之第一次出現的 構件；以及 使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信號資訊判 斷觸摸位置的構件。 74.如中請專利㈣第73項之系統，其中該用於擷取觸摸信號 〈構件進-步包含用於擴取—代表—觸摸力豸之信號的 構件。 •如申請專利la m第73項之系統，其中該用於㈣觸摸信號 形狀第-次出現之構件包含用於H取得觸摸信號資 訊以判斷觸摸位置之較佳時間的構件。 •如申請專利ί& 11第75項之系統，其中該用於制較佳時間 的構件包含用於在觸摸信號中之觸摸信號誤差為最小時 偵測一時間的構件。 7·如申請專利範圍第73項之系統，其中該用於偵測該觸摸信 唬形狀第一次出現的構件進一步包含用於偵測一觸摸信 號斜率之構件。 78·如申請專利範圍第73項之系統，其中該用於偵測該觸摸信 唬形狀第一次出現的構件包含用於偵測一觸摸信號預定 相對斜率之構件。 79. 一種用於判斷一觸控式螢幕上之觸摸位置的系統，其包 含： 84621 • 12 - 200402649 用於使一觸摸信號形狀與一觸摸信號誤差位準產生關 聯之構件； 用於擷取一觸摸信號之構件，該觸摸信號係對應於一 位於觸控式螢幕上之觸摸； 用於偵測觸摸信號中觸摸信號形狀第一次出現之構 件；以及 用於使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信號資 訊判斷觸摸位置的構件。 8〇· —種用於判斷一觸控式螢幕上之觸摸位置的系統，其包 含： 用於擷取一觸摸信號之構件，該觸摸信號係由一觸控 式螢幕上之觸摸力道引起； 用於在一與最大觸摸力道有關聯之觸摸信號時距内偵 測一觸摸信號形狀的構件；以及 用於使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信號資 訊判斷觸摸位置的構件。 81· 一種經配置具有可執行指令之電腦可讀取式媒體，該等可 執行指令係用於使一或多台電腦進行一判斷一觸控式螢 幕上之觸摸位置之方法，該方法包含： 擴取一觸摸信號’該觸摸信號係對應於一位於觸控式 螢幕上之觸摸； 偵測觸摸信號中觸摸信號形狀之第一次出現；以及 使用反應偵測觸摸信號形狀而得到之觸摸信號資訊判 斷觸摸位置。 37A 84621 •13-