TW200400162A - Anti-reflection film and display having the same - Google Patents

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TW200400162A
TW200400162A TW092109378A TW92109378A TW200400162A TW 200400162 A TW200400162 A TW 200400162A TW 092109378 A TW092109378 A TW 092109378A TW 92109378 A TW92109378 A TW 92109378A TW 200400162 A TW200400162 A TW 200400162A
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Michinori Nishikawa
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Description

200400162 Ο) 坎、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於,形成於透明基板與透明導電電極間 之防反射膜,透明基板與透明導電電極間有防反射膜之層 合體’以及具該層合體之顯示元件。更詳言之 係有關 於’適用於液晶顯示元件、電致發光顯示元件、電漿顯示 元件、場放射顯示元件、電泳顯示元件等,可用以提高耐 熱性及顯示元件之亮度的形成於透明基板與透明導電電極 間之防反射膜,透明基板與透明導電電極間有該防反射膜 之層合體,以及具該層合體之顯示元件。 【先前技術】 用以驅動顯示元件之電極基板,通常係用形成於玻璃 等透明基板上之透明導電電極。然而,因透明基板與透明 導電電極的折射率之差,來自光源之光部份反射,有顯示 元件亮度下降之問題。 對該問題,例如 MRS Fall Meeting Proceedings’ Vol. 660,JJ5,19 (2000)等提議,於透明基板與透明導 電電極間設低低折射率之透明層,即可減少反射光,有效 提升畫面亮度。 但是,低折射率層之形成材料若用通常已知的(甲基 )丙烯醯系聚合物、含氟有機聚合物等時,透明導電電極 之形成過程、顯示元件製程等實用上耐熱性差’難以用於 顯示元件。 -5- (2) (2)200400162 【發明內容】 本發明係爲解決上述問題而完成者,其目的在提供適 用以提升各種顯示元件之亮度,形成於透明基板與透明導 電電極折射率低且耐熱性優之防反射膜,形成於透明基板 與透明導電電極間之低折射率且耐熱性優之防反射膜,透 明基板與透明導電電極間有該防反射膜之層合體以及具備 該層合體顯示元件。 本發明之其它目的及優點,應可由以下說明得知。 根據本發明,本發明之上述目的及優點,第一係藉形 成於透明基板與透明導電電極間之防反射膜,其特徵爲: 於波長633奈米之折射率在1.33以下達成。 根據本發明,本發明之上述目的及優點,第二係藉透 明基板與透明導電電極間有防反射膜之層合體達成。 又’依據本發明,本發明之上述目的及優點,第三係 藉具備上述層合體之顯示元件達成。 【實施方式】 以下詳細說明本發明之之防反射膜。 本發明之防反射膜,係形成於透明基板與透明導電電 極間之防反射膜,其特徵爲:於波長633奈米之折射率在 1·33以下。波長633奈米之折射率以在ι·3〇以下爲佳, 1 · 2 8以下更佳。 本發明之防反射膜係以具於顯示元件製程中可耐加熱 之耐熱性爲佳。 -6 - (3) (3)200400162 耐熱性可藉例如,於3 5 0 °C氮氣下加熱5小時,以加 熱前後膜厚之變化率,即加熱後膜厚對加熱前膜厚之比評 估。本發明之防反射膜係以該變化率之絕對値在5 %以下 爲佳,3 %以下更佳,2 %以下尤佳。 本發明之防反射膜僅須具如上之折射率及耐熱性,其 原料、形成法無限,例如,可係含選自下述式(1)至 (3 )各化合物之至少一種化合物的水解/縮合產物者。
RaSi (OR1) 4-a (1) (式中R表氫原子、氟原子或1價有機基,R1表1價有 機基,a係1或2。)
Si (OR2) 4 (2) (式中R2表1價有機基。) R3b (R40) 3-bSi- (R7) d-Si (OR5) 3-cR6c (3) (式中R3至R6各表相同或不同的1價有機基’ r7表氧 原子、亞苯基或-(CH2) η所表之基(其中η係1至6之 整數),b及c係相同或不同的0至2之整數,d係〇或 上述式(1)中R及Rl之1價有機基有例如’院基 -7- 1 ° ) (4) 200400162 、芳基、烯丙基、環氧丙基等。 上述式(1)之R以1價有機基爲佳,烷基或 更佳。 烷基以碳原子數1至5爲佳。可係鏈狀或分枝 烷基之具體例有甲基、乙基、丙基、丁基等。又, 所含之氫原子亦可經氟原子等取代。 上述芳基有例如苯基、萘基、丁苯基、乙苯基 基、溴苯基、氟苯基等。 上述式 (1)所表化合物之具體例有,三甲氧 、三乙氧基矽烷、氟三甲氧基矽烷、氟三乙氧基矽 基三甲氧基矽烷、甲基三乙氧基矽烷、乙基三甲氧 、乙基三乙氧基矽烷、乙烯三甲氧基矽烷、乙烯三 矽烷、正丙基三甲氧基矽烷、正丙基三乙氧基矽烷 基三正丙氧基矽烷、正丙基三異丙氧基矽烷、苯基 基矽烷、苯基三乙氧基矽烷、7 -胺基丙基三甲氧 、7 -胺基丙基三乙氧基矽烷、r-環氧乙氧基丙基 基矽烷、r -環氧丙氧基丙基三乙氧基矽烷、τ -三 三甲氧基矽烷、r-三氟丙基三乙氧基矽烷、二甲 氧基矽烷、二甲基二乙氧基矽烷、二甲基二正丙氧 、二乙基二甲氧基矽烷、二乙基二乙氧基矽烷、二 甲氧基矽烷、二苯基二乙氧基矽烷、二乙烯二甲氧 、二乙烯二乙氧基矽烷等。 這些上述式 (1)所表之化合物中較佳者有, 甲氧基矽烷、甲基三乙氧基矽烷、乙基三甲氧基矽 苯基爲 。較佳 這些基 、氯苯 基矽烷 烷、甲 基矽烷 乙氧基 、正丙 三甲氧 基矽烷 三甲氧 氟丙基 基二甲 基矽烷 苯基二 基矽烷 甲基三 烷、乙 -8 · (5) (5)200400162 基三乙氧基矽烷、乙烯三甲氧基矽烷、乙烯三乙氧基矽烷 、苯基三甲氧基矽烷、苯基三乙氧基矽烷、二甲基二甲氧 基矽烷、二甲基二乙氧基矽烷、二乙基二甲氧基矽烷、二 乙基二乙氧基矽烷等。 上述式(2)中R2所表1價有機基有如同上述式(1) 之1價有機基的具體例1價有機基。 上述式 (2)所表之化合物的具體例有,四甲氧基矽 烷、四乙氧基矽烷、四正丙氧基矽烷、四異丙氧基矽烷、 四正丁氧基矽烷、四(二級丁氧基)矽烷、四(三級丁氧 基)矽烷、四苯氧基矽烷等。 其中以四甲氧基矽烷及四乙氧基矽烷爲佳。 上述式 (3)中R3至R6所表之1價有機基有如同上 述式 (1)的1價有機基之具體例的1價有機基。 上述式 (3)中,R7係氧原子之化合物有例如,六甲 氧基二矽氧烷、六乙氧基二矽氧烷、1,1,3,3 -四甲氧基-1,3 -二甲基二矽氧烷、1,1,3,3 -四乙氧基-1,3 -二甲基 二矽氧烷、1,1,3,3 -四甲氧基-1,3 -二乙基二矽氧烷-1, 1,3,3 -四乙氧基-1,3 -二乙基二矽氧烷、1,1,3,3 -四甲 氧基-1,3 -二苯基二矽氧烷' 1,1,3,3 -四乙氧基-1,3 -二 苯基二矽氧烷、1,3 -二甲氧基-1,1,3,3 -四甲基二矽氧烷 、1,3 -二乙氧基-1,1,3,3·四甲基二矽氧烷、1,3 -二甲 氧基-1,1,3,3·四乙基二矽氧烷、1,3-二乙氧基-1,1,3 ,3 -四乙基二矽氧烷等。 其中較佳者有例如,六甲氧基二矽氧烷、六乙氧基二矽 -9 - (6) (6)200400162 氧欠元、1,1,3,3-四甲氧基_丨,3-二甲基二矽氧烷、丨,j, 3,3-四乙氧基-1,3-二甲基二矽氧烷、丨,3_二甲氧基_丨,丄 ,3,3 -四甲基一砂氧院、1,%二乙氧基·ι,1,3,四甲 基二矽氧烷。 又’上述式(3)中d係0之化合物有例如,六甲氧基 乙石夕;丨兀八乙氧基乙矽院、1,1,2,2 -四甲氧基-1,2 -二甲 基乙砂院、1,1,2,2-四乙氧基_丨,2-二甲基乙矽烷、1,i ,2,2 -四甲氧基-1,2·二乙基乙石夕垸、1,i,2,2 -四乙氧 基-1,2-二乙基乙矽烷等。 上述式(3)中R7係·(CH2) ^之化合物有例如,雙(三 甲氧基砂烷基)甲烷、雙(三乙氧基矽烷基)甲烷' 1,2_ 雙(三甲氧基矽烷基)乙烷、1,2-雙(三乙氧基矽烷基) 乙烷、雙(二甲氧基甲基矽烷基)甲烷)、雙(二乙氧基 甲基矽烷基)甲烷等。 本發明中’上述式(1)至(3)之化合物可單獨或組 合2種以上使用。 本發明所用,選自上述式(1)至(3)之化合物的至 少1種化合物之水解/縮合產物,「水解」係指選自上述式 (1)至(3)的化合物之至少1種化合物所含的;^〇-基、 R2〇-基、R40-基或R50·基與水反應產生矽烷醇基之反應。此 時,R1。-基、R20-基、R40-基或1^5〇_基不須全部水解,僅須 其一部份水解者即可,亦可係水解程度不同者之混合物。 「縮合」係指上述「水解」產生之矽烷醇間起縮合反應 產生S卜Ο-S“吉合。此時’矽烷醇基不須全部縮合,應理解 -10- (7) (7)200400162 係包含僅其一部份縮合者,縮合程度不同者之混合物等之槪 念。 如此之水解反應、縮合反應之施行條件無特殊限制,其 一例如下。 亦即,可將選自上述式(1)至(3)之各化合物所成 群之至少1種化合物溶解於適當溶劑,加水進行水解反應及 縮合反應。 此時,上述式(2)化合物之使用量,換算成完全水解 產生的水解縮合產物之比率,以對上述式(1)至(3)各 化合物總量5至75重量%爲佳,10至70重量%更佳,15至 70重量%特佳。以如此之使用量,可得彈性率優之防反射 膜。 在此以利用上述式(1)之化合物及上述式(2)之化 合物作原料爲較佳。此點雖然係對防反射膜性能本身無甚 影響,但由後敘的防反射膜形成用組成物之保存安定性則 有必要。 而「換算成完全水解產生的水解/縮合產物」意指,換 算成上述式 (1)至 (3)各化合物中R'O-基、R2〇-基、R4〇-基及R5〇-基全部100%水解成矽烷醇基,再完全縮合成具矽 氧烷構造的產物之重量。 施行水解反應、縮合反應之際,對選自上述式(1)至 (3)各化合物所成群之至少1種化合物中之烷氧基1莫耳, 以用0.8至20莫耳的水爲佳,以加〇.8至15莫耳之水爲特 佳。添加水量不及〇. 8莫耳時,防反射膜之抗龜裂性差,超 -11" (8) (8)200400162 過2 0莫耳則防反射膜表面均勻性或差。 施行水解反應、縮合反應時之溫度以〇至1 〇〇t爲佳, 15至80°C爲更佳。反應時間以1〇分鐘至20小時爲佳,3〇 分鐘至1 5小時更佳,3 0分鐘至1 0小時又更佳。 用於水解反應、縮合反應時之溶劑有例如,選自醇溶劑 、酮溶劑、醯胺溶劑、酯溶劑及質子惰性極性溶劑之群的至 少1種。 其中以醇溶劑、酯溶劑爲佳。 上述醇溶劑有例如,甲醇、乙醇、正丙醇、異丙醇、正 丁醇、異丁醇、二級丁醇、三級丁醇、正戊醇、異戊醇、2-甲基丁醇、二級戊醇、三級戊醇、3-甲氧基丁醇、正己醇、 2-甲基戊醇、二級己醇、2-乙基丁醇、二級庚醇、庚醇-3、 正辛醇、2-乙基己醇、二級辛醇、正壬醇、2,6-二甲基庚 醇-4、正癸醇、二級十一醇、三甲基壬醇、二級十四醇、二 級十七醇、酚、環己醇、甲基環己醇、3,3,5-三甲基環己 醇、苯甲醇、二丙酮醇等之單醇溶劑; 乙二醇、1,2-丙二醇、1,3-丁二醇、戊二醇-2,4、2-甲基戊二醇-2,4、己二醇-2,5、庚二醇-2,4、2-乙基己二 醇-1,3、二乙二醇、二丙二醇、三乙二醇、三丙二醇等之 多元醇溶劑; 乙二醇單甲醚、乙二醇單乙醚、乙二醇單丙醚、乙二醇 單丁醚、乙二醇單己醚、乙二醇單苯醚、乙二醇單2-乙基 丁醚、二乙二醇單甲醚、二乙二醇單乙醚、二乙二醇單Η醚 、二乙二醇單丁醚、二乙二醇單己醚、丙二醇單甲醚、丙二 -12- (9) (9)200400162 醇單乙醚、丙二醇單丙醚、丙二醇單丁醚、二丙二醇單甲醚 、二丙二醇單乙醚、二丙二醇單丙醚等之多元醇的部份酯溶 劑。 其中以用甲醇、乙醇、正丙醇、異丙醇、正丁醇、異丁 醇、二級丁醇、三級丁醇、正戊醇、乙二醇單甲醚、乙二醇 單乙醚、乙二醇單丙醚、乙二醇單丁醚、二乙二醇單甲醚、 二乙二醇單乙醚、二乙二醇單丙醚、二乙二醇單丁醚、丙二 醇單甲醚、丙二醇單乙醚、丙二醇單丙醚、丙二醇單丁醚、 二丙二醇單甲醚、二丙二醇單乙醚、二丙二醇單丙醚爲佳。 這些醇溶劑可使用1種或2種以上倂用。 上述酮溶劑有例如丙酮、丁酮、甲基正丙基酮、甲基正 丁基酮、二甲基酮、甲基異丁基酮、甲基正戊基酮、乙基正 丁基酮、甲基正己基酮、二異丁基酮、三甲基壬酮、環己酮 、2-己酮、甲基環己酮、2,4-戊二酮、丙酮基丙酮、苯乙 酮、葑酮等,以及乙醯丙酮、2,4-己二酮、2,4·庚二酮、 3,5-庚二酮、2,4-辛二酮、3,5-辛二酮、2,4-壬二酮、3 ,5-壬二酮、5-甲基-2,4-己二酮、2,2,6,6-四甲基-3, 5-庚二酮、1,1,1,5,5,5-六氟-2,4-庚二醇等之 yS-二 酮類等。 這些酮溶劑之中以用丁酮、甲基正丙基酮、甲基正丁基 酮、二乙基酮、甲基異丁基酮、甲基正戊基酮、環己酮爲佳 〇 這些酮溶劑可使用1種或2種以上倂用。 上述醯胺溶劑有例如甲醯胺、N-甲基甲醯胺、N,N·二 -13- (10) 200400162 甲基甲醯胺、N -乙基甲醯胺、N,N -二乙基甲醯胺、 、N -甲基乙醯胺、n,N·二甲基乙醯胺、N -乙基乙翻 ,N-二乙基乙醯胺、N_甲基丙醯胺、N_甲基吡咯烷酮 醯嗎啉、N -甲醯哌啶、N -甲醯吡咯烷、N -乙醯嗎啉、 哌啶、N _乙醯吡咯烷等。 這些醯胺溶劑之中以用N-甲基甲醯胺、N,N-二 醯胺、N,N -二甲基乙醯胺爲佳。 這些醯胺溶劑可用1種或2種以上倂用。 上述酯溶劑有例如碳酸二乙酯、碳酸乙烯酯、碳 酯、碳酸二乙酯、乙酸甲酯、乙酸乙酯、r -丁內酯 內酯、乙酸正丙酯、乙酸異丙酯、乙酸正丁酯、乙酸 、乙酸二級丁酯、乙酸正戊酯、乙酸二級戊酯、乙p 氧基丁酯、乙酸甲基戊酯、乙酸2-乙基丁酯、乙酸 己酯、乙酸苯甲酯、乙酸環己酯、乙酸甲基環己酯、 壬酯、乙醯乙酸甲酯、乙醯乙酸乙酯、乙二醇單甲醚 、乙二醇單乙醚乙酸酯、二乙二醇單甲醚乙酸酯、二 單乙醚乙酸酯、二乙二醇單正丁醚乙酸酯、丙二醇單 酸酯、丙二醇單乙醚乙酸酯、丙二醇單丙醚乙酸酯、 單丁醚乙酸酯、二丙二醇單甲醚乙酸酯、二丙二醇單 酸酯、乙二醇二乙酸酯、甲氧基三甘醇乙酸酯、丙酸 丙酸正丁酯、丙酸異戊酯、草酸二乙酯、草酸二丁酯 甲酯、乳酸乙酯、乳酸正了酯、乳酸正戊酯、丙二酸 、酞酸二甲酯、酞酸二乙酯等。 這些酯溶劑之中以用例如r · 丁內酯、乙酸乙 乙醯胺 !胺、N 、N_甲 N-乙醯 甲基甲 酸丙烯 、r ‘戊 異丁酯 後3-甲 2-乙基 乙酸正 乙酸酯 乙二醇 甲醚乙 丙二醇 乙醚乙 乙酯、 、乳酸 二乙酯 醋、乙 -14- (11) (11)200400162 酸正丁酯、乙二醇單甲醚乙酸酯、乙二醇單乙醚乙酸酯、 二乙二醇單甲醚乙酸酯、二乙二醇單乙醚乙酸酯、二乙二 醇單正丁醚乙酸酯、丙二醇單甲醚乙酸酯、丙二醇單乙醚 乙酸酯、丙二醇單丙醚乙酸酯、丙二醇單丁醚乙酸酯、二 丙二醇單甲醚乙酸酯、二丙二醇單乙醚乙酸酯爲佳。 這些酯溶劑可用1種或2種以上倂用。 上述質子惰性極性溶劑有例如,乙腈、二甲亞硕、N ,N,N^ ,N^ —四乙基磺醯胺、六甲基磷酸三醯胺、N_ 甲基-2 -口比咯院酮、1,3 -二甲基-之-咪哗!!定酮、1,3 -二甲 基四氫-2 (1H)-嘧啶酮等。 這些質子惰性極性溶劑中以用N-甲基-2-吡咯烷酮、1 ,3-二甲基-2-咪唑啶酮爲佳。 這些質子惰性極性溶劑可用1種或2種以上倂用。 水解反應、縮合反應時溶劑之用量,對所用上述式(1) 至(3)各化合物總量100重量份,以200至5,000重量份 爲佳,300至4,000重量份更佳,400至3,000重量份又更佳 。該用量下,可得塗膜之塗布均勻性優的水解縮合產物。 本發明中,(A)選自上述式(1)至(3)各化合物所 成群之至少1種化合物的水解反應及縮合反應,係以於觸媒 之存在下進行爲佳。 此時可用之觸媒以碱觸媒爲佳。 該碱觸媒有例如,氫氧化鈉、氫氧化鉀、氫氧化鋰等之 無機碱化合物; 吡啶、吡咯、甲基吡啶、N-甲基吡咯、N-乙基吡咯、N- -15- (12) (12)200400162 甲基咪唑等之含氮芳族化合物; 單乙醇胺、二乙醇胺、二甲基單乙醇胺、單甲基二乙醇 胺、三乙醇胺等胺基醇化合物; 二吖雙環辛烷、二吖雙環壬烷、二吖雙環十一烷等含氮 縮合環化合物; 氫氧化四甲銨、氫氧化四乙銨、氫氧化四丙銨、氫氧化 四丁銨等之烷銨鹽; 哌嗪、吡咯烷、哌啶、N_甲基嗎啉、N•甲基-△ 3·吡略 啉、N-甲基哌啶、N-乙基哌啶、N,N-二甲基哌啶、N-甲基-4-哌啶酮、N-甲基-2-哌啶酮等之環胺化合物; 甲胺、乙胺、丙胺、丁胺等之烷基胺; N,N-二甲胺、N,N-二乙胺、N,心二丙胺等之二烷 基胺; 三甲胺、三乙胺、三丙胺等之三烷基胺; 氫氧化四乙銨等之氫氧化四烷基銨; 以及氨等。, 這些碱觸媒之中以烷基銨鹽、單烷基胺、二烷基胺、 三烷基胺、氫氧化四烷基銨及氨爲佳,單胺基胺、二烷基 胺、三烷基銨、氫氧化四烷基銨及氨爲特佳。用如此之碱 觸媒作水解反應、縮合反應,則所得本發明之防反射膜於 基板之密合性優。 這些碱觸媒可用1種或2種以上倂用。 _ 如此之碱觸媒的用量,對上述 (1)至(3)各化合物 中R1。-基、R2〇-基、R4〇-基及R5〇-基之總量1莫耳,以在 •16- (13) (13)200400162 10旲耳以下爲佳,0.0001至10莫耳爲更佳,0.00005至5 莫耳又更佳。碱觸媒用量在上述範圍內時,反應中少有聚合 物的析出、凝膠化之虞。 在無損於本發明效果之範圍,可倂用碱觸媒以外之其它 觸媒。 該其它觸媒有例如金屬螯合化合物。 上述金屬螯合化合物有例如,三乙氧基·單(乙醯丙酮根) 鈦、三正丙氧基•單(乙醯丙酮根)鈦、三異丙氧基•單 (乙醯丙酮根)鈦、二乙氧基•雙(乙醯丙酮根)鈦、二正 丙氧基•雙(乙醯丙酮根)鈦、二異丙氧基·雙(乙醯丙 酮根)鈦、單乙氧基•參(乙醯丙酮根)鈦、單正丙氧基 •參(乙醯丙酮根)欽、單異丙氧基·參(乙醯丙酮根) 鈦、肆(乙醯丙酮根)鈦、三乙氧基·單(乙基乙醯乙酸 根)鈦、三正丙氧基•單(乙基乙醯乙酸根)鈦、三異丙 氧基•單(乙基乙醯乙酸根)鈦、二乙氧基•雙(乙基乙 醯乙酸根)鈦、二正丙氧基•雙(乙基乙醯乙酸根)鈦、 二異丙氧基•雙(乙基乙醯乙酸根)鈦、單乙氧基•參( 乙基乙醯乙酸根)鈦、單正丙氧基•參(乙基乙醯乙酸根) 鈦、單異丙氧基•參(乙基乙醯乙酸根)鈦、肆(乙基乙 醯乙酸根)鈦、單(乙醯丙酮根)參(乙基乙醯乙酸根) 鈦、雙(乙醯丙酮根)雙(乙基乙醯乙酸根)鈦、參(乙 醯丙酮根)單(乙基乙醯乙酸根)鈦等之鈦螯合化合物; 三乙氧基•單(乙醯丙酮根)锆、三正丙氧基•單( 乙醯丙酮根)锆、三異丙氧基•單(乙醯丙酮根)锆、二 -17- (14) (14)200400162 乙氧基•雙(乙醯丙酮根)鍩、二正丙氧基·雙(乙醢丙 酮根)锆、二異丙氧基•雙乙醯丙酮根)鉻、單乙氧基· 參(乙醯丙酮根)锆、單正丙氧基•參(乙醯丙酮根)多告 、單異丙氧基·參(乙醯丙酮根)鉻、肆(乙醯丙酮根) 锆、三乙氧基•單(乙基乙醯乙酸根)鉻、三正丙氧基· 單(乙基乙醯乙酸根)鉻、三異丙氧基•單(乙基乙醯乙· 酸根)鉻、二乙氧基•雙(乙基乙醯乙酸根)锆、二正丙 氧基•雙(乙基乙醯乙酸根)鉻、二異丙氧基•雙(乙基 乙醯乙酸根)錐、單乙氧基•參(乙基乙醯乙酸根)銷、 單正丙氧基•參(乙基乙醯乙根)锆、單異丙氧基•參 ( 乙基乙醯乙酸根)銷、肆(乙基乙醯乙酸根)锆、單(乙 醯丙酮根)參(乙基乙醯乙酸根)鉻、雙(乙醯丙酮根) 雙(乙基乙醯乙酸根)鉻、參(乙醯丙酮根)單(乙基乙 醯乙酸根)鉻等之鍩螯合化合物; 參(乙醯丙酮根)鋁、參(乙基乙醯乙酸根)鋁等之 鋁螯合化合物等,其中以鈦或銷之螫合化合物爲佳,以鈦之 螫合化合物爲特佳。 這些金屬螫合化合物可用1種或2種以上倂用。 上述酸觸媒有例如鹽酸、硝酸、硫酸、磷酸、硼酸等無 機酸; 乙酸、丙酸、丁酸、戊酸、草酸、馬來酸、甲基丙二酸 、丁酸、苯甲酸、對胺基苯甲酸、對甲苯磺酸、苯磺酸、單 氯乙酸、二氯乙酸、三氯乙酸、甲酸、丙二酸、磺酸、駄酸 、富馬酸、檸檬酸、酒石酸、琥珀酸、衣康酸、中康酸、檸 •18- (15) (15)200400162 康酸、蘋果酸、戊二酸之水解物、馬來酸酐之水解物、酞酸 酐之水解物等有機酸。其中以有機酸爲較佳。 這些酸觸媒可用1種或2種以上倂用。 如此,倂用碱觸媒以外之其它觸媒時,其用量對碱觸媒 100重量份,以在50重量份以下爲佳,30重量份以下更佳 〇 本發明之防反射膜含選自上述式(1)至 (3)各化合 物所成群之至少1種化合物的水觸/縮合產物,且該水解反 應、縮合反應係以如上,於碱觸媒之存在下進行者爲佳。 但在無損於本發明效果之範圍以使用碱觸媒以外其它觸 媒所得之水解/縮合產物,與上述碱觸媒存在下所得之水解/ 縮合產物混合使用亦屬有效。 在此可用的碱觸媒以外之其它觸媒有,例示爲可與上述 碱觸媒倂用之其它觸媒的金屬螯合化合物及酸觸媒。 使用這些觸媒施行水解反應、縮合反應之際,上述式 (1)至(3)各化合物的使用比率之較佳範圍及可用溶劑, 與於上述碱觸媒存在下反應時間。 又’這些觸媒之較佳用量,與上述碱觸媒之較佳用量同 〇 使用碱觸媒以外之其它觸媒所得之水解/縮合產物,與 於上述碱觸媒存在下所得之水解/縮合產物混合使用時,其 用重係占水解/縮合產物之總量,以3 0重量%以下爲佳,2 0 重厘%以下更佳。該値超過3 0重量%時,塗膜之折射率有時 會大於特定値,無法發揮預期效果。 (16) (16)200400162 本發明之防反射膜係如上形成於透明基板與透明導電 電極間之防反射膜,其於波長633奈米之折射率在1.33以 下。 又,本發明之防反射膜僅須具如上之折射率及實用的 耐熱性,其原料、形成法無限,例如可含選自上述式(1) 至(3)各化合物所成之群的至少1種。 其次說明如此之本發明的防反射膜之形成方法。 本發明的防反射膜之形成方法無特殊限制,可用例如 依序實施以下過程之方法。 ① 含選自上述化合物所成群之至少1種化合物的水解/ 縮合產物及溶劑之防反射膜形成用組成物的準備過程。 ② 塗布上述防反射膜形成用組成物於透明基板上之過 程。 ③ 去除溶劑之過程。 又,必要時可追加加熱過程。而該加熱過程可於過程③ 後施行,亦可與過程③同時施行。 必要時亦可於上述③去除溶劑後以電子束、紫外線照射 〇 上述防反射膜形成用組成物含選自上述式(1) 、 (2) 及(3)之化合物所成群的至少1種之水解/縮合產物及溶劑 。在無損於本發明效果之範圍亦可含其它成分。 如此之其它成分有膠體狀氧化矽、膠體狀氧化鋁、有機 聚合物、界面活性劑、矽烷偶合劑等。 上述膠體狀氧化矽或膠體狀氧化鋁可添加以提升防反 -20- (17) (17)200400162 射膜之硬度。 膠體狀氧化矽係例如分散高純度之矽酐於上述親水性有 機溶劑之分散液,平均粒徑以5至30微米爲佳,10至20 微米更佳,固體成分濃度約1 〇至40重量%。如此之膠體狀 氧化矽有例如日產化學工業(股)製 METHANOL SILICA SOL 及 ISOBUTANOL SILICA SOL ;觸媒化成工業(股) 製OSCAL等。 膠體狀氧化鋁有日產化學工業(股)製 ALUMINA SOL 520、同 100、同 200;川硏 FINE CHEMICAL (股)製 ALUMINA CLEAR SOL,ALUMINASOL 10、同 132 等。 有機聚合物有例如,具糖鏈構造之化合物、乙烯醯胺系 聚合物、(甲基)丙烯醯系聚合物、芳族乙烯化合物、樹 枝狀聚合物、聚醯亞胺、聚醯胺酸、聚芳烯、聚醯胺、聚喹 喔啉、聚噁二唑、含氟聚合物、具聚環氧化物構造之化合物 〇 這些可1種單獨使用亦可2種以上倂用。 膠體狀氧化矽、膠體狀氧化鋁之用量,對上述式(1) 至(3)之各化合物總量(完全水解/縮合產物換算)100重 量份,以20重量份以下爲佳,1至20重量份爲更佳。 上述有機聚合物可添加以調整所得防反射膜之折射率 。如此的有機聚合物有’含聚環氧化物構造之化合物’聚環 氧乙烷聚環氧丙烷嵌段共聚物等。 上述含聚環氧化物構造之化合物有,含聚氧化亞甲基構 造之化合物,含聚環氧乙烷構造之化合物’含聚環氧丙院構 -21 - (18) (18)200400162 造之化合物,含聚環氧正丁烷構造之化合物,含環氧丁烷構 造之化合物。 含聚氧化亞甲基構造之化合物有分子量500至100,000 之聚氧化亞甲基; 含聚環氧乙烷構造之化合物有分子量500至100,000 之聚環氧乙烷; 含聚環氧烷構造之化合物有分子量500至100,000之 聚環氧丙烷; 含聚環氧正丁烷構造之化合物有分子量 500至 100,000之聚環氧正丁烷; 含環氧丁烷構造之化合物有分子量500至100,000之 聚環氧丁烷。 上述聚環氧乙烷聚環氧丙烷嵌段共聚物有,具如下嵌 段構造之化合物。 (A) (B) (A) (B) k- (A) i- (式中 A 表·CH2CH2O,B 表- CHhCH (CH〇 〇-,j 示 1 至 90 ,k示10至99,1示0至90之數) 其中含聚氧化乙烷構造之化合物,含聚環氧丙烷構造之 化合物,較佳例有聚環氧乙烷聚環氧丙烷嵌段共聚物。 這些可使用1種或2種以上倂用。 有機聚合物之用量,對上述式(1)至(3)之各化合 -22- (19) (19)200400162 物總量(完全水解/縮合產物換算)100重量份,以在30重 量份以下爲佳,0.1至3 0重量份更佳。 上述界面活性劑可添加以提升塗布防反射膜形成用組 成物於透明基板上時之塗布性。 如此之界面活性劑有例如非離子系界面活性劑、陰離子 系界面活性劑、陽離子系界面活性劑、雙性界面活性劑、含 氟界面活性劑、聚矽氧系界面活性劑、聚環氧化物系界面活 性劑、聚(甲基)丙烯酸酯系界面活性劑等。其中以含氟 界面活性劑及聚矽氧系界面活性劑爲佳。 上述含氟界面活性劑之市售品有例如以 MEGAFAC F142D、同F172、同F173、同F183 (以上大日本油墨化學工 業(股)製),EFTOP EF301、同303、同352 (新秋田化成 (股)製),FLUORAD、FC-430、同 FC-431 (住友 3M (股) 製),ASAHI GUARD AG710、SAFL〇N S-3 82、同 SC-101、 同 SC-102、同 SC-193、同 SC-104、同 SC-105、同 SC-106 ( 旭硝子(股)製),BM-1000、BM-1 100 (裕商(股)製), NBX-15 (NEOS (股))等名稱市售之含氟界面活性劑。其中 以 MEGAFAC F172、BM-1 000、BM-1 1 00、NBX-1 5 爲特佳 〇 又上述聚矽氧系界面活性劑可用例如,SH7PA、SH21PA 、SH30PA、ST94PA (均係 TOR A Y DOW CORNING SILICONE (股)製)等。 這些可用1種或2種以上倂用。 如此的界面活性劑之用量,對上述式(1)至(3)各 -23- (20) (20)200400162 化合物(完全水解/縮合產物換算)之總量100重量份,以 在10重量份以下爲佳,0.000 1至10重量份爲更佳。 上述矽烷偶合劑可添加以達提升本發明之防反射膜與 透明基板的密合性之目的。 如此之矽烷偶合劑有例如,3-環氧丙氧基丙基三甲氧基 矽烷、3-胺基環氧丙氧基丙基三乙氧基矽烷、3-甲基丙烯醯 氧基丙基三甲氧基矽烷、3-環氧丙氧基丙基甲基二甲氧基矽 烷、1_甲基丙烯醯氧基丙基甲基二甲氧基矽烷、3-胺基丙基 三甲氧基矽烷、3-胺基丙基三乙氧基矽烷、2-胺基丙基三甲 氧基矽烷、2-胺基丙基三乙氧基矽烷、N- (2-胺基乙基)-3-胺基丙基三甲氧基矽烷、N- (2-胺基乙基)-3-胺基丙基甲基 二甲氧基矽烷、3-脲基丙基三甲氧基矽烷、3-脲基丙基三乙 氧基矽烷、N-乙氧基羰基-3·胺基丙基三甲氧基矽烷、N-乙 氧基羰基-3-胺基丙基三乙氧基矽烷、N-三乙氧基矽烷基丙 基三乙三胺、N-三乙氧基矽烷基丙基三乙三胺、10-三甲氧 基矽氧基-1,4,7-三吖癸烷、10-三乙氧基矽烷基-1,4,7-三吖癸烷、9-三甲氧基矽烷基-3,6-二吖壬基乙酸酯、9-三 乙氧基矽烷基-3,6-二吖壬基乙酸酯等。 這些可用1種或2種以上倂用。 矽烷偶合劑之用量,對上述式(1)至(3)各化合物 (完全水解/縮合產物換算)之總量100重量份,以在10重 量份以下爲佳,0.1至10重量份爲更佳。 可含於上述防反射膜形成用組成物之溶劑若可均勻溶 解或分散上述式(1)至(3)各化合物及任意添加之其它 -24- (21) (21)200400162 添加劑即無特殊限制。有例如選自醇溶劑、酮溶劑、醯胺溶 劑、酯溶劑及質子惰性極性溶劑之群的至少1種。 上述醇溶劑有例如正丁醇、異丁醇、二級丁醇、三級丁 醇、正戊醇、異戊醇、2-甲基丁醇、3-甲氧基丁醇、2 ’ 6-二甲基庚醇-4、環己醇、甲基環己醇、3,3,5-三甲基環己 醇、苯甲醇、二丙酮醇爲單醇; 乙二醇、1,2-丙二醇、1,3-丁二醇、戊二醇-2,4、2-甲基戊二醇-2,4、己二醇-2,5、庚二醇-2,4、2-乙基己二 醇-1,3、二乙二醇、二丙二醇、三乙二醇、三丙二醇等多 元醇; 乙二醇單甲醚、乙二醇單乙醚、乙二醇單丙醚、乙二醇 單丁醚、乙二醇單己醚、乙二醇單苯醚、乙二醇單2-乙基 丁醚、二乙二醇單甲醚、二乙二醇單乙醚、二乙二醇單丙醚 、二乙二醇單丁醚、二乙二醇單己醚、丙二醇單甲醚、丙二 醇單乙醚、丙二醇單丙醚、丙二醇單丁醚、二丙二醇單甲醚 、二丙二醇單乙醚、二丙二醇單丙醚等多元醇之部份醚化溶 劑等。 上述酮溶劑有例如丁酮、甲基正丙基酮、甲基正丁基酮 、二乙基酮、甲基異丁基酮、甲基正戊基酮、乙基正丁基酮 、甲基正己基酮、二異丁基酮、三甲基壬酮、環己酮、2-己 酮、甲基環己酮、2,4-戊二酮、丙酮基丙酮、苯乙酮、葑 酮等,及乙醯丙酮、2,4-己二酮、2,4-庚二酮、3,5-庚二 酮、2,4-辛二酮、3,5-辛二酮、2,4-壬二酮、3,6-壬二 酮、5-甲基-2,4-己二酮、2,2,6,6·四甲基-3,5-庚二酮 -25- (22) (22)200400162 、1,1,1,5,5,5-六氟-2,4-庚二酮等々_二酮等。 這些酮溶劑可用1種或2種以上倂用。 上述醯胺溶劑有例如甲醯胺、N -甲基甲醯胺、n,N -甲 基甲醯胺、N-乙基甲醯胺、N,N-二乙基甲醯胺、乙醯胺、 N-甲基乙醯胺、N,N-二甲基乙醯胺、N-乙基乙醯胺、N, N-二乙基乙醯胺、N-甲基丙醯胺、N-甲基吡咯烷酮、甲醯 嗎啉、N -甲醯哌啶、N —甲醯吡咯烷、N -乙醯嗎啉、N -乙醢 哌啶、N-乙醯吡咯烷等。 這些醯胺溶劑可用1種或2種以上倂用。 上述酯溶劑有例如碳酸二乙酯、碳酸乙烯酯、碳酸丙烯 酯、乙酸甲酯、乙酸乙酯、7 - 丁內酯、7 -戊內酯、乙酸正 丙酯、乙酸異丙酯、乙酸正丁酯、乙酸異丁酯、乙酸二級丁 酯、乙酸正戊酯、乙酸二級戊酯、乙酸3-甲氧基丁酯、乙 酸甲基戊酯、乙酸2-乙基丁酯、乙酸2-乙基己酯、乙 酸苯甲酯、乙酸環己酯、乙酸甲基環己酯、乙酸正壬酯、乙 醯乙酸甲酯、乙醯乙酸乙酯、乙二醇單甲醚乙酸酯、乙二醇 單乙醚乙酯酯、二乙二醇單甲醚乙酸酯、二乙二醇單乙醚乙 酸酯、二乙二醇單正丁醚乙酸酯、丙二醇單甲醚乙酸酯、丙 二醇單乙醚乙酸酯、丙二醇單丙醚乙酸酯、丙二醇單丁醚乙 酸酯、二丙二醇單甲醚乙酸酯、二丙二醇單乙醚乙酸酯、乙 二醇二乙酸酯、甲氧基三甘醇乙酸酯、丙酸乙酯、丙酸正丁 酯、丙酸異戊酯、草酸二乙酯、草酸二丁酯、乳酸甲酯、乳 酸乙酯、乳酸正丁酯、乳酸正戊醇、丙二酸二乙酯、酞酸二 -26· (23) (23)200400162 甲酯、酞酸二乙酯等。 這些酯溶劑可用1種或倂用2種以上。 上述質子惰性溶劑有例如乙腈、二甲亞硕、N,N,N / ,N / -四乙基磺醯胺、六甲基磷酸二醯胺、N-甲基-2_吡咯 烷酮、1,3-二甲基-2-咪唑啶酮、1,3-二甲基四氫-2 (1H) -嘧啶酮等。 這些溶劑可用1種或2種以上倂用。 上述溶劑之用量可係,防反射膜形成用組成物中除溶 劑以外諸成分總含量成爲1至30重量%之,2至25重量% 爲更佳。 當溶劑係用於上述水解反應,縮合反應之溶劑時,該溶 劑可直接用作防反射膜形成用組成物之溶劑,亦可藉通常 方法取代上述溶劑。又,亦可係二者之混合物。 而當防反射膜形成用組成物中,有超過20重量%的沸 點1 00°C以下之醇存在時,因於塗膜之塗布均勻性會產生問 題,其含量以藉蒸餾等去除至20重量%以下爲佳,5重量% 以下爲特佳。沸點1 00°C以下之醇,有時會於上述水解反應 、縮合反應之際產生。 又,如上製得之組成物,可用口徑0.05至5微米左右 之TEFLON (註冊商標)製、聚乙烯製、聚丙烯製濾器去除 組成物中之異物,可得良好塗膜。 其次,將如上之防反射膜形成用組成物塗布於透明基 板上。 可用於此之透明基板有玻璃、聚碳酸酯、聚酯、芳族 -27- (24) (24)200400162 聚醯胺、聚醯亞胺醯胺、聚醚硕、環狀_煙之開環聚合物或 其加氫物等之樹脂基板。 這些基板在必要時可施以矽烷偶合劑等藥物處理、電漿 處理、離子鍍層、濺鍍、氣相反應法、真空蒸鍍等適當處理 〇 塗布可用例如旋塗、浸泡法、輥塗法、噴塗法、棒塗法 等適當方法。 此時,去除溶劑後塗膜厚度以0.005至2微米左右爲佳 。希有更厚之膜時可重複多次塗布過程以厚膜化。此時,以 2次塗布可形成0.01至4微米左右,3次塗布可形成0·015 至6微米左右之塗膜。 其次去除溶劑。除常溫下靜置特定時間等適當方法以外 ,可用含後敘加熱過程之溶劑去除過程。 加熱過程可隨所需任意實施。 加熱過程以80至400°C爲佳,100至350°C Μ裀佳,加 熱時間以2至2 4 0分鐘爲佳,5至1 2 0分鐘更佳。 加熱可用例如熱板、烘箱、烤爐等,加熱時之環境氣體 可係空氣、氮氣、氬氣、真空、低濃度氧氣等。 施以如此之加熱處理,本發明之防反射膜更爲強固。 此應係於本發明之防反射膜的選自上述式(1)至(3)各 化合物之至少1種成爲玻璃質或巨大高分子之故。 上述電子束照射者,可用〇.丨至1〇千電子伏特之電子 束’以10至20,0〇〇焦耳/平方米之曝光量爲之。 又’上述紫外線照射者,可用丨5〇至3〇〇奈米之紫外線 -28- (25) (25)200400162 ’以100至20,000焦耳/平方米之曝光量爲之。 本發明之防反射膜之厚度,爲得低反射之層合膜係以 10至500奈米爲佳。 如上於透明基板上形成本發明之防反射膜後,更於防 反射膜上形成透明導電電極,可成本發明之層合體。 可用於此之透明導電電極有例如氧化鋅、氧化鍚、氧 化銦、錫摻雜氧化銦、氧化銦·氧化鋅複合材料等。 形成如此之透明導電電極之方法有例如濺鍍法、真空 蒸鍍法、離子鍍層法、塗布法、電鍍法等。 透明導電電極之厚度以30至500奈米爲佳,50至400 奈米更佳。 其次說明本發明之顯示元件。 本發明之顯示元件係於觀察者側之面有上述層合體,畫 面亮度比習知顯示元件優。 本發明之顯示元件可係液晶顯示元件、電致發光顯示元 件、電漿顯示元件、場放射顯示元件或電泳顯示元件。 如上述,本發明之防反射膜兼具低折射率及實用的耐 熱性,透明基板與透明導電電極之間有本發明的防反射膜 之本發明層合體,有助於液晶顯示元件、電致發光顯示元件 、電漿顯示元件、場放射顯示元件或電泳顯示元件等的亮度 之提升。 以下舉實施例更具體說明本發明。惟以下之記載係槪括 呈示本發明之樣態例,無特別理由,本發明不限於相關記載 (26) (26)200400162 實施例及比較例中之份及%除非特加說明,各示重量份 及重量%。 各種評估方法如下。 重均分子量(Mw) 依下述條件以凝膠滲透層析(GPC)法測定。 試樣:溶劑用四氫呋喃,以100*溶解水解縮合物i克而 調製。 標準聚苯乙烯:使用美國 PRESSURE CHEMICAL公司 製之標準聚苯乙烯。 裝置:美國WATERS公司製高溫高速凝膠滲透層析儀( 型號 150-C ALC/GPC) 管柱:昭和電工(股)製SHODEX A-80M (長50公分) 測定溫度:40°C 流速:1立方公分/分鐘 耐熱性 以旋塗法塗布防反射膜形成用化合物於玻璃基板上, 於熱板上以9 0 °C加熱3分鐘去除溶劑,其次於250°C加熱 處理3分鐘,得形成有膜厚100奈米之防反射膜的玻璃基 板。所得附有防反射膜之玻璃基板於350°C氮氣下加熱5小 時,測定加熱前後塗膜膜厚之變化。此時膜厚變化之絕對値 在5 %以下者評估爲耐熱性良好。 -30- (27) (27)200400162 折射率 用旋塗法塗布防反射膜形成用組成物於矽基板上,在 熱板上以90°C加熱3分鐘去除溶劑,其次於25 0°C加熱處理 3分鐘,得形成100奈米厚之防反射膜的矽基板。用63 3奈 米波長之分光橢圓計測出該塗膜之折射率。折射率1.33以 下者爲良好。 反射率測定 用旋塗法塗布防反射膜形成用組成物塗布於玻璃基板 上,在熱板上以90°C加熱3分鐘去除溶劑,其次於250°C加 熱處理3分鐘,得形成100奈米厚防反射膜之玻璃基板。 於該玻璃基板上的防反射膜上,用濺鍍法形成50奈米厚之 錫摻雜氧化銦,成爲層合體。 對該層合體,由錫摻雜氧化銦膜面正交射入633奈米之 氨·氖雷射,測定出自玻璃面之雷射光強度,算出自入射光 之強度變化。以該雷射光強度變化率絕對値在1 %以下者爲 反射率良好。 合成例1 於石英製分離式燒瓶中,溶解式(1)之化合物甲基三 甲氧基矽烷276.0 1克,式 (2)之化合物四甲氧基矽烷 8 6.14克及觸媒肆(乙醯丙酮根)鈦〇.〇〇92克於丙二醇單乙 醚101克後’以三-馬達攪拌,穩定溶液溫度於55 C。其次 ’以1小時添加離子交換水225.52克與丙二醇單乙醚 (28) (28)200400162
2 6 3.00克之混合液。然後於55 °C反應4小時後添加乙醯丙 酮4 8.12克,再反應30分鐘,冷卻反應液至室溫。於50°C Η目反應液蒸發去除含甲醇與水之溶液227克,得反應液① 〇 如此而得之水解/縮合產物的重均分子量爲1,230。 合成例1中式(2)化合物(四甲氧基矽烷)換算爲完 全水解/縮合產物之用量,占式(1)至(3)之各化合物換 算爲完全水解/縮合產物之總用量,相當於20.1重量%。 合成例2 石英製分離式燒瓶中,溶解式(1)之化合物甲基三甲 氧基矽烷 205.50克,及式 (2)之化合物四甲氧基矽烷 85.51克於丙二醇單乙醚426克後,以三-馬達攪拌,穩定溶 液溫度於50°C。其次以1小時添加觸媒,溶有馬來酸0.63 克之離子交換水182克。然後於50°C反應3小時後,冷卻 反應液至室溫。於50°C蒸發去除含甲醇之溶液360克,得 反應液②。 如此而得之水解/縮合產物的重均分子量係1,400。 合成例2中,式(2)之化合物(四甲氧基矽烷)之換 算爲完全水解/縮合產物之用量’占式(1)至(3)各化合 物換算爲完全水解/縮合產物之總用量,係相當於2 4 · 8重量 %。 合成例3 -32- (29) (29)200400162 石英製分離式燒瓶中,饋入蒸餾乙醇370克、蒸餾丙二 醇單丙醚200克、離子交換水160克及觸媒甲胺之10%水溶 液90克,攪拌均勻。於該溶液添加式(1)之化合物甲基三 甲氧基矽烷136克與式(2)之化合物四乙氧基矽烷209克 的混合物。保持溶液於52°C反應2小時。於該溶液加入丙 二醇單丙醚300克,然後用50°C之蒸發器濃縮溶液至10% ( 完全水解/縮合產物換算),然後添加乙酸之10%丙二醇單 丙醚溶液10克,得反應液③。 如此而得之水解/縮合產物的重均分子量爲904,000。 合成例3中,式(2)之化合物(四乙氧基矽烷)之換 算爲完全水解/縮合產物之用量,占式(1)至(3)各化合 物換算爲完全水解/縮合產物之總用量,係相當於47.3重量 %。 合成例4 石英製分離式燒瓶中,饋入蒸餾乙醇428克、離子交換 水215克及觸媒氫氧化四甲銨之25%水溶液15.6克,攪拌 均勻。於該溶液添加式 (1)之化合物甲基三甲氧基矽烷 4 0.8克與式(2)之化合物四乙氧基矽烷61.4克之混合物。 保持溶液於57°C反應2小時。於該溶液加入丙二醇單丙醚 300克,之後用50°C之蒸發器濃縮溶液至10% (完全水解/縮 合產物換算),然後添加馬來酸之1〇%丙二醇單丙醚溶液 20克,得反應液④。 如此而得之水解/縮合產物的重均分子量爲1,600,000。 -33- (30) (30)200400162 而合成例4中,式(2)之化合物(四乙氧基矽烷)之 換算爲完全水解/縮合產物之用量,占式(1)至(3)各化 合物換算爲完全水解/縮合產物的總用量,係相當於46.8重 量%。 合成例5 於石英製分離式燒瓶,饋入蒸餾乙醇428克、離子交換 水2 1 5克及觸媒氫氧化四甲銨之2 5 %水溶液1 5.6克,攪拌 均勻。於該溶液添加式 (1)之化合物甲基三甲氧基矽烷 40.8克,式 (2)之化合物四乙氧基矽烷61。4克與式(3) 之化合物六乙氧基二矽氧烷2.4的混合物。保持溶液於57°C 反應2小時,於該溶液加入丙二醇單丙醚300克,然後用 50°C之蒸發器濃縮溶液至1〇% (完全水解縮合物換算),之 後添加馬來酸的10%丙二醇單丙醚溶液20克,得反應液⑤ 〇 如此而得之水解/縮合產物的重均分子量爲1,650,000。 合成例5中,式(2)之化合物(四乙氧基矽烷)之完 全水解/縮合產物換算用量,占式(1)至(3)各化合物換 算爲完全水解/縮合產物之總用量,係相當於45.8重量%。 實施例1 合成例3中所得反應液③以孔徑0.2微米之TEFLON ( 註冊商標)製濾器過濾,調製防反射膜形成用組成物。 使用該防反射膜形成用組成物,依上述評估方法|平估 -34· (31) (31)200400162 ,結果列於表1。 在此形成之防反射膜呈示折率1.27之優良値,耐熱性 試驗的膜厚變化率之絕値爲1.5 %,呈示優良耐熱性。 又,於此形成之層合體的反射率評估,呈示雷射光強度 變化絕對値0.3%之優良防反射能。 實施例2至8 實施例中,取代反應液③,改用表1之反應液或反應 液混合物以外略同實施例1實施、評估。評估結果倂列於 表1 〇 比較例1 實施例1中不施行使用反應液③之防反射膜形成過程 ,於玻璃基板上直接形成錫摻雜氧化銦。 評估該層合體之反射率,知其防反射能力低如1.6 %。 比較例2 實施例1中取代反應液③改用旭硝子(股)製CYTOP (含氟有機聚合物)以外略同實施例1進行評估。 於此形成的防反射膜之折射率爲1.3 4,超過1.3 3。且 防反射膜耐熱性試驗中,膜厚變化之絕對値爲7.2 %,耐 熱性不敷實用。 於此形成的層合體之反射率評估,則雷射光強度變化 之絕對値1.1 %,防反射能力差。 -35- (32)200400162 [表l] 防反射膜形成用 防反射膜之評估 層合體之評估 組成物之原料 耐熱性 (%) 折射率 (%) 實施例1 反應液③ 1.5 1.27 0.3 實施例2 反應液④ 1.3 1.26 0.2 實施例3 反應液③30克+ 反應液①3克 1.2 1.29 0.5 實施例4 反應液③30克+ 反應液②2克 1.2 1.28 0.4 實施例5 反應液④3 0克+ 反應液①3克 1.1 1.28 0.4 實施例6 反應液④30克+ 反應液②2克 1.1 1.27 0.3 實施例7 反應液⑤ 1.2 1.25 0.2 實施例8 反應液③30克+ 反應液①1 0克 1.2 1.32 0.9 比較例1 te • 1.6 比較例2 旭硝子(股)製 CYTOP 7.2 1.34 1.1
-36- (33) (33)200400162 根據本發明可提供,適用於提升各種顯示元件之亮度’ 形成於透明基板與透明導電電極間之折射率低且耐熱性優 之防反射膜,透明基板與透明導電電極之間有該防反射膜 之層合體,以及具備設層合體之顯示元件。 具有本發明之防反射膜、層合體的顯示元件,其畫面 亮度優。
-37-

Claims (1)

  1. (1) (1)200400162 拾、申請專利範圍 1 · 一種防反射膜,係形成於透明基板與透明導電電 極間之防反射膜,其特徵爲:於波長6 3 3奈米之折射率在 1 . 3 3以下。 2. 如申請專利範圍第1項之防反射膜,其中上述防反 射膜含選自下述式(1) 、 (2)及(3): RaSi (OR1) 4-a (1) 麯 (式中R係氫原子、氟原子或1價有機基’ Rl係1價有 機基而a係1或2) Si (OR2) 4 (2) (式中R2係1價有機基) R3b (R40)3-bSi- (R7)d-Si (〇R5)3-cR6c (3) (式中R3至R6各係相同或不同之1價有機基,R7係氧 原子、亞苯基或所表示之基(其中Μ系1至6 之整數),1)及(:係相同或不同的0至2之整數,d係0 或1) 各化合物所成群之至少1種化合物的水解/縮合產物。 3. 如申請專利範圍第2項之防反射膜’其中選自上述 (2) (2)200400162 式(1)至(3)各化合物所成群之至少1種化合物的水解及 縮合係於碱觸媒之存在下進行。 4. 一種層合體,其特徵爲:於透明基板與透明導電電 極之間有如申請專利範圍第1至3項中任一項之防反射膜 〇 5 · —種顯示元件,其特徵爲:具備如申請專利範圍第 4項之層合體。 6·如申請專利範圍第5項之顯示元件,其特徵爲:上 述顯示元件係液晶顯示元件、電致發光顯示元件、電漿顯示 元件、場放射顯示元件或電泳顯示元件。 -39· 200400162 陸、(一)、本案指定代表圖爲:無 (二)、本代表圖之元件代表符號簡單說明: 柒、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
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