TW200307117A - Method for inspecting polarizing film and apparatus for the method - Google Patents

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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4930748B2 (ja) * 2005-01-28 2012-05-16 大日本印刷株式会社 被膜検査装置および方法
JP4705402B2 (ja) * 2005-04-14 2011-06-22 株式会社きもと 欠陥マーキング装置、シート材料の製造方法およびシート材料
JP4960026B2 (ja) * 2006-06-09 2012-06-27 富士フイルム株式会社 フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
JP2010262265A (ja) 2009-04-10 2010-11-18 Nitto Denko Corp 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法
JP5953071B2 (ja) * 2012-03-02 2016-07-13 株式会社ブイ・テクノロジー 偏光フィルム貼り合わせ装置
JP6255186B2 (ja) * 2013-08-07 2017-12-27 日東電工株式会社 光学部材の検査方法、光学製品の製造方法、及び、光学部材の検査装置
WO2016002624A1 (ja) * 2014-06-30 2016-01-07 住友化学株式会社 検出装置、検出方法、処理装置および処理方法
JPWO2016002618A1 (ja) * 2014-06-30 2017-04-27 住友化学株式会社 スリット加工装置およびスリット加工方法
JPWO2016002617A1 (ja) * 2014-06-30 2017-04-27 住友化学株式会社 検出装置、検出方法、処理装置および処理方法
JP6204416B2 (ja) * 2015-07-17 2017-09-27 住友化学株式会社 フィルム検査装置、フィルム検査方法、およびフィルム製造方法
JP6604805B2 (ja) * 2015-09-30 2019-11-13 日東電工株式会社 偏光子の検査方法および偏光板の製造方法
CN105866986B (zh) * 2016-05-26 2019-09-20 明基材料有限公司 检测装置及检测方法
JP6546221B2 (ja) * 2016-07-12 2019-07-17 住友化学株式会社 貼合ロール、光学フィルム積層体の製造装置及び製造方法
CN106198563B (zh) * 2016-08-04 2020-05-12 中国乐凯集团有限公司 一种薄膜瑕疵在线监测装置及其方法
CN106323168B (zh) * 2016-08-30 2018-10-02 中航工业哈尔滨轴承有限公司 利用ogp光学测量仪测量圆弧切点的方法
EP3339845A3 (en) * 2016-11-30 2018-09-12 Sumitomo Chemical Company, Ltd Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll
CN107393874B (zh) * 2017-07-26 2020-02-07 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 去除柔性基板气泡的装置及方法
CN112740083B (zh) * 2018-07-30 2023-03-14 日本化药株式会社 标记装置、标记方法、偏振片制造方法以及偏振片
KR102322861B1 (ko) * 2021-06-04 2021-11-05 ㈜아이비젼웍스 이차전지용 시트재 비전검사모듈
CN114114734A (zh) * 2021-12-06 2022-03-01 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种屏幕分层检测的方法、装置、设备、存储介质及系统

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61274244A (ja) * 1985-05-17 1986-12-04 Toppan Printing Co Ltd リング状透明フィルム貼付位置検査装置
JP3140664B2 (ja) * 1995-06-30 2001-03-05 松下電器産業株式会社 異物検査方法及び装置
JP3977503B2 (ja) * 1998-02-05 2007-09-19 住友化学株式会社 フィルム検査方法およびそれを用いたフィルム検査装置
JP2001056270A (ja) * 1999-08-18 2001-02-27 Sumitomo Chem Co Ltd 直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置

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