TH65172A - สารผสมสำหรับทำความสะอาดไมโครอิเล็กทรอนิกและกำจัดอาร์ค - Google Patents

สารผสมสำหรับทำความสะอาดไมโครอิเล็กทรอนิกและกำจัดอาร์ค

Info

Publication number
TH65172A
TH65172A TH301002083A TH0301002083A TH65172A TH 65172 A TH65172 A TH 65172A TH 301002083 A TH301002083 A TH 301002083A TH 0301002083 A TH0301002083 A TH 0301002083A TH 65172 A TH65172 A TH 65172A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
cleaning
residues
photoresist
component
cleaning solution
Prior art date
Application number
TH301002083A
Other languages
English (en)
Other versions
TH52516B (th
Inventor
ปิน เชอร์แมน ฉู นายเชียน
Original Assignee
นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นายรุทร นพคุณ
อแวนเทอร์ เพอร์ฟอร์แมนซ์ แมทีเรียลส์
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นายรุทร นพคุณ, อแวนเทอร์ เพอร์ฟอร์แมนซ์ แมทีเรียลส์ filed Critical นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
Publication of TH65172A publication Critical patent/TH65172A/th
Publication of TH52516B publication Critical patent/TH52516B/th

Links

Abstract

DC60 (01/09/46) สารผสมสำหรับทำความสะอาดซึ่งเหมาะสำหรับทำความสะอาดโครงสร้างไมโครอิเล็กทรอ นิกที่มีซิลิคอนไดออกไซด์, ไดอิเล็กทริกชนิด (แคปปา) ต่ำ หรือ (แคปปา) สูง และการทำให้เป็นโลหะด้วยทองแดง หรืออลูมิเนียมซึ่งมีตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วซึ่งเลือกมาจากเอไมด์, ซัลโฟน, ซัลโฟลีน, ซีลีโนน และ แอลกอฮอล์ชนิดอิ่มตัว และแอลคาไลน์เบสแก่ สารผสมสำหรับทำความสะอาดซึ่งเหมาะสำหรับทำความสะอาดโครงสร้างไมโครอิเล็กทรอ นิกที่มีซิลิคอนไดออกไซด์, ไดอิเล็กทริกชนิด แคปปา ต่ำ หรือ แคปปา สูง และการทำให้เป็นโลหะด้วยทองแดง หรืออลูมิเนียมซึ่งมีตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วซึ่งเลือกมาจากเอไมด์, ซัลโฟน, ซัลโฟลีน, ซีลีโนน และ แอลกอฮอล์ชนิดอิ่มตัว และแอลคาไลน์เบสแก่

Claims (36)

1. สารผสมสำหรับทำความสะอาดที่ปราศจากซิลิเคตสำหรับทำความสะอาด โฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานไมโครอิเล็กทรอนิก, สารผสมสำหรับทำความสะอาดดังกล่าว ประกอบรวมด้วย: ตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วซึ่งเลือกมาจากกลุ่มที่ประกอบด้วย เอไมด์, ซัลโฟน, ซัลโฟเลน ซีลีโนน และแอลกอฮอล์ชนิดอิ่มตัว; และ แอลคาไลน์เบสแก่; และอาจเลือกใช้ส่วนประกอบต่าง ๆ ต่อไปนี้หนึ่งชนิดหรือมากกว่า: กรด; ตัวทำละลายร่วมที่ยับยั้งการกัดกร่อน; สารทำให้เกิดสารเชิงซ้อนกับโลหะ หรือสารทำให้เกิดคีเลต; สารทำให้สารออกซิไดซ์เสถียร; สารยับยั้งการกัดกร่อน; สารยับยั้งการกัดกร่อนของโลหะ; สารประกอบฟลูออไรด์; สารลดแรงตึงผิว; และ น้ำ
2. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ เลือกมากจากกลุ่มซึ่งประกอบด้วย 1-(2-ไฮดรอกซีเอธิล)-2-ไพโรลิดิโนน (HEP), ไดเมธิลไพเพอริโดน (DMPD), N-เมธิลไพโรลิดิโนน (NMP), ไดเมธิลอะเซตาไมด์ (DMAc), ไดเมธิลฟอร์มาไมด์ (DMF), ซัลโฟเลน, 3-เมธิลซัลโฟเลน, n-โพรพิลซัลโฟน, n-บิวทิลซัลโฟน, เมธิลซัลโฟน, ซัลโฟลีน, 3-เมธิล ซัลโฟลีน, เอธิลีนไกลคอล, โพรพิลีนไกลคอล, กลีเซอรอล, และเฮกซาฟลูออโรไอโซโพรพานอล
3. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งแอลคาไลน์เบสนี้เลือกมา จากแอมโมเนียม ไฮดรอกไซด์, เตตระแอลคิลแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์ และโคลีนไฮดรอกไซด์
4. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 2 ซึ่งแอลคาไลน์เบสนี้เลือกมา จากแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์ และเตตระแอลคิลแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์
5. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ คือ ซัลโฟเลน
6. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 2 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ คือ ซัลโฟเลน
7. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 3 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ คือ ซัลโฟเลน
8. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 4 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ คือ ซัลโฟเลน
9. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 4 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ คือ เอธิลีนไกลคอล
10. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 4 ซึ่งตัวทำละลายอินทรีย์ที่มีขั้วนี้ คือ ไดเมธิลไพเพอริโดน
11. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ซึ่งสารผสมนี้ยังประกอบรวม ด้วยการมี ทรานส์ -1,2-ไซโคลเฮกเซนไดเอมีนเตตระอะซีติกแอซิด เป็นสารทำให้เกิดคีเลตกับโลหะ อยู่ในสารผสมนี้อีกด้วย
12. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 8 ซึ่งสารผสมนี้ยังประกอบรวม ด้วยการมี เอธิลีน ไดเอมีน เตตระ(เมธิลีนฟอสโฟนิกแอซิด) อยู่ในสารผสมนี้อีกด้วย
13. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมด้วยซัลโฟเลน, เตตระเมธิลแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์, ทรานส์-1,2-ไซโคลเฮกเซนไดเอมีน เตตระอะซีติกแอซิด และ น้ำ
14. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมด้วยซัลโฟเลน, เตตระเมธิลแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์, เอธิลีนไดเอมีนเตตระ(เมธิลีนฟอสโฟนิกแอซิด), เอธิลีน ไกลคอล, และน้ำ
15. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมด้วยซัลโฟเลน, เตตระเมธิลแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์, ทรานส์-1,2-ไซโคลเฮกเซนไดเอมีนเตตระอะซีติกแอซิด, เอธิลีนไกลคอล, แคทีคอล และน้ำ
16. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมด้วยไดเมธิล ไพเพอริโดน, ทรานส์ -1,2-ไซโคลเฮกเซนไดเอมีนเตตระอะซีติกแอซิด, เตตระเมธิลแอมโมเนียม ไฮดรอกไซด์ และน้ำ
17. สารผสมสำหรับทำความสะอาดตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมด้วย เตตระเมธิลแอมโมเนียมไฮดรอกไซด์, ทรานส์-1,2-ไซโคลเฮกเซนไดเอมีนเตตระอะซีติกแอซิด และ เอธิลีนไกลคอล
18. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 1
19. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 2
20. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 3
21. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 4
22. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 5
23. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 6
24. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 7
25. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 8
26. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 9
27. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 10
28. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 11
29. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 12
30. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 13
31. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 14
32. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์ และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับ ทำความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 15
33. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับทำ ความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 16
34. กรรมวิธีสำหรับทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์หรือสารตกค้างจากชิ้นงานไมโคร อิเล็กทรอนิก, ซึ่งกรรมวิธีนี้ประกอบรวมด้วยการสัมผัสชิ้นงานกับสารผสมสำหรับทำความสะอาด เป็นเวลาเพียงพอที่จะทำความสะอาดโฟโต้รีซิสท์และสารตกค้างจากชิ้นงานนี้, ซึ่งสารผสมสำหรับทำ ความสะอาดนี้ประกอบรวมด้วยสารผสมตามข้อถือสิทธิข้อ 17
35. กรรมวิธีตามข้อถือสิทธิข้อ 30 ซึ่งโครงสร้างไมโครอิเล็กทรอนิกที่จะทำความสะอาด มีลักษณะเฉพาะคือมีการทำให้เป็นโลหะด้วยทองแดงและมีไดอิเล็กทริกซึ่งเลือกมาจากกลุ่มที่ ประกอบด้วยซิลิคอนไดออกไซด์, ไดอิเล็กทริกชนิด แคปปา ต่ำ และไดอิเล็กทริกชนิด แคปปา สูง
36. กรรมวิธีตามข้อถือสิทธิข้อ 31 ซึ่งโครงสร้างไมโครอิเล็กทรอนิกที่จะทำความสะอาด มีลักษณะเฉพาะคือมีการทำให้เป็นโลหะด้วยทองแดงและมีไดอิเล็กทริกซึ่งเลือกมาจากกลุ่มที่ ประกอบด้วยซิลิคอนไดออกไซด์, ไดอิเล็กทริกชนิด แคปปา ต่ำ และไดอิเล็กทริกชนิด แคปปา สูง
TH301002083A 2003-06-05 สารผสมสำหรับทำความสะอาดไมโครอิเล็กทรอนิกและกำจัดอาร์ค TH52516B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH65172A true TH65172A (th) 2004-11-29
TH52516B TH52516B (th) 2016-11-24

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7419945B2 (en) Microelectronic cleaning compositions containing oxidizers and organic solvents
US6514352B2 (en) Cleaning method using an oxidizing agent, chelating agent and fluorine compound
US20020037819A1 (en) Stripping composition
WO2003104901A2 (en) Microelectronic cleaning and arc remover compositions
US7393819B2 (en) Ammonia-free alkaline microelectronic cleaning compositions with improved substrate compatibility
KR101999641B1 (ko) 구리/아졸 중합체 억제를 갖는 마이크로일렉트로닉 기판 세정 조성물
CN113741158A (zh) 一种水系剥离液组合物及使用方法
US7799749B2 (en) Stabilized, non-aqueous cleaning compositions for microelectronics substrates
US7951764B2 (en) Non-aqueous, non-corrosive microelectronic cleaning compositions
KR20040023517A (ko) 세정제 조성물
CA2452884C (en) Ammonia-free alkaline microelectronic cleaning compositions with improved substrate compatibility
KR100640107B1 (ko) 레지스트 제거용 세정액 및 반도체 장치의 제조 방법
ES2345616T3 (es) Composiciones de limpieza no acuosas para microelectronica que contienen fructosa.
TH52516B (th) สารผสมสำหรับทำความสะอาดไมโครอิเล็กทรอนิกและกำจัดอาร์ค
KR20040040513A (ko) 포토레지스트 및 폴리머 박리액 조성물 및 이를 이용한반도체소자의 박리, 세정방법
TH38565B (th) องค์ประกอบทำความสะอาดไมโครอิเล็กโทรนิคที่มีเกลือฟลู?ออโรด์ที่ปราศจากแอมโมเนียสำหรับการลอกเอาโฟโทเร?ซิสท์ที่เลือกจำเพาะ และการทำความสะอาดเรซิดิวที่เป็นเถ้า?พลาสมา
TH61689A (th) องค์ประกอบทำความสะอาดไมโครอิเล็กโทรนิคที่มีเกลือฟลู?ออโรด์ที่ปราศจากแอมโมเนียสำหรับการลอกเอาโฟโทเร?ซิสท์ที่เลือกจำเพาะ และการทำความสะอาดเรซิดิวที่เป็นเถ้า?พลาสมา
JP2013504782A (ja) 銅系配線の形成のためのレジスト除去用組成物
KR20100125109A (ko) 구리용 레지스트 제거용 조성물
KR20080017848A (ko) 포토레지스트 박리액 및 이를 이용한 박리 방법
KR20090080226A (ko) 포토레지스트 잔류물 제거용 박리액 조성물 및 이를 이용한박리 방법
HK1078102A1 (en) Aqueous stripping and cleaning composition
TH78156A (th) สารผสมทำความสะอาดนาโนอิเล็กโทรนิก และ ไมโครอิเล็กทรอนิก
TH52089B (th) สารผสมทำความสะอาดนาโนอิเล็กโทรนิก และ ไมโครอิเล็กทรอนิก
HK1078102B (en) Aqueous stripping and cleaning composition