TH33509A - - Google Patents

Info

Publication number
TH33509A
TH33509A TH9801000886A TH9801000886A TH33509A TH 33509 A TH33509 A TH 33509A TH 9801000886 A TH9801000886 A TH 9801000886A TH 9801000886 A TH9801000886 A TH 9801000886A TH 33509 A TH33509 A TH 33509A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
porous
single crystal
semiconductor layer
silicon substrate
holes
Prior art date
Application number
TH9801000886A
Other languages
English (en)
Original Assignee
นายดำเนิน การเด่น นายต่อพงศ์ โทณะวณิก นายวิรัช ศรีเอนกราธา นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Filing date
Publication date
Application filed by นายดำเนิน การเด่น นายต่อพงศ์ โทณะวณิก นายวิรัช ศรีเอนกราธา นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ filed Critical นายดำเนิน การเด่น นายต่อพงศ์ โทณะวณิก นายวิรัช ศรีเอนกราธา นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Publication of TH33509A publication Critical patent/TH33509A/th

Links

Abstract

DC60 (21/05/41) ในสับสเตรตกึ่งตัวนำที่ประกอบด้วย ซิลิคอนสับสเตรต ซึ่งมีบริเวณที่มีรูพรุน และชั้นกึ่ง ตัวนำที่ถูกจัดให้มีขึ้นบนบริเวณที่มีรูพรุน ชั้นกึ่งตัวนำจะประกอบด้วย สารประกอบที่เป็นผลึกเดี่ยว และจะถูกสร้างขึ้นบนผิวหน้าของบริเวณที่มีรูพรุน ซึ่งรูของมันจะถูกผนึกที่ผิวหน้า สับสเตรตนี้ สามารถจะถูกผลิตขึ้น โดยกระบวนการที่ประกอบด้วย ขั้นตอนการบำบัดซิลิคอนสับสเตรต ซึ่งมี บริเวณที่มีรูพรุนด้วยความร้อน เพื่อผนึกรูที่ผิวหน้าของบริเวณที่มีรูพรุน และสร้างชั้นกึ่งตัวนำเชิง ประกอบที่เป็นผลึกเดี่ยว โดยการเติบโตแบบยืดขยายต่างกันบนบริเวณที่มีรูพรุน ซึ่งมีรูที่ถูกผนึก โดยการบำบัดด้วยความร้อน แผ่นฟิล์มกึ่งตัวนำเชิงประกอบที่เป็นผลึกเดี่ยว ที่มีตำหนิของผลึกน้อยลง สามารถจะถูกสร้าง ขึ้นบนซิลิคอนสับสเตรตที่มีพื้นที่มาก โดยมีกำลังการผลิตที่สูง, ความสม่ำเสมอสูง, อำนาจการควบคุม การทำงานสูง และข้อดีที่เป็นการประหยัดเป็นอย่างมาก

Claims (1)

  1. : DC60 (21/05/41) ในสับสเตรตกึ่งตัวนำที่ประกอบด้วย ซิลิคอนสับสเตรต ซึ่งมีบริเวณที่มีรูพรุน และชั้นกึ่ง ตัวนำที่ถูกจัดให้มีขึ้นบนบริเวณที่มีรูพรุน ชั้นกึ่งตัวนำจะประกอบด้วย สารประกอบที่เป็นผลึกเดี่ยว และจะถูกสร้างขึ้นบนผิวหน้าของบริเวณที่มีรูพรุน ซึ่งรูของมันจะถูกผนึกที่ผิวหน้า สับสเตรตนี้ สามารถจะถูกผลิตขึ้น โดยกระบวนการที่ประกอบด้วย ขั้นตอนการบำบัดซิลิคอนสับสเตรต ซึ่งมี บริเวณที่มีรูพรุนด้วยความร้อน เพื่อผนึกรูที่ผิวหน้าของบริเวณที่มีรูพรุน และสร้างชั้นกึ่งตัวนำเชิง ประกอบที่เป็นผลึกเดี่ยว โดยการเติบโตแบบยืดขยายต่างกันบนบริเวณที่มีรูพรุน ซึ่งมีรูที่ถูกผนึก โดยการบำบัดด้วยความร้อน แผ่นฟิล์มกึ่งตัวนำเชิงประกอบที่เป็นผลึกเดี่ยว ที่มีตำหนิของผลึกน้อยลง สามารถจะถูกสร้าง ขึ้นบนซิลิคอนสับสเตรตที่มีพื้นที่มาก โดยมีกำลังการผลิตที่สูง, ความสม่ำเสมอสูง, อำนาจการควบคุม การทำงานสูง และข้อดีที่เป็นการประหยัดเป็นอย่างมาก ข้อถือสิทธิ์ (ข้อที่หนึ่ง) ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา : แท็ก :
TH9801000886A 1998-03-16 TH33509A (th)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH33509A true TH33509A (th) 1999-06-24

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69720249D1 (de) Atomare drähte von grosser länge und stabilität und verfahren zum herstellen dieser drähte
EP0663698A4 (en) SEMICONDUCTOR DEVICE AND PRODUCTION METHOD.
CN206098458U (zh) 显示结构
TH33509A (th)
KR840000075A (ko) 반도체 기판과 그 제조방법
JPS6012742A (ja) 半導体装置
RU96109772A (ru) Способ подготовки кремниевых подложек
JPS54101278A (en) Manufacture for semiconductor device
JPS56126971A (en) Thin film field effect element
JPS52112290A (en) Manufacture of semiconductor device
RU93046639A (ru) Способ изготовления полупроводниковых приборов
JPS5336180A (en) Production of semiconductor device
JPS62293638A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS56114375A (en) Manufacture of nonvolatile semiconductor memory
JPS538083A (en) Production of semiconductor device
JPS5384585A (en) Solar cell
TH36305A (th) อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่มีพื้นผิวที่ได้รับการแยกออก
JPS5354973A (en) Semiconductor device and its production
JPS5470764A (en) Recrystallization method for semiconductor
JPS5232682A (en) Manufacturing process of semiconductor device
JPS57196561A (en) High density semiconductor integrated circuit device and manufacture thereof
KR920008988A (ko) 초전도 박막층의 제조방법
KR880008061A (ko) 액정 셀의 제조 방법
JPS5742146A (en) Manufacture of semiconductor device
KR930020743A (ko) 태양전지의 제조방법