TH20718A - การติดอุปกรณ์ระบายความร้อนต่อโดยตรงกับโมดูลชิพพาหะโดยใช้อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น - Google Patents

การติดอุปกรณ์ระบายความร้อนต่อโดยตรงกับโมดูลชิพพาหะโดยใช้อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น

Info

Publication number
TH20718A
TH20718A TH9501001554A TH9501001554A TH20718A TH 20718 A TH20718 A TH 20718A TH 9501001554 A TH9501001554 A TH 9501001554A TH 9501001554 A TH9501001554 A TH 9501001554A TH 20718 A TH20718 A TH 20718A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
epoxy
heat spreader
chip
base
flexible epoxy
Prior art date
Application number
TH9501001554A
Other languages
English (en)
Other versions
TH17028B (th
Inventor
โมแรน คูลเนน นายโธมัส
แอนโธนี่ย์ แกย์เนส นายไมเคิล
ควอง เซโต นายปิง
ชาคาทูลาห์ นายฮัสเซน
Original Assignee
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
นายธเนศ เปเรร่า
Filing date
Publication date
Application filed by นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า, นายธเนศ เปเรร่า filed Critical นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
Publication of TH20718A publication Critical patent/TH20718A/th
Publication of TH17028B publication Critical patent/TH17028B/th

Links

Abstract

การติดแผ่นระบายความร้อนโดยตรงกับฟลิปชิพ โดยใช้อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น แผ่นระบายความร้อนอลูมิเนียมหรือโลหะทองแดงจะถูกนำมาต่อกับกรอบเซรามิค หรือชิพสารกึ่งตัวนำ โดยใช้กาวอีพ็อกซี่ยืดหยุ่น เพื่อช่วยปรับปรุงความสามารถทางอุณหภูมิ อลูมิเนียม อาจถูกเคลือบได้โดยการอะโนไดน์หรือสารเปลี่ยนโครเมทหรือทองแดงอาจเคลือบ ด้วยโลหะนิเกิล โครงสร้างดังกล่าวนั้นเหมาะเป็นอย่างยิ่งกับ CQFP,CAGA,CCGA, CPGA,TBGA, PBGA,DCAM, MCM-L, เซรามิคชั้นเดียว และแพคเก็จชิพพาหะอื่นๆ เช่นเดียวกับที่ติดฟลิบชิบไว้กับแผ่นประกอบวงจรอินทรีย์แบบยืดหยุ่นหรือแบบแข็ง วัสดุยืดจับ เหล่านี้ทนได้ในอุณหภูมิ รอบทดสอบของ 0 ถึง 100 องศาเซลเซียส ที่ 1,500 รอบ -25 องศาเซลเซียส ถึง 125 องศาเซลเซียส ที่ 400 รอบ และ -40 ถึง 140 องศา เซลเซียส ที่ 300 รอบ และคงที่สม่ำเสมอที่ค่าอุณหภูมิ 130 องศาเซลเซียส เป็นเวลา 1000 ชั่นโมง โดยไม่สูญเสียความแข็งแรง อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นมีโมดูลัสของความหยุ่นตัวต่ำกว่า 100,000 psi และมีค่าอุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 25 องศาเซลเซียส ซึ่งแข็งแรงกว่า กาวซิลโคนพิเศษ และไม่ปนเปื้อนกับโมดูลหรือแผ่นประกอบวงจรเมื่อเทียบกับซิลิโคนอีพ๊อกซี่ ยืดหยุ่นอาจจะบรรจุเอาวัสดุที่มีสัมประสิทธิ์การแผ่ขยายทางอุณหภูมิต่ำ (CTE) เพื่อที่จะทำให้ ค่า CTE อยู่ระหว่างแม่แบบซิลิโคน และโลหะของตัวระบายความร้อน

Claims (6)

1. วิธีการผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าจากผิวหน้าแรกของชิพสารกึ่งตัวนำกับฐานรอง ติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นซึ่งไม่ด้แข็งตัวเต็มที่ ระหว่างผิวที่สองของแผ่นชิพสารกึ่งตัว นำและตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อนและชิพเข้าไปด้วยกัน และ ให้ความร้อนเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น 2. วิธีตามข้ถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของกาเรกาะติดอ๊พ๊อกซี่ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิสภาพแกว้น้อยกว่า 25 องศาเซลเซียส และค่า ยังโมดูลัสน้อยกว่า 100,000 psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 3. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซียืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 10 องศาเซลเซียส 4. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซียืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 0 องศาเซลเซียส 5. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซียืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นด้วยค่ายังโมดูลัสน้อยกว่า 50,000 Psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 6. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซียืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิน้อยกว่า 20,000 psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 7. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซียืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซี่-ยืดหยุ่นด้วยวัสดุคุณสมบัติ หรือ สูตรเหมือนเทคโนโลยี AIEG 7655 8. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซียืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นวัสดุคุณสมบัติ หรือ สูตรเหมือนกับ ABLE BOND ตาม PI - 8971 9. วิธีการผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าจากผิวหน้าแรกของชิพกึ่งตัวนำกับฐานรอง การเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ อยู่ระหว่างผิวสัมผัสที่สอง ของชิพสารกึ่งตัวนำ และผิวหน้าอะลูมิเนียมของโลหะตัวกระจายความร้อน การอัดตัวกระจายความร้อนและชิพเข้าด้วยกัน และให้ความร้อนโมดูลเพื่อให้เกิด การแข็งตัวของอีพ็อกซี่ยืดหยุ่น 1 0. วิธีการตามข้อถือสิทธิ 9 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการอะโนไดซ์ ผิวหน้า อะลูมิเนียมของแผ่นโลหะระบายความร้อน 1 1. วิธีในการผลิตฟลิกชิพแพคเก็จ ประกอบด้วย วางตำแหน่งฟลิพชิพดสารกึ่งตัวนำลงบนผิวหน้าฐานรองพร้อมกับแท่งพื้นที่ของตัว เชื่อมต่อไฟฟ้าที่ต่ออกจากหน้าประกบด้านแรกของชิพ เพื่อจับเข้ากับแท่งพื้นที่ของตัวเชื่อมต่อบน ตัวฐานรอง ให้ความร้อนทางกล และการเชื่อมต่อระหว่างกันด้วยไฟฟ้าของชิพกับฐานรอง ทำการติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ติดไว้ในระหว่างผิวด้านที่สองของ ชิพ และตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อนและชิพเข้าด้วยกัน และให้ความร้อนกับแพตเก็จเพื่อให้ เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น 1 2. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 11 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนการเลือกโลหะระบาย ความร้อน 1 3. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 1 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการสร้างฐานรองที่ ยืดหยุ่นของชั้นฟิล์มโลหะที่มีรูปแบบหนึ่งอัน หรือมากกว่า ที่ถูกยึดโดยชั้นฟิล์มไดอิเล็กตริกหนึ่งชั้น หรือมากกว่า ที่แยกชั้นฟิล์มโลหะที่อยู่ใกล้กันของชั้นฟิล์มโลหะที่มีรูปแบบดังกล่าว โดยการเกาะติด แบบสลับกันของชั้นฟิล์มไดอิเล็กตริกดังกล่าวและชั้นฟิล์มโลหะที่มีรูปแบบดังกล่าวบนชั้นเริ่มต้น 1 4. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 11 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นรวมไป ถึงขั้นตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 25 องศาเซลเซียส และค่า ยังโมดูลัสน้อยกว่า 100,000 psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 1 5. วิธีการสำหรับการผลิต โครงสร้างต่อเชื่อมระหว่างกันประกอบไปด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าที่ผิวหน้าแรกของชิพสารกึ่งตัวนำกับฐานรองแรก การเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ให้อยู่ระหว่างผิวด้านที่สองของ ชิพสารกึ่งตัวนำและตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อนและแผ่นชิพเข้าด้วยกัน เพิ่มระดับอุณหภูมิของโมดูลเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น วางตำแหน่งผิวด้านที่สองของฐานรองแรก ในลักษณะหน้าสัมผัสขนานกับผิวของ ฐานของที่สองที่ใหญ่กว่า และ เชื่อมต่อตัวต่อทางไฟฟ้าของฐานแรก และฐานรองที่สองเข้าด้วยกันเพื่อสร้าง โครงสร้างเชื่อมต่อระหว่างกัน 1 6. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 15 ที่ซึ่งขั้นตอนของการเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น รวมเอาขั้นตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 25 องศาเซลเซียส และค่ายังโมดูลัสน้อยกว่า 100,000 psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 1 7. วิธีการผลิตโครงสร้างเชื่อมต่อระหว่างกัน ประกอบด้วย การติดชิพสารกึ่งตัวนำเข้าที่ตำแหน่งคงที่บนด้านแรกของฐานรองที่หนึ่ง การการเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ให้อยู่ระหว่างตัวกระจาย ความร้อน และผิวบนด้านที่สองของฐานรองแรก การกดอัดตัวกระจายความร้อน และด้านที่สองของฐานรองที่หนึ่งเข้าด้วยกัน การให้ความร้อนกับโมดูลเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น การเชื่อมต่อไฟฟ้าระหว่างหน้าสัมผัสโลหะบนตัวชิพ และหน้าสัมผัสโลหะบนฐาน รองที่สอง 1 8. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 17 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการเลือกวัสดุ เซรา มิคสำหรับฐานรองที่หนึ่ง 1 9. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 17 ที่ซึ่งขั้นตอนของการองการเกาะติดของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นรวม เอาขั้นตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ ยืดหยุ่นที่อุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 25 องศาเซลเซียส และค่า ยังโมดูลัสน้อยกว่า 100,000 psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 2 0. วิธีการสำหรับผลิตระบบจัดการข้อมูล ซึ่งประกอบด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าที่ผิวหน้าแรกของชิพสารกึ่งตัวนำ ของหน่วยประมวลผลกลางกับ ฐานรองแรก การติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ในระหว่างผิวหน้าที่สองของชิพสาร กึ่งตัวนำและตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อนและแผ่นชิพเข้าด้วยกัน เพิ่มระดับอุณหภูมิของโมดูลเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น วางตำแหน่งผิวด้านที่สองของฐานรองแรก ในลักษณะหน้าสัมผัสขนานกับผิวของ ฐานรองที่สองที่ใหญ่กว่า เชื่อมต่อระหว่างส่วนสำหรับเชื่อมต่อไฟฟ้า และทางกลของฐานรองแรก และส่วน ประกอบสำหรับเชื่อมต่อทางไฟฟ้าและทางกลของฐานรองที่สอง เพื่อทำให้เกิกโครงสร้างเชื่อมต่อ ระหว่างกัน เชื่อมต่อโครงสร้างเชื่อมต่อระหว่างกันด้วยส่วนจ่ายไฟฟ้า และส่วนอินพุท ซเอาท์พุทเพื่อทำให้เกิดระบบจัดการข้อมูล 2 1. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 20 ที่ซึ่งขั้นตอนของการติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นรวมเอา ขั้น ตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่นด้วยอุณหภูมิสภาพแก้วน้อยกว่า 25 องศาเซลเซียส และค่ายัง โมดูลัส น้อยกว่า 100,000 psi ที่ 25 องศาเซลเซียส 2 2. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ยังรวมต่อไปถึงขั้นตอนของการเลือกอะลูมิเนียมสำหรับ ผิวหน้าของตัวกระจายความร้อน 2 3. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งตัวกระจายความร้อนรวมถึงอะลูมิเนีม และยังรวม ต่อไปถึงขั้นตอนของการอะโนไดซ์ เพื่อสร้างผิวหน้าอะลิมูเนียมที่ถูกอะโนไดซ์ของตัวกระจายความ ร้อน 2 4. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 1 ที่ซึ่งตัวกระจายความร้อนรวมถึงอะลูมิเนียม และยังรวม ต่อไปถึงขั้นตอน ของการสร้างบนผิวหน้าอะลูมิเนียมของตัวกระจายความร้อนด้วยผิวเคลือบของ สารเปลี่ยนโครเมท 2 5. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 1 รวมต่อไปถภึงการจัดให้มีทองแดงสำหรับตัวกระจายความ ร้อน 2 6. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 25 รวมต่อไปภถึงขั้นตอนของการเคลือบทองแดงด้วยนิเกิ้ล เพื่อสร้างผิวหน้าของตัวกระจายความร้อน 2 7. วิธีการสำหรับผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย เชื่อมต่อผิวหน้าที่หนึ่งของชิพสารกึ่งตัวนำกับฐานรอง การติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ในอยู่ระหว่างผิวด้านที่สองของชิพสาร กึ่งตัวนำและผิวหน้าของตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อนและแผ่นชิพเข้าด้วยกัน การิตดอีพ็อกซี่ตัวอื่นกับผิวหน้าที่ไม่ถูกครอบครอง โดยอีพ็อกซี่ยืดหยุ่น ดังกล่าว ระหว่างตัวกระจายความร้อนและฐานรอง และ การให้ความร้อนเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ็อกซี่ยืดหยุ่น 2 8. วิธีการสำหรับผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าผิวสัมผัสที่หนึ่งของชิพสารกึ่งตัวนำกับฐานรอง การเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ให้อยู่ระหว่างผิวด้านที่สองของ ชิพสารกึ่งตัวนำ และตัวหน้าของตัวกระจายความร้อนของโลหะที่รวมถึงทองแดง กดอัดตัวกระจายความร้อนและแผ่นชิพเข้าด้วยกัน และ การให้ความร้อนเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ็อกซี่ยืดหยุ่น 2 9. วิธีการสำหรับผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าที่ผิวด้านที่หนึ่ง ของชิพสารกึ่งตัวนำกับชั้นขดลวดด้านบนของฐาน รอง การติดสายวงจรชนิด J กับขอบของฐานรอง การเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ในระหว่างผิวด้านที่สองของ ชิพสารกึ่งตัวนำและตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อน และแผ่นชิพเข้าด้วยกัน และ การให้ความร้อนเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ็อกซี่ยืดหยุ่น 3 0. วิธีการสำหรับผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย การเชื่อมต่อไฟฟ้าผิวหน้าหลักที่หนึ่ง ของชิพสารกึ่งตัวนำกับแผ่นผิวสัมผัสของ ฐานรอง การทำปลอกหุ้มช่องว่างระหว่างผิวด้านที่หนึ่งของแผ่นชิพ และ ผิวของฐานรอง รอบๆ การเชื่อมต่อไฟฟ้ากับอีพ๊อกซ๊ที่หนึ่ง การเกาะติดผิวเคลือบที่สอดคล้องกันขชองอีพ๊อกซีที่สอง ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ บน ผิวของฐานรองรอบตัวชิพ สารเคลือบอีพ๊อกซี่ที่สองมีความหนาประมาณเท่ากับช่องว่างที่ถูกหุ้ม ปลอกบวกกับความหนาของแผ่นชิพระหว่างผิวด้านที่หนึ่งของแผ่นชิพ และผิวหน้าหลักที่สองของ แผ่นชิพ การทำให้แข้งตัวของอีพ๊อกซี่ที่หนึ่ง และผิวเคลือบที่สอดคล้องกัน ดังกล่าว ของ อีพ๊อกซี่ที่สองดังกล่าว การเกาะติดอีพ๊อกซี่ทมี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ระหว่างผิวด้านที่สองของชิพ สารกึ่งตัวนำและผิวสัมผัสของตัวกระจายความร้อน การเกาะติดอีพ๊อกซี่ที่สาม ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ในปริมาตรระหวางพื้นที่ของผิว หน้าของตัวกระจายความร้อนที่ขยายออกจากผิวด้านที่สองของแผ่นชิพ และผิวเคลือบที่ สอดคล้องกันของอีพ๊อกซีที่สองดังกล่าว กดอัดตัวกระจายความร้อนและฐานรองเข้าด้วยกัน และ การให้ความร้อนเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น 3
1. วิธีการสำหรับผลิตโมดูลชิพพาหะ ประกอบด้วย การผลิตโดยการเกาะติดอย่างต่อเนื่อง ของฐานรองที่มีด้านหลักสองด้าน ที่มีขั้น สายโลหะที่รวมถึงชั้นสายโลหะด้านนอกที่ขยายบนแต่ละด้านของด้านหลัก โดยลำดับดังกล่าวของ ฐานรอง และซึ่งชั้นสายโลหะด้านนอกดังกล่าวรวมถึงแผ่นเชื่อมต่อบนด้านหลักดังกล่าว และมีการ นำไฟฟ้าผ่านการขยายออกระหว่างด้านหลักสองด้านของฐานรอง และในชั้นสายโลหะอย่างน้อย หนึ่งชั้น ทำให้ตัวนำไฟฟ้าแบบยาวที่ขยายในแนวราบที่ถูกกำหนดโดยชั้นสายโลหะ การเชื่อมต่อไฟฟ้าผิวหน้าด้านแรก ของชิพสารกึ่งตัวนำกับแผ่นเชื่อมต่อบนด้าน หนึ่งของฐานรอง การเกาะติดอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวตัวเต็มที่ระหว่างผิวด้านที่สองของชิพ สารกึ่งตัวนำ และตัวกระจายความร้อน กดอัดตัวกระจายความร้อนและแผ่นชิพเข้าด้วย และ การให้ความร้อนเพื่อให้เกิดการแข็งตัวของอีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น 3
2. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 28 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการเคลือบผิว ทองแดงด้วยชั้นที่ปกคลุมด้วยนิเกิ้ล เพื่อสร้างผิวหน้าก่อนการสัมผัสกับแผ่นชิพ 3
3. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 31 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการเชื่อมต่อแท่ง ของลูกบอลโลหะบัดกรี เพื่อต่อเชื่อมแผ่นบนด้านตรงข้ามของฐานรองจากการเชื่อมต่อแผ่นชิพ 3
4. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 31 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการสร้างโลหะ บัดกรีกระแทกบนแผ่นต่อเชื่อมบนด้านตรงข้ามของฐานรองจากการเชื่อมต่อของแผ่นชิพ 3
5. วิธีตามข้อถือสิทธิที่ 31 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการแทรกหมุดเข้าไปใน ฐานรอง เพื่อสร้างช่องการนำไฟฟ้า และซึ่งขยายออกจากด้านของฐานรองที่อยู่ตรงข้ามจากการต่อ เชื่อมของแผ่นชิพ 3
6. วิธีการตามข้อถือสิทธิที่ 30 ประกอบต่อไปด้วยขั้นตอนของการเกาะติดอีพ๊อกซี่ ยืด หยุ่น ซึ่งยังไม่ได้แข็งตัวเต็มที่ ในปริมาตรระหว่างพื้นที่ส่วนใหญ่ของผิวของตัวกระจายความร้อนที่ ขยายออกเหนือิวด้านที่สองของแผ่นชิพ และผิวเคลือบที่สอดคล้องกัน
TH9501001554A 1995-06-28 การติดอุปกรณ์ระบายความร้อนต่อโดยตรงกับโมดูลชิพพาหะโดยใช้อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น TH17028B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH20718A true TH20718A (th) 1996-09-17
TH17028B TH17028B (th) 2004-06-16

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5672548A (en) Method for attaching heat sinks directly to chip carrier modules using flexible-epoxy
KR100268205B1 (ko) 칩캐리어모듈및그의제조방법
US7413926B2 (en) Methods of making microelectronic packages
US5783862A (en) Electrically conductive thermal interface
US20150255418A1 (en) Ultra-thin embedded semiconductor device package and method of manufacturing thereof
JPH09298255A (ja) セラミック回路基板及びこれを用いた半導体装置
WO2001059839A1 (en) Mounting structure for semiconductor chip, semiconductor device, and method of manufacturing semiconductor device
JP2002217339A (ja) 電気部品用熱放散装置及び方法
JPS60113931A (ja) 半導体装置
TH20718A (th) การติดอุปกรณ์ระบายความร้อนต่อโดยตรงกับโมดูลชิพพาหะโดยใช้อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น
TH17028B (th) การติดอุปกรณ์ระบายความร้อนต่อโดยตรงกับโมดูลชิพพาหะโดยใช้อีพ๊อกซี่ยืดหยุ่น
JPH04315458A (ja) 多層配線基板およびその製造方法
JP2000277953A (ja) セラミックス回路基板
JP3432330B2 (ja) 接合構造体
US6755229B2 (en) Method for preparing high performance ball grid array board and jig applicable to said method
JP2504465B2 (ja) 半導体装置
JPH04186869A (ja) 金属板ベース回路基板
JPH0583186B2 (th)
JP2532400Y2 (ja) ハイブリットic
JPS62214645A (ja) 半導体装置
JPS61208226A (ja) 半導体素子搭載用配線板
TW201820572A (zh) 晶片封裝結構及其製造方法
JPS62242340A (ja) 半導体素子搭載用配線板
JPS63246899A (ja) 半導体素子搭載用多層配線板
JPH0770639B2 (ja) 半導体素子搭載用配線板