SU728060A1 - Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени - Google Patents
Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени Download PDFInfo
- Publication number
- SU728060A1 SU728060A1 SU772538135A SU2538135A SU728060A1 SU 728060 A1 SU728060 A1 SU 728060A1 SU 772538135 A SU772538135 A SU 772538135A SU 2538135 A SU2538135 A SU 2538135A SU 728060 A1 SU728060 A1 SU 728060A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- bodies
- flaw detector
- revolution
- inspection
- photoelectric
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
(54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЕЛ ВРАЩЕНИЯ
Изобретение относитс к области контрольн измерительной техники и молч-т быть иснользовано , в частности, дл контрол дефектов поверхностей тел вращени . Известно устройство дл контрол поверх .ностей тел вращени , содержащее соосно расположенные лазерный источник света, систему , состо щую из двух объективов, осева по вижка любого из которых позвол ет мен ть угол падени световых лучей на контролируемое тело, устанавливаемое за ними, проекцион ную систему, по обе стороны от которой расположены пространственные фильтры, и фотоприемник {11, Известное устройство имеет сложную конструкцию и вл етс дорогосто щим. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и решаемой задаче вл етс фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени , содержащий соосно расположенные осветительную систему, включающую источник света, кольцевую диафр му, установленную в предметной плоскости ис точника света, и объектив, проекционную систему , вращающийс вокруг оптической оси непрозрачный экран с радиальной щелью и фртоприемник (2. Кольцевое изображение поверхности тела вращени (которое совершает однонаправленное поступательное движение дл цилиндров или вращательное дл шариков), спроецированное на экране, сканируетс вращающейс щелью экрана и через нее пропускаетс и падает на фотоприемник, а последний методом сравнени отражающей способности участков контролируемой поверхности отсортировывает дефектные объекты. Недостатком известного дефектоскопа вл етс сложность конструкции, а также низка надежность контрол , вызванна тем, что из-за посто нного свечени кольцевой диафрагмы на щель экрана пойадает помимо отраженного от поверхности светового п тна какое-то количество паразитного света. Это затрудн ет производить на .фотоприемнике точную фиксацию отражающей способности участков контролируемой поверхности.
Claims (2)
- 20 Формула изобретенияФотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения, содержащий соосно расположенные осветительную систему, 25 включающую источник света и объектив, проекционную систему и фотоприемник, о т л ич‘ а ю щ й й с я тем, что, с целью упрощения конструкции и повышения надежности контроля, источник света выполнен точечным и уста;30 новлен с возможностью вращения вокруг оптической оси.
- 2. Дефектоскоп по π. 1, о т л и чающийся тем, что, с целью контроля тел разного диаметра, точечный источник света35 выполнен с возможностью регулирования вдоль радиуса оси вращения.Источник» информации, принятые во внимание при экспертизе 401. ’’Applied Optics”, v. 12, № 11, 1973, р. 2598-2606.'2. Авторское,свидетельство СССР N° 499521, кл. G 01 N 21/24, 1976 (прототип).Филиал ППП ’’Патент”, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU772538135A SU728060A1 (ru) | 1977-10-26 | 1977-10-26 | Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU772538135A SU728060A1 (ru) | 1977-10-26 | 1977-10-26 | Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU728060A1 true SU728060A1 (ru) | 1980-04-15 |
Family
ID=20730677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU772538135A SU728060A1 (ru) | 1977-10-26 | 1977-10-26 | Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU728060A1 (ru) |
-
1977
- 1977-10-26 SU SU772538135A patent/SU728060A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4360269A (en) | Apparatus for inspecting defects in a periodic pattern | |
| EP0856728B1 (en) | Optical method and apparatus for detecting defects | |
| JPS63261144A (ja) | 光学的ウエブモニター装置 | |
| JPH0933446A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| GB1298658A (en) | Photometer for measuring total radiant energy at selected angles | |
| JPH08304050A (ja) | 磁気ディスクの磁気膜欠陥検査装置 | |
| SU728060A1 (ru) | Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени | |
| JP4588361B2 (ja) | 外側面検査装置 | |
| JPS6313446Y2 (ru) | ||
| JPS6353493B2 (ru) | ||
| NL1009873C2 (nl) | Optisch systeem voor het verrichten van metingen aan en/of voor het inspecteren van een of meer objecten over een bepaalde hoek. | |
| JPS62502421A (ja) | 二次元の対象物を整向、検査及び／または測定するための装置 | |
| RU2369999C1 (ru) | Лазерный центратор для рентгеновского излучателя | |
| JPH0471453B2 (ru) | ||
| JPS6180009A (ja) | 磁気デイスクの表面欠陥検査方法および装置 | |
| JPS6388432A (ja) | 異物検出方法並びにその装置 | |
| US3765310A (en) | Optical system | |
| JPH03296649A (ja) | 透明体の欠陥検出装置 | |
| JPH0648178B2 (ja) | 光軸調整装置及び光軸調整方法 | |
| SU1185071A1 (ru) | Интерференционный способ контрол асферических поверхностей | |
| SU1067350A1 (ru) | Устройство дл изменени шероховатости поверхности | |
| JPH044526B2 (ru) | ||
| SU499521A1 (ru) | Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени | |
| JPH10160627A (ja) | 光学ガラスの内部不均質の検査方法 | |
| JP3224859B2 (ja) | 凸レンズの表面形状検査装置 |