SU1067350A1 - Устройство дл изменени шероховатости поверхности - Google Patents
Устройство дл изменени шероховатости поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1067350A1 SU1067350A1 SU823498154A SU3498154A SU1067350A1 SU 1067350 A1 SU1067350 A1 SU 1067350A1 SU 823498154 A SU823498154 A SU 823498154A SU 3498154 A SU3498154 A SU 3498154A SU 1067350 A1 SU1067350 A1 SU 1067350A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mask
- radiation
- surface roughness
- radiation receiver
- light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержа щее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаег ые под острым углом к измер емой поверхности источник монохроматического излучени , модул тор и оптическую систему , приемник излучени , светофильтры, расположенные перед приемником излучени , и электронный блок обработки сигналов, отли -чающеес тем, что, с целью повышени точности и чувствительности измерени , оно снабжено последовательно ,установленными перед светофильтрами по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверсти и круглое отверстие в центре, трем параллельными шторками, выполненными с возможностью перемещени S относительно маски, и фокусирующим объективом.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл бесконтактного измерени параметров шероховатости полированных поверхностей. Известно устройство дл определени параметров шероховатости (среднего квадратического отклонени высо неровностей и среднего квадратического значени углов наклона неровностей , св занного с интервалом коррел ции определенным соотнесением), содержащее лазер, освещающий измер е мую поверхность практически нормально , отражатель в виде сферического зеркала с отверстием в центре, через которое отводитс зеркально отраженный поток, ирисовую диафрагму и фото приемник. Путем установки разных диаметров ирисовой диафрагмы измен етс телесный угол диффузно отраженного потока и производитс два измерени при двух разных; телесных углах 1. Недостатком этого устройства вл етс наличие образца сравнени . Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс уст ройство дл измерени шероховатости поверхности., содержащее последовательно расположенные на однОй оси и устанавливаемые под острым углом к измер емой поверхности источник монохроматического излучени , модул тор и оптическую систему, приемник излучени , светофильтры, расположенные перед приемником излучени , и электронный блок обработки сигналов В этом устройстве используютс три преемника излучени , установленные в плоскости падени так, что на первый приемник, попадает поток излучени , отраженный в зеркальном направлении под углом в , а на два других - потоки излучени , отраг женные под углом 82 и 0 также ТРИ диафрагмы, установленные перед приемниками излучени 2. Недостатком зтого устройства вл ютс : необходимость измерени малых потоков излучени , отраженных под углом 02 и 0, св занна с малыми . значени ми телесных углов, что снижает чувствительность и точность устройства; больша погрешность изме рени параметров шероховатости на анизотропных неоднородных поверхност х , обусловленна тем что в зтом случае индикатрисса рассе ни в плос кости падени существенно измен етс при различных направлени х зтой плоскости. . Цель изобре тени - повышение точности и чувствительности измерени . Указанна цель достигаетс гем, что устройство дл измерени шероховатости поверхности, содержащее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измер емой поверхности источник монохроматического излучени , модул тор и оптическую систе му, приемник излучени , светофильтры, расположенные перед приемником излучени , и электронный блок обработки сигналов, снабжено последовательно установленными перед светофильтра по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверсти и круглое отверстие в центре, трем параллельными шторками, выполненнь 4и с возможностью перемещени относительно маски, и фокусирующим объективом. На фиг. 1 изображена принципиальна схема устройства.дл измерени шероховатости поверхности; на фиг, 2, 3, 4 - конфигураци маски и расположение шторок относительно маски. Устройство содержит последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измер емой поверхности источник 1 монохроматического излучени , модул тор 2 и оптическую систему 3, последовательно установленные по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маску, имеющую два кольцевых концентрических отверсти и круглое отверстие в центре, три параллельные между собой шторки 5, 6 и 7, выполненные с возможностью перемец ени относительно 1аски 4, фокусирующий объектив 8, светофильтры 9, приемник 10 излучени и электронный блок 11 обработки сигналов. Устройство работает следующим образом . Параллельный пучок монохроматического излучени , выход щий из ирточника 1 монохроматического излучени -лазера , модулируетс модул то ром 2, представл ющим собой жидкокристаллическую чейку с пол ризатором , и оптической системой 3 направл етс на измер емую поверхность 12. Отраженный в зеркальном направлении поток проходит через.круглое отверстие в центре маски 4, затем чере объектив 8, светрфильтры 9,попадает на приемник 10 излучени и регистрируетс электронным блоком 11 обработки сигналов. При этом подвижные шторки б и 7 вдвинуты, а шторка 5 : в,ыдвинута (фиг. 2). Затем при вдвинутых подвижных шторках 5 и 7 и выдвинутой подвижной шторке б (фиг.З) регистрируетс поток излучени , прошедший через внутреннее кольцевое отверстие в маске 4. После чего, выдвинув подвижную шторку 7 и вдвинув шторки 5 и б (фиг. 4), регистрируетс поток излучени , прошедший через крайнее кольцевое отверстие в маске 4. По отношению потоков излучени , прс аедших через кольцевые отверсти в маске 4, к зеркальному отргикенному опр чдел ютс параметры шероховатости измер емой поверхности г среднее квадратическЬе отклонение и интервал коррел ции высот неровностей. Так как в данном устройстве петоки рассе нного излучени измер ютс в больших телесных углах, реализованных за счет кольцевых отверстий в маске, и за счет того,что рассе нное излучение измер етс во всех направлени х относительно зеркально отражённого пучка, возрастает чувствйточность устройсттельность ва.
Фиг.г
Фиг.З
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержащее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения, модулятор и оптическую систему, приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения, и электронный блок обработки сигналов, отличающеес я тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерения, оно снабжено последовательно .установленными перед светофильтрами по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверстия и круглое отверстие в центре, тремя параллельными шторками, выполненными с возможностью перемещения g относительно маски, и фокусирующим объективом.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823498154A SU1067350A1 (ru) | 1982-10-10 | 1982-10-10 | Устройство дл изменени шероховатости поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823498154A SU1067350A1 (ru) | 1982-10-10 | 1982-10-10 | Устройство дл изменени шероховатости поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1067350A1 true SU1067350A1 (ru) | 1984-01-15 |
Family
ID=21031399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823498154A SU1067350A1 (ru) | 1982-10-10 | 1982-10-10 | Устройство дл изменени шероховатости поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1067350A1 (ru) |
-
1982
- 1982-10-10 SU SU823498154A patent/SU1067350A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. J.Hodgkinson А simple sc ter method for.Optical Surface roughness and measurements. Roughn of polished fused silica J.iPhys Sci. Instrum. V.3, 1970, p.300-304 2. Авторское свидетельство СССР № 987381, кл. G 01 В 11/30, 1981 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4360275A (en) | Device for measurement of optical scattering | |
US4275964A (en) | Apparatus and method for determining the refractive characteristics of a test lens | |
FI78355B (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
JPS6355020B2 (ru) | ||
GB1406018A (en) | Optical measuring apparatus | |
US3761179A (en) | Mirror testing apparatus | |
KR950014849A (ko) | 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기 | |
JPS62126327A (ja) | ポジシヨンセンサ及び該ポジシヨンセンサを使用した遠心分析器 | |
US3013466A (en) | Turbidity measuring instrument | |
GB1298658A (en) | Photometer for measuring total radiant energy at selected angles | |
SU1067350A1 (ru) | Устройство дл изменени шероховатости поверхности | |
JPH0444204B2 (ru) | ||
SU1023230A1 (ru) | Устройство дл измерени степени ориентации одноосно ориентированных полимерных пленок | |
SU1700359A1 (ru) | Способ измерени среднего квадратического отклонени высот неровностей анизотропной поверхности издели и устройство дл его осуществлени | |
SU1601514A1 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности издели | |
SU1270566A1 (ru) | Измерительна головка гидростатического нивелира | |
SU1013801A1 (ru) | Устройство дл измерени светорассе ни объектива | |
SU1155848A1 (ru) | Устройство дл измерени шероховатости полированных поверхностей объектов | |
SU670825A1 (ru) | Фотометрический шар | |
SU1383165A1 (ru) | Нефелометр дл измерени индикатрисы рассе ни аэрозолей | |
SU1511593A1 (ru) | Прибор дл контрол шероховатости поверхности | |
JP2806433B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
SU728060A1 (ru) | Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени | |
RU1768967C (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности | |
SU1395946A1 (ru) | Прибор дл контрол шероховатости поверхности |