SU1067350A1 - Устройство дл изменени шероховатости поверхности - Google Patents

Устройство дл изменени шероховатости поверхности Download PDF

Info

Publication number
SU1067350A1
SU1067350A1 SU823498154A SU3498154A SU1067350A1 SU 1067350 A1 SU1067350 A1 SU 1067350A1 SU 823498154 A SU823498154 A SU 823498154A SU 3498154 A SU3498154 A SU 3498154A SU 1067350 A1 SU1067350 A1 SU 1067350A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mask
radiation
surface roughness
radiation receiver
light
Prior art date
Application number
SU823498154A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Николаевич Попов
Фаина Моисеевна Солодухо
Кира Алексеевна Обрадович
Original Assignee
Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы
Предприятие П/Я Г-4937
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы, Предприятие П/Я Г-4937 filed Critical Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы
Priority to SU823498154A priority Critical patent/SU1067350A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1067350A1 publication Critical patent/SU1067350A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержа щее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаег ые под острым углом к измер емой поверхности источник монохроматического излучени , модул тор и оптическую систему , приемник излучени , светофильтры, расположенные перед приемником излучени , и электронный блок обработки сигналов, отли -чающеес  тем, что, с целью повышени  точности и чувствительности измерени , оно снабжено последовательно ,установленными перед светофильтрами по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверсти  и круглое отверстие в центре, трем  параллельными шторками, выполненными с возможностью перемещени  S относительно маски, и фокусирующим объективом.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  бесконтактного измерени  параметров шероховатости полированных поверхностей. Известно устройство дл  определени  параметров шероховатости (среднего квадратического отклонени  высо неровностей и среднего квадратического значени  углов наклона неровностей , св занного с интервалом коррел ции определенным соотнесением), содержащее лазер, освещающий измер е мую поверхность практически нормально , отражатель в виде сферического зеркала с отверстием в центре, через которое отводитс  зеркально отраженный поток, ирисовую диафрагму и фото приемник. Путем установки разных диаметров ирисовой диафрагмы измен  етс  телесный угол диффузно отраженного потока и производитс  два измерени  при двух разных; телесных углах 1. Недостатком этого устройства  вл  етс  наличие образца сравнени . Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  уст ройство дл  измерени  шероховатости поверхности., содержащее последовательно расположенные на однОй оси и устанавливаемые под острым углом к измер емой поверхности источник монохроматического излучени , модул тор и оптическую систему, приемник излучени , светофильтры, расположенные перед приемником излучени , и электронный блок обработки сигналов В этом устройстве используютс  три преемника излучени , установленные в плоскости падени  так, что на первый приемник, попадает поток излучени , отраженный в зеркальном направлении под углом в , а на два других - потоки излучени , отраг женные под углом 82 и 0 также ТРИ диафрагмы, установленные перед приемниками излучени  2. Недостатком зтого устройства  вл ютс : необходимость измерени  малых потоков излучени , отраженных под углом 02 и 0, св занна  с малыми . значени ми телесных углов, что снижает чувствительность и точность устройства; больша  погрешность изме рени  параметров шероховатости на анизотропных неоднородных поверхност х , обусловленна  тем что в зтом случае индикатрисса рассе ни  в плос кости падени  существенно измен етс  при различных направлени х зтой плоскости. . Цель изобре тени  - повышение точности и чувствительности измерени . Указанна  цель достигаетс  гем, что устройство дл  измерени  шероховатости поверхности, содержащее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измер емой поверхности источник монохроматического излучени , модул тор и оптическую систе му, приемник излучени , светофильтры, расположенные перед приемником излучени , и электронный блок обработки сигналов, снабжено последовательно установленными перед светофильтра по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверсти  и круглое отверстие в центре, трем  параллельными шторками, выполненнь 4и с возможностью перемещени  относительно маски, и фокусирующим объективом. На фиг. 1 изображена принципиальна  схема устройства.дл  измерени  шероховатости поверхности; на фиг, 2, 3, 4 - конфигураци  маски и расположение шторок относительно маски. Устройство содержит последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измер емой поверхности источник 1 монохроматического излучени , модул тор 2 и оптическую систему 3, последовательно установленные по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маску, имеющую два кольцевых концентрических отверсти  и круглое отверстие в центре, три параллельные между собой шторки 5, 6 и 7, выполненные с возможностью перемец ени  относительно 1аски 4, фокусирующий объектив 8, светофильтры 9, приемник 10 излучени  и электронный блок 11 обработки сигналов. Устройство работает следующим образом . Параллельный пучок монохроматического излучени , выход щий из ирточника 1 монохроматического излучени -лазера , модулируетс  модул то ром 2, представл ющим собой жидкокристаллическую  чейку с пол ризатором , и оптической системой 3 направл етс  на измер емую поверхность 12. Отраженный в зеркальном направлении поток проходит через.круглое отверстие в центре маски 4, затем чере объектив 8, светрфильтры 9,попадает на приемник 10 излучени  и регистрируетс  электронным блоком 11 обработки сигналов. При этом подвижные шторки б и 7 вдвинуты, а шторка 5 : в,ыдвинута (фиг. 2). Затем при вдвинутых подвижных шторках 5 и 7 и выдвинутой подвижной шторке б (фиг.З) регистрируетс  поток излучени , прошедший через внутреннее кольцевое отверстие в маске 4. После чего, выдвинув подвижную шторку 7 и вдвинув шторки 5 и б (фиг. 4), регистрируетс  поток излучени , прошедший через крайнее кольцевое отверстие в маске 4. По отношению потоков излучени , прс аедших через кольцевые отверсти  в маске 4, к зеркальному отргикенному опр чдел ютс  параметры шероховатости измер емой поверхности г среднее квадратическЬе отклонение и интервал коррел ции высот неровностей. Так как в данном устройстве петоки рассе нного излучени  измер ютс  в больших телесных углах, реализованных за счет кольцевых отверстий в маске, и за счет того,что рассе нное излучение измер етс  во всех направлени х относительно зеркально отражённого пучка, возрастает чувствйточность устройсттельность ва.
Фиг.г
Фиг.З

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержащее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения, модулятор и оптическую систему, приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения, и электронный блок обработки сигналов, отличающеес я тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерения, оно снабжено последовательно .установленными перед светофильтрами по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверстия и круглое отверстие в центре, тремя параллельными шторками, выполненными с возможностью перемещения g относительно маски, и фокусирующим объективом.
SU823498154A 1982-10-10 1982-10-10 Устройство дл изменени шероховатости поверхности SU1067350A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823498154A SU1067350A1 (ru) 1982-10-10 1982-10-10 Устройство дл изменени шероховатости поверхности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823498154A SU1067350A1 (ru) 1982-10-10 1982-10-10 Устройство дл изменени шероховатости поверхности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1067350A1 true SU1067350A1 (ru) 1984-01-15

Family

ID=21031399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823498154A SU1067350A1 (ru) 1982-10-10 1982-10-10 Устройство дл изменени шероховатости поверхности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1067350A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. J.Hodgkinson А simple sc ter method for.Optical Surface roughness and measurements. Roughn of polished fused silica J.iPhys Sci. Instrum. V.3, 1970, p.300-304 2. Авторское свидетельство СССР № 987381, кл. G 01 В 11/30, 1981 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4360275A (en) Device for measurement of optical scattering
US4275964A (en) Apparatus and method for determining the refractive characteristics of a test lens
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
JPS6355020B2 (ru)
GB1406018A (en) Optical measuring apparatus
US3761179A (en) Mirror testing apparatus
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
JPS62126327A (ja) ポジシヨンセンサ及び該ポジシヨンセンサを使用した遠心分析器
US3013466A (en) Turbidity measuring instrument
GB1298658A (en) Photometer for measuring total radiant energy at selected angles
SU1067350A1 (ru) Устройство дл изменени шероховатости поверхности
JPH0444204B2 (ru)
SU1023230A1 (ru) Устройство дл измерени степени ориентации одноосно ориентированных полимерных пленок
SU1700359A1 (ru) Способ измерени среднего квадратического отклонени высот неровностей анизотропной поверхности издели и устройство дл его осуществлени
SU1601514A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности издели
SU1270566A1 (ru) Измерительна головка гидростатического нивелира
SU1013801A1 (ru) Устройство дл измерени светорассе ни объектива
SU1155848A1 (ru) Устройство дл измерени шероховатости полированных поверхностей объектов
SU670825A1 (ru) Фотометрический шар
SU1383165A1 (ru) Нефелометр дл измерени индикатрисы рассе ни аэрозолей
SU1511593A1 (ru) Прибор дл контрол шероховатости поверхности
JP2806433B2 (ja) 眼屈折力測定装置
SU728060A1 (ru) Фотоэлектрический дефектоскоп дл контрол поверхностей тел вращени
RU1768967C (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU1395946A1 (ru) Прибор дл контрол шероховатости поверхности