JPS6388432A - 異物検出方法並びにその装置 - Google Patents
異物検出方法並びにその装置Info
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- JPS6388432A JPS6388432A JP61233738A JP23373886A JPS6388432A JP S6388432 A JPS6388432 A JP S6388432A JP 61233738 A JP61233738 A JP 61233738A JP 23373886 A JP23373886 A JP 23373886A JP S6388432 A JPS6388432 A JP S6388432A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000003708 ampul Substances 0.000 abstract description 36
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 abstract description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
- G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
-
- G—PHYSICS
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- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は異物検出方法並びにその装置に係り、特に透明
容器内の溶液中に浮遊する異物を検出する異物検出方法
並びにその装置に関する。
容器内の溶液中に浮遊する異物を検出する異物検出方法
並びにその装置に関する。
薬品アンプル又は、ビン内の異物の検査は、製品欠陥に
つながるビン内部の異物と、製品欠陥とは無関係な、ビ
ン表面の傷、・あるいは汚れ等との区別が自動認識困難
なため、目視検査に依っている。しかし、この方法は、
検査のスルーフットが遅れ大量生産されるアンプルに適
用できない。又、デジタル画像処理による方法では、ア
ンプル内゛の異物サイズは数十μｍ以下と細かく、アン
プルビンの表面の傷、あるいは汚れと略同サイズである
ため、識別が困難である。従って、通常の画像処理方法
は異物の検出に適用できない。
つながるビン内部の異物と、製品欠陥とは無関係な、ビ
ン表面の傷、・あるいは汚れ等との区別が自動認識困難
なため、目視検査に依っている。しかし、この方法は、
検査のスルーフットが遅れ大量生産されるアンプルに適
用できない。又、デジタル画像処理による方法では、ア
ンプル内゛の異物サイズは数十μｍ以下と細かく、アン
プルビンの表面の傷、あるいは汚れと略同サイズである
ため、識別が困難である。従って、通常の画像処理方法
は異物の検出に適用できない。
又、最近では、アンプルを高速回転させた後、ブレーキ
をかけて急停止させて、内溶液と共に異物を浮遊回転さ
せ、アンプル側面より透過光を照射することにより、異
物が透過光を遮るために生じる影像の変化（光量の変化
）を検知し、良、不良の選別をする装置が開発されてい
る。
をかけて急停止させて、内溶液と共に異物を浮遊回転さ
せ、アンプル側面より透過光を照射することにより、異
物が透過光を遮るために生じる影像の変化（光量の変化
）を検知し、良、不良の選別をする装置が開発されてい
る。
第３図は従来のアンプルの高速回転による異物検出方法
並びにその装置の説明図である。第３図に示すように検
査対象であるアンプル７０は光源７２からの照射光７４
が投光レンズ７６を介して照射される。照射光７４はア
ンプル７０内の溶液中を透光した後、結像レンズ７８を
通って受光装置８０に達する。アンプル内の異物８２或
いはビンの表面傷８４、汚れ８６等は、照射光７４を遮
断して影像となる。これ等の影像は受光装置８０に投影
される。
並びにその装置の説明図である。第３図に示すように検
査対象であるアンプル７０は光源７２からの照射光７４
が投光レンズ７６を介して照射される。照射光７４はア
ンプル７０内の溶液中を透光した後、結像レンズ７８を
通って受光装置８０に達する。アンプル内の異物８２或
いはビンの表面傷８４、汚れ８６等は、照射光７４を遮
断して影像となる。これ等の影像は受光装置８０に投影
される。
このような従来の異物検出方法並びにその装置に於いて
は、アンプル７０は高速回転された後、ブレーキが掛け
られて急停止される。異物８２は慣性力により浮遊回転
し側面からの透過光７４を遮る。異物８２の影像は変動
して受光装置８０に受光変動量として検知される。この
場合に異物８２は光量変化を起こすが、アンプル表面の
傷８４及び汚れ８６は、静止しているために光量変化を
起こさない、この為、異物８２はアンプル表面の傷８４
及び汚れ８６との識別が可能になる。又、アンプル７０
の大きさに対摩して、一定の面積毎に区切った受光素子
８８が設置され、これらの受光素子８８は光電管やフォ
トダイオードが用いられており、速い検査が可能となっ
ている。
は、アンプル７０は高速回転された後、ブレーキが掛け
られて急停止される。異物８２は慣性力により浮遊回転
し側面からの透過光７４を遮る。異物８２の影像は変動
して受光装置８０に受光変動量として検知される。この
場合に異物８２は光量変化を起こすが、アンプル表面の
傷８４及び汚れ８６は、静止しているために光量変化を
起こさない、この為、異物８２はアンプル表面の傷８４
及び汚れ８６との識別が可能になる。又、アンプル７０
の大きさに対摩して、一定の面積毎に区切った受光素子
８８が設置され、これらの受光素子８８は光電管やフォ
トダイオードが用いられており、速い検査が可能となっ
ている。
しかしながら、このようなアンプル７０を高速回転して
溶液中の異物８２を慣性回転させる方法では、低粘度（
ＩＯＣ３Ｔ以下）の溶液中の異物８２に関しては適用で
きるが、高粘度（１００Ｃ５Ｔ以上）の溶液中の異物８
２ではアンプル７０を高速回転させた後、ブレーキを掛
けて急停止させても、内溶液が充分に慣性回転せず、浮
遊異物８２は充分に回転されない。従って、異物の透過
光７４を遮るために起こる影像の変化も充分性じないた
め、光量の変化が起こらず異物の検出が出来ない、また
、高粘度の溶液（１０（ＩＣＳＴ以上）中の異物８２に
慣性回転を与えるため、アンプル７０を高速回転（約３
０００ｒｐｍ以上）させた場合、アンプル７０は破損す
る戊がある。このため、実用のアンプル回転速度には限
界がある。
溶液中の異物８２を慣性回転させる方法では、低粘度（
ＩＯＣ３Ｔ以下）の溶液中の異物８２に関しては適用で
きるが、高粘度（１００Ｃ５Ｔ以上）の溶液中の異物８
２ではアンプル７０を高速回転させた後、ブレーキを掛
けて急停止させても、内溶液が充分に慣性回転せず、浮
遊異物８２は充分に回転されない。従って、異物の透過
光７４を遮るために起こる影像の変化も充分性じないた
め、光量の変化が起こらず異物の検出が出来ない、また
、高粘度の溶液（１０（ＩＣＳＴ以上）中の異物８２に
慣性回転を与えるため、アンプル７０を高速回転（約３
０００ｒｐｍ以上）させた場合、アンプル７０は破損す
る戊がある。このため、実用のアンプル回転速度には限
界がある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、特に
溶液中の異物が内溶液の粘度に左右されずに正確に検出
される異物検出方法並びにその装置を提供することを目
的としている。
溶液中の異物が内溶液の粘度に左右されずに正確に検出
される異物検出方法並びにその装置を提供することを目
的としている。
本発明は前記目的を達成するために、透明容器内の溶液
中に浮遊する異物を検出する異物検出方法に於いて、前
記透明容器の底面から略平行光線を照射し、該光線を受
けた溶液内の異物から発せられる反射光を容器の側方か
ら受光して異物の検出をすることを特１枚としている。
中に浮遊する異物を検出する異物検出方法に於いて、前
記透明容器の底面から略平行光線を照射し、該光線を受
けた溶液内の異物から発せられる反射光を容器の側方か
ら受光して異物の検出をすることを特１枚としている。
以下添付図面に従って、本発明に係る異物検出方法並び
にその装置に係る好ましい実施例を詳説する。
にその装置に係る好ましい実施例を詳説する。
第１図は本発明に係る異物検出方法並びにその装置の説
明図である。第１図に示すアンプルｌＯはガラス製で、
薬液１２が充填されている。又、場合によってはアンプ
ル１０には透明なプラスチック製アンプルが使用される
場合もある。アンプル１０は回転または転倒直換を繰り
返した後、台座１４の取り付は孔１６に配置される。ア
ンプルｌＯの底面からは照射光１８が取り付は孔１６を
通して照射され、照射光１８はハロゲンランプ２０を光
源としている。ハロゲンランプ２０の光線は収束光ファ
イバ２２を通って集光レンズ２４を透光した掻、コリメ
ートレンズ２６を透光し偏光フィルタ２７を介して照射
光１８となる。収束光ファイバ２２の径は３１）に形成
され、出射端２２Ａからの光線が全て集光レンズ２４を
透過するように設定される。又、コリメートレンズ２６
はハロゲンランプ２０からの光線を略平行光線に変換し
ている。従って照射光１８は、コリメートレンズ２６に
よって発散角５″以下の平行光線とされる。尚、収束フ
ァイバ２２の径は８１重以下が好ましく、径が８鶴以上
では、良好な平行光線をコリメートレンズ２６によって
形成することができない。又偏光フィルタ２７を通った
照射光１８の照度は２０万ルツクスを有している。
明図である。第１図に示すアンプルｌＯはガラス製で、
薬液１２が充填されている。又、場合によってはアンプ
ル１０には透明なプラスチック製アンプルが使用される
場合もある。アンプル１０は回転または転倒直換を繰り
返した後、台座１４の取り付は孔１６に配置される。ア
ンプルｌＯの底面からは照射光１８が取り付は孔１６を
通して照射され、照射光１８はハロゲンランプ２０を光
源としている。ハロゲンランプ２０の光線は収束光ファ
イバ２２を通って集光レンズ２４を透光した掻、コリメ
ートレンズ２６を透光し偏光フィルタ２７を介して照射
光１８となる。収束光ファイバ２２の径は３１）に形成
され、出射端２２Ａからの光線が全て集光レンズ２４を
透過するように設定される。又、コリメートレンズ２６
はハロゲンランプ２０からの光線を略平行光線に変換し
ている。従って照射光１８は、コリメートレンズ２６に
よって発散角５″以下の平行光線とされる。尚、収束フ
ァイバ２２の径は８１重以下が好ましく、径が８鶴以上
では、良好な平行光線をコリメートレンズ２６によって
形成することができない。又偏光フィルタ２７を通った
照射光１８の照度は２０万ルツクスを有している。
溶液工２内の異物２８は照射光１８を受けて反射光３０
を発する。反射光３０はアンプル１０の側方の偏光フィ
ルタ３２を通って結像レンズ３４を介して受光装置３６
に受光される。受光装置３６は異物２８による反射光３
０の輝点量をカウントして異物２８１を計測している。
を発する。反射光３０はアンプル１０の側方の偏光フィ
ルタ３２を通って結像レンズ３４を介して受光装置３６
に受光される。受光装置３６は異物２８による反射光３
０の輝点量をカウントして異物２８１を計測している。
又、アンプル１０の側壁１０Ａには発散角５″以下の誤
差方向に向けて照射される微量の照射光１８のみ照射さ
れる。表面の傷３８或いは汚れ４０は輝度の弱い反射光
を発するが、受光装置３６はこのような低輝度の反射光
をピンクアンプしないように構成されている。
差方向に向けて照射される微量の照射光１８のみ照射さ
れる。表面の傷３８或いは汚れ４０は輝度の弱い反射光
を発するが、受光装置３６はこのような低輝度の反射光
をピンクアンプしないように構成されている。
前屈の如く構成された本発明に係る異物検出方法並びに
その装置によれば、ハロゲンランプ２０からの光線は収
束光ファイバ２２を介して集光レンズ２４を透過する。
その装置によれば、ハロゲンランプ２０からの光線は収
束光ファイバ２２を介して集光レンズ２４を透過する。
集光レンズ２４を透光した光線はコリメートレンズ２６
によって略平行光線とされ、偏光フィルタ２７を介して
照射光１８となる。照射光１８は平行光線であるため、
アンプル１０の側壁１０Ａの表面の傷３８或いは汚れ４
０にはほとんど照射されず、溶液１２内の異物２８のみ
に照射される。これにより、照射を受けた異物２８から
発せられる反射光３０は受光装置３６によって受光され
、受光装置３６によって検出された反射光３０の輝点量
は受光装置３６内の解析カウント機構によって計測され
た後、異物量として検出される。一方、アンプル１０の
表面の傷３８或いは汚れ４０は照射光１８を受ける光量
がｍｌなため、はとんど反射光を発せず、受光装置３６
内の解析カウント機構によってビックアンプされずに消
去される。このため、溶液１２内の異物２８はアンプル
１０の表面の傷３８或いは汚れ４０と区別して検出され
、安全で効率よく検出測定される。
によって略平行光線とされ、偏光フィルタ２７を介して
照射光１８となる。照射光１８は平行光線であるため、
アンプル１０の側壁１０Ａの表面の傷３８或いは汚れ４
０にはほとんど照射されず、溶液１２内の異物２８のみ
に照射される。これにより、照射を受けた異物２８から
発せられる反射光３０は受光装置３６によって受光され
、受光装置３６によって検出された反射光３０の輝点量
は受光装置３６内の解析カウント機構によって計測され
た後、異物量として検出される。一方、アンプル１０の
表面の傷３８或いは汚れ４０は照射光１８を受ける光量
がｍｌなため、はとんど反射光を発せず、受光装置３６
内の解析カウント機構によってビックアンプされずに消
去される。このため、溶液１２内の異物２８はアンプル
１０の表面の傷３８或いは汚れ４０と区別して検出され
、安全で効率よく検出測定される。
又、アンプル１０によっては褐色瓶等が使用され、照射
される照射光１８の照度は少なくとも１０万ルツクス以
上が有効である。１０万ルツクス以上の照射光であれば
異物２８から発せられる反射光３０の輝度量は充分受光
装置３６によって検知することが出来る。又、照射光１
８の完敗角度は５°以下の平行光線であることが好まし
く５゜以上の発散光を照射光線１８として利用する場合
には、アンプルｌＯの側壁１０Ａに照射される照射光１
８ｆｔが増加する虞れがあるため、アンプル表面の傷３
８或いは汚れ４０を検出する虞が生じる。
される照射光１８の照度は少なくとも１０万ルツクス以
上が有効である。１０万ルツクス以上の照射光であれば
異物２８から発せられる反射光３０の輝度量は充分受光
装置３６によって検知することが出来る。又、照射光１
８の完敗角度は５°以下の平行光線であることが好まし
く５゜以上の発散光を照射光線１８として利用する場合
には、アンプルｌＯの側壁１０Ａに照射される照射光１
８ｆｔが増加する虞れがあるため、アンプル表面の傷３
８或いは汚れ４０を検出する虞が生じる。
第２図は本発明に係る異物検出装この第２実施例を示す
説明図である。第２図に示すようにコリメートレンズ２
６からの照射光１８はハーフミラ−４２を介してアンプ
ル１０に照射される。又アンプル１０内の異物２８の反
射光３０はハーフミラ−４２を通って結像レンズ３４を
介して受光装置３６に受光されるようになっている。こ
のような方法に於いても、充分に異物２８のみを検出す
ることが出来、アンプル１０の下方にカメラ等を配置す
ることができる。
説明図である。第２図に示すようにコリメートレンズ２
６からの照射光１８はハーフミラ−４２を介してアンプ
ル１０に照射される。又アンプル１０内の異物２８の反
射光３０はハーフミラ−４２を通って結像レンズ３４を
介して受光装置３６に受光されるようになっている。こ
のような方法に於いても、充分に異物２８のみを検出す
ることが出来、アンプル１０の下方にカメラ等を配置す
ることができる。
以上説明したように本発明に係る異物検出方法並びにそ
の装置によれば、透明容器の底面から略平行光線を照射
して、溶液内の異物から発せられる反射光を受光装置に
よって受光して異物を検出したので、容器内の異物は溶
液の粘度に左右されることなく容器の表面の傷あと或い
は汚れ等と識別が明確出来ると共に異物の検出を確実に
することが出来る。
の装置によれば、透明容器の底面から略平行光線を照射
して、溶液内の異物から発せられる反射光を受光装置に
よって受光して異物を検出したので、容器内の異物は溶
液の粘度に左右されることなく容器の表面の傷あと或い
は汚れ等と識別が明確出来ると共に異物の検出を確実に
することが出来る。
第１図は本発明に係る異物検出方法並びにその装置の説
明図、第２図は本発明に係る第２実施例の説明図、第３
図は従来の異物検出装置の説明図である。 １０・・・アンプル、 １８・・・照射光、 ２０・
・・ハロゲンランプ、 ２２・・・収束、光ファイバ
、 ２４・・・集光レンズ、 ２６・・・コリメー
トレンズ、 ２８・・・異物、 ３６・・・受光装置
、 ３８・・・表面傷、４０・・・汚れ。 出願人 日立プラント建設株式会社 第１図 第２図 第３図
明図、第２図は本発明に係る第２実施例の説明図、第３
図は従来の異物検出装置の説明図である。 １０・・・アンプル、 １８・・・照射光、 ２０・
・・ハロゲンランプ、 ２２・・・収束、光ファイバ
、 ２４・・・集光レンズ、 ２６・・・コリメー
トレンズ、 ２８・・・異物、 ３６・・・受光装置
、 ３８・・・表面傷、４０・・・汚れ。 出願人 日立プラント建設株式会社 第１図 第２図 第３図
Claims (4)
- （１）透明容器内の溶液中に浮遊する異物を検出する異
物検出方法に於いて、前記透明容器の底面から略平行光
線を照射し、該光線を受けた溶液内の異物から発せられ
る反射光を容器の側方から受光して異物の検出をするこ
とを特徴とする異物検出方法。 - （２）前記光線は、発散角が５°以下の平行光線である
ことを特徴する特許請求の範囲第１項記載の異物検出方
法。 - （３）前記透明容器に照射され光線は照度が１０万ルッ
クス以上であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の異物検出方法。 - （４）前記透明容器の底面から略平行光線を照射する照
射装置と、照射装置の照射光を受けた溶液内の異物から
発せられる反射光を容器の側方から受光する受光装置と
から成ることを特徴とする異物検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61233738A JPS6388432A (ja) | 1986-10-02 | 1986-10-02 | 異物検出方法並びにその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61233738A JPS6388432A (ja) | 1986-10-02 | 1986-10-02 | 異物検出方法並びにその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6388432A true JPS6388432A (ja) | 1988-04-19 |
Family
ID=16959803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61233738A Pending JPS6388432A (ja) | 1986-10-02 | 1986-10-02 | 異物検出方法並びにその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6388432A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5033852A (en) * | 1989-03-24 | 1991-07-23 | Enrico Zaglio | Optical measuring device for measuring the fat contents of milk |
| JP2006226715A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Dainippon Printing Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2013213820A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Anton Paar Gmbh | 試料内の不均質性を検知するための光学装置、特に偏光計 |
-
1986
- 1986-10-02 JP JP61233738A patent/JPS6388432A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5033852A (en) * | 1989-03-24 | 1991-07-23 | Enrico Zaglio | Optical measuring device for measuring the fat contents of milk |
| JP2006226715A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Dainippon Printing Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2013213820A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Anton Paar Gmbh | 試料内の不均質性を検知するための光学装置、特に偏光計 |
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