SU650080A1 - Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин - Google Patents

Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин

Info

Publication number
SU650080A1
SU650080A1 SU762406048A SU2406048A SU650080A1 SU 650080 A1 SU650080 A1 SU 650080A1 SU 762406048 A SU762406048 A SU 762406048A SU 2406048 A SU2406048 A SU 2406048A SU 650080 A1 SU650080 A1 SU 650080A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
register
output
block
outputs
Prior art date
Application number
SU762406048A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Борисович Мкртумян
Марклен Оганесович Караханян
Original Assignee
Предприятие П/Я А-7390
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-7390 filed Critical Предприятие П/Я А-7390
Priority to SU762406048A priority Critical patent/SU650080A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU650080A1 publication Critical patent/SU650080A1/ru

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к вычислительной технике и может быть нспользовано в ЭВМ дл  локализации неисправностей.
Современные высокопроизводительные ЭВМ обычно бывают снабжены встроенной аппаратурой дл  локализаций неисправностей с точностью до группы типовых элементо-в замены, т. е. группы :печатных плат с интегральными схемами. Дл  локализации неисправности с точностью до интегральной схемы дл  последующей их замены иснользуютс  стенды проверки типовых элементов замены, которые при этом бывают с ручным и автоматическим управлением .
Комплектование ЭВМ автоматическим стендом дл  индивидуального обслуживани  приводит к значительному удорожанию стоимости ЭВМ. Ручные стенды имеют невысокую стоимость, но требуют много времени на проверку, что значительно снижает ремонтопригодность ЭВМ.
Из известных устройств наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  устройство 2. Это устройство содержит входной регистр, буферный блок пам ти, блок сравнени , преобразователь параллельного кода в последовательный , блок управлени , регистр обмена . Вход входного регистра соединен с
входом блока управлени  и  вл етс  первым входом устройства, первый, второй и третий выходы блока управлени  подключены соответственно к управл ющим входам входного регнстра, регистра обмена и буферного блока пам ти, выход которого соединен с первым входом блока сравнени . Выход преобразовател  нараллельного кода в последовательный соединен с первым входом регистра обмена, выход которого подключен к -первому входу буферного блока пам ти и к второму входу блока сравнени . Второй вход буферного блока пам ти соединен с первым выходом
входного регистра, второй выход входного регистра - с третьим входом блока сравнени ..;. Недостаток этого устройства состоит в том, что оно не обеспечивает локализации
неисправности с точностью до интегральной схемы, вследствие чего оно имеет невысокую производительность.
Цель изобретени  - повышение производительности устройства.
Это достигаетс  введением в устройство регистра тестов, дешифратора, счетчика, переключател  входов, переключател  выходов . Четвертый и п тый выходы блока управлени  соединены соответственно с управл ющими входами счетчика и регистра
тестов, первый, второй, третий, четвертый, п тый и шестой выходы которого св заны соответственно с входом дешифратора, с первым входом преобразовател  параллельного кода в -последовательный, с первым входом диагностируемого устройства, с информационным входом переключател  входов, с упра1вл ющмм входом лереключател  входов, с четвертым входом блока cpaiBHeHHH. Третий выход входного регистра соединен с .входом регистра тесто-в, выход дешифратора - с управл юш им входом переключател  выходов, информационный вход которого св зан с выходом диагностируемого устройства, а выход переключател  .выходов - с вторым входом преобразовател  параллельного «ода в последовательный . Выход блока сравнени  подключен к входу счетч1ика, выход которого соединен с третьим входом преобразовател  параллельного кода в последовательный и с вторым 1ВХОДОМ регистра обмена , а выход переключател  входов - к -второму входу диагностируемого блока.
На чертеже .представлена структурна  схема предлагаемого устройства дл  диагностики блоков ЭВМ.
Устройство включает входной регистр 1, регистр 2 тестов, регистр 3 обмена, буферный блок 4 пам ти, блок 5 сравнени , счетчик 6, преобразователь 7 параллельного кода в последовательный, переключатель 8 входов, переключатель 9 выходов, дешифратор 10, блок 11 управлени .
входы входного регистра Г п блока 11 образуют вход устройства. Первый, второй, третий, четвертый и п тый выходы блока 11 соединены соответственно с управл ющими входами входного регистра 1, регистра 3, буферного блока 4, счетчика 6 и регистра 2. Выход преобразовател  7 подключен к первому входу регистра 3, выход которого соединен с первым входом буферного блока 4 и с вторым входом блока 5. Второй вход буферного блока 4 соединен с первым выходом входного регистра 1, второй выход которого св зан с третьим входом блока 5, третий выход входного регистра - с Б.ходом регистра 2, первый, второй, третий, четвертый, п тый, шестой выходы которого соединены соответственно с входами дешифратора 10, с первым входом преобразовател  7, с первыми входами диагностируемого блока 12, с информационными и управл юш,им входами переключател  8, с четвертым входом блока 5. Выходы переключател  8 подключены к вторым входам диагностируемого блока 12, выходы которого соединены с -информационными входа-ми переключател  9. Управл юшие входы переключател  9 соединены с выходами дешифратора 10, а выходы - с вторым входом преобразовател  7. Выход блока 5 св зап с входом счетчика 6, выход которого соединен с третьим входом преобразовател  7 и вторым входом регистра 3. Работу устройства можно свести к выполпен-ию следующей последовательности функций: авто.матическа  установка регистра тестов дл  подачи входных последовательностей на провер емый типо-вой элемснт замены согласно програ.мме контрол ; опрос выходов провер емого типового
элемента замены; сравнение полученных данных с эталоном; накопление результата, полученного на множестве тестов в буферном блоке -пам ти; определение неисправных интегральных схем по -справочнику в
соответствии с полученным кодом; переход к следующему циклу диагностики, т. е. подтверждение правильности локализации неисправности путем останова процесса диагностики на первом тесте, . обнаруж-ивающем неисправность, и уточнение локализации с помощью специального индикаторного щупа и справочника эталонных значе}1ий в схеме типового элемента замены. В устройстве имеетс  специальный разъем , в .который вставл етс  провер емый типовой элемент замены. С монтажной стороны к -каждому сигнально-му контакту разъема подведен выход соответствующего разр да регистра 2. (К свободным конта-ктам и контактам питани  выходы регистра 2 не подвод тс ). Разр дность регистра 2 равна К+4, где К. количество сигнальных контактов типового элемента замены, а 4 - количество дополнительных разр дов дл  управлени  впутренним-и мультиплексорами в провер емом типовом элементе замены.
При установке провер емого типового элемента замены -в разъем устройства на
контактах разъема происходит соединение выходов регистра тестов с контактами провер емого типового элемента замены. В результате этого на входные конта-кты провер емого типового элемента поступают
з-начени  соответствуюш1их разр дов регистра 2. Выходные контакты провер емого типового элемента замены образуют с выхода.ми соответствующих им разр дов регистра 2 монтажное И. Поэтому дл  получени  па контактах значени  выходов типового элемента замены соответствующие разр ды регистра 2 устанавливаютс  в «1. Вследствие того, что выходы регистра 2 образуют в этих позици х монтажное И
с выходами провер емого типо-вого элемента за-мены, при опросе выходов регистра тестов в этих позици х будут значени  выходов провер емого типового элемента замены . Благодар  этому в устройстве отсутствует коммутатор, -который в других стендах обеспечивает коммутацию входов и выходов.
Опрос выходов регистра 2 тестов осуществл етс  с помощью преобразовател  7
параллельного кода в последовательный.
информаци  с выхода которого поступает в регистр 3 обмена и далее в б.чок 5 сравнени . После установки провер емого типового элемента замены в разъем устройства и запуска устройства данные с внешнего носител  тестовой информации поступают к входам устройства во входной регистр 1, если информац1и  представл ет собой тестовый набор, или в блок 11, если информаци  - управл юща . Блок 11 обеспечивает заполнение регистра 2 путем приема данных из входного регистра 1. В результате этого в разр дах регистра 2, соответствующих входным контактам провер емого типового элемента замены, устанавливаетс  входной набор, а в разр дах, соответствующих выходным контактам провер емого типового элемента замены - «1.
Высока  плотность монтажа в типовом элементе замены современных ЭВМ «приводит к тому, что цена каждого контакта разъема возрастает. В этих случа х трудно выделить свободные контакты дл  использовани  их в качестве контрольных точек дл  индикации и опроса состо ни  схем. Поэтому с целью сокращени  количества контактов, примен емых в качест;ве контрольных точек, в типовом элементе замены устанавливают мультиплексоры, которые преобразуют параллельный код регистров типового элемента замены в последовательный . В этом случае дл  вывода из типового элемента замены восьмибитного регистра требуетс  не восемь контактов , а четыре (три контакта дл  управлени  входами мультиплексора н один - дл  его выхода).
Обычно управл ющие сигналы и выход мультиплексора подключаютс  к фиксированным контактам типового элемента замены .
Если типовой элемент замены не содержат мультиплексоров, эти контакты используютс  дл  обычных целей.
Посредством переключател  8 обеспечиваетс  подача на определенные контакты провер емого типового элемента замены либо сигналов управлени  мультиплексорами (если таковые имеютс  в типовом элементе замены), лпбо сигналов с выходов регистра 2 тестов (когда в типовом элементе замепы нет мультиплексоров). Это позвол ет «спользовать при проверке внутренние мультиплексоры типового элемента замены дл  получени  доступа к схемам , не имеющим непосредственного выхода на контакты.
Переключатель 8 управл етс  битом регистра тестов.
Когда в провер емом типовом элементе замены имеетс  несколько внутренних мультиплексоров, обеспечивающих вывод информации о состо нии регистра и триггеров типового элемента замены, необходимо коммутировать конкретный мультиплексор на вход преобразовател  7, так как дл  всех эгих мультиплексоров в буферном блоке 4 (н на индпкацип) выделен один адрес (байт). Подключение провер емого мультиплексора к преобразователю 7 осуществл етс  установкой в трех управл ющих битах регистра 2 кода, соответствующего провер е.мому мультиплексору.
Дл  этой цели служит переключатель 9, который в соответствии с выходом дешифратора 10 выбирает и подключает к преобразователю 7 выход соответствующего мультиплексора.
Дл  опроса результата и сравнени  с эталоном формируетс  адрес данных. Содержимое входного регистра 1 передаетс  3 буферный блок 4 дл  указани  адреса данных, которые поступают через регистр
обмена в буферный блок 4. Выбранна  дл  сравнени  информаци  попадает в блок 5, на другой вход которого из регистра 1 подаетс  эталонна  информаци . Результат сравнени  поступает на вход счетчика
6, который может работать в двух режимах: сдвигател  и счетчика.
В режиме сдвпгател  результат сравнени  по управл ющему сигналу, поступающему из блока 11, сдвигаетс  вправо.
После заполнени  счетчика 6 из входного регистра 1 в буферный блок 4 поступает адрес записи содерл имого счетчика 6 и оно записываетс  в буферный блок 4, как составна  часть кода неисправности. Этотпроцесс продолжаетс  до тех пор, пока не закончитс  формирование полного вектора неисправности. После формировани  н записи в буферный блок 4 полного вектора неисправности происходит останов устройства .
По окончан ;и проверки код неисправности считываетс  из буферного блока 4н по диагностическому справочнику определ ютс  неисправные интегральные схемы.
В другом счетчик 6 работает при проверке результатов автоматической диагностики . Этот режим позвол ет остановить процесс диагностики на первом тесте, обнаружившем неисправность, и с помощью щупа подтвердить правильность локализации неисправности.
С этой целью счетчик 6 по сигналу управлени  1из блока 11 переводитс  в режим счетчика и повторным пуском устройства
по сигналам из блока 11 считает количество тестов до останова устройства. Номер теста определ ет входной набор и эталонную ннформацию в схеме типового элемента замены, приведенную в справочнике.
Благодар  возможностн быстрой локализаци1И неисправностей внутри типового элемента замены с точностью до интегральной схемы насто щее устройство обеспечивает более высокую производительность при диагностике блоков ЭВМ.
SU762406048A 1976-09-20 1976-09-20 Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин SU650080A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762406048A SU650080A1 (ru) 1976-09-20 1976-09-20 Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762406048A SU650080A1 (ru) 1976-09-20 1976-09-20 Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU650080A1 true SU650080A1 (ru) 1979-02-28

Family

ID=20677590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762406048A SU650080A1 (ru) 1976-09-20 1976-09-20 Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU650080A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4688222A (en) Built-in parallel testing circuit for use in a processor
US3953717A (en) Test and diagnosis device
US4926425A (en) System for testing digital circuits
US3988579A (en) System for testing a data processing unit
KR900004372B1 (ko) 자동차용 전자장치의 고장진단 시스템
US4025767A (en) Testing system for a data processing unit
US20060090113A1 (en) Design for test of analog module systems
JPS588005B2 (ja) 自己検査読み出し・書き込み回路
SU650080A1 (ru) Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин
SU947863A1 (ru) Устройство дл контрол и диагностики логических узлов
SU669921A1 (ru) Устройство дл диагностики каналов ввода-вывода
JPH1164450A (ja) 半導体試験装置
JPS613256A (ja) メモリ試験方式
SU1672452A1 (ru) Устройство дл диагностики логических блоков
SU1681304A1 (ru) Устройство дл автоматического поиска дефектов в логических блоках
SU1432528A2 (ru) Устройство дл контрол функционировани логических блоков
SU607218A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
JPS6027054B2 (ja) 入出力制御方式
SU660053A1 (ru) Устройство дл контрол микропроцессора
SU1221663A1 (ru) Система дл контрол монтажа
SU690648A1 (ru) Система автоматической программной проверки аппаратуры св зи
SU993266A2 (ru) Устройство дл тестового контрол цифровых узлов электронно-вычислительных машин
SU386400A1 (ru)
JP2715221B2 (ja) 半導体メモリ試験回路
SU1095182A1 (ru) Устройство дл диагностики логических блоков