SU650080A1 - Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин - Google Patents
Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машинInfo
- Publication number
- SU650080A1 SU650080A1 SU762406048A SU2406048A SU650080A1 SU 650080 A1 SU650080 A1 SU 650080A1 SU 762406048 A SU762406048 A SU 762406048A SU 2406048 A SU2406048 A SU 2406048A SU 650080 A1 SU650080 A1 SU 650080A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- register
- output
- block
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть нспользовано в ЭВМ дл локализации неисправностей.
Современные высокопроизводительные ЭВМ обычно бывают снабжены встроенной аппаратурой дл локализаций неисправностей с точностью до группы типовых элементо-в замены, т. е. группы :печатных плат с интегральными схемами. Дл локализации неисправности с точностью до интегральной схемы дл последующей их замены иснользуютс стенды проверки типовых элементов замены, которые при этом бывают с ручным и автоматическим управлением .
Комплектование ЭВМ автоматическим стендом дл индивидуального обслуживани приводит к значительному удорожанию стоимости ЭВМ. Ручные стенды имеют невысокую стоимость, но требуют много времени на проверку, что значительно снижает ремонтопригодность ЭВМ.
Из известных устройств наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс устройство 2. Это устройство содержит входной регистр, буферный блок пам ти, блок сравнени , преобразователь параллельного кода в последовательный , блок управлени , регистр обмена . Вход входного регистра соединен с
входом блока управлени и вл етс первым входом устройства, первый, второй и третий выходы блока управлени подключены соответственно к управл ющим входам входного регнстра, регистра обмена и буферного блока пам ти, выход которого соединен с первым входом блока сравнени . Выход преобразовател нараллельного кода в последовательный соединен с первым входом регистра обмена, выход которого подключен к -первому входу буферного блока пам ти и к второму входу блока сравнени . Второй вход буферного блока пам ти соединен с первым выходом
входного регистра, второй выход входного регистра - с третьим входом блока сравнени ..;. Недостаток этого устройства состоит в том, что оно не обеспечивает локализации
неисправности с точностью до интегральной схемы, вследствие чего оно имеет невысокую производительность.
Цель изобретени - повышение производительности устройства.
Это достигаетс введением в устройство регистра тестов, дешифратора, счетчика, переключател входов, переключател выходов . Четвертый и п тый выходы блока управлени соединены соответственно с управл ющими входами счетчика и регистра
тестов, первый, второй, третий, четвертый, п тый и шестой выходы которого св заны соответственно с входом дешифратора, с первым входом преобразовател параллельного кода в -последовательный, с первым входом диагностируемого устройства, с информационным входом переключател входов, с упра1вл ющмм входом лереключател входов, с четвертым входом блока cpaiBHeHHH. Третий выход входного регистра соединен с .входом регистра тесто-в, выход дешифратора - с управл юш им входом переключател выходов, информационный вход которого св зан с выходом диагностируемого устройства, а выход переключател .выходов - с вторым входом преобразовател параллельного «ода в последовательный . Выход блока сравнени подключен к входу счетч1ика, выход которого соединен с третьим входом преобразовател параллельного кода в последовательный и с вторым 1ВХОДОМ регистра обмена , а выход переключател входов - к -второму входу диагностируемого блока.
На чертеже .представлена структурна схема предлагаемого устройства дл диагностики блоков ЭВМ.
Устройство включает входной регистр 1, регистр 2 тестов, регистр 3 обмена, буферный блок 4 пам ти, блок 5 сравнени , счетчик 6, преобразователь 7 параллельного кода в последовательный, переключатель 8 входов, переключатель 9 выходов, дешифратор 10, блок 11 управлени .
входы входного регистра Г п блока 11 образуют вход устройства. Первый, второй, третий, четвертый и п тый выходы блока 11 соединены соответственно с управл ющими входами входного регистра 1, регистра 3, буферного блока 4, счетчика 6 и регистра 2. Выход преобразовател 7 подключен к первому входу регистра 3, выход которого соединен с первым входом буферного блока 4 и с вторым входом блока 5. Второй вход буферного блока 4 соединен с первым выходом входного регистра 1, второй выход которого св зан с третьим входом блока 5, третий выход входного регистра - с Б.ходом регистра 2, первый, второй, третий, четвертый, п тый, шестой выходы которого соединены соответственно с входами дешифратора 10, с первым входом преобразовател 7, с первыми входами диагностируемого блока 12, с информационными и управл юш,им входами переключател 8, с четвертым входом блока 5. Выходы переключател 8 подключены к вторым входам диагностируемого блока 12, выходы которого соединены с -информационными входа-ми переключател 9. Управл юшие входы переключател 9 соединены с выходами дешифратора 10, а выходы - с вторым входом преобразовател 7. Выход блока 5 св зап с входом счетчика 6, выход которого соединен с третьим входом преобразовател 7 и вторым входом регистра 3. Работу устройства можно свести к выполпен-ию следующей последовательности функций: авто.матическа установка регистра тестов дл подачи входных последовательностей на провер емый типо-вой элемснт замены согласно програ.мме контрол ; опрос выходов провер емого типового
элемента замены; сравнение полученных данных с эталоном; накопление результата, полученного на множестве тестов в буферном блоке -пам ти; определение неисправных интегральных схем по -справочнику в
соответствии с полученным кодом; переход к следующему циклу диагностики, т. е. подтверждение правильности локализации неисправности путем останова процесса диагностики на первом тесте, . обнаруж-ивающем неисправность, и уточнение локализации с помощью специального индикаторного щупа и справочника эталонных значе}1ий в схеме типового элемента замены. В устройстве имеетс специальный разъем , в .который вставл етс провер емый типовой элемент замены. С монтажной стороны к -каждому сигнально-му контакту разъема подведен выход соответствующего разр да регистра 2. (К свободным конта-ктам и контактам питани выходы регистра 2 не подвод тс ). Разр дность регистра 2 равна К+4, где К. количество сигнальных контактов типового элемента замены, а 4 - количество дополнительных разр дов дл управлени впутренним-и мультиплексорами в провер емом типовом элементе замены.
При установке провер емого типового элемента замены -в разъем устройства на
контактах разъема происходит соединение выходов регистра тестов с контактами провер емого типового элемента замены. В результате этого на входные конта-кты провер емого типового элемента поступают
з-начени соответствуюш1их разр дов регистра 2. Выходные контакты провер емого типового элемента замены образуют с выхода.ми соответствующих им разр дов регистра 2 монтажное И. Поэтому дл получени па контактах значени выходов типового элемента замены соответствующие разр ды регистра 2 устанавливаютс в «1. Вследствие того, что выходы регистра 2 образуют в этих позици х монтажное И
с выходами провер емого типо-вого элемента за-мены, при опросе выходов регистра тестов в этих позици х будут значени выходов провер емого типового элемента замены . Благодар этому в устройстве отсутствует коммутатор, -который в других стендах обеспечивает коммутацию входов и выходов.
Опрос выходов регистра 2 тестов осуществл етс с помощью преобразовател 7
параллельного кода в последовательный.
информаци с выхода которого поступает в регистр 3 обмена и далее в б.чок 5 сравнени . После установки провер емого типового элемента замены в разъем устройства и запуска устройства данные с внешнего носител тестовой информации поступают к входам устройства во входной регистр 1, если информац1и представл ет собой тестовый набор, или в блок 11, если информаци - управл юща . Блок 11 обеспечивает заполнение регистра 2 путем приема данных из входного регистра 1. В результате этого в разр дах регистра 2, соответствующих входным контактам провер емого типового элемента замены, устанавливаетс входной набор, а в разр дах, соответствующих выходным контактам провер емого типового элемента замены - «1.
Высока плотность монтажа в типовом элементе замены современных ЭВМ «приводит к тому, что цена каждого контакта разъема возрастает. В этих случа х трудно выделить свободные контакты дл использовани их в качестве контрольных точек дл индикации и опроса состо ни схем. Поэтому с целью сокращени количества контактов, примен емых в качест;ве контрольных точек, в типовом элементе замены устанавливают мультиплексоры, которые преобразуют параллельный код регистров типового элемента замены в последовательный . В этом случае дл вывода из типового элемента замены восьмибитного регистра требуетс не восемь контактов , а четыре (три контакта дл управлени входами мультиплексора н один - дл его выхода).
Обычно управл ющие сигналы и выход мультиплексора подключаютс к фиксированным контактам типового элемента замены .
Если типовой элемент замены не содержат мультиплексоров, эти контакты используютс дл обычных целей.
Посредством переключател 8 обеспечиваетс подача на определенные контакты провер емого типового элемента замены либо сигналов управлени мультиплексорами (если таковые имеютс в типовом элементе замены), лпбо сигналов с выходов регистра 2 тестов (когда в типовом элементе замепы нет мультиплексоров). Это позвол ет «спользовать при проверке внутренние мультиплексоры типового элемента замены дл получени доступа к схемам , не имеющим непосредственного выхода на контакты.
Переключатель 8 управл етс битом регистра тестов.
Когда в провер емом типовом элементе замены имеетс несколько внутренних мультиплексоров, обеспечивающих вывод информации о состо нии регистра и триггеров типового элемента замены, необходимо коммутировать конкретный мультиплексор на вход преобразовател 7, так как дл всех эгих мультиплексоров в буферном блоке 4 (н на индпкацип) выделен один адрес (байт). Подключение провер емого мультиплексора к преобразователю 7 осуществл етс установкой в трех управл ющих битах регистра 2 кода, соответствующего провер е.мому мультиплексору.
Дл этой цели служит переключатель 9, который в соответствии с выходом дешифратора 10 выбирает и подключает к преобразователю 7 выход соответствующего мультиплексора.
Дл опроса результата и сравнени с эталоном формируетс адрес данных. Содержимое входного регистра 1 передаетс 3 буферный блок 4 дл указани адреса данных, которые поступают через регистр
обмена в буферный блок 4. Выбранна дл сравнени информаци попадает в блок 5, на другой вход которого из регистра 1 подаетс эталонна информаци . Результат сравнени поступает на вход счетчика
6, который может работать в двух режимах: сдвигател и счетчика.
В режиме сдвпгател результат сравнени по управл ющему сигналу, поступающему из блока 11, сдвигаетс вправо.
После заполнени счетчика 6 из входного регистра 1 в буферный блок 4 поступает адрес записи содерл имого счетчика 6 и оно записываетс в буферный блок 4, как составна часть кода неисправности. Этотпроцесс продолжаетс до тех пор, пока не закончитс формирование полного вектора неисправности. После формировани н записи в буферный блок 4 полного вектора неисправности происходит останов устройства .
По окончан ;и проверки код неисправности считываетс из буферного блока 4н по диагностическому справочнику определ ютс неисправные интегральные схемы.
В другом счетчик 6 работает при проверке результатов автоматической диагностики . Этот режим позвол ет остановить процесс диагностики на первом тесте, обнаружившем неисправность, и с помощью щупа подтвердить правильность локализации неисправности.
С этой целью счетчик 6 по сигналу управлени 1из блока 11 переводитс в режим счетчика и повторным пуском устройства
по сигналам из блока 11 считает количество тестов до останова устройства. Номер теста определ ет входной набор и эталонную ннформацию в схеме типового элемента замены, приведенную в справочнике.
Благодар возможностн быстрой локализаци1И неисправностей внутри типового элемента замены с точностью до интегральной схемы насто щее устройство обеспечивает более высокую производительность при диагностике блоков ЭВМ.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762406048A SU650080A1 (ru) | 1976-09-20 | 1976-09-20 | Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762406048A SU650080A1 (ru) | 1976-09-20 | 1976-09-20 | Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU650080A1 true SU650080A1 (ru) | 1979-02-28 |
Family
ID=20677590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762406048A SU650080A1 (ru) | 1976-09-20 | 1976-09-20 | Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU650080A1 (ru) |
-
1976
- 1976-09-20 SU SU762406048A patent/SU650080A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4688222A (en) | Built-in parallel testing circuit for use in a processor | |
US3953717A (en) | Test and diagnosis device | |
US4926425A (en) | System for testing digital circuits | |
US3988579A (en) | System for testing a data processing unit | |
KR900004372B1 (ko) | 자동차용 전자장치의 고장진단 시스템 | |
US4025767A (en) | Testing system for a data processing unit | |
US20060090113A1 (en) | Design for test of analog module systems | |
JPS588005B2 (ja) | 自己検査読み出し・書き込み回路 | |
SU650080A1 (ru) | Устройство дл диагностики блоков электронных вычислительных машин | |
SU947863A1 (ru) | Устройство дл контрол и диагностики логических узлов | |
SU669921A1 (ru) | Устройство дл диагностики каналов ввода-вывода | |
JPH1164450A (ja) | 半導体試験装置 | |
JPS613256A (ja) | メモリ試験方式 | |
SU1672452A1 (ru) | Устройство дл диагностики логических блоков | |
SU1681304A1 (ru) | Устройство дл автоматического поиска дефектов в логических блоках | |
SU1432528A2 (ru) | Устройство дл контрол функционировани логических блоков | |
SU607218A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
JPS6027054B2 (ja) | 入出力制御方式 | |
SU660053A1 (ru) | Устройство дл контрол микропроцессора | |
SU1221663A1 (ru) | Система дл контрол монтажа | |
SU690648A1 (ru) | Система автоматической программной проверки аппаратуры св зи | |
SU993266A2 (ru) | Устройство дл тестового контрол цифровых узлов электронно-вычислительных машин | |
SU386400A1 (ru) | ||
JP2715221B2 (ja) | 半導体メモリ試験回路 | |
SU1095182A1 (ru) | Устройство дл диагностики логических блоков |