SU63059A1 - Способ измерени эллиптичности шариков - Google Patents
Способ измерени эллиптичности шариковInfo
- Publication number
- SU63059A1 SU63059A1 SU1432A SU1432A SU63059A1 SU 63059 A1 SU63059 A1 SU 63059A1 SU 1432 A SU1432 A SU 1432A SU 1432 A SU1432 A SU 1432A SU 63059 A1 SU63059 A1 SU 63059A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ellipticity
- measuring ball
- measuring
- ball
- balls
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
Как известно, иопытание шариков на эллиптичность производитс измерением их диаметров с помощью микрометра, оптиметра и т. п. приборов. Однако, величина эллиптичности редко превышает несколько дес тых микрона и; эти приборы оказываютс -недостаточйо чувствительными . Кроме тога результаты измерени сильно искажаютс из-за наличи случайных пылинок или забоин на испытуемой поверхности , а также вследствие температурных воздействий.
Предметом изобретени вл етс способ измерени эллиптичности шариков путём сравнени их поверхностей с эталойньши на интерферометре сравнени типа Тваймана .
Оптическа схема интерферометра дл измерени эллипггичности шариков представлена на чертеже, где обоЗначенЫ: Q - ла-мпа накаливани , L-конденсо.рна линза, Т - диа фрагма с круглым о-тверстием, К - плоское зеркало, Oi и О - аст;роноМ;И1ческие объективы, Sai, 822, 823 и Sii, 842, 843 - плоские зеркала . La, L4 и L2, U-склеенные линзы , М - две склеенные плоокопараллельные пластины с полупрозрачным слоем серебра .между НИми , R - испытуемый шарик, R- и R4 -сферические зеркала. О - окул р.
ВЫХОДЯЩИЙ из объектива Oi параллельный пучок лучей раздел етс пластинкой М -на две части. Из каждой части вырезаетс четыре узких пучка Ni, No, N3, N и Ni, N2, Ns, N4, причём пучки N2, N4, Na, и N4 показаны на чертеже, а оси остальных пучков лежат в плоскости, перпендикул рной чертежу . После отражени от сферическк .к поверхностей .все пучки идут обратно по прежнему направлению и собираю1-с объективом Ог в фокальЕой ллоокооти окул ра- О . Установку собирают так, чтобы пучок NI интерферировал с пучком Ni, пучок Ni - с пучком N2 и т. д.
ЧетЫре инггерфереНЦИонные картины наблюдают на поверхности объектива Oi непосредственно глазом (убрав окул р О и помести в глаз на его место) с помощью телескопической лупы.
Юстировкой интерферометра добиваютс того, чтобы при испытании заведомо идеального шарика
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1432A SU63059A1 (ru) | 1941-06-20 | 1941-06-20 | Способ измерени эллиптичности шариков |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1432A SU63059A1 (ru) | 1941-06-20 | 1941-06-20 | Способ измерени эллиптичности шариков |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU7817A1 SU7817A1 (ru) | 1929-02-28 |
| SU63059A1 true SU63059A1 (ru) | 1943-11-30 |
Family
ID=48244075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1432A SU63059A1 (ru) | 1941-06-20 | 1941-06-20 | Способ измерени эллиптичности шариков |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU63059A1 (ru) |
-
1941
- 1941-06-20 SU SU1432A patent/SU63059A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109253707A (zh) | 百微米量程透射式干涉测试装置 | |
| US3895872A (en) | Optical speed-measuring devices and methods for maximizing their accuracies | |
| US1678493A (en) | Finder for photographic cameras | |
| SU63059A1 (ru) | Способ измерени эллиптичности шариков | |
| US3619067A (en) | Method and apparatus for determining optical focal distance | |
| CN208872262U (zh) | 百微米量程透射式干涉测试装置 | |
| GB869627A (en) | Improvements in apparatus for testing alignment and directions | |
| SU143557A1 (ru) | Способ контрол точности обработки несферических поверхностей | |
| SU149910A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени второго пор дка | |
| US4023906A (en) | Compact three-beam interferometer | |
| SU67224A1 (ru) | Способ и прибор дл измерени аберрации и фокусировки по зонам оптических систем коллиматорного типа | |
| SU66974A1 (ru) | Микроскоп дл определени качества поверхности | |
| GB570022A (en) | A projection system for the inspection of internal surfaces | |
| SU848999A1 (ru) | Интерферометр дл контрол изменени АбЕРРАций лиНз и зЕРКАл пРи зАКРЕплЕНиииХ B ОпРАВы | |
| SU61932A1 (ru) | Оптический штихмасс | |
| SU684296A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических деталей | |
| SU1226041A1 (ru) | Интерферометр дл контрол цилиндрических поверхностей | |
| SU60130A1 (ru) | Способ определени качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов | |
| SU844995A1 (ru) | Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли | |
| SU151058A1 (ru) | М гкорисующа многофокальна насадка к кинофотообъективу | |
| US3503674A (en) | Scatterplate with antireflection coatings | |
| SU49358A1 (ru) | Параболический коллиматор и способ его изготовлени | |
| SU603840A1 (ru) | Интерферометр | |
| SU693112A1 (ru) | Способ центрировки склеиваемых линз | |
| GB618376A (en) | Improvements in or relating to collimators |