SU61932A1 - Оптический штихмасс - Google Patents

Оптический штихмасс

Info

Publication number
SU61932A1
SU61932A1 SU1406D SU1406D SU61932A1 SU 61932 A1 SU61932 A1 SU 61932A1 SU 1406 D SU1406 D SU 1406D SU 1406 D SU1406 D SU 1406D SU 61932 A1 SU61932 A1 SU 61932A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
image
optical
shtikhmass
distance
displacement
Prior art date
Application number
SU1406D
Other languages
English (en)
Inventor
В.П. Линник
Н.Ч. Поляков
ков Н.Ч. Пол
Original Assignee
В.П. Линник
Н.Ч. Поляков
ков Н.Ч. Пол
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.П. Линник, Н.Ч. Поляков, ков Н.Ч. Пол filed Critical В.П. Линник
Priority to SU1406D priority Critical patent/SU61932A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU61932A1 publication Critical patent/SU61932A1/ru

Links

Description

В основном авт. св. XQ 25271 описано устроГютво дл  измерени  перемещемни поверхности но нормали.
Предметом ониеываемого нзобретени   вл етс  оптический штихмасс дл  измерени  рассто ни  между двум  повер..
bia чертеже изображена оптическа  схема штихмасса.
Лучи евета выход т из щели S, помещеи} ои в точке изображени  объектива Oi микроскопа, и на одной из измер емых поверхностей P| дают изображение Si н.ели S. Это изображение находитс  в главном фокусе второго объектива Ог, откуда лучи выход т параллельными, отражаютс  зеркалами Mi и Ма и е номондыо объектива О., дают изображение S2 щели на второй измер емой поверхности Ро. Это изображение рассматриваетс  микроскопом, состо ние из объектива О.; и окул ра О |.; . Ход лучей в этом микроскопе ире,:омл5;етс  зеркалом М.
Объективы Oi и Оз, Сз и O.i составл ют равные )i с порерхност ми PI и Ро, в частном углы в 45.
По свойствам двойного мнкроскоиа сментение каждой из поверхностей PI и р2 вызывает перемещение изображени  S.f 1г,ол1 S перед окул ром OK . Это еменеиие может бв1ть измерено по сетке. При указанной ехеме одинаковое неременение в одну и. TV же сторону поверхностей PI и Ра, соответетвуюн ее неизменности рассто ни  между ними в известных иределах, не смещает изображение, так как емещение поверхности PZ компенсирует перемещение изображеип  S.., вызваппое смещением новерхпости Pi. Наоборот, изменение рассто ни  между поверхност ми PI и Рг сразу дает суммарное смещение изображени  S/, в S.,, которое можно измерить по сетке.
Оптический щтихмасс может служить дл  контрол  и нзмеренп  рассто ни  между двум  плоскими или ннлипдрнческнми новерхност ми , например дл  измерени  внутренних диаметров гллиидров и глу .№61932- 2 -
боких отверстий. Он удобени тем, что не точной центрировки относительно оси симметрии.И31мер емого размера и пригоден дл  контрол  деталей, вращающихс -относительно оси, несколько не совпадающей с осью их симметрии. Несколько видоизмененный штихмасс применим дл  измерени  наружных диаметров.
Предмет изобретени 
Оптический штихмасс дл  измерени  рассто ни  между двум  поверхност ми , отличающийс  тем, что он выполнен из двух соединенных последовательно измерителей перемещени  поверхности по нормали по авт. св. № 25271 с параллельным ходом лучей между ними.
SU1406D 1941-06-02 1941-06-02 Оптический штихмасс SU61932A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1406D SU61932A1 (ru) 1941-06-02 1941-06-02 Оптический штихмасс

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1406D SU61932A1 (ru) 1941-06-02 1941-06-02 Оптический штихмасс

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU61932A1 true SU61932A1 (ru) 1941-11-30

Family

ID=51225168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1406D SU61932A1 (ru) 1941-06-02 1941-06-02 Оптический штихмасс

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU61932A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US1590532A (en) Method and arrangement for the examination and the regulation of optical systems
US2237943A (en) Intermediary optical system for microscopes
US2701501A (en) Apparatus for testing of centering, coaxiality, alignment
US2478762A (en) Reflecting microscope
US2402216A (en) Means for securing improvements in
SU61932A1 (ru) Оптический штихмасс
RU162339U1 (ru) Двухлинзовый объектив
US1948588A (en) Optical system
US1712112A (en) Eyepiece for optical instruments
US3537773A (en) Microscope plano objective
US2239469A (en) Sighting telescope
US1501059A (en) Stereoscopic double microscope
Michelson Measurement by light waves
RU2561340C1 (ru) Четырехзеркальный объектив
RU146322U1 (ru) Окуляр
US2107553A (en) Ophthalmic instrument
US742241A (en) Telescope.
SU121563A1 (ru) Оптическое устройство дл измерени больших диаметров по хорде и противолежащему углу
US1158187A (en) Ophthalmological instrument.
US2208222A (en) Range finder
US2932234A (en) Stereoscopic range finders
RU162944U1 (ru) Устройство для контроля децентрировки линз
SU59260A2 (ru) Устройство дл измерени перемещени поверхности по нормали
SU143557A1 (ru) Способ контрол точности обработки несферических поверхностей
RU159144U1 (ru) Объектив коллиматора