SU66974A1 - Микроскоп дл определени качества поверхности - Google Patents

Микроскоп дл определени качества поверхности

Info

Publication number
SU66974A1
SU66974A1 SU44866A SU308988A SU66974A1 SU 66974 A1 SU66974 A1 SU 66974A1 SU 44866 A SU44866 A SU 44866A SU 308988 A SU308988 A SU 308988A SU 66974 A1 SU66974 A1 SU 66974A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microscope
surface quality
mirror
determine surface
nozzle
Prior art date
Application number
SU44866A
Other languages
English (en)
Inventor
В.П. Линник
Original Assignee
В.П. Линник
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.П. Линник filed Critical В.П. Линник
Priority to SU44866A priority Critical patent/SU66974A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU66974A1 publication Critical patent/SU66974A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Предметом насто щего изобретени   вл етс  микроскоп дл  определени  качества поверхности путем сравнени  ее с эталонной оптической поверхностью.
Отличие предлагаемого микроскопа от ранее известных состоит в том, что дл  возможности изучени  тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.
Устройство насадки изображено на фиг. 1. Насадка содержит два зеркала: зеркало MI, состо щее из двух склеенных плоскопараллельных пластинок, одна из которых имеет полупрозрачный слой на склейке, и зеркало УИз с наружным отражающим слоем.
Пучек лучей, вышедший из источника света S, частью отражаетс  от разделительного зеркала MI, попадает на объект А, отражаетс  от него обратно и попадает в микроскоп через объектив О. Часть пучка, прошедша  через зеркало
MI, отражаетс  затем от зеркала MZ и, снова отразившись от зеркала MI, тоже попадает в объектив О и интерферирует с первым пучком .
Возмончен вариант насадки с применением вместо зеркала Mi стекл нного кубика Р (фиг. 2) с полупрозрачной диагональной плоскостью . При применении монохроматических лучей во втором варианте зеркало MZ мол-сет составл ть одно целое с кубиком, что упрощает конструкцию.
Предмет изобретени 
Микроскоп дл  определени  качества поверхности путем сравнени  ее с эталонной оптической поверхностью , отличающийс  тем, что дл  возможности изучени  тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.
SU44866A 1938-04-15 1938-04-15 Микроскоп дл определени качества поверхности SU66974A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU44866A SU66974A1 (ru) 1938-04-15 1938-04-15 Микроскоп дл определени качества поверхности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU44866A SU66974A1 (ru) 1938-04-15 1938-04-15 Микроскоп дл определени качества поверхности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU66974A1 true SU66974A1 (ru) 1945-11-30

Family

ID=48246699

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU44866A SU66974A1 (ru) 1938-04-15 1938-04-15 Микроскоп дл определени качества поверхности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU66974A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2660923A (en) Phase contrast apparatus for metallographic microscopes
SU66974A1 (ru) Микроскоп дл определени качества поверхности
US3359852A (en) Multiple color, multiple beam interferometer
US1451774A (en) Two-color photography
GB1173107A (en) Improvements in or relating to Microscopes
SU60130A1 (ru) Способ определени качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов
JPH01143906A (ja) 不透明体表裏面の平行度測定装置
SU102716A1 (ru) Автоколлимационный окул р
SU125393A1 (ru) Интерферометр с двойным изображением полос интерференции света
RU2615717C1 (ru) Интерферометр для многоцелевых оптических измерений
US3542473A (en) Fizeau plate for use in multiple beam interferometers
SU406181A1 (ru) Устройство для фокусировки
SU380946A1 (ru) Интерферометр для контроля качества плоской оптической поверхности детали
SU59260A2 (ru) Устройство дл измерени перемещени поверхности по нормали
SU102939A1 (ru) Зонна пластинка
JPS55140102A (en) Measuring device for flatness of inspected plane glass
SU100704A1 (ru) Бесконтактный интерференционный индикатор
SU63059A1 (ru) Способ измерени эллиптичности шариков
SU88541A1 (ru) Призменна цветоделительна система
US2741151A (en) Apparatus for measuring the roughness of surfaces
SU135254A1 (ru) Автоколлимационный окул р с зеркальными штрихами
SU135664A1 (ru) Зеркальный умножитель с параллельными зеркалами
SU67223A1 (ru) Фотометр
SU124191A1 (ru) Двойной микроскоп с пол ризационной оптикой
SU391387A1 (ru) Поляризационный интерферометр