SU60130A1 - Способ определени качества формы поверхности фронтальных линз микрообъективов - Google Patents

Description

Качество оптических поверхностей обычно провер етс  по методу пробных стекол. Однако в случае испытани  фронтальной линзы объектива микроскопа применение этого метода св зано с большими затруднени ми вследствие малых размеров такой линзы. В особенности трудно определ ть KaHecTBO линзы на ее кра х, где как раз и возможны наибольшие отступлени  поверхности от идеальной сферы.

Предметом изобретени   вл етс  спосОб испытани  на качество формы поверхности линз малых размеров , в частности фронтальных линз микрообъективов, оснОВанный на применении оптической схемы, напоминающей интерферометр Тваймана , отличающийс  тем, что обе волны, примен емые в исследовании, создаютс  совершенно одинаково, а именно с помощью вставленных в каждую ветвь интерферометра фронтальной линзы, а также микрообъектива , фокус которото совпадает с центром кривизны линзы.

На прилагаемом чертеже изображены детали схемы, служащей дл  осуществлени  способа согласно

изобретению. Здесь изображены: источник мо охроматического света 1, линза-конденсор 2, диафрагма 3 с круглым отверстием, стекл нна  пластинка 4, состо ща  из двух оклеенных плоскопараллельных пластинок с тонким полупрозрачным слоем серебра между ними , два одинаковых микрообъектива 5 и 6, эталонна  фронтальна  линза 7 микрообъектива с поверхностью заведомо хорошего качества в участке, которым она отражает свет, и испытуема  фронтальна  линза 8. укрепленна  на столике, имеющем возможность наклонов относительно падающего пучка, благодар  испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.

Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно будет навинтить на тубус обыкновенного микроскола.

Свет источника I соб р1аетс  линзой 2 на отверстии диафрагмы 3, наход щейс  на рассто ний нормальной длины тубуса от объективов 5 И 6.

Пластинка 4 раздел ет на два