SU538346A1 - Устройство контрол контактировани - Google Patents

Устройство контрол контактировани

Info

Publication number
SU538346A1
SU538346A1 SU1687054A SU1687054A SU538346A1 SU 538346 A1 SU538346 A1 SU 538346A1 SU 1687054 A SU1687054 A SU 1687054A SU 1687054 A SU1687054 A SU 1687054A SU 538346 A1 SU538346 A1 SU 538346A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
contacts
contact
switch
monitoring device
amplifier
Prior art date
Application number
SU1687054A
Other languages
English (en)
Inventor
Василий Васильевич Соколов
Виктор Степанович Сидоренко
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1687054A priority Critical patent/SU538346A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU538346A1 publication Critical patent/SU538346A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к микроэлектронике , а именно к устройствам контрол  наличи  контактов между выводами измер емой интегральной схемы и контактами контактора измерительного или испытательного оборудовани .
Известны устройства контрол  наличи  контактов между выводами приборов и соот- ветствуюшими двойными контактами контактора , в которых контроль осуществл етс  путем включени  коммутатором всех двойных контактов в одну последовательную электрическую цепь, замыкающими звень ми которой  вл ютс  выводы приборов, с последующим анализом состо ни  образовавшейс  цепи 111.
Недостатком этого устройства  вл етс  то, что оно информирует только о наличии или отсутствии контактов без указани  качества и места отсутстви  контактов.
С целью контрол  качества контактировани  с указанием мест нарушени  контактов предлагаемое устройство снабжено анализатором контрол  качества контактировани , подключаемым коммутатором поочередно ко
зсем контролируемым двойным контактам, выполненным в виде измерител  сопротивлений малых величин с усилителем, соединенным с пороговым устройством, включенным на вход блока логической обработки результатов измерени .
На чертеже представлена схема устройства и его подключение, например к зондовой установке дл  функциональной проверки микросхем -на пластине.
Функциональна  проверка микросхемы 1 на кремниевой пластине до ее разрезки на отдельные кристаллы производитс  измерителем 2, который подключаетс  к контактным площадкам 3 измер емой схемы с помощью двойных зондов 4 зондовой установки 5.
Измеритель 2 может иметь как однопроводные , так и двухпроводные измерительные линии 6 и линии обратной св зи 7. Дл  проверки качества контактов коммутатором 8 подключаетс  устройство 9, которое может быть выполнено в виде одного анализатора, подключаемого коммутатором 8 поочередно к каждому контролируемому двойному контакту , либо из нескольких автономных анализаторов , число которых равно числу контролируемых контактов, подключаемых комму татором одновременно. Анализатор представ л ет собой, например, четырехгочечный измеригель сопротивлений малых величин,которь й подсоед инен к контролируемому контакту в двух спаренных точках 1О и 11 с операционным усилителем 12, формирующим сигнал При таком включении точка 10 имеет практически нулевой потенциал, благодар  чему контроль места контактировани  осуществл  етс  при нулевом потенциале на выводе 3 микросхемы, что исключает возможные повреждени  микросхем при контроле контактировани . Кроме того, дл  предотвращени  попадани  на вывод микросхемы высокого напр же ни  от источника 5, которое может привест к пробою микросхемы при плохом контакте со стороны половины зонда 4, включенной в точке 1О, анализатор имеет ограничительное сопротивление 13, включенное параллельно измер емому переходному сопротивлению до контактов коммутатора 8. В случае необходимости иметь предварительный уровень напр жени , на фоне которого измер лось бы падение напр жени , соответствующее контролируемому переходному сопротивлению в анализатор включено сопротивление 14. Анализатор имеет усилитель 15, который поднимает выходной уровень напр жени  операционного усилител  и компаратор 16, представл ющий собой пороговое устройство, вырабатывающее логический сигнал. Логичес кие сигналы поступают в блок 17 логической обработки результатов измерени  и выра ботки соответствующих команд. Дл  оценки правильности работы устройства 9 служит информатор 18. Источники питани  Е могут быть как посто нного, так и переменного, напр жени . В случае одновременного подключени  нескольких анализаторов каждый из них должен иметь свой источник питани , что устран ет взаимное вли ние анализато- ров друг на друга при проверке контролируемых цепей. Этим исключаютс  возможные повреждени  микросхем при контроле и перетечке токов, что могло бы привести к неправильному контролю. Устройство контрол  качества контактировани  выполнено на интегральных схемах, а коммутатор устройства выполнен на герметизированных контактах с электромагнитным управлением. Устоойство работает следующим образом. От измерител  2 подаетс  команда на пуск зондовой установки 5, в результате происходит контактирование зондов 4 с контактными площадками 3 микросхемы 1.После контактировани  из зондовой установки подаетс  команда на подключение устройства 9. Логический блок 17 выдает команду на включение коммутатора 8. В случае применени  нескольких анализаторов коммутатор подключает их одновременно, в результате така  схема проверки обладает большим быстродействием. Если используетс  один анализатор, то коммутатор подключает его поочередно ко всем исследуемым местам контактировани . После срабатывани  коммутатора 8 устройство 9 подключаетс  к зондам 4. От источника Е напр жение подаетс  на зонды и на операционный усилитель 12. Усилитель 12  вл етс  преобразователем переходного сопротивлени , возникающего в месте контактировани  зонда 4 с контактной площадкой микросхемы в напр жение, пропорциональное величине переходного сопротивлени . Сигнал, сформировавшийс  в операционном усилителе 12, поступает в усилитель 15, который поднимает уровень сигнала и подает его на компаратор 16. Здесь происходит сравнение прищедшего сигнала с опорным сигналом. Если величина переходного сопротивлени  в месте контактировани  лежит в диапазоне от нул  ом. и до заданной величины, значение которой задаетс  регулируемым ровнем порога срабатывани  компаратора 16, то уровень сигнала с усилител  15 ниже уровн  порога срабатывани  компаратора, и последний не включаетс , т.е. в этом случае на выходе компаратора вырабатываетс  логический сигнал, соответствующий хорощему качеству контакта. Логические сигналы со всех компараторов подаютс  в суммирующее устройство блок 17 логической обработки результатов измерений и выработки соответствующих команд . Если все логические сигна;-1Ь1 соответствуют хорощим контактам, то блок 17 выдает команду на включение измерител  2 дл  проверки микросхемы 1, предварительно подав команду на коммутатор 8 дл  отключени  устройства 9. Величина переходного сопротивлени ,на которое настраиваетс  порог срабатывани  компаратора 16,выбираетс  такой,чтобы практически исключалось вли ние ее на точность измерени  параметра микросхем. После окончани  измерени  микросхем 1 измеритель 2 снова подает команду дл  перехода зондовой установки 5 на следующую микросхему. Если же величина переходного сопротивлени  хот  бы в одном из контролируемых контактов равна или выще заданной, то уровень сигнала с усилител  15 в одном из анализаторов превыщает уровень порога срабатывани  компаратора 16 и последний выдает логический сигнал, соответствующий
SU1687054A 1971-07-29 1971-07-29 Устройство контрол контактировани SU538346A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1687054A SU538346A1 (ru) 1971-07-29 1971-07-29 Устройство контрол контактировани

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1687054A SU538346A1 (ru) 1971-07-29 1971-07-29 Устройство контрол контактировани

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU538346A1 true SU538346A1 (ru) 1976-12-05

Family

ID=20484763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1687054A SU538346A1 (ru) 1971-07-29 1971-07-29 Устройство контрол контактировани

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU538346A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6791344B2 (en) System for and method of testing a microelectronic device using a dual probe technique
US6191596B1 (en) Method for detecting a contact position between an object to be measured and measuring pins
GB1414013A (en) Testing of electrical interconnection networks on substrates
US4720671A (en) Semiconductor device testing device
US6833722B2 (en) Electronic circuit device with a short circuit switch using transistors and method of testing such a device
SU538346A1 (ru) Устройство контрол контактировани
KR100216116B1 (ko) 반도체 시험장치의 핀 시험회로
CN113064041A (zh) 场效应晶体管的导通电阻测量方法及测量装置
CN115079075A (zh) 用于检验wat测试机台的测试结构及方法、测试系统
US3458814A (en) Tester for determining the semiconductor material type of transistors
SU1045178A1 (ru) Устройство контрол контактировани интегральных схем
CN212459794U (zh) 一种具有通道测试功能的探针卡
KR100718457B1 (ko) 반도체 테스트 장치와 이를 이용한 반도체 소자 검사방법
CN117783828A (zh) 测试电路及测试电路的工作方法
JPS54162475A (en) Inspection unit for semiconductor device
JPS63177437A (ja) 半導体集積回路装置の試験方法
SU783726A1 (ru) Устройство дл контрол интегральных микросхем с пам тью
KR20000013295A (ko) 듀얼 테스트 장치
SU646279A1 (ru) Устройство контрол контактировани интегральных схем
JPS6262300B2 (ru)
KR980012185A (ko) 웨이퍼의 전기적 테스트 장치
KR970022342A (ko) 반도체 장치의 테스트 장치
SU1383231A1 (ru) Устройство контрол контактировани интегральных схем
JPH0827307B2 (ja) プリント配線板の試験装置
JPS63291430A (ja) 半導体ウェハテスト装置