CN117783828A - 测试电路及测试电路的工作方法 - Google Patents

Abstract

一种测试电路及测试电路的工作方法，测试电路包括：第一桥臂，所述第一桥臂包括待测试单元；第二桥臂，所述第二桥臂与所述第一桥臂相连接，所述第二桥臂包括可切换电阻模块，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，若干组第一电阻单元可切换接入所述第二桥臂；第一电源，所述第一桥臂和所述第二桥臂并联在所述第一电源的两端。所述测试电路的操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。

Description

测试电路及测试电路的工作方法

技术领域

本发明涉及电路领域，尤其涉及一种测试电路及测试电路的工作方法。

背景技术

在芯片设计和制造过程中，确保芯片引脚的导通性是非常关键的。引脚的导通性是指芯片内部各个部分之间以及芯片与外部设备之间的信号传输通路是否正常。芯片引脚导通性测试是一个必要的步骤，用于验证和检测芯片引脚之间的连接是否正确，以确保芯片的正常工作。

芯片引脚导通性测试的目的是检测芯片引脚之间的电气连通是否良好。这个测试可以帮助工程师们确定芯片是否正常，以及在产品中使用期间是否会出现连接问题。

然而，对于高阻抗的电路，如果通过普通的测量电路来检测，则对高阻抗的测量精度比较低，对于500K以上的阻值区别不明显，如果通过高压摇表的测量方式则会引入高压，损伤被测产品。

因此，需要采取新的测试手段，在不损伤被测产品的前提下，能够精准测量被测产品的电阻。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种测试电路及测试电路的工作方法，能够在不损伤被测产品的前提下，精准测量被测产品的电阻。

为解决上述技术问题，本发明技术方案提供一种测试电路，包括：第一桥臂，所述第一桥臂包括待测试单元；第二桥臂，所述第二桥臂与所述第一桥臂相连接，所述第二桥臂包括可切换电阻模块，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，若干组第一电阻单元可切换接入所述第二桥臂；第一电源，所述第一桥臂和所述第二桥臂并联在所述第一电源的两端。

可选的，所述可切换电阻模块还包括：若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。

可选的，所述第一电阻单元包括：相串联的第一开关和第一电阻，若干组所述第一电阻单元并联连接。

可选的，若干组所述第一电阻单元包括若干个第一电阻，若干个所述第一电阻的阻值大小按照预设的比例阶梯设置。

可选的，所述继电器单元包括：相串联的第二开关和继电器，若干组所述继电器单元并联连接在第二电源两端，一个继电器控制一个所述第一开关的开启或闭合，所述第二开关控制所述继电器的开启或关闭。

可选的，所述第二桥臂还包括：第二电阻，所述第二电阻的一端与可切换电阻模块的一端连接，所述第二电阻与可切换电阻模块中的一组第一电阻单元相串联，所述第二电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述可切换电阻模块的另一端与所述第一电源的负极耦接。

可选的，所述第一桥臂还包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述待测试单元的一端串联连接，所述第三电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述待测试单元的另一端与所述第一电源的负极耦接。

可选的，所述第二电阻和第三电阻的阻值相同。

可选的，所述第二桥臂与所述第一桥臂通过连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第二电阻和可切换电阻模块相连接，所述连接支路的另一端与所述第三电阻和待测试单元相连接。

可选的，所述连接支路包括：相串联的第一电阻箱和电压表，所述第一电阻箱的电阻值包括若干档位。

可选的，所述连接支路还包括：与所述第一电阻箱和电压表相串联的第三开关。

可选的，还包括：与所述第一电源相串联的第二电阻箱，所述第二电阻箱的电阻值包括若干档位。

可选的，还包括：与所述第一电源和第二电阻箱相串联的第四开关。

可选的，还包括：与所述第二电源串联的第四电阻。

相应地，本发明技术方案还提供一种测试电路的工作方法，包括：提供测试电路；闭合第三开关和第四开关；通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻为待测试单元的等效电阻。

可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：通过继电器将阻值最大的第一电阻接入第二桥臂；所述将第一电阻箱和第二电阻箱的阻值调节到最大档；保持第一电阻箱的阻值不变，调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第二电阻箱的当前档位；调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。

可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：保持所述第二电阻箱的电阻值不变，调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第一电阻箱的当前档位；调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。

可选的，所述第二预设范围包括：三分之一的电压表的量程范围。

可选的，所述第一预设范围包括：-0.01伏至0.01伏。

可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：闭合一组继电器单元中的第二开关，使所述继电器单元中的继电器开启，所述继电器控制对应的第一电阻单元中的第一开关闭合，使所述第一电阻单元中的第一电阻接入第二桥臂。

可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：按照阻值由大至小的顺序将所述第一电阻单元分次接入第二桥臂。

可选的，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：随机将任一组第一电阻单元接入第二桥臂，根据连续两组第一电阻单元接入第二桥臂时电压表的电压变化趋势，判断下一组将阻值大或阻值小的第一电阻单元接入第二桥臂。

可选的，还包括：对第一电源的电压进行调整，使所述待测试单元的分压在待测试单元能承受的安全电压范围内。

与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下有益效果：

本发明的测试电路，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，通过切换不同的第一电阻单元接入第二桥臂，通过第一桥臂和第二桥臂两边的电压值获取待测试单元的阻值。所述测试电路的操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。

进一步，所述可切换电阻模块包括若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。通过继电器控制电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，操作简单，测量结果精确。

本发明的测试电路的工作方法，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻为所述待测试单元的等效电阻。所述测试电路的工作方法操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。

进一步，所述测试电路的工作方法还能对第一电源的电压进行调整，使所述待测试单元的分压在待测试单元能承受的安全电压范围内。使得待测试单元不易因为分压较大导致产品出现损坏的情形。

附图说明

图1是一实施例中测试电路的结构示意图；

图2是本发明实施例中测试电路的结构示意图；

图3是本发明实施例中测试电路的工作方法的流程示意图。

具体实施方式

如背景技术所述，需要采取新的测试手段，在不损伤被测产品的前提下，能够精准测量被测产品的电阻。现结合具体的实施例进行分析说明。

图1是一实施例中测试电路的结构示意图。

请参考图1，所述测试电路包括：第一桥臂，所述第一桥臂包括相串联的第一电阻R1和第二电阻R2，所述第一电阻R1和第二电阻R2的阻值不同；第二桥臂，所述第二桥臂包括相串联的待测试单元Rx和第三电阻R3；连接支路，所述第一桥臂和所述第二桥臂通过所述连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第一电阻R1和第二电阻R2相连接，所述连接支路的另一端与所述待测试单元Rx和第三电阻R3连接；电源BT，所述第一桥臂和第二桥臂并联在所述电源BT的两端；与所述电源BT串联的第一电阻箱R4和第一开关S0。

在本实施例中，所述连接支路包括相串联的第二电阻箱R5、电压表PV和第二开关S1。

所述测试电路在测试芯片的引脚电阻时，所述待测试单元Rx即为接入测试的电路的芯片引脚。对于大部分芯片来说，有一些输出引脚的输出阻抗在产品损坏后都是变化的，如果能监测这一变化，就可以在不上电的前提下，提前判断芯片是否有损坏，这些输出引脚的输出阻抗一般都是兆欧级别的，输出阻抗较大，常规的测量电路很难测量准确这个级别的电阻差异。

具体地，如果通过普通的测量电路来检测，普通的测量电路对高阻抗的测量精度比较低，对于500KΩ以上的阻值区别不明显；如果通过高压摇表来检测，高压摇表的方式会引入高压，会损伤被测产品。

采用如图1所述的测试电路进行测量时，图1的测试电路为H型桥式电路，其中第一电阻R1、第二电阻R2和第三电阻R3的阻值是已知的，由于第一桥臂和第二桥臂并联在所述电源BT的两端，从而可以计算出待测试单元Rx＝R2*R3/R1。然而，由于待测试单元Rx的阻值是不确定的，需要通过R2、R3和R1计算得出来，而测试电路工作时所述电源BT的范围是固定的，在对芯片的引脚电阻进行测试时，当所述电源BT接入较大电压时，可能会超出芯片的承受范围，导致芯片损坏。

为了解决上述问题，本发明技术方案提供一种测试电路及测试电路的工作方法，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，通过切换不同的第一电阻单元接入第二桥臂，通过第一桥臂和第二桥臂两边的电压值获取待测试单元的阻值。所述测试电路的操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。

为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。

图2是本发明实施例中测试电路的结构示意图。

请参考图2，所述测试电路包括：第一桥臂，所述第一桥臂包括待测试单元Rx；第二桥臂，所述第二桥臂与所述第一桥臂相连接，所述第二桥臂包括可切换电阻模块，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，若干组第一电阻单元可切换接入所述第二桥臂；第一电源BT1，所述第一桥臂和所述第二桥臂并联在所述第一电源BT1的两端。

请继续参考图2，在本实施例中，所述可切换电阻模块还包括：若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。

请继续参考图2，在本实施例中，所述第一电阻单元包括：相串联的第一开关Tn和第一电阻R1n，n为大于等于1的自然数，若干组所述第一电阻单元并联连接。若干组所述第一电阻单元包括若干个第一电阻R1n，若干个所述第一电阻R1n的阻值大小按照预设的比例阶梯设置。

在本实施例中，n的取值为4至10。

在本实施例中，所述预设的比例包括5至10，即阻值相邻的第一电阻R1n之间的比值范围为5至10。

图2中所示的第一开关Tn包括：T1、T2、T3、…Tn；第一电阻R1n包括：R11、R12、R13、…R1n。

所述第一电阻单元的组数根据需要的第一电阻R1n的最大值和最小值以及预设的比例进行设置。例如，第一电阻R1n的最大值和最小值分别为30000欧姆和10欧姆，预设的比例为5，则第一电阻R1n的阻值设置为10欧姆、50欧姆、250欧姆、1250欧姆、6250欧姆、30000欧姆，则所述第一电阻单元的组数为6，n的取值为6。

所述第一开关Tn包括按钮开关或刀开关。

在本实施例中，所述第一开关Tn包括刀开关。

请继续参考图2，在本实施例中，所述继电器单元包括：相串联的第二开关S1n和继电器Kn，n为大于等于1的自然数，若干组所述继电器单元并联连接在第二电源BT2两端，一个继电器Kn控制一个所述第一开关Tn的开启或闭合，所述第二开关S1n控制所述继电器Kn的开启或关闭。

当所述第二开关S1n闭合时，所述继电器Kn闭合，所述继电器Kn控制对应的所述第一开关Tn闭合，使对应的所述第一电阻R1n接入所述第二桥臂；反之，当所述第二开关S1n断开时，所述继电器Kn开启，所述继电器Kn对应的所述第一开关Tn失去控制，所述第一开关Tn断开，使对应的所述第一电阻R1n不接入所述第二桥臂。

所述第二开关S1n包括按钮开关或刀开关。

在本实施例中，所述第二开关S1n包括按钮开关。

请继续参考图2，在本实施例中，所述第二桥臂还包括：第二电阻R2，所述第二电阻R2的一端与可切换电阻模块的一端连接，所述第二电阻R2与可切换电阻模块中的一组第一电阻单元相串联，所述第二电阻R2的另一端与所述第一电源BT1的正极耦接，所述可切换电阻模块的另一端与所述第一电源BT1的负极耦接。

请继续参考图2，所述第一桥臂还包括：第三电阻R3，所述第三电阻R3的一端与所述待测试单元Rx的一端串联连接，所述第三电阻R3的另一端与所述第一电源BT1的正极耦接，所述待测试单元Rx的另一端与所述第一电源BT1的负极耦接。

在本实施例中，所述第二电阻R2和第三电阻R3的阻值相同。以使得在电压表PV读出的电压数值在第一预设范围内时，所述待测试单元Rx的电阻与接入所述第二桥臂的第一电阻R1n等效，从而获取所述待测试单元Rx的电阻。

请继续参考图2，所述第二桥臂与所述第一桥臂通过连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第二电阻R2和可切换电阻模块相连接，所述连接支路的另一端与所述第三电阻R3和待测试单元Rx相连接。

在本实施例中，所述连接支路包括：相串联的第一电阻箱R4和电压表PV，所述第一电阻箱R4的电阻值包括若干档位。

所述第一电阻箱R4由若干具有不同档位电阻值的定值电阻按照一定的连接方式连接而成。

在本实施例中，所述第一电阻箱R4的阻值范围包括0欧姆至999999999欧姆。

在本实施例中，所述连接支路还包括：与所述第一电阻箱R4和电压表PV相串联的第三开关S2。

所述第三开关S2包括按钮开关或刀开关。

在本实施例中，所述第三开关S2包括按钮开关。

请继续参考图2，所述测试电路还包括：与所述第一电源BT1相串联的第二电阻箱R5，所述第二电阻箱R5的电阻值包括若干档位。

所述第二电阻箱R5由若干具有不同档位电阻值的定值电阻按照一定的连接方式连接而成。

在本实施例中，所述第二电阻箱R5的阻值范围包括0欧姆至999999999欧姆。

请继续参考图2，所述测试电路还包括：与所述第一电源BT1和第二电阻箱R5相串联的第四开关S3。

所述第四开关S3包括按钮开关或刀开关。

在本实施例中，所述第四开关S3包括按钮开关。

请继续参考图2，所述测试电路还包括：与所述第二电源BT2串联的第四电阻R6。所述第四电阻R6用于对所述第二电源BT2进行保护，避免所述第二电源BT2发生短路烧坏第二电源BT2。

在本实施例中，所述待测试单元Rx包括芯片引脚。在其他实施例中，所述待测试单元包括其他需要测试电阻的器件或设备。

所述测试电路，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，通过切换不同的第一电阻单元接入第二桥臂，通过第一桥臂和第二桥臂两边的电压值获取待测试单元的阻值。所述测试电路的操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。

图3是本发明实施例中测试电路的工作方法的流程示意图。

请参考图3，所述测试电路的工作方法包括：

步骤S10：提供如图2所述的测试电路；

步骤S20：闭合第三开关S2和第四开关S3；

步骤S30：通过继电器Kn控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表PV读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻R1n为所述待测试单元的等效电阻。

在本实施例中，通过继电器Kn控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：通过继电器Kn将阻值最大的第一电阻R1n接入第二桥臂；所述将第一电阻箱R4和第二电阻箱R5的阻值调节到最大档；保持第一电阻箱R4的阻值不变，调节所述第二电阻箱R5的电阻值，使所述第二电阻箱R5的电阻值由高档向低档变化，直至电压表PV读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第二电阻箱R5的当前档位；调节所述第二电阻箱R5的电阻值，使所述第二电阻箱R5的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间；保持所述第二电阻箱R5的电阻值不变，调节所述第一电阻箱R4的电阻值，使所述第一电阻箱R4的电阻值由高档向低档变化，直至电压表PV读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第一电阻箱R4的当前档位；调节所述第一电阻箱R4的电阻值，使所述第一电阻箱R4的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。

在本实施例中，所述第二预设范围包括：三分之一的电压表PV的量程范围。即在电压表PV读出的电压数值超过三分之一的电压表PV的量程范围时，停止调节所述第一电阻箱R4和第二电阻箱R5。

所述第二电阻箱R5的阻值位于当前档位时，所述第二电阻箱R5的阻值对测试电路的电流影响较大，所述电压表PV读出的电压数值超过三分之一的电压表PV的量程范围；所述第二电阻箱R5的阻值大于当前档位时，所述第二电阻箱R5的阻值对测试电路的电流影响较小，所述电压表PV读出的电压数值变化量较小。使所述第二电阻箱R5的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间，即所述第二电阻箱R5的电阻值处于能对测试电路造成较大影响的最小电阻档位，后续在对不同阻值的第一电阻单元进行切换获得待测试单元Rx的等效电阻时，获得的结果较为精确。

所述第一电阻箱R4的阻值位于当前档位时，所述第一电阻箱R4的阻值对测试电路的电流影响较大，所述电压表PV读出的电压数值超过三分之一的电压表PV的量程范围；所述第一电阻箱R4的阻值大于当前档位时，所述第一电阻箱R4的阻值对测试电路的电流影响较小，所述电压表PV读出的电压数值变化量较小。使所述第一电阻箱R4的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间，即所述第一电阻箱R4的电阻值处于能对测试电路造成较大影响的最小电阻档位，后续在对不同阻值的第一电阻单元进行切换获得待测试单元Rx的等效电阻时，获得的结果较为精确。

在本实施例中，所述第一预设范围包括：-0.01伏至0.01伏。即当所述电压表PV读出的电压数值在-0.01伏至0.01伏之间时，获得R1n为所述待测试单元Rx的等效电阻。

由于所述第一桥臂和所述第二桥臂并联在所述第一电源BT1的两端，所述待测试单元Rx＝R1n*R3/R2，由于第二电阻R2和第三电阻R3的阻值相同，从而获得待测试单元Rx＝R1n。

在本实施例中，通过继电器Kn控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：闭合一组继电器单元中的第二开关S1n，使所述继电器单元中的继电器Kn开启，所述继电器Kn控制对应的第一电阻单元中的第一开关Tn闭合，使所述第一电阻单元中的第一电阻R1n接入第二桥臂。

在一实施例中，通过继电器Kn控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：按照阻值由大至小的顺序将所述第一电阻单元分次接入第二桥臂。

在另一实施例中，通过继电器Kn控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：随机将任一组第一电阻单元接入第二桥臂，根据连续两组第一电阻单元接入第二桥臂时电压表PV的电压变化趋势，判断下一组将阻值大或阻值小的第一电阻单元接入第二桥臂。

例如，随机将一组第一电阻单元接入第二桥臂，假设第一组第一电阻单元的电阻为R11，获取电压表PV的第一读数；将第二组第一电阻单元接入第二桥臂，假设第二组第一电阻单元的电阻为R12，获取电压表PV的第二读数。

当第二读数的绝对值大于第一读数的绝对值时，若第二组第一电阻单元的电阻R12小于第一组第一电阻单元电阻R11，则下一组接入电阻大于第一组第一电阻单元电阻R11的第一电阻单元；若第二组第一电阻单元的电阻R12大于第一组第一电阻单元电阻R11，则下一组接入电阻小于第一电阻单元电阻R11的第一电阻单元。

当第二读数的绝对值小于第一读数的绝对值时，若第二组第一电阻单元的电阻R12小于第一组第一电阻单元电阻R11，则下一组接入电阻小于第二组第一电阻单元的电阻R12的第一电阻单元；若第二组第一电阻单元的电阻R12大于第一组第一电阻单元电阻R11，则下一组接入电阻大于第二组第一电阻单元的电阻R12的第一电阻单元。

测试电路的工作方法，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻R1n为所述待测试单元的等效电阻。所述测试电路的工作方法操作灵活性高、测量结果精确，且不易对待测试单元造成损伤。

在本实施例中，所述测试电路的工作方法还包括：对第一电源BT的电压进行调整，使所述待测试单元Rx的分压在待测试单元Rx能承受的安全电压范围内。使得待测试单元Rx不易因为分压较大导致产品出现损坏的情形。

例如，所述待测试单元Rx包括芯片引脚等不耐压的产品时，待测试单元Rx的分压过大，会导致芯片损坏。

具体地，在对第一电阻箱R4或第二电阻箱R5进行阻值调节的过程中，也会根据第一电阻箱R4和第二电阻箱R5的阻值变化对第一电源BT的电压进行调整，例如，将第一电阻箱R4和第二电阻箱R5的阻值向小调整时，也会调小所述第一电源BT的电压值，以使电路中的电流在预设的范围内，避免待测试单元Rx出现损坏。

此外，在已知待测试单元Rx的耐压范围时，可根据待测试单元Rx的耐压范围对所述第一电源BT的电压进行调整。

此外，在将第一电阻单元切换接入第二桥臂时，可根据第一电阻单元中第一电阻的阻值大小对第一电源BT的电压值进行调整。

虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (23)

1.一种测试电路，其特征在于，包括：

第一桥臂，所述第一桥臂包括待测试单元；

第二桥臂，所述第二桥臂与所述第一桥臂相连接，所述第二桥臂包括可切换电阻模块，所述可切换电阻模块包括若干组电阻值不同的第一电阻单元，若干组第一电阻单元可切换接入所述第二桥臂；

第一电源，所述第一桥臂和所述第二桥臂并联在所述第一电源的两端。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述可切换电阻模块还包括：若干组继电器单元，若干组所述继电器单元与若干组所述第一电阻单元一一对应，所述继电器单元控制所述第一电阻单元是否接入所述第二桥臂。

3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一电阻单元包括：相串联的第一开关和第一电阻，若干组所述第一电阻单元并联连接。

4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，若干组所述第一电阻单元包括若干个第一电阻，若干个所述第一电阻的阻值大小按照预设的比例阶梯设置。

5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述继电器单元包括：相串联的第二开关和继电器，若干组所述继电器单元并联连接在第二电源两端，一个继电器控制一个所述第一开关的开启或闭合，所述第二开关控制所述继电器的开启或关闭。

6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第二桥臂还包括：第二电阻，所述第二电阻的一端与可切换电阻模块的一端连接，所述第二电阻与可切换电阻模块中的一组第一电阻单元相串联，所述第二电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述可切换电阻模块的另一端与所述第一电源的负极耦接。

7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述第一桥臂还包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述待测试单元的一端串联连接，所述第三电阻的另一端与所述第一电源的正极耦接，所述待测试单元的另一端与所述第一电源的负极耦接。

8.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二电阻和第三电阻的阻值相同。

9.如权利要求7所述的测试电路，其特征在于，所述第二桥臂与所述第一桥臂通过连接支路相连接，所述连接支路的一端与所述第二电阻和可切换电阻模块相连接，所述连接支路的另一端与所述第三电阻和待测试单元相连接。

10.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述连接支路包括：相串联的第一电阻箱和电压表，所述第一电阻箱的电阻值包括若干档位。

11.如权利要求10所述的测试电路，其特征在于，所述连接支路还包括：与所述第一电阻箱和电压表相串联的第三开关。

12.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第一电源相串联的第二电阻箱，所述第二电阻箱的电阻值包括若干档位。

13.如权利要求12所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第一电源和第二电阻箱相串联的第四开关。

14.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于，还包括：与所述第二电源串联的第四电阻。

15.一种测试电路的工作方法，其特征在于，包括：

提供如权利要求1至14任一项所述的测试电路；

闭合第三开关和第四开关；

通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，直至电压表读出的电压数值在第一预设范围内，获取接入第二桥臂的第一电阻为待测试单元的等效电阻。

16.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：通过继电器将阻值最大的第一电阻接入第二桥臂；将第一电阻箱和第二电阻箱的阻值调节到最大档；保持第一电阻箱的阻值不变，调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第二电阻箱的当前档位；调节所述第二电阻箱的电阻值，使所述第二电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。

17.如权利要求16所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂之前，还包括：保持所述第二电阻箱的电阻值不变，调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值由高档向低档变化，直至电压表读出的电压数值超出第二预设范围，获取所述第一电阻箱的当前档位；调节所述第一电阻箱的电阻值，使所述第一电阻箱的电阻值位于当前档位与当前档位的上一档位之间。

18.如权利要求16所述的测试电路的工作方法，其特征在于，所述第二预设范围包括：三分之一的电压表的量程范围。

19.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，所述第一预设范围包括：-0.01伏至0.01伏。

20.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：闭合一组继电器单元中的第二开关，使所述继电器单元中的继电器开启，所述继电器控制对应的第一电阻单元中的第一开关闭合，使所述第一电阻单元中的第一电阻接入第二桥臂。

21.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：按照阻值由大至小的顺序将所述第一电阻单元分次接入第二桥臂。

22.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，通过继电器控制若干组电阻值不同的第一电阻单元分次接入第二桥臂，包括：随机将任一组第一电阻单元接入第二桥臂，根据连续两组第一电阻单元接入第二桥臂时电压表的电压变化趋势，判断下一组将阻值大或阻值小的第一电阻单元接入第二桥臂。

23.如权利要求15所述的测试电路的工作方法，其特征在于，还包括：对第一电源的电压进行调整，使所述待测试单元的分压在待测试单元能承受的安全电压范围内。