SU1712777A1 - Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей - Google Patents
Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей Download PDFInfo
- Publication number
- SU1712777A1 SU1712777A1 SU4766213K SU4766213K SU1712777A1 SU 1712777 A1 SU1712777 A1 SU 1712777A1 SU 4766213 K SU4766213 K SU 4766213K SU 4766213 K SU4766213 K SU 4766213K SU 1712777 A1 SU1712777 A1 SU 1712777A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- focus
- mirror
- rays
- concave
- elliptical
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле оптических деталей с вогнутыми зллиптическими поверхностями. Изобретение позволяетупростить контроль путем анализа интерференционной картины с помощью автоколлимационной си'стемы, состоящей из эллиптической пЬверхности и вспомогательного оптического элемента. Освещение эллиптическо.й поверхности производят из ее ближнего фокуса, в качестве которого используют плоское зеркало с центральным отверстием и устанавливают его посередине между контроли- 'руемой поверхностью и дальним ее фокусом. 1 ил.СОсИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле оптических деталей с вогнутыми эллиптическими поверхностями.Известен способ контроля .вогнутых e/i- липтических поверхностей, в котором ко>&нт- ролируемую эллиптическую поверхность освещают из дальнего ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей. Затем посередине между фокусами устанавливают полупрозрачное зеркало. Лучи, отраженные от полупрозрачного зеркала, создак)т эталонный волновой фронт. Лучи, прошедшие через полупрозрачное зеркало, отраженные от контро'лируемой поверхности и вторично прошедшие через полупрозрач< ное зеркало создают анализируемый волнОг вой фронт.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому является способ контроля вогнутыхэллиптических поверхностей, в котором Сначала подбирают вспомогательное сферическое зеркало в зависимости от параметра и эксцентриситета эллиптической поверхности, вспомогательное сферическое зеркало устанавливают соосно с эллиптической п
Description
Цель изобретени - упрощение контрол вогнутых эллиптических поверхностей.
Поставленна цель достигаетс тем, что усовершенствуетс способ контрол вогнутых эллиптических поверхностей, заключа- 5 ющийс в том, что контролируемую поверхность освещают из ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливают вспомогательный оптический элемент перпендикул рно оси излучени , регистрируют 10 отраженный волновой фронт, по которому суд т о форме контролируемой поверхности .
Освещение контролируемой поверхности производ т из ее ближнего фокуса, в 15 качестве вспомогательного оптического элемента используют плоское зеркало с центральным отверстием и устанавливают его посередине между контролируемой поверхностью и дальним ее фокусом.20
На чертеже изображена схема.реализующа способ контрол вогнутой эллиптической поверхности с помощью неравноплечего интерферометра.
Схема контрол включает лазер 1, рас- 25 ширитель лазерного излучени 2, светоделитель 3, эталонное зеркало 4, первый объектив 5, контролируемую поверхность 6, плоское зеркало 7, объектив 8, экран 9.
Контроль вогнутой эллиптической по- 30 верхности осуществл етс следующим образом .
Излучение лазера 1 преобразуетс в широкий пучок с помощью расширител 2. Светоделитель 3 делит пучок параллельных 35 лучей на два, один из которых-направл етс на эталонное плоское зеркало 4, а другой преобразуетс первым объективом 5 в гомоцентрический пучок. Контролируемую деталь 6 устанавливают так, что ближ- 40 НИИ к ней фокус Р2 совмещают с центром гомоцентрического пучка (с задним фокусом первого объектива 5). Затем располагают посередине между контролируемой деталью 6 и дальним ее фокусом FI перпен- 45 дикул рно оси излучени отражающую поверхность плоского зеркала 7. Оптические элементы б и 7 образуют автоколлимационную схему. Лучи, выход щие из F2 падают на контролируемую поверхность 6, после отражени от нее направл ютс в фокус FI. Плоское зеркало 7 собирает лучи в вершине (на чертеже точка FI ) контролируемой поверхности. Лучи после отражени от плоской и контролируемой поверхности собираютс в фокус Fa и преобразуютс первым объективом 5 в параллельный пучок. Второй объектив 8 строит изображение контролируемой поверхности в плоскости экрана 9 и проецирует в ту же плоскость другой пучок от эталонного зеркала 4. На экране 9 наблюдают интерференционную картину, по которой суд т о форме контролируемой поверхности 6.
Предлагаемый способ контрол вогнутых эллиптических поверхностей по сравнению с прототипом исключает необходимость при изготовлении очередной эллиптической поверхности с другими параметрами и эксцентриситетом подбирать или изготавливать снова вспомогательный сферический элемент и тем самым обеспечивает уменьшение числа вспомогательных сферических элементов.
Claims (1)
- Формула изобретени Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей, заключающийс в том, что контролируемую поверхность освещают из ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливают вспомогательный оптический элемент перпендикул рно оси излучени , регистрируют отраженный волновой фронт, по которому суд т о форме контролируемой поверхности, отличающийс тем, что, с целью упрощени контрол , освещение поверхности производ т из ее ближнего фокуса, в качестве вспомогательного оптического элемента используют плоское зеркало с центральным отверстием и устанавливают его посередине между контролируемой поверхностью и дальним ее фокусом. 2 4
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894766213A SU1712776A1 (ru) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1712777A1 true SU1712777A1 (ru) | 1992-02-15 |
Family
ID=21483188
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894766213A SU1712776A1 (ru) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей |
SU4766213K SU1712777A1 (ru) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894766213A SU1712776A1 (ru) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (2) | SU1712776A1 (ru) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102564340A (zh) * | 2011-12-09 | 2012-07-11 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 大口径平面镜面形检测装置 |
CN104359424A (zh) * | 2014-10-09 | 2015-02-18 | 无锡中科光电技术有限公司 | 一种椭球镜面形检测装置及方法 |
CN106707479A (zh) * | 2017-01-11 | 2017-05-24 | 哈尔滨工业大学 | 椭球面反射镜远焦点高精度定位装置与方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106989693B (zh) * | 2017-05-12 | 2022-10-21 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种离轴椭球镜面形检测装置及其检测方法 |
-
1989
- 1989-11-09 SU SU894766213A patent/SU1712776A1/ru active
- 1989-11-09 SU SU4766213K patent/SU1712777A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Пур ев Д.Г. Методы контрол оптических асферических поверхностей. М.: Маш11- ностроение, 1976, с. 101-104.Кривов з Л.М., Пур ев Д.Т., Знаменска М.А. Практика оптической^измеритель- ной лаборатории. М.; Машиностроен1/|ё, 1974, с. 100-101. * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102564340A (zh) * | 2011-12-09 | 2012-07-11 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 大口径平面镜面形检测装置 |
CN104359424A (zh) * | 2014-10-09 | 2015-02-18 | 无锡中科光电技术有限公司 | 一种椭球镜面形检测装置及方法 |
CN104359424B (zh) * | 2014-10-09 | 2017-04-19 | 无锡中科光电技术有限公司 | 一种椭球镜面形检测装置及方法 |
CN106707479A (zh) * | 2017-01-11 | 2017-05-24 | 哈尔滨工业大学 | 椭球面反射镜远焦点高精度定位装置与方法 |
CN106707479B (zh) * | 2017-01-11 | 2019-04-19 | 哈尔滨工业大学 | 椭球面反射镜远焦点高精度定位装置与方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SU1712776A1 (ru) | 1992-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4161366A (en) | Process and apparatus for the automatic examination of eggs for cracks or places of fracture in their shell | |
RU2007115154A (ru) | Оптическое измерительное устройство для измерения характеристик нескольких поверхностей объекта измерения | |
NO960583L (no) | Interferometer med et mikrospeil | |
KR970707432A (ko) | 패턴 결함 검출기(defect detection in patterned substrates using optical computing) | |
EP0220046A2 (en) | Interferometer | |
SU1712777A1 (ru) | Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей | |
US4722604A (en) | Radiation interference devices | |
CA1168467A (en) | Apparatus for automatically detecting and evaluating the characteristics of prints | |
ES2077081T3 (es) | Medicion de fase en microscopios opticos de exploracion. | |
RU2092787C1 (ru) | Способ определения коротких дистанций до диффузно-отражающих объектов и устройство для его осуществления | |
SU1037063A1 (ru) | Интерферометрическое устройство дл измерени рассто ний и изменени рассто ний | |
US5100227A (en) | Translation insensitive keratometer using moire deflectometry | |
JP3112095B2 (ja) | 眼軸長測定装置 | |
SU1413415A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий | |
SU1649260A1 (ru) | Способ контрол оптических асферических поверхностей вращени второго пор дка | |
SU1343242A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей | |
SU1562689A1 (ru) | Способ определени рассто ни до поверхности объекта и устройство дл его осуществлени | |
SU1523905A1 (ru) | Интерферометр дл контрол асферических поверхностей второго пор дка | |
SU953451A2 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
SU1441194A1 (ru) | Устройство дл контрол состо ни поверхности | |
SU1345156A1 (ru) | Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени | |
KR200345857Y1 (ko) | 펄스 레이저 홀로그래피를 이용한 평판의 이방성 검사장치 | |
SU1504497A1 (ru) | Устройство дл измерени линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами | |
US5113082A (en) | Electro-optical instrument with self-contained photometer | |
SU1619014A1 (ru) | Интерферометр |