SU1343242A1 - Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей - Google Patents

Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей Download PDF

Info

Publication number
SU1343242A1
SU1343242A1 SU853934360A SU3934360A SU1343242A1 SU 1343242 A1 SU1343242 A1 SU 1343242A1 SU 853934360 A SU853934360 A SU 853934360A SU 3934360 A SU3934360 A SU 3934360A SU 1343242 A1 SU1343242 A1 SU 1343242A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lens
light
test surface
wave
shape
Prior art date
Application number
SU853934360A
Other languages
English (en)
Inventor
Борис Михайлович Комраков
Алексей Александрович Савельев
Дмитрий Александрович Волков
Original Assignee
МВТУ им.Н.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by МВТУ им.Н.Э.Баумана filed Critical МВТУ им.Н.Э.Баумана
Priority to SU853934360A priority Critical patent/SU1343242A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1343242A1 publication Critical patent/SU1343242A1/ru

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано , в частности, дл  контрол  формы сферических оптических поверхностей . Цель изобретени  - повьппение точности и производительности контрол  за счет того, что опорна  и предметна  волны вместе отражаютс  от контролируемой поверхности. Интерферометр содержит источник 1 света, микрообъектив 2 и объектив 3, образующие оптическую систему 4 формировани  светового пучка, светоделитель 5, зонную пластину 6, объективы 7 и 8 и узел 9 регистрации. Объектив 7 установлен с возможностью перемещени  в трех взаимно перпендикул рных плоскост х . Световой диаметр D, объектива 7 меньше светового диаметра D объектива 8 не менее чем в п ть раз, поэтому опорна  волна освещает малый участок на контролируемой поверхности 10, площадь которого меньше площади контролируемой поверхности не менее чем в 25 раз. Опорна  волна остаетс  практически неискаженной после отражени  от малого участка контролируемой поверхности 10. Рабоча  волна после отражени  от всей поверхности 10, за исключением малого участка, освещаемого только опорной волной, несет информацию о погрешност х ее формы. 1 ил. i (Л со ьо ЧЭ

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано , в частности, дл  контрол  формы сферическ х оптических поверхностей .
Целью изобретени   вл етс  повышение точности и производительности контрол  за счет того, что опорна  и предметна  нг олны вместе отражаютс  от контролируемой поверхности.
На чертеже изображена оптическа  схема интерферометра дл  контрол  формы вогнутых сферических поверхностей .
Интерферометр содержит источник 1 света, микрообъектив 2 и объектив 3, образующие оптическую систему 4 формировани  светового пучка, светоделитель 5, зонную пластину 6, объективы 7 и 8 и узел 9 регистрации интерференционной картины.
Объектив 7 установлен с возможностью перемещени  в трех взаимно перпендикул рных плоскост х и имеет световой диаметр D, меньше светового диаметра D объектива 8 по крайней мере в п ть раз.
Интерферометр работает следующим образом.
Излучение источника 1 проходит через микрообъектив 2 и объектив 3, образующих оптическую систему 4 формировани  светового пучка. Сформированный системой 4 параллельный пучок проходит светоделитель 5 и падает на зонную пластину 6. В результате дифракции на зонной пластине 6 образуютс  три световые волны 0-го и ±1-х пор дков дифракции. В данном интерферометре используютс  волны 0-го и -t-1-го пор дков дифракции, а волна -1-го пор дка не нужна. Волна +1-го пор дка фокусируетс  в точку F,n - задний фокус зонной пластины, который совмещен с передним фокусом F, первого объектива 7. На второй объектив 8 падает плоска  волна 0-го пор дка от зонной пластины 6 (рабоча  волна) и плоска  волна, выход ща  из первого объектива 7, используема  как опорна  волна сравнени . Объектив 8 фокусирует обе волны в
свой задний фокус совмещен с центром С.
50 нечувствительна к смещени м контроли руемой детали 11, и точность контрол в производственных услови х при нали чии вибраций повышаетс . Указанное свойство позвол ет также быстро за , который
. кривизны конт- gg мен ть одну контролируемую деталь на ролируемой сферической поверхности 10 другую. Небольшие смещени  вдоль
не
детали 11, и поэтому на контролируемую поверхность 10 обеспечиваетс  падение световых лучей вдоль нормалей.
установленной детали не внос т замет ных искажений в интерференционную картину. Это позвол ет примен ть инАпертура объектива 8 выбираетс  такой, чтобы рабоча  волна освещала всю контролируемую поверхность 10. Световой диаметр D, объектива 7 меньше светового диаметра Dj объектива 8 не менее чем в п ть раз, поэтому опорна  волна освещает малый участок на контролируемой поверхности 10,
площадь которого меньше площади контролируемой поверхности не менее чем в 25 раз. Экспериментальные исследовани  показали, что по вление больших погрешностей формы на небольшой централъной зоне контролируемой поверхности маловеро тно, поэтому опорна  волна остаетс  практически неискаженной после отражени  от малого участка контролируемой поверхности. Рабоча 
волна после отражени  от всей поверхности 10 (за исключением малого участка , освещаемого только опорной волной) несет информацию о погрешност х ее формы.
После прохождени  в обратном ходе через объективы В и 7 рабоча  и опорна  волны .дифрагируют на зонной пластине 6. При этом используетс  нулевой пор док дифракции опорной
волны и -1-й пор док дифракции рабочей волны. Эти волны имеют практически одинаковую интенсивность, интерферируют между собой и после отражени  от ,светоделительной поверхности светоделител  5 попадают в
узел 9 регистрации интерференционной картины. Регулировка интерференционной картины на кольца выполн етс  смещением объектива 7 вдоль оптической оси, на полосы смещением объектива 7 перпендикул рно оптической оси в двух ортогональных направлени х. Расщифровка интерферо- граммы осуществл етс  известными методами . Опорна  и предметна  волны
вместе отражаютс  от контролируемой поверхности 10, и любые ее смещени  привод т к одинаковым смещени м опорной и предметной волн. В результате интерференционна  картина практически
нечувствительна к смещени м контролируемой детали 11, и точность контрол  в производственных услови х при наличии вибраций повышаетс . Указанное свойство позвол ет также быстро зане
установленной детали не внос т заметных искажений в интерференционную картину. Это позвол ет примен ть ин313432Д24
терферометр дл  серийного контрол  рации, отличающийс  тем, больших партий деталей.что, с целью повышени  точности и

Claims (1)

  1. производительности контрол , он снабжен двум  объективами, последователь- Формула изобретени 
    О расположенными по ходу светового
    излучени  после зонной пластины.
    Интерферометр дл  контрол  формыпервый объектив установлен с возможсферических поверхностей, содержащий ностью перемещени  в трех взаимно
    последовательно установленные источ-перпендикул рных плоскост х и имеет
    ник света, оптическую систему форми-fO световой диаметр меньше светового
    ровани  светового пучка, светодели-диаметра второго объектива по крайней
    тель, зонную пластину и узел регист-мере в п ть раз.
SU853934360A 1985-06-05 1985-06-05 Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей SU1343242A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853934360A SU1343242A1 (ru) 1985-06-05 1985-06-05 Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853934360A SU1343242A1 (ru) 1985-06-05 1985-06-05 Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1343242A1 true SU1343242A1 (ru) 1987-10-07

Family

ID=21190853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853934360A SU1343242A1 (ru) 1985-06-05 1985-06-05 Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1343242A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100399211C (zh) * 2004-07-13 2008-07-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 消除x射线无透镜傅里叶变换全息零级波的装置和方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 823845, кл. G 01 В 9/02, 1979. Applied Optics, 1974, V. 13, N 5, p. 1093-1099. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100399211C (zh) * 2004-07-13 2008-07-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 消除x射线无透镜傅里叶变换全息零级波的装置和方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4022532A (en) Sample point interferometric system for optical figure monitoring
US5036192A (en) Rotary encoder using reflected light
US3971002A (en) Device for the optical read-out of a diffractive track belonging to a data carrier in the form of a disc or tape
US4432239A (en) Apparatus for measuring deformation
US4743117A (en) Device for optically measuring aspheric surface
US4542989A (en) Apparatus for position encoding
US4395124A (en) Apparatus for position encoding
SU1343242A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей
US4606640A (en) Method and apparatus for optically testing cylindrical surfaces
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
HU195882B (en) Arrangement for interference examination of the flatness of technical surfaces
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
SU1364866A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений
SU1696854A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта
EP0137976A2 (en) Interferometric metrology of surface figures
SU1126812A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций диффузно отражающих объектов
SU1744452A1 (ru) Интерферометр дл контрол плоскостности отражающих поверхностей
SU1490462A1 (ru) Способ контрол формы зеркала
SU1518666A1 (ru) Способ измерени перемещени объекта и устройство дл его осуществлени
SU1672206A1 (ru) Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени
SU1370453A1 (ru) Интереферометр дл контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей
SU1656365A1 (ru) Юстировочное устройство
SU1320660A1 (ru) Автоколлимационное устройство дл бесконтактного контрол профил полированных поверхностей
SU1610248A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей
SU1100497A2 (ru) Устройство дл измерени геометрических параметров зеркальных оптических элементов