SU1610248A1 - Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей - Google Patents

Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей Download PDF

Info

Publication number
SU1610248A1
SU1610248A1 SU884475693A SU4475693A SU1610248A1 SU 1610248 A1 SU1610248 A1 SU 1610248A1 SU 884475693 A SU884475693 A SU 884475693A SU 4475693 A SU4475693 A SU 4475693A SU 1610248 A1 SU1610248 A1 SU 1610248A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
compensator
curvature
lens system
lens
center
Prior art date
Application number
SU884475693A
Other languages
English (en)
Inventor
Даниил Трофимович Пуряев
Наталия Леонидовна Лазарева
Владимир Алексеевич Горшков
Олег Николаевич Фомин
Original Assignee
Мгту Им.Н.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Мгту Им.Н.Э.Баумана filed Critical Мгту Им.Н.Э.Баумана
Priority to SU884475693A priority Critical patent/SU1610248A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1610248A1 publication Critical patent/SU1610248A1/ru

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и предназначено дл  высокоточного контрол  формы выпуклых поверхностей оптических деталей, в частности дл  контрол  формы сферических поверхностей линз и зеркал большого диаметра. Цель изобретени  - расширение диапазона значений радиусов кривизны контролируемых поверхностей. Излучение, создаваемое источником 4, направл етс  коллиматором 5, светоделителем 6 и объективом 7 к компенсатору 1, выполненному в виде афокальной системы с совмещенными главными плоскост ми. Компенсатор вносит в пучок сферическую аберрацию, величина которой определ етс  рассто нием между точкой F1 и компенсатором. Компенсатор устанавливаетс  в положение, соответствующее компенсации аберраций линзовой системы 2. Это положение контролируетс  с помощью плоского зеркала 8 при выключении экрана 9 из хода лучей. После настройки интерферометра зеркало 8 перекрывают экраном 9, а деталь 13 устанавливают таким образом, чтобы центр Cк кривизны оказалс  совмещенным с центром C кривизны эталонной поверхности 12. При контроле детали с другим значением радиуса кривизны поворачивают линзовую систему 2 на 180° вокруг оси, перпендикул рной оси пучка. При этом эталонной поверхностью станет поверхность 14. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и предназначено дл  высокоточного контрол  формы выпуклых поверхностей оптических деталей, в частности дл  контрол  формы сферических поверхностей линз и зеркал большого диаметра .
Цель изобретени  - расширение диапазона значений радиусов кривизны контролируемых поверхностей.
На чертеже представлена схема интерферометра .
Интерферометр содержит компенсатор 1, линзовую систему 2, основание 3, на котором размещены источник 4 монохроматического когерентного излучени , коллиматор 5, светоделитель 6, фокусирующий объектив 7, плоское зеркало 8, непроз- рачный экран 9, регистратор 10 интферограмм, и шкалу 11. На чертеже прин ты следующие обозначени : F - задний фокус объектива 7; С - центр кривизны эталонной поверхности 12; Ск - центр кривизны контролируемой поверхности 13. Стрелками показаны направлени  вращени  линзовой системы и перемещени  компенсатора и основани .
Интерферометр работает следующим образом.
Монохроматическое когерентное излучение , создаваемое источником 4, направл етс  коллиматором 5, светоделителем 6 и фокусирующим объективом 7 к компенсатору 1. Задний фокус Р объектива 7  вл етс  вершиной гомоцентрического пучка лучей и одновременно изображением точки С, построенным линзовой системой 2 в обратном ходе лучей. Так как компенсатор 1 представл ет собой афокальную систему с совмещенными главными плоскост ми, то параксиальные лучи, вышедшие из точки F и прошедшие через него, вновь фокусируютс  в этой же точке F .
Компенсатор не измен ет числовой апертуры пучка, проход щего через него, а только вносит сферическую аберрацию, величина которой зависит от рассто им  между точкой F и компенсатором. При перемещении компенсатора вдоль оси обеспечиваетс  плавное изменение величины вносимых им аберраций , которые в двух определенных позици х компенсатора равны по величине и обратны по знаку аберраци м линзовой системы, установленной в обе рабочие позиции. Линзова  система имеет две вогнутые эталонные поверхности 12 и 14, радиусы кривизны которых различны. Путем поворота линзовой системы в сторону контролируемой детали 13 обращают ту из эталонных поверхностей
радиус кривизны которой ближе по значению к радиусу кривизны контролируемой поверхности. В процессе работы интерферометра на эталонную и контролируемую поверхности должно обеспечиватьс  нормальное падение лучей. Афокальный компенсатор и линзова  система сообща преобразуют гомоцентрический пучок, выход щий из объектива 7, в гомоцентриче- 0 ский пучок, вершина которого совмещена с точками С и Ск, где располагаютс  центры кривизны эталонной и контролируемой поверхностей 12 и 13 соответственно. Рабоча  интерференционна  картина образуетс  в 5 результате взаимодействи  волновых фронтов , отраженных от поверхностей 13 и 12, причем поверхность 12 выполн ет функцию пробного стекла, установленного на рассто нии . В случае разворота линзовой системы 0 на 180° функцию пробного стекла выполн ет эталонна  поверхность 14.

Claims (2)

  1. После поворота линзовой системы необходимо установить основание 3 с расположенными на нем оптическими 5 элементами так, чтобы точки F и С были оптически сопр жены. Кроме того, необходимо установить компенсатор в позицию, соответствующую компенсации аберраций линзовой системы, ориентированной опре- 0 деленным образом, например так, как показано на чертеже. Эту операцию выполн ют путем перемещени  основани  3 и компенсатора 1 вдоль оси линзовой системы 2. Критерием правильности установки служит 5 настроечна  интерференционна  картина, котора  образуетс  в результате взаимодействи  волновых фронтов, отраженных от поверхности 12 линзовой системы и поверхности плоского зеркала 8 (экран 9 вы- 0 ключен из хода лучей, а контролируема  деталь 13 отсутствует). Пор док настройки следующий. Компенсатор 1 устанавливают относительно линзовой системы 2 приблизительно в номинальное положение, которое 5 отмечено на шкале 11 механизма его перемещени . Затем перемещением основани  3 совмещают точку F с изображением центра С кривизны эталонной поверхности 12. В этом случае волновой фронт, прошедший через ком- 50 пенсатор и линзовую систему, отражаетс  от поверхности 12 и, пройд  вновь линзовую систему , компенсатор и фокусирующий объектив , вступает во взаимодействие с плоским фронтом, отраженным от зеркала 8. Так как 55 компенсатор установлен приблизительно, то фронт, взаимодействовавший с элементами 1, 2 и 7 системы, искажаетс  недокомпенсиро- ванными аберраци ми системы,.состо щей из элементов 1 и
  2. 2. Настроечна  интерференционна  картина в этом случае имеет вид множества концентрических колец. Окончательную компенсацию аберраций выполн ют путем продольного перемещени  компенсатора 1 при наблюдении динамики изменени  вида настроечной интерференционной картины. При идеальной компенсации аберраций интерференционна  картина должна иметь вид бесконечно широкой полосы (ровное поле). После выполнени  настройки зеркало 8 перекрывают экраном 9, а деталь 13 устанавливают таким образом, чтобы центр Ск кривизны контролируемой поверхности оказалс  совмещенным с центром С кривизны эталонной поверхности 12. В этом случае интерференционна  картина, возникша  при взаимодействии волновых фронтов, отраженных от поверхностей 13 и 12, несет информацию об ошибках поверхности 13. Формула изобретени  Интерферометр дл  контрол  формы поверхности выпуклых сферических дета0
    5
    0
    лей, содержащий осветитель, выполненный в виде источника когерентного излучени  и коллиматора,светоделитель, объектив, компенсатор , оптическую систему и регистратор интерферограмм, оптически св занный с объективом через светоделитель, отличающийс  тем, что, с целью расширени  диапазона значений радиусов кривизны контролируемых поверхностей, компенсатор выполнен в виде афокальной оптической системы с совмещенными главными плоскост ми и установлен по ходу излучени  после объектива с возможностью перемещени  вдоль оптической оси, оптическа  система выполнена в виде системы линз, перва  и последн   оптические поверхности которой выполнены эталонными и имеют различный радиус кривизны, и установлена по ходу излучени  после компенсатора с возможностью ее поворота на угол 180° вокруг оси, перпендикул рно й ее оптической оси и проход щей через центр т жести.
SU884475693A 1988-04-22 1988-04-22 Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей SU1610248A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884475693A SU1610248A1 (ru) 1988-04-22 1988-04-22 Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884475693A SU1610248A1 (ru) 1988-04-22 1988-04-22 Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1610248A1 true SU1610248A1 (ru) 1990-11-30

Family

ID=21396256

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884475693A SU1610248A1 (ru) 1988-04-22 1988-04-22 Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1610248A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Лазерна измерительна техника в машине- и приборостроении: Обзор М 1759. М.; ЦНИИТИ, 1978, с. 28-29. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100225923B1 (ko) 이상 회절 간섭계
US5064286A (en) Optical alignment system utilizing alignment spot produced by image inverter
JPH102714A (ja) 測定方法及び装置
US3614238A (en) Bright line reticle apparatus and optical alignment methods
Burge Fizeau interferometry for large convex surfaces
US4762417A (en) Fringe scanning point diffraction interferometer by polarization
US5155554A (en) Large aperture reflective interferometer for measuring convex spherical surfaces
US5410407A (en) Large aperture mirror testing apparatus and method
SU1610248A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей
US4673292A (en) Monochromator with a telecentric dispersive lens
RU183150U1 (ru) Автоколлимационное интерферометрическое устройство для центрировки оптических элементов
US3162713A (en) Interference microscope
JP2003269909A (ja) 形状測定方法及び干渉測定装置、並びに投影光学系の製造方法及び投影露光装置
JPH06288735A (ja) 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計
US8743373B1 (en) Metrology of optics with high aberrations
SU523274A1 (ru) Интерферометр дл контрол качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена
EP0137976A2 (en) Interferometric metrology of surface figures
JPS6365882B2 (ru)
US2684011A (en) Method and apparatus for measuring angles between reflecting surfaces
SU1067909A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы поверхности выпуклых сферических деталей
RU2803879C1 (ru) Способ измерения формы внеосевой асферической оптической детали
SU1247809A1 (ru) Компенсационный объектив дл контрол формы вогнутых асферических поверхностей
RU2114390C1 (ru) Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых гиперболических зеркал
SU1343242A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей
RU2082992C1 (ru) Космический телескоп (его варианты)