SU1345156A1 - Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1345156A1 SU1345156A1 SU864053652A SU4053652A SU1345156A1 SU 1345156 A1 SU1345156 A1 SU 1345156A1 SU 864053652 A SU864053652 A SU 864053652A SU 4053652 A SU4053652 A SU 4053652A SU 1345156 A1 SU1345156 A1 SU 1345156A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- illuminating
- size
- increase
- diffraction
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к оптическим измерени м и позвол ет увеличить пространственное разрешение, повысить чувствительность и расширить динамический диапазон измерений.Пучок света когерентного источника 1 расшир ют, пропуска его через коллиматор 2. Диафрагмой 3 и фокуси- руюпщм элементом 4 формируют сход щийс пучок известной мощности, в фокусе которого помещают образец 5. Путем подбора угла сходимости освещающего пучка добиваютс разделени дифракционньгх компонент. Перемещением образца 5 вдоль оптической оси и наблюдением картины дифрак1Д1и на фотоприемнике 6 подбирают размер светового п тна на образце 5 в соответствии с размерами его неоднородно- стей. 2 с.п. ф-лы, 1 ил. с со NU СП СП О)
Description
Изобретение относитс к оптическим измерени м.
Целью изобретени вл етс увеличение пространственно1 о разрешени , повьпиение чувствительности и расширение динамического диапазона измерений .
На чертеже представлена оптическ схема устройства.
В соответствии с предлагаемым способом освещающий когерентный пуч предварительно расшир ют и фокусируют , формиру сход щийс пучок известной мощности, в который вблизи фокуса помещают образец; затем путе подбора угла сходимости освещающего пучка добиваютс разделени дифракционных компонент, а перемещением образца вдоль оптической оси систем подбирают оптимальный размер сечени пучка на образце, после чего измер ют мощность продифрагировавшей компоненты и вычисл ют ее отношение к мощности освещающего пучка,
Предварительное расширение пучка от источника с последующей его фокусировкой дает возможность практически без потерь сосредоточить всю мощность пучка на площадке небольших размеров; ее минимальный диаметр равен дифракционному пределу данной схемы. Дл получени максимальной разрешающей способности выгодно увеличивать угол сходимости пучка
При необходимости путем перемещени образца вдоль оптической оси может быть получен любой размер освещающего пучка на образце, больший дифракционного,
При сн тии- тонкой структуры картины дифракционной эффективности размер освещающего п тна должен быть равен размеру неоднородности образца (фильтра) или несколько меньше его. Если необходимо пространственное усреднение получаемых результатов , то размер светового п тна устанавливаетс больше, чем размер локальной неоднородности. При этом степень усреднени определ етс числом локальных неоднородностей, попадающих в площадь освещающего п тна . Установление размеров освещающего п тна на образце может быть осуществлено различными приемами. Если размер неоднородности известен заранее, то можно, например, сразу поместить образец на такое рассто ™
362
ние от фокальной плоскости устройст ва, которое обеспечивает требуемьй размер освещающего пучка на образце (равный или превыша101ций в заданное количество раз размер неоднородности ) и которое может быть предварительно рассчитано по известным соотношени м или измерено экспериментально . Если же размер неоднородно- стей заранее неизвестен, то можно сначала, перемеща образец, установить соответствие размеров освещающего пучка и неоднородностей, наблюда картину дифракции пучка на образце , В случае, если освещающее п тна меньше или равно размеру неоднородности , распределение освещенности в продифрагировавшем пучке будет таким же, как и в падающем, т.е. равномерным.
В случае, если освещающий пучок много больше размера неоднородности он будет модулироватьс по фазе и амплитуде на образце, и в продифрагировавшем пучке по в тс флуктуации интенсивности, которых будет тем больше, чем больше отношение размера освещающего пучка к размеру неоднородности образца. Дифракционную картину можно наблюдать на-специально вводимом.экране или непо- средственно на поверхности фотоприемника , если зто допустимо.
На чертеже представлено, устройство дл измерени дифракционной эффетивности .
Оно состоит из источника 1 когерентного света, коллиматора 25апер- турной диафрагмы 3 персгменного диаметра , фокусирующего элемента 4, держател 5 исследуемого образца и фотоприемника 6, соединенного с ре- ги стрируюш м прибором 7 и установленного в направлении дифрагированной компоненты. Держатель с образцом 5 установлен в фокусе элемента А с возможностью перемещени вдоль оптической оси.
Claims (1)
1. Способ измерени дифракционно эффективности, заключающийс в освещении образца пучком когерентного света известной мощности, измерении мощности дифрагировавшей компоненты и вычислении их отношеми , о т л и ч а ю щ и и с тем, что, с цельк)
1
увеличени пространственного разрешени , noBbmieHHH чувствительности и расширени динамического диапазона измерений, освещающий пучок предва рительно расшир ют, формируют сход щийс пучок и помещают образец в его фокусе, после чего из услови разделени дифракционных компонент подбирают угол сходимости освещаю- щего пучка, а затем путем перемещени образца вдоль оптической оси системы и наблюдени картины дифракции за образцом подбирают оптимальные размеры сечени освещающего пучка на образце.
2, Устройство дл измерени дифракционной эффективности, содержащее
564
источник когерентного света, держатель исследуемого образца и фотоприемник , соединенный с регистрирующим прибором и установленный в направлении дифракции, о т л и ч а ю- щ е е с тем, что, с целью увеличени пространственного разрешени , повышени чувствительности и расширени динамического диапазона измерений , в него введены коллиматор с апертурной диафрагмой переменного диаметра и фиксирующий элемент,установленные между источником когерентного света и держателем исследуемого образца, а держатель установлен в фокусе фокусирующего элемента с возможностью перемещени вдоль оптической оси.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864053652A SU1345156A1 (ru) | 1986-04-11 | 1986-04-11 | Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864053652A SU1345156A1 (ru) | 1986-04-11 | 1986-04-11 | Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1345156A1 true SU1345156A1 (ru) | 1987-10-15 |
Family
ID=21232593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864053652A SU1345156A1 (ru) | 1986-04-11 | 1986-04-11 | Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1345156A1 (ru) |
-
1986
- 1986-04-11 SU SU864053652A patent/SU1345156A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Кольер Р., Беркхарт К., Лин Л. Оптическа голографи . М.: Мир, 1973, с.308-309. ЖНИПФиК, т.25, № 5, 1980, с.333. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1227946A (en) | Laser-doppler-anemometer | |
JPS6365922B2 (ru) | ||
JPH03140840A (ja) | 流動細胞分析装置 | |
US4744660A (en) | Apparatus for measuring difference in shallow level | |
CN111257226A (zh) | 基于偏振自相关的暗场共焦显微测量装置和方法 | |
US4171159A (en) | Optical homodyne microscope | |
GB1242574A (en) | A method of, and apparatus for, inspecting the shape of small objects | |
US5978083A (en) | Imaging and characterisation of the focal field of a lens by spatial autocorrelation | |
KR20210151709A (ko) | 간섭-산란 현미경 | |
US4705367A (en) | Variable focal length optical system having a constant diameter focal spot | |
US4745270A (en) | Photoelectric microscope using position sensitive device | |
US6794625B2 (en) | Dynamic automatic focusing method and apparatus using interference patterns | |
US4498770A (en) | Apparatus and method for determining the configuration of a reflective surface | |
CN110987357B (zh) | 二维聚焦激光差分干涉仪及平板边界层密度脉动测量方法 | |
CN116481983B (zh) | 一种基于偏振照明的同轴干涉散射显微成像装置及方法 | |
SU1345156A1 (ru) | Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени | |
CN112113514A (zh) | 一种波前信息的检测方法、装置以及系统 | |
CN107991209B (zh) | 一种激光粒度仪对中调整方法及机构 | |
US5453835A (en) | Multichannel acousto-optic correlator for time delay computation | |
US4212540A (en) | Testing the divergence of a beam from a laser | |
SU1712777A1 (ru) | Способ контрол формы вогнутых эллиптических поверхностей | |
JP2000509825A (ja) | 光走査デバイス | |
Kaule | Laser induced ultrasonic pulse testing | |
JPS6255542A (ja) | 光学系検査装置 | |
SU1645811A1 (ru) | Способ определени распределени крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей |