SU1661636A1 - Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов - Google Patents

Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов Download PDF

Info

Publication number
SU1661636A1
SU1661636A1 SU884612007A SU4612007A SU1661636A1 SU 1661636 A1 SU1661636 A1 SU 1661636A1 SU 884612007 A SU884612007 A SU 884612007A SU 4612007 A SU4612007 A SU 4612007A SU 1661636 A1 SU1661636 A1 SU 1661636A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
center
heating
thermophysical
inhomogeneity
path difference
Prior art date
Application number
SU884612007A
Other languages
English (en)
Inventor
Вальдемар Освальдович Ребони
Владимир Николаевич Шалин
Original Assignee
Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт "Электростандарт"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт "Электростандарт" filed Critical Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт "Электростандарт"
Priority to SU884612007A priority Critical patent/SU1661636A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1661636A1 publication Critical patent/SU1661636A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области исследовани  материалов, а именно к контролю их качества. Цель изобретени  - повышение точности контрол . Способ осуществл ют следующим образом. Пучком излучени , полученным от источника 1 и пропущенным через оптическую систему, нагревают участок поверхности 5 контролируемого материала. Двум  когеррентными пучками света освещают центр участка нагрева поверхности и ее периферийную область. Отраженные когеррентные пучки света, имеющие разность хода лучей из-за локальной тепловой деформации поверхности материала, попадают на фотоприемник 9, где интерферируют с преобразованием в электрический сигнал, который соответствует разности хода лучей и пропорционален величине тепловой деформации материала, характеризующей его теплофизическую неоднородность. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к исследованию материалов, а именно к контролю их качества .
Цель изобретени  - повышение точности контрол .
На чертеже показана оптическа  схема, реализующа  предлагаемый способ.
Способ осуществл ют следующим обра3JIM .
Пучком излучени , полученным от ис- точника 1 и проход щим через формирующую оптику 2, светоделитель 3 и фокусирующую ситему 4, нагревают участок поверхности 5 контролируемого материала. При наличии теплофизической неоднород- . ности на поверхности 5 возникает деформаци  из-за локального теплового расширени  материала. Одновременно с нагревом от источника 6 получают световой пучок, который пропускают через светоделитель 7 и преобразуют формирователем 8 в два когеррент- ных пучка, проход щих через светоделитель 3 и фокусирующую систему 4 таким образом, чтсГодин из них сфокусирован в центре участка нагрева, а другой - вне центра на периферийном рассто нии, определ емом длиной тепловой диффузии материала. Отражаемые от поверхности 5 когеррентные пучки света, имеющие разность хода лучей, проход т в обратном направлении через формирователь 8 и светоделитель 7 и попадают на фотоприемник 9, где интерферируют с преобразованием разности хода лучей в электрический сигнал, поступающий на регистратор 10. Электрический сигнал пропорционален разности высот центра участО
о
а
о со
О
ка нагрева и периферии поверхности материала , причем о наличии и характере тепло- физических неоднородностей суд т по величине этого сигнала.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ контрол  теплофизических неоднородностей материалов, включающий нагревание участка поверхности материала, освещение участка нагрева излучением, сфокусированным в точке, размещенной вне центра участка нагрева и регистрацию излучени , отраженного от поверхности ма0
    териала, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности контрол , поверхность материала дополнительно освещают излучением, сфокусированным в центре участка нагрева и когеррентным по отношению к излучению, сфокусированному вне центра участка нагрева, в процессе нагрева участка поверхности материала регистрируют разность хода лучей, отраженных от поверхности материала в центре и вне центра участка нагрева, а о наличии и характере теплофизических неоднородностей суд т по величине разности хода лучей.
SU884612007A 1988-12-05 1988-12-05 Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов SU1661636A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884612007A SU1661636A1 (ru) 1988-12-05 1988-12-05 Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884612007A SU1661636A1 (ru) 1988-12-05 1988-12-05 Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1661636A1 true SU1661636A1 (ru) 1991-07-07

Family

ID=21412316

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884612007A SU1661636A1 (ru) 1988-12-05 1988-12-05 Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1661636A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4203272A1 (de) * 1992-02-05 1993-08-12 Busse Gerd Prof Dr Rer Nat Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР №911382, кл. G 01 R 31/26, 1982. Патент US №4521118, кл. G01 N21/41, 1985. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4203272A1 (de) * 1992-02-05 1993-08-12 Busse Gerd Prof Dr Rer Nat Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE8301574L (sv) Apparat for optisk undersokning av foremal
KR920018502A (ko) 영상장치
KR850000669A (ko) 거리측정 시스템
RU94026774A (ru) Способ и устройство контроля стекла
KR880000771A (ko) 광학적 거리측정장치
KR840001719A (ko) 축외(軸外) 광 비임 결함 검출기
US4625103A (en) Automatic focusing device in microscope system
BR8803916A (pt) Sistema otico para determinar a curvatura ou a variacao de curvatura de um objeto em uma zona de pequeno diametro
SU1661636A1 (ru) Способ контрол теплофизических неоднородностей материалов
JPS6413403A (en) Interference length measuring apparatus
JPS6418070A (en) Detecting apparatus for voltage
KR960035741A (ko) 주사형 전자현미경
SU1241062A1 (ru) Лазерный измеритель линейных перемещений поверхности
JPS5764712A (en) Detector for focusing position
SU1226195A1 (ru) Устройство дл измерени градиента показател преломлени
SU1562689A1 (ru) Способ определени рассто ни до поверхности объекта и устройство дл его осуществлени
SU909637A1 (ru) Устройство дл интерферометрического измерени высоких скоростей смещени поверхности
JPS60211306A (ja) 縞走査シエアリング干渉測定装置における光学系調整方法
JPH11304640A (ja) 光学素子検査装置
SU1675663A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
SU1421996A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
SU953451A2 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
JPS5694244A (en) Quantitative apparatus for determining reaction product of antigen antibody utilizing laser light
SU1345156A1 (ru) Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени