SU1421996A1 - Способ измерени шероховатости поверхности издели - Google Patents

Способ измерени шероховатости поверхности издели Download PDF

Info

Publication number
SU1421996A1
SU1421996A1 SU874216978A SU4216978A SU1421996A1 SU 1421996 A1 SU1421996 A1 SU 1421996A1 SU 874216978 A SU874216978 A SU 874216978A SU 4216978 A SU4216978 A SU 4216978A SU 1421996 A1 SU1421996 A1 SU 1421996A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diffraction pattern
plane
surface roughness
under study
interference
Prior art date
Application number
SU874216978A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Викторович Сысоев
Original Assignee
Камский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Камский политехнический институт filed Critical Камский политехнический институт
Priority to SU874216978A priority Critical patent/SU1421996A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1421996A1 publication Critical patent/SU1421996A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к косвенным бесконтактным оптическим методам измерени  высоты шероховатости поверхности. Цель изобретени  - повышение чувствительности и точности измерени  за счет увеличени  соотношени  сигнал/шум. Луч лазера 1 раздел ют на два потока оптическим расщепителем 2, между ко;орым внос т оптическую разность хода, оба потока фокусируют линзой 3 и направл ют на исс, 1едуемую поверхность объекта 6 под углом ос. В плоскости 7 наблюдени , перпендикул рной лучу, отраженному от исследуеуой поверхности, наблюдают дифракционную картину, промо- дулированную интерференционными полосами . С помощью пространственного фильтра 5 выдел ют на дифракционной картине в диффузной области единичную интерференционную полосу. При перемещении объекта 6 с посто нной скоростью в направлении А, параллельном плоскости падени  луча лазера 1, происходит перераспределение интенсивности , света в диффузной зоне. Изменение интенсивности света единичной полосы за определенный промежуток времени фиксируют фотоприемником 4. Въ1ходной сигнал фотоприемника 4 пропорционален контрасту полос интерференции, по которому суд т о шероховатости поверхности объекта 6. 1 ил. S (Л

Description

4 NS
СО
со
О5
Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к косвенным бесконтактным оптическим методам измерени  высоты шероховатости поверхности, и может быть иснользовано во многих отрасл х народного хоз йства, в частности в прецизионном при- 5 боростроении.
Цель изобретени  - повышение чувствительности и точности измерени  за счет увеличени  соотношени  сигнал/шум.
На чертеже изображена принципиальна  ю схема устройства, реализующего способ измерени  шероховатости поверхности издели .
Устройство содержит лазер 1, оптический расщепитель 2, линзу 3, фотоприемник 4 и пространственный фильтр 5.
Способ осушествл етс  следующим образом .
Луч лазера 1 раздел ют на два потока оптическим расщепителем 2, между котосвета единичной полосы за определенный промежуток времени фиксируют фотоприемником 4. Выходной сигнал фотоприемника 4 пропорционален контрасту полос интерференции , который находитс  как отношение квадратов интенсивностей света при максимальном и минимальном сигналах, по которому и суд т о шероховатости поверхности объекта 6.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ изм-ерени  шероховатости поверхности издели , заключающийс  в том, что направл ют пучок когерентного излучени  на исследуемую поверхность, наблюдают t5 дифракционную картину в плоскости, перпендикул рной отраженному от исследуемой поверхности -пучку, выдел ют на дифракционной картине в диффузной зоне единичный элемент, перемещают изделие с посто нрыми внос т оптическую разность хода, оба п скоростью в направлении, параллель- потока фокусируют линзой 3 и направл ютном плоскости падени  пучка излучени , на исследуемую поверхность объекта 6 под углом а. В плоскости 7 наблюдени , перпендикул рной лучу, отраженному от исследуемой поверхности, наблюдают дифракционную картину, промодулированную 25 тем, что, с .целью повышени  чувствитель- интерференционными полосами. С помощью ности и точности измерени , раздел ют пространственного фильтра 5 выдел ют на направленный пучок когерентного излучени  дифракционной картине в диффузионной об- на два пучка, создают между ними раз- ласти единичную интерференционную полосу. ность хода, фокусируют оба пучка на по- При перемещени  объекта 6 с посто нной верхность исследуемого объекта, наблюдают скоростью в направлении А, параллельном 30 в плоскости дифракционной картины интерплоскости падени  луча лазера 1, происходит ференционные полосы, а в качестве единич- перераспределение интенсивности света в ного элемента выбирают единичную интер- дифф)узной зоне. Изменение интенсивности ференционную полосу.
    фиксируют изменение интенсивности света единичного элемента в течение заданного промежутка времени и определ ют шероховатость поверхности издели , отличаюш ийс 
    света единичной полосы за определенный промежуток времени фиксируют фотоприемником 4. Выходной сигнал фотоприемника 4 пропорционален контрасту полос интерференции , который находитс  как отношение квадратов интенсивностей света при максимальном и минимальном сигналах, по которому и суд т о шероховатости поверхности объекта 6.
    Формула изобретени 
    скоростью в направлении, параллель- ном плоскости падени  пучка излучени , тем, что, с .целью повышени  чувствитель- ности и точности измерени , раздел ют направленный пучок когерентного излучени  на два пучка, создают между ними раз- ность хода, фокусируют оба пучка на по- верхность исследуемого объекта, наблюдают в плоскости дифракционной картины интерференционные полосы, а в качестве единич- ного элемента выбирают единичную интер- ференционную полосу.
    фиксируют изменение интенсивности света единичного элемента в течение заданного промежутка времени и определ ют шероховатость поверхности издели , отличаюш ийс 
SU874216978A 1987-03-31 1987-03-31 Способ измерени шероховатости поверхности издели SU1421996A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874216978A SU1421996A1 (ru) 1987-03-31 1987-03-31 Способ измерени шероховатости поверхности издели

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874216978A SU1421996A1 (ru) 1987-03-31 1987-03-31 Способ измерени шероховатости поверхности издели

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1421996A1 true SU1421996A1 (ru) 1988-09-07

Family

ID=21293514

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874216978A SU1421996A1 (ru) 1987-03-31 1987-03-31 Способ измерени шероховатости поверхности издели

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1421996A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114754707A (zh) * 2022-04-18 2022-07-15 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) 一种红外探测芯片的平整度检测方法及水平检测台

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Франсон М. Оптика спеклов. Пер. под ред. проф. Ю. И. Островского..: Мир, 1980, с. 130-136. Авторское свидетельство СССР № 1040895, кл. G 01 В 11/30, 1984. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114754707A (zh) * 2022-04-18 2022-07-15 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) 一种红外探测芯片的平整度检测方法及水平检测台
CN114754707B (zh) * 2022-04-18 2024-01-30 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) 一种红外探测芯片的平整度检测方法及水平检测台

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1225720A (zh) 光学测量
US4397550A (en) Laser doppler velocimeter
SU1421996A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели
JPS63144206A (ja) 物体位置の測定方法
KR20050000751A (ko) 광픽업용 액추에이터의 부공진 측정 장치
JPS63193003A (ja) 凹部深さ・膜厚測定装置
JPH0290037A (ja) レーザ多焦点法による粒子の速度,径,屈折率の同時測定システム
JPS63229309A (ja) 微細パタ−ンの深さ測定方法及びその装置
SU1619023A1 (ru) Способ определени шероховатости поверхности издели
SU909637A1 (ru) Устройство дл интерферометрического измерени высоких скоростей смещени поверхности
US4529310A (en) Device for detection of center of rotation of rotating object
SU1241062A1 (ru) Лазерный измеритель линейных перемещений поверхности
JPS61130887A (ja) レ−ザ−ドツプラ−速度計
JPH11281313A (ja) 白色光のヘテロダイン干渉法
SU1675663A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
SU1698640A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели
JPS6033003A (ja) 形状測定装置
JPS63148106A (ja) 物体位置測定装置
RU2148790C1 (ru) Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей
SU1040895A1 (ru) Способ измерени шероховатости изделий
EP0050144A1 (en) Method for measuring physical parameters of a mobile body, characteristics of its movement and its surface.
SU1441188A1 (ru) Гетеродинный интерференционный способ измерени перемещений
RU1768967C (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
RU2023254C1 (ru) Устройство для определения скорости и размеров частиц
RU1770739C (ru) Устройство дл измерени угловых перемещений объекта