SU1619023A1 - Способ определени шероховатости поверхности издели - Google Patents

Способ определени шероховатости поверхности издели Download PDF

Info

Publication number
SU1619023A1
SU1619023A1 SU884418851A SU4418851A SU1619023A1 SU 1619023 A1 SU1619023 A1 SU 1619023A1 SU 884418851 A SU884418851 A SU 884418851A SU 4418851 A SU4418851 A SU 4418851A SU 1619023 A1 SU1619023 A1 SU 1619023A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
product
roughness
measured
optical path
path difference
Prior art date
Application number
SU884418851A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Викторович Сысоев
Original Assignee
Камский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Камский политехнический институт filed Critical Камский политехнический институт
Priority to SU884418851A priority Critical patent/SU1619023A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1619023A1 publication Critical patent/SU1619023A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к бесконтактным оптическим методам измерени  высоты шероховатости поверхности и может быть использовано во многих отрасл х народного хоз йства, в частности в прецизионном приборостроении Цель изобретени  - обеспечение возможности определени  шероховатости изделий любой формы за счет создани  неизменного рассто ни  от поверхности измер емого участка издели  до плоскости наблюдени  Изделие оставл ют неподвижным и производ т сканирование оптической разности хода во времени с помощью сканирующего микроскопа измен ющего вносимую оптическую разность хода между пучками на величину, равную или большую длине волны излучени  замер ют изменение интенсивности единичной интерференционной полосы и по ее контрасту суд т о шероховатости издели  1 ил

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к бесконтактным оптическим методам измерени  высоты шероховатости поверхности, и может быть использовано во многих отрасл х народного хоз йства, в частности в прецизионном приборостроении
Цель изобретени  - обеспечение возможности определени  шероховатости изделий любой формы за счет создани  неизменного рассто ни  от поверхности измер емого участка издели  до плоскости наблюдени 
На чертеже изображена принципиальна  схема устройства, реализующего способ определени  шероховатости поверхности издели 
Устройство содержит лазер 1, сканирующий интерферометр 2 пьезоэлемент 3, блок 4 управлени  пьезозлементом 3 линзу 5, узел б наблюдени  пространственный фильтр 7 и фотоприемник 8
Предлагаемый способ осуществл етс  следующим образом
Луч лазера 1 направл ют в сканирующий интерферометр 2 который раздел ет его на две части и вносит между ними оптическую разность хода Вышедшее из сканирующего интерферометра 2 излучение фокусируют на поверхности издели  9 под углом а В плоскости узла 6 наблюдени , перпендикул рной лучу, отраженному от исследуемой поверхности, наблюдают дифракционную картину промодулирсванную интерференционными полосами С помощью пространственного фильтра 7 выдел ют на дифракционной картине в диффузной области единичную полосу, световой поток в которой измер ют с помощью фотоприемника 8 Измен ют с помощью сканирующего интерферометра 2 вносимую
О
оптическую разность хода и измер ют сиг- мал с фотоприемника 8, наход т контраст единичной полосы по формуле
- 1
МИН
1
+ U
Г
где IMBKC и 1Мин сигналы с фотоприемника. По контрасту единичной полосы суд т о шероховатости издели  9.

Claims (1)

  1. , Формула изобретени 
    Способ определени  шероховатости поверхности издели , заключающийс  в том, что направл ют пучок когерентного излучени  на исследуемую поверхность, дел т его на два пучка, создают между ними оптическую разность хода, фокусируют оба пучка на поверхность исследуемого объекта,
    наблюдают в плоскости, перпендикул рной отраженному от исследуемой поверхности пучку, интерференционные полосы, выдел ют с помощью пространственного фильтра
    единичную интерференционную полосу, производ т сканирование разности хода, фиксируют изменение интенсивности единичной полосы и по ее контрасту определ ют шероховатость поверхности издели ,
    отличающийс  тем, что, с целью обеспечени  возможности определени  шероховатости изделий любой формы за счет создани  неизменного рассто ни  от поверхности измер емого участка издели 
    до плоскости наблюдени , оставл ют изделие неподвижным, а сканирование разности хода производ т во времени на величину, равную или большую длине волны излучени .
    7
SU884418851A 1988-05-03 1988-05-03 Способ определени шероховатости поверхности издели SU1619023A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884418851A SU1619023A1 (ru) 1988-05-03 1988-05-03 Способ определени шероховатости поверхности издели

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884418851A SU1619023A1 (ru) 1988-05-03 1988-05-03 Способ определени шероховатости поверхности издели

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1619023A1 true SU1619023A1 (ru) 1991-01-07

Family

ID=21372256

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884418851A SU1619023A1 (ru) 1988-05-03 1988-05-03 Способ определени шероховатости поверхности издели

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1619023A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6084672A (en) * 1997-09-16 2000-07-04 Polytec Gmbh Device for optically measuring an object using a laser interferometer

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1421996, кл G01 В 11/30,31 0388 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6084672A (en) * 1997-09-16 2000-07-04 Polytec Gmbh Device for optically measuring an object using a laser interferometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5565986A (en) Stationary optical spectroscopic imaging in turbid objects by special light focusing and signal detection of light with various optical wavelengths
US4340306A (en) Optical system for surface topography measurement
US4422764A (en) Interferometer apparatus for microtopography
US4160598A (en) Apparatus for the determination of focused spot size and structure
JP3642996B2 (ja) 光干渉法による測定対象物の屈折率と厚さの同時測定方法及びそのための装置
US4131365A (en) Method and apparatus for determining object position and dimension using a diffraction wave
EP0226658A1 (en) Method and arrangement for optically determining surface profiles
US7209238B2 (en) Interferometer arrangement and interferometric measuring method
US4813782A (en) Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head
US5285261A (en) Dual interferometer spectroscopic imaging system
US7079256B2 (en) Interferometric optical apparatus and method for measurements
US4009965A (en) Method and apparatus for determining object dimension and other characteristics using diffraction waves
US4848908A (en) Optical heterodyne roughness measurement system
US4222669A (en) Interferometer for determining the shape of an object
US4747688A (en) Fiber optic coherence meter
SU1619023A1 (ru) Способ определени шероховатости поверхности издели
KR100503007B1 (ko) 광픽업용 액추에이터의 부공진 측정 장치
US7483149B2 (en) Optical measuring device for measuring curved surfaces
Huang et al. Slope measurement by two-wavelength electronic shearography
JP3333236B2 (ja) 光学式表面形状測定装置
KR20070058516A (ko) 측정 대상물을 측정하기 위한 거울 장치를 포함하는 간섭측정 장치
RU1810751C (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели
JPH11281313A (ja) 白色光のヘテロダイン干渉法
SU1421996A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели
US4637724A (en) Shearing interferometer employing an acousto-optic cell