SU1619023A1 - Способ определени шероховатости поверхности издели - Google Patents
Способ определени шероховатости поверхности издели Download PDFInfo
- Publication number
- SU1619023A1 SU1619023A1 SU884418851A SU4418851A SU1619023A1 SU 1619023 A1 SU1619023 A1 SU 1619023A1 SU 884418851 A SU884418851 A SU 884418851A SU 4418851 A SU4418851 A SU 4418851A SU 1619023 A1 SU1619023 A1 SU 1619023A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- product
- roughness
- measured
- optical path
- path difference
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к бесконтактным оптическим методам измерени высоты шероховатости поверхности и может быть использовано во многих отрасл х народного хоз йства, в частности в прецизионном приборостроении Цель изобретени - обеспечение возможности определени шероховатости изделий любой формы за счет создани неизменного рассто ни от поверхности измер емого участка издели до плоскости наблюдени Изделие оставл ют неподвижным и производ т сканирование оптической разности хода во времени с помощью сканирующего микроскопа измен ющего вносимую оптическую разность хода между пучками на величину, равную или большую длине волны излучени замер ют изменение интенсивности единичной интерференционной полосы и по ее контрасту суд т о шероховатости издели 1 ил
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к бесконтактным оптическим методам измерени высоты шероховатости поверхности, и может быть использовано во многих отрасл х народного хоз йства, в частности в прецизионном приборостроении
Цель изобретени - обеспечение возможности определени шероховатости изделий любой формы за счет создани неизменного рассто ни от поверхности измер емого участка издели до плоскости наблюдени
На чертеже изображена принципиальна схема устройства, реализующего способ определени шероховатости поверхности издели
Устройство содержит лазер 1, сканирующий интерферометр 2 пьезоэлемент 3, блок 4 управлени пьезозлементом 3 линзу 5, узел б наблюдени пространственный фильтр 7 и фотоприемник 8
Предлагаемый способ осуществл етс следующим образом
Луч лазера 1 направл ют в сканирующий интерферометр 2 который раздел ет его на две части и вносит между ними оптическую разность хода Вышедшее из сканирующего интерферометра 2 излучение фокусируют на поверхности издели 9 под углом а В плоскости узла 6 наблюдени , перпендикул рной лучу, отраженному от исследуемой поверхности, наблюдают дифракционную картину промодулирсванную интерференционными полосами С помощью пространственного фильтра 7 выдел ют на дифракционной картине в диффузной области единичную полосу, световой поток в которой измер ют с помощью фотоприемника 8 Измен ют с помощью сканирующего интерферометра 2 вносимую
О
оптическую разность хода и измер ют сиг- мал с фотоприемника 8, наход т контраст единичной полосы по формуле
- 1
МИН
1
+ U
Г
где IMBKC и 1Мин сигналы с фотоприемника. По контрасту единичной полосы суд т о шероховатости издели 9.
Claims (1)
- , Формула изобретениСпособ определени шероховатости поверхности издели , заключающийс в том, что направл ют пучок когерентного излучени на исследуемую поверхность, дел т его на два пучка, создают между ними оптическую разность хода, фокусируют оба пучка на поверхность исследуемого объекта,наблюдают в плоскости, перпендикул рной отраженному от исследуемой поверхности пучку, интерференционные полосы, выдел ют с помощью пространственного фильтраединичную интерференционную полосу, производ т сканирование разности хода, фиксируют изменение интенсивности единичной полосы и по ее контрасту определ ют шероховатость поверхности издели ,отличающийс тем, что, с целью обеспечени возможности определени шероховатости изделий любой формы за счет создани неизменного рассто ни от поверхности измер емого участка изделидо плоскости наблюдени , оставл ют изделие неподвижным, а сканирование разности хода производ т во времени на величину, равную или большую длине волны излучени .7
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884418851A SU1619023A1 (ru) | 1988-05-03 | 1988-05-03 | Способ определени шероховатости поверхности издели |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884418851A SU1619023A1 (ru) | 1988-05-03 | 1988-05-03 | Способ определени шероховатости поверхности издели |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1619023A1 true SU1619023A1 (ru) | 1991-01-07 |
Family
ID=21372256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884418851A SU1619023A1 (ru) | 1988-05-03 | 1988-05-03 | Способ определени шероховатости поверхности издели |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1619023A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6084672A (en) * | 1997-09-16 | 2000-07-04 | Polytec Gmbh | Device for optically measuring an object using a laser interferometer |
-
1988
- 1988-05-03 SU SU884418851A patent/SU1619023A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1421996, кл G01 В 11/30,31 0388 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6084672A (en) * | 1997-09-16 | 2000-07-04 | Polytec Gmbh | Device for optically measuring an object using a laser interferometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5565986A (en) | Stationary optical spectroscopic imaging in turbid objects by special light focusing and signal detection of light with various optical wavelengths | |
US4340306A (en) | Optical system for surface topography measurement | |
US4422764A (en) | Interferometer apparatus for microtopography | |
US4160598A (en) | Apparatus for the determination of focused spot size and structure | |
JP3642996B2 (ja) | 光干渉法による測定対象物の屈折率と厚さの同時測定方法及びそのための装置 | |
US4131365A (en) | Method and apparatus for determining object position and dimension using a diffraction wave | |
EP0226658A1 (en) | Method and arrangement for optically determining surface profiles | |
US7209238B2 (en) | Interferometer arrangement and interferometric measuring method | |
US4813782A (en) | Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head | |
US5285261A (en) | Dual interferometer spectroscopic imaging system | |
US7079256B2 (en) | Interferometric optical apparatus and method for measurements | |
US4009965A (en) | Method and apparatus for determining object dimension and other characteristics using diffraction waves | |
US4848908A (en) | Optical heterodyne roughness measurement system | |
US4222669A (en) | Interferometer for determining the shape of an object | |
US4747688A (en) | Fiber optic coherence meter | |
SU1619023A1 (ru) | Способ определени шероховатости поверхности издели | |
KR100503007B1 (ko) | 광픽업용 액추에이터의 부공진 측정 장치 | |
US7483149B2 (en) | Optical measuring device for measuring curved surfaces | |
Huang et al. | Slope measurement by two-wavelength electronic shearography | |
JP3333236B2 (ja) | 光学式表面形状測定装置 | |
KR20070058516A (ko) | 측정 대상물을 측정하기 위한 거울 장치를 포함하는 간섭측정 장치 | |
RU1810751C (ru) | Способ измерени шероховатости поверхности издели | |
JPH11281313A (ja) | 白色光のヘテロダイン干渉法 | |
SU1421996A1 (ru) | Способ измерени шероховатости поверхности издели | |
US4637724A (en) | Shearing interferometer employing an acousto-optic cell |