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FI2817611T3
(fi)
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Kriittisen kulman optinen anturilaitteisto
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CN201569419U
(zh)
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一种快速表面质量测量装置
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TWI830782B
(zh)
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厚度測量裝置
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TWI677404B
(zh)
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研磨裝置
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JP2006522934A
(ja)
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欠陥に関する透明な基板の検査
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JP2011143488A
(ja)
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厚み検出装置および研削機
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CN109855570B
(zh)
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一种基于光隙法的直线度误差测量装置及其使用方法
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TW202014673A
(zh)
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加工裝置以及放電加工裝置
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CN113964052A
(zh)
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晶圆厚度实时测量装置
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CN104034272B
(zh)
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一种宽光谱光干涉法测量薄膜厚度的系统
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SU156715A1
(GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html)
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CN110455505A
(zh)
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一种镜片偏芯测量仪
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CN110530821B
(zh)
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一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法
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TW202328635A
(zh)
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計測裝置
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JP2011180113A
(ja)
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ダイアモンド状カーボン薄膜の膜厚と屈折率の計測
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CN104897078B
(zh)
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一种基于可见光反射光谱特性的超精密车削加工表面三维微观形貌的测量方法
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KR102257311B1
(ko)
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분광 측정 장치의 측정 헤드 정렬 장치
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JPH082596Y2
(ja)
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偏光顕微鏡試料作製機用偏光照明付き薄片試料研磨ホルダー
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JPS55101002A
(en)
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Inspecting method for mirror face body
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JP5574226B2
(ja)
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干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置
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CN220438624U
(zh)
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一种检测镜组装置
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CN114234828B
(zh)
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一种高温应变测量装置
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RU2547346C1
(ru)
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Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него
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SU1283521A1
(ru)
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Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов
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SU844995A1
(ru)
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Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли
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