SU1462424A1 - Device with self-check for delaying digital information - Google Patents
Device with self-check for delaying digital information Download PDFInfo
- Publication number
- SU1462424A1 SU1462424A1 SU874310457A SU4310457A SU1462424A1 SU 1462424 A1 SU1462424 A1 SU 1462424A1 SU 874310457 A SU874310457 A SU 874310457A SU 4310457 A SU4310457 A SU 4310457A SU 1462424 A1 SU1462424 A1 SU 1462424A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- inputs
- information
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть использовано в устройствах цифровой задержки информации. Целью изобретени Явл етс повышение надежности устройства . Повышение -надежности достигаетс за счет хранени информации в каждой чейке накопител с максимально возможной дл нее точностью, не завис щей от состо ни остальных чеек накопител . При этом старшие разр ды информационного слова по каждому адресу хран тс в чейке накопител 6 или 7, что определ етс работоспособностью чейки соответствующего накопител . Признак, указывающий на положение старшей части слова дл каждой чейки накопителей 6 и 7, хранитс в накопителе 8. 1 ил. G SThe invention relates to computing and can be used in digital information delay devices. The aim of the invention is to improve the reliability of the device. Increased reliability is achieved by storing information in each cell of a storage device with the maximum possible accuracy for it, regardless of the state of the remaining storage cells. At the same time, the higher bits of the information word for each address are stored in the cell 6 or 7, which is determined by the efficiency of the cell of the corresponding accumulator. A sign indicating the position of the highest part of the word for each cell of the accumulators 6 and 7 is stored in the accumulator 8. 1 Il. G S
Description
16sixteen
слcl
сwith
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть исполь- зовано в устройствах цифровой .задержки информации.The invention relates to computing and can be used in digital information delay devices.
Целью изобретени вл етс повышение надежности устройства, заключающеес в том, что кажда чейка на колител хранитсвою информацию с максимально возможной дл данной чейки точностью, не завис щей от состо ни остальных чеек накопител The aim of the invention is to increase the reliability of the device, which consists in the fact that each cell on the colitiser stores its information with the maximum possible accuracy for the cell, independent of the state of the remaining cells in the storage device.
На чертеже приведена структурна схема устройства.The drawing shows a block diagram of the device.
Устройство содержит пефвый 1 и второй 2 блоки свертки, входной коммутатор 3, элемент ИЛИ 4 счетчик 5 адреса 5 первый - третий 6-8 накопители , выходной регистр 9, D-триг- гер 10/ третий блок 11 свертки, первый блок 12 сравнени , четвертый блок 13 свертки, второй блок. 14 сравнени , выходной коммутатор 15, вход 16 синхронизации, информационные входы старших 17 и младших 18 разр дов, информационные выходы 19 и выходы 20 сигнала ошибки старших разр дов, информационные выходы 21 и выход 22 сигнала ошибки младших разр дов.The device contains pefvy 1 and second 2 convolution blocks, input switch 3, element OR 4 counter 5 addresses 5 first - third 6-8 drives, output register 9, D-flip-flop 10 / third convolution block 11, first comparison block 12, the fourth convolution block 13, the second block. 14 comparisons, output switch 15, synchronization input 16, information inputs of higher 17 and lower 18 bits, information outputs 19 and outputs 20 of the high bit error signal, information outputs 21 and output 22 of the low bit error signal.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
На информационные входы 17 и 18 устройства поступает последовательность информационных слоЕ1, сопровождаема синхроимпульсами на входе 16 синхронизации устройства причем во врем первой половины такта происходит чтение информации из чейки накопител , записанной К тактов назад, а во врем второй - запись информации в эту же чейку, котора , в свою очередь, будет считана через К тактов . Величина задержки К определ етс коэффициентом пересчета счетчика 5, который под воздействием синхроимпульсов последовательно перебирает адреса накопителей 6-8.The information inputs 17 and 18 of the device receive a sequence of information layers E1, followed by sync pulses at the input 16 of the device synchronization, during which the first half of the clock reads information from the storage cell recorded to the clock back, and during the second half writes information to the same cell, which , in turn, will be read through K cycles. The magnitude of the delay K is determined by the conversion factor of the counter 5, which, under the influence of the clock pulses, sequentially iterates over the addresses of the accumulators 6–8.
Старшие и младшие разр ды записываютс в накопители 6 и 7 вместе с соответствующими контрольными разр дами , которые вьгаисл ютс первым 1 и вторым 2 блоками свертки как сумма по модулю р. Считанна из накопителей информаци вместе с контрольными разр дами записываетс в выходной регистр 9.,The high and low bits are written to the accumulators 6 and 7 together with the corresponding control bits, which are calculated by the first 1 and second 2 convolution blocks as a sum modulo p. The information read from the accumulators together with the control bits is written to the output register 9.
Третий 11 и четвертый 13 блоки свертки вместе с первым 12 и вторым, 14 блоками сравнени вырабатываютThe third 11 and fourth 13 convolution blocks, together with the first 12 and second, 14 comparison blocks, produce
00
5five
00
5five
00
5five
00
5five
00
5five
сигналы об ошибках в старшем и младшем полусловах.error signals in the senior and junior half-words.
При отсутствии отказов в накопител х 6 и 7 входной 3 и выходной 15 коммутаторы передают на свои выходы информацию без перекоммутации, т,е. старшие разр ды занос тс в накопитель 6, младшие - в накопитель 7. После задержки старшие разр ды поступают на выход 19, младшие - на выход 21 .In the absence of failures in accumulators x 6 and 7, input 3 and output 15 switches transfer information to their outputs without re-switching, i, e. the higher bits are pushed into accumulator 6, the lower ones - into accumulator 7. After a delay, the higher bits go to exit 19, the younger ones to exit 21.
В случае отказа некоторой чейки накопител 6, в которой хран тс старшие разр ды, на выходе первого блока 12 сравнени по витс сигнал 1, свидетельствующий об отказе. Этот сигнал будет записан, в следующем полутакте записи в третий, одноразр дный , накопитель 8. Одновременно с этим произойдет запись разр дов входного информационного слова по этому же адресу в накопители 6 и 7, По вление ц управл ющем входе входного коммутатора 3 сигнала 1 вызовет переключение коммутатора 3. Б результате старшие разр ды слова будут записаны в чейку второго накопител 7, а младшие - в чейку первого накопител 6, где в предыдущем полутакте чтени по этому же адресу бьша обнаружена неисправность.In the event of a failure of a certain cell of the accumulator 6, in which the most significant bits are stored, the output of the first comparison unit 12 is a signal 1, indicating a failure. This signal will be recorded, in the next half-cycle of writing to the third, one-bit, drive 8. At the same time, the bits of the input information word will be written to the drives 6 and 7 at the same address. The appearance of the control input of the input switch 3 of signal 1 will cause switching of switch 3. As a result, the higher bits of the word will be written into the cell of the second accumulator 7, and the low bits - into the cell of the first accumulator 6, where a fault was detected at the same address in the previous half-cycle of reading.
Таким образом, каждой чейке на- копител 6 поставлена в соответствие- чейка одноразр дного накопител 8 с таким же адресом, в которой хранитс информаци о работоспособности соответствующей чейки накопител 6. Если в чейке накопител 8 хранитс ноль, то соответствующа чейка накопител .6 исправна и в ней будут хранитьс старшие разр ды. Если же в чейке накопител 8 хранитс единица, то в соответствующей чейке накопител 6 существует неисправность и в нее будут заноситьс младшие разр ды, в то врем как старшие разр ды будут записаны в соответствующую исправную чейку накопител 7,Thus, each cell of the accumulator 6 is assigned to a single-bit storage unit 8 with the same address where the operability of the corresponding storage unit 6 is stored. If the storage location of the storage unit 8 is zero, then the corresponding storage location of the storage unit 6 is healthy and it will store the highest bits. If a unit is stored in cell 8 of the accumulator 8, then a malfunction exists in the corresponding cell of the accumulator 6 and the lower bits will be entered into it, while the higher bits will be recorded in the corresponding serviceable cell of the accumulator 7,
В этом случае при чтении в D-триг- гер 10 из накопител 8 будет считыватьс единица, котора будет управл ть переключением выходного коммутатора , дл восстановлени правильного местоположени младших и старших разр дов. Кроме того, этот сигнал через элемент ИЛИ 4 будет управл ть записью следующего слова в этуIn this case, when reading into D-flip-flop 10 from accumulator 8, the unit that will control the switching of the output switch will be read to restore the correct location of the low and high bits. In addition, this signal, via the OR 4 element, will control the writing of the next word in this
же чейку накопителей 6 и 7 в перекоммутированном виде, т.е. вместо старших разр дов в накопитель 6 будут вновь записаны младшие разр ды. Коммутаторы 3 и 15 коммутируют информацию вместе с соответствующими контрольными разр дами.the same cell of the drives 6 and 7 in the rewired form, i.e. instead of the higher bits, the lower bits will be re-recorded in drive 6. Switches 3 and 15 commute the information together with the corresponding test bits.
, Таким образом, за счет введени в устройство задержки цифровой информации дополнительного накопител элемента ИЛИ и D-триггера обеспечиваетс сохранение в устройстве старших разр дов информации при возникновении отказа, что приводит к увеличению надежности устройства.Thus, by introducing into the delay device digital information an additional accumulator of the OR element and a D-flip-flop, the device saves the higher bits of information in the event of a failure, which leads to an increase in the reliability of the device.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874310457A SU1462424A1 (en) | 1987-09-28 | 1987-09-28 | Device with self-check for delaying digital information |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874310457A SU1462424A1 (en) | 1987-09-28 | 1987-09-28 | Device with self-check for delaying digital information |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1462424A1 true SU1462424A1 (en) | 1989-02-28 |
Family
ID=21329418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874310457A SU1462424A1 (en) | 1987-09-28 | 1987-09-28 | Device with self-check for delaying digital information |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1462424A1 (en) |
-
1987
- 1987-09-28 SU SU874310457A patent/SU1462424A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 556495, кл. С;П С 11/00, 1977. Авторское свидетельство СССР № 1383324, кл. G 11 С 1-9/00, 1987. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1462424A1 (en) | Device with self-check for delaying digital information | |
SU1075312A1 (en) | Storage with error correction | |
SU1392594A1 (en) | Single-bit stack | |
SU842957A1 (en) | Storage device | |
SU1137538A1 (en) | Reversed scratch-pad memory device | |
SU1302329A1 (en) | Storage with self-checking | |
SU1129658A1 (en) | Redundant storage | |
SU1571683A1 (en) | Permanent memory with self-diagnosis | |
SU1325569A1 (en) | Dynamic memory with error correction | |
RU1837364C (en) | Self-correcting random access memory | |
SU1396160A1 (en) | Storage with self-check testing | |
SU1251188A1 (en) | Storage with self-checking | |
SU744738A1 (en) | Self-checking rapid-access storage | |
SU1725261A1 (en) | Memory device with off-line control | |
SU1195391A1 (en) | Redundant storage | |
SU556494A1 (en) | Memory device | |
SU1368922A1 (en) | Self-check digital data delay unit | |
SU653624A1 (en) | Rapid-access storage | |
SU1215133A1 (en) | Three-channel redundant storage | |
SU1383322A1 (en) | Device for delaying digital information | |
SU526023A1 (en) | Memory device | |
SU824319A1 (en) | Self-checking storage | |
SU1022224A1 (en) | Dynamic storage with self-check | |
SU645208A1 (en) | Self-checking storage | |
SU936033A1 (en) | Self-checking storage |