SU1444779A1 - Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков - Google Patents

Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков Download PDF

Info

Publication number
SU1444779A1
SU1444779A1 SU874190946A SU4190946A SU1444779A1 SU 1444779 A1 SU1444779 A1 SU 1444779A1 SU 874190946 A SU874190946 A SU 874190946A SU 4190946 A SU4190946 A SU 4190946A SU 1444779 A1 SU1444779 A1 SU 1444779A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
group
inputs
output
input
outputs
Prior art date
Application number
SU874190946A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Алексеевич Кизуб
Сергей Николаевич Никифоров
Original Assignee
Ленинградский инженерно-строительный институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский инженерно-строительный институт filed Critical Ленинградский инженерно-строительный институт
Priority to SU874190946A priority Critical patent/SU1444779A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1444779A1 publication Critical patent/SU1444779A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области автоматики и вычислительной техники и может быть использовано при технической диагностике дискретных объектов . Целью изобретени   вл етс  повышение быстродействи  устройства. С этой целью в устройство, содержащее генератор тактовых импульсов, генератор тестов, коммутатор, группу схем сравнени , группу переключателей, группу счетчиков, блок индикации и элемент ИЛИ, введены две группы элементов ИЛИ. 2 ил. с S

Description

4j
со
Изобретение относитс  к области втоматики и вычислительной техники и может быть использовано при технической диагностике дискретных объ- актов. .
Целью изобретени   вл етс  повышение- быстродействи  устройства.
На фиг. 1 представлен функциональна  схема устройства; на фиг. 2 - Q принцип соединени  входов и выходов коммутатора.
Устройство содержит п контролируемых логических блоков 1, генератор 2 тестов, генератор 3 тактовых импульсов, группу из m схем 4 сравнени , коммутатор 5, блок 6 индикации, п переключателей 7, элемент 8 ИЛИ, группу п счетчиков 9, группу из п элементов И 10, группу из п дополни- 20 тельных элементов И 11, генератор 2 тестов выполнен, например, в виде q-разр дного рекуррентного регистра максимальной длины.
Коммутатор 5 обеспечивает комму- 25
тацию таким образом, что в первой
схеме 4 сравнени  сравниваютс  выходные сигналы всех первых выходов диагностируемых логических блоков 1, во второй схеме 4 сравнени  - всех вто- зО рых и т.д., т.е. сравниваютс  сигналы идентичных выходов.
Указанный закон коммутации по снен на фиг. 2. Простейший коммутатор подобного типа может быть выполнен на коммутационных разъемах, ответные части (где собственно и выполнена коммутаци ) которых измен ютс  в за- висимости от типа диагностируемых Ло- гичесгих блоков 1.4Q
Устройство работает следующим образом .
Все п счетчиков 9 устанавливаютс  в исходное состо ние, дл  чего все п переключателей 7 устанавливаютс  в 45 положение, при котором отрицательный потенциал подаетс  на установочные входы п счетчиков 9 непосредственно и через п дополнительных элементов И 11 на входы m схем 4 сравнени . -п
Затем все п переключателей 7 устанавливаютс  в положение, при котором подаетс  положительный потенциал на установочные входы п счетчиков 9 и У первые входы п элементов И 11, так как на вторые входы этих же элементов поступает положительный потенциал с инверсных выходов переполнени  соответствующих счетчиков 9, то с вы
35
55
0
5
О
Q
5 п
5
5
ходов и 1J на разрешающие входы m схем 4 сравнени  и п элементов И 10 также поступает положительный потенциал .
После этого осуществл етс  пуск генератора 3 тактовых импульсов. Ге- нератор 3 начинает вьфабатьтать сигналы тактовой частоты, которые поступают на входы генератора 2 тестов и и счетчиков 9 через соответствующие элементы И 10. Генератор 2 тестов выдает тестовые воздействи  на входы диагностируемых логических блоков 1, выходные которых через коммутатор 5 поступают на входы схем 4 сравнени .
Если на каком-либо k-м выходе JDO- бого из п диагностируемых логических блоков 1 на i-M такте по вл етс  сигнал , не совпадающий с сигналами k-x выходов остальных (п-Т) логических блоков 1, то срабатьшает k-  из m схем 4 сравнени .
Выходной сигнал k-й схемы 4 сравнени  через элемент 8 производит останов генератора 3 тактовых импульсов , прекраща  тактирование уст- ройсТ ч, При этом счетчики 9 фиксируют номер такта, на котором заре- гис трировано несовпадение вькодных сигналов диагностируемых блоков 1, а блок 6 индикации индицирует код тестового сигнала генератора 2 тестов . Так как состо ние всего устройства зафиксировано в момент несовпадени  выходных сигналов логических: блоков 1, то на их выходах Сохранк- лись логические сигналы (О или 1), характеризующие состо ние каждого из п логических блоков 1. Эти сигналы представл ютс  оператору в виде п га-мерных выходных двоичных кодов блока.6 индикации. Сравнива  эти коды, индицированные, например , с помощью светодиодов, поразр дно один под другим, оператор устанавливает код,а следовательно, и номер диагностируемого логического блока .1, который отличен от других;. При этом процесс обнаружени  неисправного блока может быть основан на использовании эталонного логического блока 1, либо на мажоритарном принципе.
Определив таким образом неиспрар- ный j-й логический блок 1, а по коду тестового сигнала и тип дефекта, оператор отключает его с помощью
j-го переключател  7, Переключение j-ro переключател  7 обеспечивает пдачу отрицательного потенциала на установочный вход j-ro счетчика 9. В результате чего производитс  сбро j-ro счетчика 9 и через j -ые элементы 7, И 10 запрещаетс  поступление тактовых импульсов в j-й счетчик 9. Кроме того, j-й переключатель 7 осуществл ет перестроение всех схем 4 сравнени  из п-входовых в (п-1)- входовые схемы, что необходимо в случае продолжени  работы устройства без j-ro логического блока 1 или при диагностировании группы логических блоков 1 меньшей, чем п.
После этого оператор запускает генератор 3 тактовых импульсов и диагностирование оставшихс  п-Г логических блоков 1 продолжаетс . Параллельно оператор извлекает логический блок 1, в котором обнаружен дефект , и на его место устанавливает другой. Подключение этого нового логического блока 1 осуществл етс  переключением j-ro переключател  7 в положение, когда положительный потенциал подаетс  на соответствующие входы управлени  схем 4 сравнени  и установочный вход j-ro счетчика 9, а также разрешаетс  поступление тактовых импульсов с генартора 3 в j-й счетчик 9 через j-й элемент И tO, В результате j-й 9 начинает считать тактовые импульсы с момента тактировани  этого нового логического блока 1. Причем сравнение выходных сигналов уже частично продиаг- ностированных логических блоков 1 и вновь включенного блока не нарушает процесса в целом, так как логические блоки 1  вл ютс  блоками комбинационного , типа.
J Переполнение j-ro (одного или нес кольких) счетчиков 9 свидетельствует о том, что j-й логический блок 1 прошел весь тест, и следовательно, он исправен. При этом блок 6 инди- кации фиксирует максимальное число тактов рабочей частоты, выработанных генератором 3 и зарегистрированных J-M счетчиком 9. Число это с оответ- ствует длине теста.
Переполнение j-ro счетчика 9 приводит к по влению на его инверсном выходе переполнени  отрицательного сигнала, которьм поступает на j-й элемент И 11, а с его выхода на схе
0
5
0
5
мы 4 сравнени  и j-й элемент И 10, j-й элемент И 10 блокирует поступление тактовых импульсов в j-й счетчик 9, что способствует статической регистрации его состо ни  блоком 6 индикации .
Подача отрицательного потенциала на схемы 4 сравнени  приводит к перестроению их из п-входовых в (п-1)- входовые, тем самым отключа  j-й логический блок 1. Ни одна из схем 4 сравнени  не срабатывает,останова генератора 3 не происходит и процесс тестировани  оставшихс  логических блоко в 1 продолжаетс .
В то врем  как процесс «тестировани  продолжаетс , оператор имеет возможность извлечь исправный логический блок 1, поставить на его место новый и включить его в процесс тестировани  в любой момент времени, переключив соответствующий переключатель 7.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    5
    0
    0
    Устройство дл  автоматического диагностировани  однотипных логичес- 0 ких блоков, содержащее генератор тактовых импульсов, генератор тестов, коммутатор, группу из m схем сравнени  (где m - число выходов одного диагностируемого логического блока), группу из п переключателей (где п - число диагностируемых логических блоков), группу из п счетчиков, блок индикации и элемент ИЛИ, причем вход пуска устройства соединен с входом пуска генератора тактовых импульсов, выход которого подключен к входу синхронизации генератора тестов,, выходы генератора тестов  вл ютс  выходами устройства дл  подключени  к информационным входам диагностируемых логических блоков, i-  группа входов коммутатора (1 i п)  вл етс  i-й группой входов устройства дл  подклю-. чени  к выходам i-ro диагностируемого логического блока, выходы j-й группы выходов коммутатора (1 j ю) .соединены с одноименными информационными входами j-й схемы сравнени  группы и входами первой группы входов блока индикации, выходы схем сравнени  группы подключены к входам элемента ИЛИ и входам второй группы входов блока индикации, выход эле- - мента ИЛИ соединен с входом остано
    ва генератора тактовых импульсов, вход сброса i-ro счетчика группы подключен через i-й переключатель группы к шине нулевого потенциала и шине единичного потенциала, инверсные выходы переполнени  счетчиков группы подключены к входам третьей группы входов блока индикации, о т л и ч а- ю щ е е с   тем, что, с целью повышени  быстродействи , оно содержит две группы из п элементов И, первый . и второй входы и выход i-ro элемента
    14447796
    И первой группы соединены соответственно с выходом i-ro элемента И второй группы, выходом генератора тактовых импульсов и счетным входом i-ro счетчика группы, а первый и второй входы и выход i-ro элемента И второй группы соединены соответственно с инверсным выходом переполнени  i-ro счетчика группы, установочным входом i-ro счетчика группы и i-ми управл ющими входами схем сравнени  группы.
    10
    Фаз.1
    BbiKOdbi I-годиагн. Bbiwdbi Ж-го /fO3: д/юка -/daadf /foe. /
    pz--
    Канформаи. Кинформ м&ам второй бходам/7epoGd о(емь/ аемь/ сраб е/ и Фиг 2
    Bi ixodi / п-го даагн /loe. . /
    № - h
    xт fКинформ . входа f т-ой схемы срабнеиаа
SU874190946A 1987-02-04 1987-02-04 Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков SU1444779A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874190946A SU1444779A1 (ru) 1987-02-04 1987-02-04 Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874190946A SU1444779A1 (ru) 1987-02-04 1987-02-04 Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1444779A1 true SU1444779A1 (ru) 1988-12-15

Family

ID=21284209

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874190946A SU1444779A1 (ru) 1987-02-04 1987-02-04 Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1444779A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 781816, кл. G 06 F 11/22, 1980. Авторское свидетельство СССР № 832557, кл. G 06 F 11/26, 1981. Авторское свидетельство СССР № 1234840, кл. G 06 F 11/26, 1986. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3723868A (en) System for testing electronic apparatus
US3562644A (en) Circuit tester providing circuit-selected test parameters
SU1444779A1 (ru) Устройство дл автоматического диагностировани однотипных логических блоков
SU1234840A1 (ru) Устройство дл непрерывного диагностировани однотипных логических блоков
SU1444778A1 (ru) Устройство дл автоматического диагностировани группы однотипных логических блоков
SU1109717A1 (ru) Устройство дл диагностики электросхем
SU896628A1 (ru) Устройство дл группового поиска кратных дефектов в комбинационных логических блоках
SU466493A1 (ru) Устройство дл проверки электрического монтажа
SU781816A1 (ru) Устройство дл поиска кратных неисправностей в однотипных логических блоках
SU1394181A1 (ru) Устройство дл проверки электрических межразъемных соединений
SU857938A1 (ru) Устройство дл испытани электромагнитных коммутационных аппаратов на надежность
SU1619276A1 (ru) Устройство дл оперативного контрол цифровых блоков
SU1264181A1 (ru) Устройство дл контрол БИС
SU1683051A1 (ru) Устройство дл обучени операторов
SU1385105A1 (ru) Устройство сигнатурного контрол проводных соединений
SU1264186A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
SU1071979A1 (ru) Устройство дл диагностики цифровых узлов
SU1589405A1 (ru) Устройство дл автоматизированного контрол радиоэлектронной аппаратуры
SU1555690A1 (ru) Устройство дл проверки монтажа изделий
SU1277117A1 (ru) Устройство дл фиксации неустойчивых сбоев
SU1649550A1 (ru) Устройство дл контрол логических блоков
SU656076A1 (ru) Устройство дл поиска неисправностей в дискретных объектах
SU1471194A1 (ru) Мультиплексор с контролем
SU1149265A1 (ru) Устройство дл формировани тестов диагностики дискретных блоков
SU858003A1 (ru) Устройство дл контрол параметров