SU1286961A1 - Двухчастотный интерферометрический рефрактометр - Google Patents
Двухчастотный интерферометрический рефрактометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1286961A1 SU1286961A1 SU853877864A SU3877864A SU1286961A1 SU 1286961 A1 SU1286961 A1 SU 1286961A1 SU 853877864 A SU853877864 A SU 853877864A SU 3877864 A SU3877864 A SU 3877864A SU 1286961 A1 SU1286961 A1 SU 1286961A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- light source
- laser light
- screen
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение предназначено дл проведени измерений дисперсионных кривых твердых, жидких или газообразных веществ. С целью повьшени точности измерени показателей преломлени при различных частотах излучени в интерферометре через исследуемое вещество пропускаютс одновременно два луча разных частот, а измерение сводитс к подсчету-смещений интерференционных картин при повороте плбскопараллельной пластинки исследуемого вещества (или плоскопараллельной кюветы с жидкостью или газом). 2 ил. СЛ
Description
Изобретение относитс к прикладной оптике - рефрактометрии и предназначено дл проведени точных изме рений зависимости показател преломлени веществ от длины волны оптического излучени .
Цель изобретени - повьшение точности измерени дисперсионных кривых исследуемого вещества.
На фиг, 1 изображена оптическа схема двухчастотного интерферометри- ческого рефрактометра; на фиг. 2 - интерференционна картина.
Полупрозрачные зеркала 1 и 2 и отражаюпще зеркала 3 и 4 образуют ин тенферометр Рождественского, в измерительном плече которого расположено исследуемое вещество 5. Интерферометр , освещаетс одновременно двум монохроматическими лазерами (ча стоты , и ), пучки света которых подаютс на вход интерферометра через суммирующее зеркало 6. На выходе интерферометра перед экраном 7 установлены селективные фильтры 8 и 9 таким образом, что половина луча проходит через один, а друга полови на луча - через другой светофильтр (как показано на фиг. 2). Каждый из светофильтров пропускает одну из частот и не пропускает другую, в результате чего интерференционные картины от частот -, и 2 на экране 7 раздел ютс . Дл удобства отсчета Смещений интерференционных картин на экране 7 имеетс нулева риска 10.
Принцип работы рефрактометра заключаетс в следующем.
При пропускании через исследуемую плистинку одновременно двух лучей из вестньгх: частот , и 9 на экране получаютс две интерференционные картины . Если пластинку 5 из исходного положени , приблизительно перпендикул рно лучу, повернуть на некоторый небольшой угол, путь через вещество пластинки дл лучей обеих частот увеличиваетс на величину uL. Это вы зьшает из-за дисперсии света разные смещени интерференционных картин. Величины смещений N, (дл луча с час тотой -5,) и Nj (дл луча с частотой Jj) определ ютс выражени ми
N ,
откуда следует
- 1)
N, , N,c
- 1)
N,.
N,,
(1)
Зависимость (1) позвол ет дл данного исследуемого вещества с высокой точностью св зать величины фазовых О скоростей света v, и v (а следовательно , и показатели преломлени п, и п) с частотами излучени , и (или длинами волн Д, и Л ), например, по известной v, можно определить фа/5
зовую скорость V,
V
1 +
Nj,
( -1)
(2)
N,t
Вывод формулы (1) сделан с учетом следующих рассуждений.
Путь uL в исследуемом веществе свет проходит за врем t L/v, где V - фазова скорость света. За это же врем t второй луч интерферометра проходит в воздухе путь uL/v, где с - скорость света в воздухе. Следовательно , опережение составл ет величи
ну - с - uL, что дает смещение линий
в интерферометре N --г-()
V
Таким образом, медленно поворачива пластинку 5 и подсчитыва смещени N, и N интерференционных картин , с помощью формулы (2) по известной V, можно определить фазовую скорость .v при любой частоте и, следовательно, с точностью, свойственной интерферометрическим методам, построить дисперсионную кривую. Дл получени частоты - желательно
примен ть лазер с перестраиваемой частотой.
Предлагаемьй рефрактометр позвол ет с высокой точностью св зать частоты - и 2 непосредственно с
фазовыми скорост ми света в данном веществе.
Claims (1)
- Формула изобретениДвухчастотный интерферометричес- кий рефрактометр, содержащий двухлуче- вой интерферометр Рождественского с лазерным источником света и включающий два полупрозрачных зеркала и дваотражающих зеркала, оптически св зар - ных между собой и образующих измерительное и опорное плечи интерферометра , держатель образца, расположенный в измерительном плече интерферометра, и экран, расположенный на выходе интерферометра, отлич.ающий- с тем, что, с целью повышени точности- измерени дисперсионных кривых , в устройство введены второй ла- зерный источник света, суммирующее полупрозрачное зеркало и два селекционных фильтра, при этом второй лазерный источник света оптически св зан с суммируюпуим прлупрозрачным зеркалом, а селекционные фильтры расположены между выходом интерферометра и экраном, причем держатель образца установлен с возможностью перемещени относительно оси, перпендикул рной направлению распространени света в измерительном плече интерферометра.Фиг.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853877864A SU1286961A1 (ru) | 1985-04-03 | 1985-04-03 | Двухчастотный интерферометрический рефрактометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853877864A SU1286961A1 (ru) | 1985-04-03 | 1985-04-03 | Двухчастотный интерферометрический рефрактометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1286961A1 true SU1286961A1 (ru) | 1987-01-30 |
Family
ID=21170815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853877864A SU1286961A1 (ru) | 1985-04-03 | 1985-04-03 | Двухчастотный интерферометрический рефрактометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1286961A1 (ru) |
-
1985
- 1985-04-03 SU SU853877864A patent/SU1286961A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР 1017978, кл. G 01 N 21/45, 1981. Нагибина И.М. Интерференци и дифракци света. Машиностроение, 1974, с. 176. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4784490A (en) | High thermal stability plane mirror interferometer | |
JP2804073B2 (ja) | 物質の屈折率を測定する装置及び方法 | |
US4147435A (en) | Interferometric process and apparatus for the measurement of the etch rate of opaque surfaces | |
EP0676629B1 (en) | Refractive index measurement of spectacle lenses | |
US5583638A (en) | Angular michelson interferometer and optical wavemeter based on a rotating periscope | |
JPH09325005A (ja) | 偏位を測定するための装置 | |
JP2755757B2 (ja) | 変位及び角度の測定方法 | |
US3895872A (en) | Optical speed-measuring devices and methods for maximizing their accuracies | |
JPH04326005A (ja) | 真直度測定装置 | |
JP2004294155A (ja) | 屈折率及び厚さの測定装置ならびに測定方法 | |
SU1286961A1 (ru) | Двухчастотный интерферометрический рефрактометр | |
US4125778A (en) | Apparatus for laser anemometry | |
JPS58169004A (ja) | 大気中での高精度干渉測長法 | |
JP3635000B2 (ja) | 気体屈折率測定装置 | |
EP0050144B1 (en) | Process for measuring motion- and surface characterizing physical parameters of a moving body | |
EP0480027A1 (en) | Method and device for determining the thickness of a glass tube | |
JPS60253945A (ja) | 形状測定装置 | |
JP2592254B2 (ja) | 変位量及び変位速度の測定装置 | |
SU1397732A1 (ru) | Устройство дл измерени тонких стенок стекл нных труб | |
SU1696851A1 (ru) | Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности | |
SU1397718A1 (ru) | Интерферометр дл измерени линейных величин и показател преломлени | |
SU1364866A1 (ru) | Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений | |
RU2152588C1 (ru) | Способ измерения оптической толщины плоскопараллельных прозрачных объектов | |
SU1608508A1 (ru) | Рефрактометр | |
SU408145A1 (ru) | Описание изобретения |