SU1696851A1 - Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности - Google Patents

Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности Download PDF

Info

Publication number
SU1696851A1
SU1696851A1 SU894710084A SU4710084A SU1696851A1 SU 1696851 A1 SU1696851 A1 SU 1696851A1 SU 894710084 A SU894710084 A SU 894710084A SU 4710084 A SU4710084 A SU 4710084A SU 1696851 A1 SU1696851 A1 SU 1696851A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
beams
rays
triple prism
interferometer
photodetector
Prior art date
Application number
SU894710084A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Николаевич Базыкин
Нелли Исмаиловна Базыкина
Сергей Викторович Капезин
Владимир Ильич Телешевский
Николай Александрович Яковлев
Original Assignee
Московский станкоинструментальный институт
Пензенский Политехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский станкоинструментальный институт, Пензенский Политехнический Институт filed Critical Московский станкоинструментальный институт
Priority to SU894710084A priority Critical patent/SU1696851A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1696851A1 publication Critical patent/SU1696851A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  отклонений от пр молинейности . Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  за счет повышени  соотношени  сигнал - шум на выходе фотоприемника . Пучки лучей источника 1 монохроматического излучени  проход т через акустооптический модул тор 2, где дифрагируют на бегущей ультразвуковой волне. Пройд  через объектив 3, пучки лучей Е(0) и Е(1), соответствующие нулевому и первому пор дкам дифракции, станут параллельными друг другу и отсто щими друг от друга на рассто ние d. Пучок лучей Е(0) отражаетс  от боковых граней триппель-призмы 5, пучок лучей Е(-1) отражаетс  от боковых граней триппель-призмы 6, проходит через полупрозрачную боковую грань триппель- призмы 5 и совместно с пучком лучей Е(0) попадает на фотоприемник 7, на выходе которого имеетс  электрический сигнал U. частота которого равна разности частот взаимодействующих пучков лучей Е(0) и Е (-1). Изменение разности хода пучков лучей Е(0) и Е(1) вследствие непр молинейности измер емой поверхности приводит к изменению фазы электрического сигнала U. 1 ил. (Л С

Description

77777/ //////////7/7/77///////
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерений отклонений от пр молинейности .
Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  за счет повышени  соотношени  сигнал - шум на выходе фотоприемника .
На чертеже представлена функциональна  схема интерферометра.
Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучени  и последовательно установленные по ходу пучка лучей источника 1 акустооптический модул тор 2, объектив 3, установленный так,.что его передн   фокальна  плоскость находитс  вблизи акустооптического модул тора 2, блок 4 отражателей, выполненный в виде триппель-призм 5 и 6, и последовательно установленных по ходу пучка лучей источника 1 излучени , фотоприемник 7, оптически св занный через блок 4 отражателей с объективом 3.
Вершина триппель-призмы 6 смещена на рассто ние I относительно оси, параллельной оптической оси интерферометра и проход щей через вершину триппель-призмы 5, выходна  бокова  грань триппель- призмы 5 выполнена полупрозрачной. Блок 4 отражателей скрепл ют с кареткой (не показана ).
Интерферометр работает следующим образом.
Пучки лучей источника 1 монохроматического излучени  проход т через акустооптический модул тор 2, где дифрагируют на бегущей ультразвуковой волне. В результате дифракции поле акустооптического модул тора 2 пучки лучей, распростран ющиес  под разными углами по отношению к оптической оси интерферометра) В дальнейшем будем рассматривать только два пучка лучей , соответствующие дифракционным, пор дкам Е(0) и Е(-1), соответствующие нулевому и первому пор дку дифракции. Частотные спектры пучков лучей Е(0) и Е(-1) отличаютс  друг от друга на частоту воз- буждени  f ультразвуковой волны, а угол расхождени  пучков лучей равен углу дифракции 0. Пройд  через объектив 3, пучки лучей Е(0) и Е(-1) станут параллельными, отстающими друг от друга на рассто ние d, при этом . Пучок лучей Е(0) отражаетс  от боковых граней триппель-призмы 5, пучок лучей Е(-1) отражаетс  от боковых граней триппель-призмы 6, проходит через полупрозрачную боковую грань триппель- призмы 5 и совместно с пучком лучей Е(0) попадает на фоюприемник 7, на выходе которого имеетс  электрический сигнал И, частота которого равна разности частот взаимодействующих пучков лучей Е(0) и Е(-1). При движении каретки с блоком отражателей по измер емой поверхности (не показа- на) в случае непр молинейности измер емой поверхности блок отражателей совершает наклоны, что приводит к изменению длины оптического хода лучей Е(0) и
Е(-1). Изменение разности хода пучков лучей Е(0) и Е(-1) приводит к изменению фазы электрического сигнала И, которое пропорционально непр молинейности измер емой поверхности.
Расположени  акустооптического модул тора 2 на выходе источника 1 монохроматического излучени  позвол ет выполн ть акустооптическому модул тору 2 две функции - формирование когерентных частотносмещенных пучков лучей и пространственное разделение пучков лучей (совместно с объективом 3).
Таким образом, в предложенном техническом решении интенсивность пучков лучей на фотоприемнике 7 только в два раза меньше интенсивности пучков лучей Е(0) и Е(-Т), что по крайней мере в два раза больше по сравнению с известными интерферометрами . Это приводит к повышению соотношени  сигнал - шум на выходе фотоприемника 7, а следовательно, и к повышению точности контрол .
35

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Интерферометр дл  измерени  отклонений от пр молинейности, содержащий источник монохроматического излучени  и последовательно установленные по ходу
    пучка лучей источника блок отражателей и фотоприемник, а также акустооптический модул тор , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности контрол , он снабжен объективом, установленным между источником излучени  и блоком отражателей , акустический модул тор установлен между объективом и источником излучени  вблизи передней фокальной плоскости объектива , блок отражателей, выполнен в виде
    двух триппель-призм, последовательно установленных по ходу пучка лучей источника излучени , вершина второй по ходу пучка лучей триппель-призмы смещена на заданное рассто ние относительно оси, параллельной оптической оси интерферометра и проход щей через вершину первой триппель-призмы , а выходна  бокова  грань первой триппель-призмы выполнена полупрозрачной .
SU894710084A 1989-06-26 1989-06-26 Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности SU1696851A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894710084A SU1696851A1 (ru) 1989-06-26 1989-06-26 Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894710084A SU1696851A1 (ru) 1989-06-26 1989-06-26 Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1696851A1 true SU1696851A1 (ru) 1991-12-07

Family

ID=21456534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894710084A SU1696851A1 (ru) 1989-06-26 1989-06-26 Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1696851A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Измеритель перемещений лазерный ИПЛ-ЗОК1. Паспорт АЛ 2 857 011 ПС. Новосибирский приборостроительный завод им. Ленина, 1985. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2755757B2 (ja) 変位及び角度の測定方法
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
JPH04326005A (ja) 真直度測定装置
SU1696851A1 (ru) Интерферометр дл измерени отклонений от пр молинейности
RU2774154C1 (ru) Интерферометр для измерения линейных перемещений
EP0050144B1 (en) Process for measuring motion- and surface characterizing physical parameters of a moving body
KR100332035B1 (ko) 단일 파장 레이저 광의 다중패스를 이용한 거리 측정장치 및 방법
SU1397732A1 (ru) Устройство дл измерени тонких стенок стекл нных труб
SU1286961A1 (ru) Двухчастотный интерферометрический рефрактометр
SU1714360A1 (ru) Устройство дл измерени смещений
SU1464046A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний
SU1425434A1 (ru) Интерферометр дл измерени линейных перемещений объекта
SU1515039A2 (ru) Фотоэлектрический автоколлиматор дл фиксации углового положени объекта
JPH0754802Y2 (ja) 接触式表面形状測定器
SU1227948A1 (ru) Интерферометр дл измерени перемещений
JP2024056589A (ja) 光学式距離計
SU1179103A1 (ru) Интерферометр дл измерени рассто ний
SU1043486A1 (ru) Устройство дл измерени углового перемещени объекта
SU408145A1 (ru) Описание изобретения
SU949336A1 (ru) Устройство дл измерени пр молинейности поверхностей
SU399722A1 (ru) Интерференционный способ измерения величины линейных и угловых перемещений
SU1506269A1 (ru) Интерферометр дл измерени углового и линейного положени объекта
SU1714346A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени линейных перемещений
SU1054677A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени перемещений
SU853378A1 (ru) Интерференционное устройство измерени лиНЕйНыХ и углОВыХ пЕРЕМЕщЕНий