SU1182686A1 - Self-checked tester for 3-out-of-6 code - Google Patents

Self-checked tester for 3-out-of-6 code Download PDF

Info

Publication number
SU1182686A1
SU1182686A1 SU843733150A SU3733150A SU1182686A1 SU 1182686 A1 SU1182686 A1 SU 1182686A1 SU 843733150 A SU843733150 A SU 843733150A SU 3733150 A SU3733150 A SU 3733150A SU 1182686 A1 SU1182686 A1 SU 1182686A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
inputs
elements
code
Prior art date
Application number
SU843733150A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Валерий Владимирович Сапожников
Владимир Владимирович Сапожников
Александр Александрович Прокофьев
Original Assignee
Ленинградский институт инженеров железнодорожного транспорта
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский институт инженеров железнодорожного транспорта filed Critical Ленинградский институт инженеров железнодорожного транспорта
Priority to SU843733150A priority Critical patent/SU1182686A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1182686A1 publication Critical patent/SU1182686A1/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

САМОПРОВЕРЯЕ№1Й ТЕСТЕР ДЛЯ КОДА 3 ИЗ 6, содержащий восемь элементов И и шесть элементов ИЛИ, первый и второй входы устройства соединены с соответствующими входами первых элементов И и ИЛИ, третий вход соединен с первыми входами второго И третьего элементов И, четвертый и п тый входы соединены с соответствующими входами второго элемента ИЛИ и четвертого элемента И, щестой вход соединен с первыми входами п того и шестого элементов И, выход второго элемента И соединен с первым входом третьего элемента Hnii, вьпсод четвертого элемента И соединен с первым рходом четвертого элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первым входом седьмого элемента И, выход четвертого элемента ИЛИ соединен с первым входом восьмого элемента И, выход седьмого элемента И соединен с первым входом п того элемента ИЛИ, а выход восьмого элемента И соединен с первым входом шестого элемента ИЛИ, выходы п того и шестого элементов ИЛИ  вл ютс  выходами устройства, отличающийс  тем, что, с целью повышени  надежности , в него введены седьмой и восьмой элементы ИЛИ, третий вход устройс Ig ства соединен с первым входом седьмого элемента ИЛИ, второй вход кото (Л С рого соединен с выходом первого элемента ИЛИ и вторым входом второго элемента И, а выход соединен с вторьм входом восьмого элемента И, шестой вход соединен с первь1м входом восьмого элемента ИЛИ, ВТОРОЙ -вход, которого соединен с выходом второго эле00 мента ИЛИ и вторым входом п того элеIND мента И, выход которого соединен с Од вторым входом четвертого элемента СХ) ИЛИ, выход восьмого элемента ИЛИ а соединен с вторым входом седьмого элемента И, выход первого элемента И соединен с вторыми входами третьего элемента ИЛИ и третьего элемента И, выход которого соединен с вторым входом шестого элемента ИЛИ, второй вход шестого элемента И соединен с выходом четвертого элемента И, а выход -, с вторьлм входом п того элемента ИЛИ.SELF-TESTING OF CODE 3 OF 6 TESTER, containing eight elements AND and six elements OR, the first and second inputs of the device are connected to the corresponding inputs of the first elements AND and OR, the third input is connected to the first inputs of the second AND third elements AND, the fourth and fifth the inputs are connected to the corresponding inputs of the second element OR and the fourth element AND, the input is connected to the first inputs of the fifth and sixth elements AND, the output of the second element AND is connected to the first input of the third element Hnii, and the fourth element AND It is connected to the first slot of the fourth element OR, the output of the third element OR is connected to the first input of the seventh element AND, the output of the fourth element OR is connected to the first input of the eighth element AND, the output of the seventh element AND is connected to the first input of the fifth element OR, and the output of the eighth element AND connected to the first input of the sixth element OR, the outputs of the fifth and sixth elements OR are the outputs of the device, characterized in that, in order to increase reliability, the seventh and eighth elements OR are entered into it, the third input of the device Ig TWA is connected to the first input of the seventh OR element, the second input of which (L C pogo is connected to the output of the first OR element and the second input of the second AND element, and the output is connected to the second input of the eighth And element, the sixth input is connected to the first 1m input of the eighth OR element, TWO -input, which is connected to the output of the second element OR or the second input of the fifth elendIND I, the output of which is connected to Od by the second input of the fourth element CX) OR, the output of the eighth element OR and connected to the second input of the seventh element And And connected to the second inputs of the third element OR and the third element AND, the output of which is connected to the second input of the sixth element OR, the second input of the sixth element AND is connected to the output of the fourth element AND, and the output - to the second input of the fifth element OR.

Description

Изобретение относитс  к автоматике и вычислительной технике и предназначено дл  проверки исправности дискретных устройств.The invention relates to automation and computing and is intended to test the health of discrete devices.

Цель изобретени  - повьшение на- 5 дежности устройства.The purpose of the invention is to increase the reliability of the device.

На чертеже показана функциональна  схема предлагаемого устройства.The drawing shows a functional diagram of the proposed device.

Самопровер емьй тестер дл  кода 3 из 6 содержит по восемь элементов И или ШШ. Первый и второй входы 1 и 2 соединены с входами первого элемента 3 И и первого элемента 4 ИЛИ, третий вход 5 соединен с входами второго и третьего элементов 6 и 7 И-, чет- 15 вертьм и п тый входы 8 и 9 соединены с входами второго элемента 10 ИЛИ и четвертого элемента 11 И, шестой вход 12 соединен с входами п того и шестого элементов 13 И 14 И, выход 20 второго элемента 6 И соединен с входом третьего элемента 15 ИЛИ, выход четвертого элемента 11 И соединен с входом четвертого элемента 16 ИЛИ, выход третьего элемента 15 ИЛИ сое-ди-25 нек с входом седьмого элемента 17 И, выход четвертого элемента 16 ИЛИ соединен с входрм восьмого элемента 18 И, выход седьмого элемента 17 И , соединен с входом элемента 19 30 ИЛИ, выход восьмого элемента 18 И соедине.н с входом шестого элемента 20 ИЛИ, третий вход 5 тестера соединенThe self-checking tester for code 3 of 6 contains eight elements, And or Sh. The first and second inputs 1 and 2 are connected to the inputs of the first element 3 AND and the first element 4 OR, the third input 5 is connected to the inputs of the second and third elements 6 and 7 I-, fourth- 15th and the fifth inputs 8 and 9 are connected to the inputs The second element 10 OR and the fourth element 11 And the sixth input 12 is connected to the inputs of the fifth and sixth elements 13 And 14 And the output 20 of the second element 6 And connected to the input of the third element 15 OR, the output of the fourth element 11 And connected to the input of the fourth element 16 OR, the output of the third element 15 OR co-di-25 NK with the input of the seventh element 17 AND, in The output of the fourth element 16 OR is connected to the input of the eighth element 18 AND, the output of the seventh element 17 AND is connected to the input of the element 19 30 OR, the output of the eighth element 18 AND is connected to the input of the sixth element 20 OR, the third input 5 of the tester is connected

с входом седьмого элемента 21 ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом первого элемента 4 ИЛИ и с вторы входом второго элемента 6 И, а выход соединен с вторым входом восьмого элемента 18 И, шестой .вход 12 соединен с входом восьмого элемента 22 ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом второго элемента 10 ИЛИ и с вторым входом п того элемента 13 И выход которого соединен с вторым входом четвертого элемента 16 ИЛИ, выход восьмого элемента 22 ИЛИ соединен с вторым входом седьмого элемента 17 И, выход первого элемента 3 И соединен с вторыми входами третьего элемента 15 ИЛИ и третьего элемента 7 И, выход которого соединен с вторым входом шестого элемента 20 ИЛИ, .второй вход шестого элемента 14 И соединен с выходом четвертого элемента 11 И, а выход - с вторым входом , п того элемента 19 ИЛИ. Вьпсоды п того и шестого элемента 19 и 20 ИЛИ соединены соответственно с пери 24 устройвым и вторым входами ства.with the input of the seventh OR element 21, the second input of which is connected to the output of the first element 4 OR and the second input of the second element 6 AND, and the output connected to the second input of the eighth element 18 AND, the sixth input 12 is connected to the input of the eighth element 22 OR, the second the input of which is connected to the output of the second element 10 OR and the second input of the fifth element 13 AND the output of which is connected to the second input of the fourth element 16 OR, the output of the eighth element 22 OR is connected to the second input of the seventh element 17 AND, the output of the first element 3 AND is connected to second entrances and the third element 15 OR and the third element 7 AND, the output of which is connected to the second input of the sixth element 20 OR, the second input of the sixth element 14 AND is connected to the output of the fourth element 11 AND, and the output - to the second input, the fifth element 19 OR. The imprints of the fifth and sixth element 19 and 20 OR are connected respectively with the period 24 and the second input of the device.

Работа тестера иллюстрируетс  таблицей , в которой показаны состо ни  выходов 23 и 24 в зависимости от входных сигналов кода 3 из 6 при исправном срсто нии самого тестера.The operation of the tester is illustrated by a table in which the states of the outputs 23 and 24 are shown depending on the input signals of code 3 out of 6 with a good condition of the tester itself.

3131

Из таблицы видно, что если число сигналов а,;, а равньпс 1 на входах 1, 2, 5  вл етс  нечетным, то значение сигнала f на выходе 23равно 1, а сигнала f,-на выходеThe table shows that if the number of signals a,;, and equal 1 at inputs 1, 2, 5 is odd, then the value of signal f at output 23 is equal to 1, and signal f, is at output

24соответственно - О. В том случае , если на тех же входах 1,2,5 присутствует два сигнала 1 или ни одного (четное количество), то 0,24 respectively - O. In the event that on the same inputs 1,2,5 there are two signals 1 or none (even number), then 0,

f. 1. Указанное справедливо и дл  , группы сигналов в , в., в, на входах 9, 8, 12. Следовательно,Iпри исправном состо нии объекта диагностировани , когда на его входах 1,2, 5, 8, 9, 12 присутствует код, содержащий 3 единицы из 6, сигналы на выходах 23 и 24 устройства .парафазные (0, 1 или 1, f2/0) . При неисправном состо нии объекта диагностировани , когда на его входах 1, 2, 5, В, 9, 12 формируетс  код, отличный от кода 3 из 6, сигналы на входах 23, 24 тестера одинаковые. Например,f. 1. The above is also valid for the signal group b, c, b, at inputs 9, 8, 12. Therefore, when the diagnostics object is in good condition, when its inputs 1,2, 5, 8, 9, 12 have the code , containing 3 units of 6, the signals at the outputs 23 and 24 of the device. Phase (0, 1 or 1, f2 / 0). In the event of a malfunction of the object being diagnosed, when at its inputs 1, 2, 5, B, 9, 12 a code different from code 3 of 6 is formed, the signals at inputs 23, 24 of the tester are the same. For example,

00

дл  случа  ,1, а,for the case of 1, a,

в гв.,взin guards

(код 2 из 6) имеетс  f 0. Дл  случа  ,, 1, (код 4 из 6) имеетс  2. 1.(code 2 of 6) is f 0. For the case of ,, 1, (code 4 of 6) there is 2. 1.

864864

Можно показать, что если число 1 в коде меньше трех, на выходах 23 и 24 тестера наход тс  сигналы f а дл  случа , когда число 1 больше чем три , получают 2 1 .It can be shown that if the number 1 in the code is less than three, the signals f a are found at the outputs 23 and 24 of the tester for the case when the number 1 is more than three, 2 1 are obtained.

Таким образом, предлагаемый тестер позвол ет провер ть исправность Thus, the proposed tester allows you to check the health

дискретного объекта управлени  путем контрол  правильности поступающего с выходов объекта кода 3 из 6. Устройство характеризуетс  также свойством самопроверки, т.е. все его одиночныеthe discrete control object by checking the correctness of the code 3 out of the object arriving from the outputs. The device is also characterized by the self-test property, i.e. all his singles

константные неисправности обнаруживаютс  на всем множе.стве входных слов кода 3 и 6. Например, при возникновении неисправности константа О выхода элемента 21 ИЛИ тестера наconstant malfunctions are detected on all the many input words of codes 3 and 6. For example, if a malfunction occurs, the constant O of the output of element 21 OR of the tester on

наборе 10 (таблица) имеют 1. Можно показать, что одиночные неисправности узлов разветвлений входов тестера и входов его элементов так же обнаруживаютс  на всем множествеset 10 (table) have 1. It can be shown that single malfunctions of branch nodes of the tester inputs and inputs of its elements are also detected on the entire set

наборов кода 3 из 6, так как в этом случае выходные сигналь тестера идентичны .sets of code 3 out of 6, since in this case the output signal of the tester is identical.

- 2«- 2 "

Claims (1)

САМОПРОВЕРЯЕМЫЙ ТЕСТЕР ДЛЯ КОДА 3 ИЗ 6, содержащий восемь элементов И и шесть элементов ИЛИ, первый и второй входы устройства соединены с соответствующими входами первых элементов И и ИЛИ, третий вход соединен с первыми входами второго и третьего элементов И, четвертый и пятый входы соединены с соответствующими входами второго элемента ИЛИ и четвертого элемента И, шестой вход соединен с первыми входами пятого и шестого элементов И, выход второго элемента И соединен с первым входом третьего элемента ИЛИ, выход четвертого элемента И соединен с первым рходом четвертого элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первым входом седьмого элемента И, выход четвертого элемента ИЛИ соединен с первым входом восьмого элемента И, выход седьмого элемента И соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ, а выход восьмого элемента И соединен с первым входом шестого элемента ИЛИ, выходы пятого и шестого элементов ИЛИ являются выходами устройства, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности, в него введены седьмой и восьмой элементы ИЛИ, третий вход устройства соединен с первым входом седьмо- § го элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом первого элемента ИЛИ и вторым входом второго элемента И, а выход соединен с вторым входом восьмого элемента И, шестой вход соединен с первым, входом восьмого элемента ИЛИ, втооой вход, кото-: рого соединен с выходом второго элемента ИЛИ и вторым входом пятого элемента И, выход которого соединен с вторым входом четвертого элемента ИЛИ, выход восьмого элемента ИЛИ соединен с вторым входом седьмого элемента И, выход первого элемента И соединен с вторыми входами третьего элемента ИЛИ и третьего элемента И, выход которого соединен с вторым входом шестого элемента ИЛИ, второй вход шестого элемента И соединен с выходом четвертого элемента И, а выход -.с вторым входом пятого элемента ИЛИ.A SELF-TESTED TEST FOR CODE 3 OF 6, containing eight AND elements and six OR elements, the first and second inputs of the device are connected to the corresponding inputs of the first elements AND and OR, the third input is connected to the first inputs of the second and third elements AND, the fourth and fifth inputs are connected to the corresponding inputs of the second OR element and the fourth AND element, the sixth input is connected to the first inputs of the fifth and sixth AND elements, the output of the second AND element is connected to the first input of the third OR element, the output of the fourth AND element is connected with the first passage of the fourth OR element, the output of the third OR element is connected to the first input of the seventh AND element, the output of the fourth OR element is connected to the first input of the eighth AND element, the output of the seventh element And is connected to the first input of the fifth OR element, and the output of the eighth AND element is connected to the first input of the sixth OR element, the outputs of the fifth and sixth OR elements are device outputs, characterized in that, in order to increase reliability, the seventh and eighth OR elements are introduced into it, the third input of the device is connected to the first m the input of the seventh §th OR element, the second input of which is connected to the output of the first OR element and the second input of the second AND element, and the output is connected to the second input of the eighth AND element, the sixth input is connected to the first, the input of the eighth OR element, the second input, which -: horn is connected to the output of the second OR element and the second input of the fifth AND element, the output of which is connected to the second input of the fourth OR element, the output of the eighth OR element is connected to the second input of the seventh AND element, the output of the first AND element is connected to the second inputs of the third the OR element and the third AND element, the output of which is connected to the second input of the sixth OR element, the second input of the sixth AND element is connected to the output of the fourth AND element, and the output is connected to the second input of the fifth OR element. S и ,„.1182686S and, „. 1182686
SU843733150A 1984-04-21 1984-04-21 Self-checked tester for 3-out-of-6 code SU1182686A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843733150A SU1182686A1 (en) 1984-04-21 1984-04-21 Self-checked tester for 3-out-of-6 code

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843733150A SU1182686A1 (en) 1984-04-21 1984-04-21 Self-checked tester for 3-out-of-6 code

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1182686A1 true SU1182686A1 (en) 1985-09-30

Family

ID=21116092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843733150A SU1182686A1 (en) 1984-04-21 1984-04-21 Self-checked tester for 3-out-of-6 code

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1182686A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Andeson D., Metze G. Design of totally selfchecking circuits for m-out-of-n codes. IEEE Trans. Comput., vol. C-22, № 3, p. 263269, 1973. Пархоменко П.П. Согомон н Е.С. Основы технической диагностики: (оптимизаци алгоритмов диагностировани , аппаратурные средства)./ Под ред. П.П.Пархоменко, М.: Энерги , 1981, с. 175, рис. 5-7. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1182686A1 (en) Self-checked tester for 3-out-of-6 code
US4205301A (en) Error detecting system for integrated circuit
SU1282335A1 (en) Self-checking device for checking 3-out-of-6 code
SU1605232A1 (en) Self-checking device for threshold inspection of combination nodes
SU441532A1 (en) Device for detecting faults in logic circuits
SU1629910A1 (en) Microprogram control unit
SU1059550A1 (en) Device for trouble tracing
SU955072A1 (en) Logic circuit functioning checking device
SU1732464A1 (en) Counter of pulses in code
SU1501060A1 (en) Device for checking digital integrated microcircuits
SU1238245A1 (en) Self-checking device for checking code
SU1166107A1 (en) Control unit
SU1043668A1 (en) Pulse counter checking device
SU1265993A1 (en) Pulse distributor with check
SU1725221A1 (en) Device for processing reaction of logic units
RU1780171C (en) Switching device
SU1203710A1 (en) Tester for 3-out-of-8 code with self-check
SU1278855A1 (en) Device for checking and diagnostic testing of digital units
SU1251189A2 (en) Device for checking semiconductor memory
SU847322A1 (en) Three-channel majority device
RU1783619C (en) Self-testing tester for codes of 3 and 8
SU1111171A1 (en) Device for checking units
SU1499350A1 (en) Device for analyzing the state of logical circuits
RU1802407C (en) Majority device
SU834771A1 (en) Self-checking storage