SU1138713A1 - Способ определени степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое - Google Patents
Способ определени степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое Download PDFInfo
- Publication number
- SU1138713A1 SU1138713A1 SU813291944A SU3291944A SU1138713A1 SU 1138713 A1 SU1138713 A1 SU 1138713A1 SU 813291944 A SU813291944 A SU 813291944A SU 3291944 A SU3291944 A SU 3291944A SU 1138713 A1 SU1138713 A1 SU 1138713A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- layer
- orientation
- particles
- radiation
- degree
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ОРИЕНТАЦИИ НЕПРОЗРАЧНЫХ ЧАСТИЦ В РАССЕИВАЮЩЕМ СЛОЕ, при осуществлении которого облучают слой пол ризованным излучением и определ ют пол ризацию прошедшего излучени , отличающийс тем, что, с целью уменьшени времени определени и упрощени способа, рассеивающий слой облучают циркул рнопол ризованньм монохроматическим излучением, определ ют значени приведенного четвертого параметра Стокса S излучени , прошедшего слой, и определ ют степень ориентации Р частиц в слое по. формуле -trР 4 W со 00 с
Description
1 Изобретение относитс к физической оптике, в частности к методам беско11тактного определени сриентационных свойств рассеивающих объектов. Известен способ измерени дихро изма дл оптически активных частиц , заключающийс в измерении интенсивности линейно пол ризованного , пучка излучени , прошедшего сквозь рассеивающую среду в двух ортогональных плоскост х пол ризации СП. Однако этот способ приемлем к частным случа м дл оптически активных частиц; он предполагает предварительное вы вление направле ний преимущественной ориентахщи ча тиц в слое. Наиболее близким к изобретению вл етс способ определени орие .нтации непрозрачных частиц в.рассеивающем слое, в котором облучают слой пол ризованным излучением и определ ют пол ризацию прошедшег излучени С2. Недостатком известного способа л етс длительность и сложность определени ориентации частиц, что обусловлено необходимостью проведе измерений строго вдоль преимущественной ориентации и нормально к ней, точного определени толщины с а также высокими требовани ми к то ности определени угла поворота плоскости пол ризации прошедшего и лучени . Целью изобретени вл етс умен шение времени и упрощение способа определени ориентации частиц. Указанна цель достигаетс тем что согласно способу определени :тепени ориентации непрозрачных, частиц в рассеивающем слое, при осуществлении которого облучают слой пол ризованным излучением и определ ют пол ризацию прошедшего излучени , рассеивающий слой облучают циркул рнопол ризованным Mok хроматическим .«излучением, определ ют значение приведенного четверто параметра Стокса S. излучени , прошедшего слой, и определ ют сте ориентации Р частиц в слое по форм ле . .: . Р ijl - S. На фиг,1 изображена эксперимен та.аьно установленна зависимость 132 приведенного четвертого параметра Стокса от степени ориентации частиц Р;на фиг,2 - графики зависимости приведенного четвертого параметра Стокса, прошедшего слой излучени от угла ориентации частиц б в рассеивающем слое при различных напр женност х приложенного к рлою ориентирующего магнитного пол . Циркул рность пол ризации облучающего- светового пучка достигаетс с помощью стандартного кругового (циркул рного пол ризатора. Пол ризаци прошедшего рассе нного слоем света измер етс при помощи анализатора , состо щего из пленочного пол роида и четвертьволновой пластинки. Степень ориентации частиц в слое определ етс .по расчетному значению нормированного четвертого параметра Стокса S рассе нного света ( первый параметр Стокса). Дл этого снимают четыре отсчета регистрирующего устройства N, N, N, (они пропорциональны интенсивности рассе нного света ) при следующих углах ориента1щи (см. таблицу) быстрых осей пол ровда и и/4 в приемнике , отсчитываемых относительно плоскости рассе ни : I . N,-N.. Тогда 5. 1 при любом уг-ле ориентации рассеивающих частиц в слое относительно плоскости рассе ни , измен ющимс в пределах О -180. Экспериментально установленна зависимость от степени ориентации частиц F приведена на фиг.1. Функциональна св зь величины Р и $4 описываетс формулой Р TI- S , котора и используетс дл практического определени степени ориентации частиц Р в слое по измеренному значению приведенного четвертого параметра Стокса светового пучка, прошедшего слой. Измерени параметров прошедшего излучени провод т на типичном Стоке-пол риметре . Пример. Используютс слои ферромагнитных палочкообразных частиц диаметром 0,5 мкм и длиной 2-. . 3 мкм с различной степенью ориентации , достигаемой изменением напр женности ориентирующего магнитного пол . Облучение проводитс монохроматическим пучком с / 633 нм, диаметром 10 мм и угловой расходимостью 40. В качестве фотоприемного уст3 ройства исполь зует с фо тоэлек тронный умножитель типа ФЭУ 38, дл ре гистрации - гальванометр УФ - 206, На фиг.2 изображены графики зав симости S прошедшего светового пучка от угла ориентации частиц О исследуемом слое при различных нап женност х магнитного пол . Кривые графика относ тс к след юпщм значени м напр женности: Э , Величина S .(фиг.2) не зависит iOT угла преимущественной ориентации частиц в слое, но существенно зависит от степени их ориентации: величина S стремитс к единичному значению при уменьшении степени ориентации частиц в слое и дп хаотически ориеИтированной системы величина S равна единице, с уве134 личением степени ориентации частиц она уменьшаетс и при 100%-й ориентации частиц равна нулю, Поэтому указанна зависимость от Р положена в основу способа определени ориентации частиц в слое, оптическа толщи на которого равна или меньше единицы . Применение предлагаемого способа позвол ет уменьшить врем на определение ориентации частиц в слое, в 23 раза, упрощает процесс определени ориентации путем уменьшени числа необходимых измерений, поскольку они могут проводитьс при любом угле ориентации частиц в , измерени также не св заны с определением угла поворота плоскости пол ризации светового пучка., прошедшего слой, и не требуетс точного значени толщины сло , содержащего ориентироваиные частицы, что ускор ет и облегчает- получение конечного результата.
-х-х-«-
- «
д л ж
-- --х-x-- - -st-i - X-Ob-dM
X К X X. X
.)e-)-)b.HS
Claims (1)
- СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ’ ОРИЕНТАЦИИ НЕПРОЗРАЧНЫХ ЧАСТИЦ В РАС-1СБИВАЮЩЕМ СЛОЕ, при осуществлении которого облучают слой поляризованным излучением и определяют поляризацию прошедшего излучения, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени определения и упрощения способа, рассеивающий слой облучают циркуляр,нополяризованным монохроматическим излучением, определяют значения приведенного четвертого параметра Стокса S4 излучения, прошедшего слой, и определяют степень ориентации Р частиц в слое по. формулеР 1|| - sj.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813291944A SU1138713A1 (ru) | 1981-05-11 | 1981-05-11 | Способ определени степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813291944A SU1138713A1 (ru) | 1981-05-11 | 1981-05-11 | Способ определени степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1138713A1 true SU1138713A1 (ru) | 1985-02-07 |
Family
ID=20959451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813291944A SU1138713A1 (ru) | 1981-05-11 | 1981-05-11 | Способ определени степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1138713A1 (ru) |
-
1981
- 1981-05-11 SU SU813291944A patent/SU1138713A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Веллюз Л. и др. Оптический круговой дихроизм. М., Мир, 1967, с.76-84. 2. Авторское свидетельство СССР № 264158, кл. G 01 N 21/21, 1968. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107014803B (zh) | 一种拉曼光谱检测装置 | |
JPH0772068A (ja) | 光散乱測定用のサンプル・セル及びそのサンプル・セル・モニタ | |
DE102022204526A1 (de) | Magnetfeldsensor auf Basis von Spinresonanzen | |
US6025917A (en) | Polarization characteristic measuring method and apparatus | |
US5956144A (en) | Method and apparatus for use of polarized light vectors in identifying and evaluating constituent compounds in a specimen | |
JPH01213552A (ja) | 改良された反射光度計 | |
Park et al. | Variations in dose distribution and optical properties of GafchromicTM EBT2 film according to scanning mode | |
SU1138713A1 (ru) | Способ определени степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое | |
WO2017018953A1 (en) | Multi functional sample holder and high resolution detection system for magneto optical kerr effect measurements | |
Kuczyński et al. | Interference method for the determination of refractive indices and birefringence of liquid crystals | |
JPH1068673A (ja) | 光学的異方性測定装置及びそれを用いた光学的異方性測定方法 | |
JPH0369059B2 (ru) | ||
US6236056B1 (en) | Defect evaluation apparatus for evaluating defects and shape information thereof in an object or on the surface of an object | |
JP3994568B2 (ja) | 偏光性測定装置 | |
JP3275022B2 (ja) | 結晶内のフォトルミネッセンス計測装置 | |
JP4728830B2 (ja) | 光学的異方性パラメータ測定方法及び測定装置 | |
JPS60142204A (ja) | 物体の寸法計測方法 | |
McIntyre | An Absolute Light Scattering Photometer: II. Direct Determination of Scattered Light From Solutions | |
JP3220252B2 (ja) | Eoプローブ | |
JP2715999B2 (ja) | 多結晶材料の評価方法 | |
JPS61142428A (ja) | 光コリメ−タ | |
JPH10239028A (ja) | エッチング深さ測定方法及びその装置 | |
JPH102836A (ja) | 光学的異方性測定装置 | |
JP2666495B2 (ja) | 屈折率分布測定方法及び屈折率分布測定装置 | |
RU2062978C1 (ru) | Способ определения геометрических характеристик объектов |