SE449531B - Forfarande och anordning for kontroll av mikromasker - Google Patents
Forfarande och anordning for kontroll av mikromaskerInfo
- Publication number
- SE449531B SE449531B SE8008725A SE8008725A SE449531B SE 449531 B SE449531 B SE 449531B SE 8008725 A SE8008725 A SE 8008725A SE 8008725 A SE8008725 A SE 8008725A SE 449531 B SE449531 B SE 449531B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- micromask
- laser beam
- signal
- control signal
- intensity
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/68—Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
- G03F1/82—Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting
- G03F1/84—Inspecting
Description
449 551 2
rörelse i tvâ inbördes vinkelräta riktningar mellan en lasers optik och mikro-
masken förskjutas relativt en från nämnda laser vinkelrätt mot mikromasken in-
fallande laserstråle på samma sätt som när mikromasken framställdes, varvid
laserstrâlen bringas att reflekteras mot eller transmitteras genom mikromasken,
varvid det sålunda reflekterade eller transmitterade laserljuset avkännes me-
delst ett ljuskänsligt organ, vars utsignal liksom en styrsignal påföres en
jämförelsekrets, och utmärkes av att nämnda styrsignal motsvarar en vid mikro-
maskens generering utsänd styrsignal avseende de nämnda variationerna i laser-
strålens intensitet och/eller läge, vilken styrsignal förefinns lagrad i nämnda
minne och av, att påförande av den i minnet lagrade styrsignalen på jämförel-
sekretsen sker samtidigt och synkront med att nämnda utsignal påföres jämförel-
sekretsen under styrning av lägeskännande organ avseende mikromaskens position
relativt den mot denna vinkelrätt infallande laserstrâlen, varvid vid överens-
stämmelse mellan de sålunda jämförda signalerna indikering av att mikromasken
är korrekt genererad erhålles och vid avvikelse mellan signalerna indikering
av att en felaktighet förefinns erhålles.
Vidare avser uppfinningen en anordning för kontroll av mikromasker enligt nämn-
da förfarande av det slag och med i huvudsak de särdrag, som angives i patent-
krav 3.
Nedan beskrives uppfinningen i samband med bifogade ritningar, där
- fig. l schematiskt visar en anordning, där uppfinningen tillämpas och vil-
ken är en blandning av ett blockschema och en skiss av en anordning,
- fig. 2 visar ett principiellt tvärsnitt av en mönsterplatta.
l fig. l visas en mekanisk anordning l för förskjutning av en del av en
strålningskällas optik 2 i två vinkelräta riktningar relativt en mönsterplat-
ta 3 innefattande ett substrat Å för framställning av en mikromask.
I det som exempel visade utförandethos anordningen l, vilken motsvarar den i
det svenska patentet nr. 7501605-S visade anordningen, förefinns en första
slid 5 anordnad för en relativt långsam rörelse i y-led medelst en stegmotor
6 med tillhörande skruv 7. En andra slid 8 är anpassad för en relativt snabb
fram- och återgående rörelse i x-led medelst två fjädrar 9,l0 samt en elek-
tromagnetisk drivanordning ll. Den andra sliden 8 utgör en svängande massa i
ett mekaniskt system.
Nämnda del 2 av optiken är anordnad vid den andra sliden.
...Z
3 449 531
Vid generering av en mikromask 4 föres den andra sliden 8 snabbt fram och
åter under det att den första sliden 5 rör sig långsamt, vilket innebär att
det genom optiken 2 förda ljuset från en laser l2 sveper i ett linjemönster
över det strålningskänsliga substratet Ä. Genom att variera ljusintensiteten
som träffar substratet Ä erhålles ett mönster, d.v.s. en mikromask.
Enligt det amerikanska patentet nr. 3,903,536 förefinns en akusto-optisk
modulator 13, vilken påtryckes en modulerad högfrekvent signal från en styr-
anordning lä via en ledare l5, visad streckad i fig. l. Modulatorn l3 har till
uppgift att avlänka strålen l6 från lasern l2 samt att modulera strålens in-
tensitet vid dess passage av modulatorn 13. Den akusto-optiska modulatorn 13
innefattar en glaskropp l7, mot vilken en eller flera piezo-elektriska kri-
staller l8 anligger. Det är mot denna eller dessa kristaller nämnda signal
påtryckes, varvid ultraljudvågor bildas iglaskroppen l7. Uitraljudvågorna
får till följd att ett raster av olika täthet bildas i glaskroppen, vilket
åstadkommer avlänkning av strålen l6.
Variationen hos laserstrålen l6 i kombination med strålkällans optiks 2 re-
lativrörelse gentemot det strålningskänsliga substratet ger således en mikro-
mask i enlighet med den signal, som pâtryckts modulatorn l3 från styrenheten.
För att kontinuerligt positionsbestämma substratets Å läge relativt optiken
2 förefinns positionsgivare i form av dels en givare på stegmotorn 6, vilken
kan vara en pulsräknare 23 samt en laserinterferometer 19,20 av känd typ exem-
pelvis enligt det amerikanska patentet nr. 3,903,536. Till iaserinterferome-
tern l9, 20 är härvid anslutet en räknare 21 samt en avkodare 22 av känt slag
för framställning av en signal motsvarande den andra slidens 8 position rela-
tivt sustratet. Till pulsgeneratorn föreflnns även en motsvarande avkodare Zh
ansluten för framställning av en signal motsvarande den första slidens 8 po-
sition relativt substratet.
Vid generering av en mikromask är således nämnda till modulatorn l3 avgiven
signal synkroniserad, via styranordningen lå, med positionen av optiken 2 re-
lativt substratet Ä.
Styranordningen lä är av känt slag enligt ovan nämnda patent och innefattar
register för mottagande av information från ett minne innehållande den önska-
de mikromaskens konfiguration av anordningar för aistring av nämnda signal
till modulatorn l3 i enlighet med nämnda information.
449 531 i*
Ovan har beskrivits ett exempel på en anordning för åstadkommande av rela-
w'
tivrörelse mellan en del av en optik 2 och ett substrat Å samt för genere-
ring av en mikromask.
Det är alldeles klart att andra mekaniska eller elektroniska/mekaniska an-
ordningar kan utnyttjas för att åstadkomma nämnda relativrörelse.
Föreliggande uppfinning, som skall beskrivas nedan med utgångspunkt från
den ovan som exempel visade anordningen kan tillämpas vid masker genererade,
medelst vilken som helst anordning, där informationen avges från en styran-
ordning i form av en styrsignal innefattande modulation av strålen l6, vilken
avges i beroende av positionsangivelser avseende strålens träffpunkt på sub-
stratet relativt substratets yta.
Mönsterplattan 3 innefattar en glasskiva 25, på vilken ett lager 26 av exem-
pelvis krom eller kromoxid förefinns och ovanpå detta ett lager 27 av s.k.
fotoresist. Medelst lasern l2, vilket kan vara en He-Cd laser, exponeras
lagret 27 av fotoresist, vilket vid framkallning försvinner vid exponerade
eller icke exponerade partier. Därefter etsas lagret av krom eller kromoxid,
varefter mikromasken är färdig.
Den nämnda informationen avseende mikromaskens position vid dess framställ-
ninq relativt en mot denna infallande i intensitet och/eller läge varieran-
de laserstråle samt laserstrålens intensitets- och/eller lägesvariation in-
matas i styranordningen lå.
Mikromasken Å placeras i anordninqen l för åstadkommande av nämnda relativ-
rörelse och inriktas r startposition i denna.
Laserstrålen l6 tillåts omodulerad passera modulatorn l3 och/eller ett lins-
system 28,2. Det av substratet reflekterade laserliuset tillåts passera en
för ändamålet förefintlig halvqenomskinlig spegel 29 och därvid mottagas av
ett ljuskänsligt organ 30 av känt slag. Efter förstärkning i en förstärkare
31 avges signalen på det ljuskänsliga organets 30 utqånq till en jämförelse-
krets 32.
Genom att den omodulerade laserstrålen #3 reflekteras mot mikromasken modu-
leras laserstrålen på ett sätt motsvarande det sätt, på vilket den var modu-
lerad vid mikromaskens genererinq, alternativt skulle vara modulerad för att
framställa en dylik mikromask. Den reflekterade laserstrålen Åh, vilken av-
kännes av det ljuskänsliga organet 30 innehåller således information om mik-
romaskens mönster i form av en modulering.
s 449 531
Jämförelsekretsen 32 innefattar företrädesvis en exklusiv-eller-grind 33.
Likaväl som laserstrålen bringas att reflekteras mot mikromasken, kan den
i stället bringas att transmitteras och därefter avkännas av ett motsvaran-
de ljuskänsligt organ.
Före igångsättning av anordningen l inställes slidernas 5,8 läge medelst
positionsgivarna 23;l9,20. Härvid är båda avkodarna 22,2Å avsedda att exem-
pelvis ange en binär "0", vilket indikerar startposition för sliderna. Var-
dera avkodarens 22,2Å utsignal påföres en och-grind Bh, vilken då utsignal-
erna är lika avger en startpuls via ledaren 35 till styranordningen ih.
Styranordningen lä är härvid anordnad att starta drivanordningen ll och steg-
motorn 6, varvid mikromaskens läge relativt den mot denna infallande laser-
strålen förändras i enlighet med ett linjemönster på motsvarande sätt, som
vid mikromaskens generering.
Positionsgivarna 23;l9,20 avger via avkodarna 22,2ë kontinuerligt signaler
avseende slidernas 8,5 position, vilket motsvarar positionen av nämnda mot
mikromasken infallande laserstråle relativt míkromasken, dels till en logisk
krets 36 via ledarna 39,H0, dels till styranordningen lb via ledarna h1,H2.
Styranordningen lä är härvid anordnad att, på basis av dessa signaler, ut-
sända en styrsignal i form av exempelvis en modulationssignal motsvarande
den inledningsvis nämnda informationen synkront med den position, som mik-
romasken har relativt det infallande laserljuset ÄB. Härvid utsändes således
styrsignalen synkront med det avkända reflekterade Nä eller transmitterade
ljuset. Denna modulationssignal, vilken vid generering av mikromasken styrde
modulatorn l3, påföres nämnda jämförelsekrets 32.
De två sålunda på jämförelsekretsen 32 påförda signalerna, nämligen dels
modulationssignalen, dels signalen motsvarande det reflekterade laserljuset,
jämföres i kretsen 32. Vid överensstämmelse mellan de sålunda jämförde sig-
nalerna indikeras att mikromasken korrekt genererad och vid avvikelse mellan
signalerna indikeras att en felaktighet förefinns. Vid avvikelse mellan sig-
nalerna avger jämförelsekretsen 32 en signal via en ledare 37 till nämnda
logiska krets 36, vilken härvid är anordnad att utskriva den position, som
anges av avkodarna 22,2h på en skrivare 38 eller dylikt, eller inmata posi-
tionen i ett minne. Härvid föreligger för vissa fall möjlighet att utifrån
positionsangivelsen reparera felaktigheten.
449 551
Den logiska kretsen 36 kan vara utförd att med ledning av signalen från en
modifierad jämförelsekrets 33 för avgivande av kontinuerliga signaler detek-
tera, vilken typ av felaktighet som förefinns och därvid vara anordnad att
lagra den informationen i ett minne 38 tillsammans med positionen.
Ovan har förfarandet och anordningen enligt uppfinningen beskrivits i sam-
band med den i fig. l visade föredragna anordningen, där en akusto-optisk
modulator l3 förefinns och där den ena sliden 8 bär optik 2. Givetvis kan
laserstrålens intensitets- och/eller lägesvariation relativt ett substrat
åstadkommas på annat sätt, vid vilket de då avgivna styrsignalerna utnyttjas
på motsvarande sätt.
Uppfínnlngen skall således i detta avseende inte anses begränsad till ovan
angivna utföringsformer, utan kan varieras inom dess av bifogade patentkrav
angivna ram.
Den reflekteradelaserstrålen Åk eller en transmitterad laserstråle innehåller
således information om mikromaskens mönster i form av en modulation eller
signalvariation på utgången av det ljuskänsliga organet 30. Det är tydligt
att medelst föreliggande uppfinning kan varje mikromask kontrolleras oavsett 2”
anordning, medelst vilken den tillverkats under förutsättning att information A
förefinns i ett minne avseende mikromaskens mönster, vilken information kan,
om nödvändigt, konverteras till en signal jämförbar med signalen uppträdande
på det ljuskänsliga organets 30 utgång.
Ovan har nämnts att styrsignalen, som påföres jämförelsekretsen motsvarar den
styrsignal, som utnyttjades vid mikromaskens generering.
I detta sammanhang kan åtminstone två fall särskiljas.
I det första fallet är mikromasken genererad medelst en laserstråle, som via
en akusto-optisk modulator givits endast intensitetsvariationer avseende den
av substratet träffade laserstrålen. Härvid utgöres således styrsignalen av
en intensitetsstyrning. I detta fall utsändes vid förfarandet enligt uppfin-
ningen en omodulerad laserstråle mot mikromasken samtidigt som styrsignalen
påföres jämförelsekretsen.
l ett andra fall är mikromasken genererad medelst en laserstråle, som via en
eller två akusto-optiska modulatorer l3, givits dels íntensitetsvariationer,
dels lägesvariationer, d.v.s. ett svep mellan av sliderna mekaniskt åstad-
komna närliggande parallella förskjutningar av optiken 2 relativt substratet.
7 449 551
l detta fall utsändes mot mikromasken, vid föreliggande förfarande, en laser-
stråle, vilken medelst styrsignalen styrs att genomföra samma lägesvariatio-
ner, som vid generering av mikromasken. Denna del av styrsignalen påtryckes
således den eller de modulatorer l3, som vid genereringen gav lägesvaríation-
erna. I fig. l sker detta via ledaren 15. Samtidigt som denna del av styrsig-
nalen påtryckes modulatorn l3, påtryckes den del av styrsignalen, som vid ge-
nereringen styrde intensitetsvariationerna jämförelsekretsen 32.
l båda fallen jämföres således intensitetsvariationer i jömförelsekretsen 32.
Emellertid kan inom uppfïnningens ram det ljuskänsliga organet 30 utföras för
att även avkänna lägesvariationer. varför då styrsignalen innefattar en del
för styrning av lägesvariationer även denna del påföres jämförelsekretsen 32,
som i sådant fall är anordnad att jämföra dels intensitetsvariationer, dels
lägesvariationer.
Upnfinningen skall således inte anses begränsad till ovan angivna utförings-
former, utan kan varieras inom dess av bifogade patentkrav angivna ram.
Claims (5)
1. Förfarande för kontroll av mikromasker, vars mönster föreligger i form av , en i ett minne lagrad information avseende mikromaskens position, vid dess fram- ställning, relativt en mot denna vinkelrätt infailande i intensitet och/eller läge varierande laserstrâle i varje så genererad punkt av mikromasken, samt information ' avseende laserstrålens intensitets- och/eller lägesvariation, där en mikromask, som skall kontrolleras bringas att medelst en anordning för relativrörelse i två inbördes vineklräta riktningar mellan en lasers optik och mikromasken förskjutas relativt en från nämnda laser vinkelrätt mot mikromasken infallande laserstråle på samma sätt som när mikromasken framställdes, varvid laserstrålen bringas att reflek- teras mot eller transmitteras genom mikromasken, varvid det sålunda reflekterade el- ler transmitterade laserljuset avkännes medelst ett ljuskänsligt organ, vars utsig- nal liksom en styrsignal påföres en jämförelsekrets, k ä n n e t e c k n a t av, att nämnda styrsignal motsvarar en vid mikromaskens genereríng utsänd styrsignal avseende de nämnda variationerna i laserstrålens intensitet och/eller läge, vilken styrsignal förefinns lagrad i nämnda minne och av, att påförande av den i minnet lagrade styrsignalen på jämförelsekretsen sker samtidigt och synkront med att nämn- da utsígnal påföres jämförelsekretsen under styrning av lägeskännande organ avseen- de mikromaskens position relativt den mot denna vinkelrätt infallande laserstrålen, varvid vid överensstämmelse mellan de sålunda jämförde signalerna indikering av att ? mikromasken är korrekt genererad erhålles och vid avvikelse mellan signalerna indi- kering av att en felaktighet förefinns erhålles.
2. Förfarande enl. krav l, för det fall mikromasken genererats medelst en laserstråle, vars intensitet och/eller läge varierats medelst en modulator, exem- pelvis en akusto-optisk modulator, k ä n n e t e c k n a t av, att den vid gene- reringen av mikromasken till modulatorn tillförda modulationssignalen påföres nämnda jämförelsekrets, som därvid jämföres med nämnda reflekterade eller trans- mitterade signal.
3. Anordning för kontroll av mikromasker, vars mönster föreligger i form av en i ett minne lagrad information avseende mikromaskens (4) position vid dess framställning relativt en mot denna vinkelrätt infallande i intensitet och/eller läge varierande laserstrâle i varje så genererad punkt av mikromasken (H) samt information avseende laserstrålens intensitets- och/eller lägesvariation, innefat- tande en anordning (l) för åstadkommande av en relativrörelse mellan en optik (2) tillhörig en laser (12) och mikromasken (Å) i två inbördes vinkelräta riktningar ' och innefattande positionsorgan (l9,20;23) för indikering av positionen av mikro- masken (Å) relativt nämnda optik (2), där nämnda laser (12) med tillhörande optik V' (2,28,l3) är anordnad att utsända en laserstråle (ÄB) riktad vinkelrätt mot mikro- masken och där ett ljuskänsligt organ (30) förefinns anordnat att avkänna reflek- tionen av laserstrålen (43) mot mikromasken eller en transmitterad del av laser- gstrålen (#3) samt där en jämförelsekrets (32) förefinns anordnad att jämföra en 449 531 .9 från det ljuskänsliga organet (30) avgiven signal med en från ett styrorgan (ih) till jämförelsekretsen (32) avgiven styrsignal motsvarande nämnda information av- seende variationer i en laserstråies intensitet och/eller läge, k ä n n e t e c k - n a d av, att styrorganet (lb) är anordnat att avge nämnda styrsignal synkront med av positionsorganen (l§,20;23) angiven aktuell position, så att styrsignalen motsvarar den vid genereringen av mikromasken (Å) utsända styrsignalen samt av, att jämförelsekretsen (32) är anordnad att avge en signal för det fall en avvi- kelse mellan de två till jämförelsekretsen avgivna signalerna föreligger.
4. Anordning enl. krav 3, k ä n n e t e c k n a d av, att jämförelsekret- sen (32) är anordnad att avge nämnda signal till en krets (36) innefattande ett minne eller motsvarande, vilken krets (36) är anordnad att därvid registrera den position, vid vilken nämnda signal uppträder medelst signaler från nämnda posi- tionsorgan (l9,20;23).
5. Anordning enl. krav 3 eller Å, för det fall mikromasken genererats me- delst en laserstråle, vars intensitet och/eller läge varierats medelst en nodula- tor, exempelvis en akusto-optisk modulator, k ä n n e t e c k n a t av, att styr- anordningen (ih) är anordnad att avge en modulationssignal till jämföreisekretsen (32) lika den modulationssignal, som påfördes nämnda modulator (13) vid mikromas- kms(4)gæeærmg
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8008725A SE449531B (sv) | 1980-12-11 | 1980-12-11 | Forfarande och anordning for kontroll av mikromasker |
DE19813148121 DE3148121A1 (de) | 1980-12-11 | 1981-12-04 | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle von mikromasken |
US06/328,681 US4465350A (en) | 1980-12-11 | 1981-12-08 | Method and device for inspecting micromask patterns |
DD81235629A DD202080A5 (de) | 1980-12-11 | 1981-12-10 | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle von mikromasken |
GB8137347A GB2089504B (en) | 1980-12-11 | 1981-12-10 | Checking micromasks |
FR818123219A FR2496262B1 (fr) | 1980-12-11 | 1981-12-11 | Procede et dispositif de controle de micromasques |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8008725A SE449531B (sv) | 1980-12-11 | 1980-12-11 | Forfarande och anordning for kontroll av mikromasker |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8008725L SE8008725L (sv) | 1982-06-12 |
SE449531B true SE449531B (sv) | 1987-05-04 |
Family
ID=20342444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8008725A SE449531B (sv) | 1980-12-11 | 1980-12-11 | Forfarande och anordning for kontroll av mikromasker |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4465350A (sv) |
DD (1) | DD202080A5 (sv) |
DE (1) | DE3148121A1 (sv) |
FR (1) | FR2496262B1 (sv) |
GB (1) | GB2089504B (sv) |
SE (1) | SE449531B (sv) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5958586A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Toshiba Mach Co Ltd | マスクの検査方法および装置 |
JPS5963725A (ja) * | 1982-10-05 | 1984-04-11 | Toshiba Corp | パタ−ン検査装置 |
US4550374A (en) * | 1982-11-15 | 1985-10-29 | Tre Semiconductor Equipment Corporation | High speed alignment method for wafer stepper |
CH663483A5 (fr) * | 1985-03-04 | 1987-12-15 | Eie Electronic Ind Equipment S | Dispositif pour exposer des parties discretes d'une surface photosensible au moyen d'un faisceau de lumiere. |
US4770536A (en) * | 1986-12-04 | 1988-09-13 | Moshe Golberstein | Reflective photometry instrument |
US5025826A (en) * | 1990-09-04 | 1991-06-25 | Adolf Schoepe | Faucet handle universal coupling |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3670153A (en) * | 1970-10-08 | 1972-06-13 | Rca Corp | Machine implemented method for positioning and inspecting an object |
SE375216B (sv) * | 1972-09-12 | 1975-04-07 | G Westerberg | |
US3844461A (en) * | 1973-04-09 | 1974-10-29 | Gerber Scientific Instr Co | Precise indexing apparatus and method |
FR2257102B1 (sv) * | 1973-04-19 | 1976-09-10 | Frehling Andre | |
US3881098A (en) * | 1973-07-05 | 1975-04-29 | Gerber Scientific Instr Co | Photoexposure system |
US3903536A (en) * | 1973-11-19 | 1975-09-02 | Gerhard Westerberg | Device for generating masks for microcircuits |
DE2441472A1 (de) * | 1974-08-29 | 1976-03-11 | Siemens Ag | Anordnung zum lichtoptischen rechnergesteuerten zeichnen von masken fuer halbleiter-bauelemente |
SE399628B (sv) * | 1975-02-13 | 1978-02-20 | Westerberg Erik Gerhard Natana | Drivanordning, speciellt for anvendning vid en avsokningsanordning for framstellning av masker for mikrokretsar |
US4056716A (en) * | 1976-06-30 | 1977-11-01 | International Business Machines Corporation | Defect inspection of objects such as electronic circuits |
DE2700252C2 (de) * | 1977-01-05 | 1985-03-14 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zum Prüfen definierter Strukturen |
US4218142A (en) * | 1978-03-08 | 1980-08-19 | Aerodyne Research, Inc. | Mask analysis |
US4247203A (en) * | 1978-04-03 | 1981-01-27 | Kla Instrument Corporation | Automatic photomask inspection system and apparatus |
US4295198A (en) * | 1979-04-02 | 1981-10-13 | Cogit Systems, Inc. | Automatic printed circuit dimensioning, routing and inspecting apparatus |
US4231659A (en) * | 1979-04-11 | 1980-11-04 | The Gerber Scientific Instrument Company | Method of making an overlay mask and a printing plate therefrom |
DE2929846A1 (de) * | 1979-07-23 | 1981-03-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Opto-elektronisches pruefsystem zur automatischen beschaffenheitspruefung von leiterplatten, deren zwischenprodukte und druckwerkzeuge |
-
1980
- 1980-12-11 SE SE8008725A patent/SE449531B/sv unknown
-
1981
- 1981-12-04 DE DE19813148121 patent/DE3148121A1/de active Granted
- 1981-12-08 US US06/328,681 patent/US4465350A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-12-10 GB GB8137347A patent/GB2089504B/en not_active Expired
- 1981-12-10 DD DD81235629A patent/DD202080A5/de unknown
- 1981-12-11 FR FR818123219A patent/FR2496262B1/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DD202080A5 (de) | 1983-08-24 |
US4465350A (en) | 1984-08-14 |
FR2496262B1 (fr) | 1985-07-26 |
SE8008725L (sv) | 1982-06-12 |
GB2089504B (en) | 1985-04-11 |
DE3148121A1 (de) | 1982-08-05 |
FR2496262A1 (fr) | 1982-06-18 |
GB2089504A (en) | 1982-06-23 |
DE3148121C2 (sv) | 1992-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6615099B1 (en) | Method and device for calibrating a workpiece laser-processing machine | |
JP4126096B2 (ja) | 感光性被覆を有する基板上に集束レーザ放射により構造物を製作する方法と装置 | |
US3573849A (en) | Pattern generating apparatus | |
US6037967A (en) | Short wavelength pulsed laser scanner | |
US4279472A (en) | Laser scanning apparatus with beam position correction | |
US5132723A (en) | Method and apparatus for exposure control in light valves | |
US4063103A (en) | Electron beam exposure apparatus | |
US3622742A (en) | Laser machining method and apparatus | |
JPS58122543A (ja) | レ−ザパタ−ン発生のための装置及び方法 | |
JP2002113836A (ja) | 版に画像を形成する装置、およびインタリーブラスタ走査ライン方法 | |
US4053898A (en) | Laser recording process | |
US4119854A (en) | Electron beam exposure system | |
JP2000133567A (ja) | 電子ビーム露光方法及び電子ビーム露光装置 | |
US5331407A (en) | Method and apparatus for detecting a circuit pattern | |
US4435055A (en) | Multiple frequency ranging apparatus for focus control | |
SE449531B (sv) | Forfarande och anordning for kontroll av mikromasker | |
JPS6226819A (ja) | 加工物上にパタ−ンを発生させる装置 | |
US5558884A (en) | System for rapidly producing either integrated circuits on a substrate, Interconnections on a printed circuit board or rapidly performing lithography | |
KR100686806B1 (ko) | 레이저 스캐너를 이용한 기판 패턴 노광 방법 | |
US4264822A (en) | Electron beam testing method and apparatus of mask | |
US5079430A (en) | Ultraviolet radiation projector and optical image forming apparatus | |
CN100349335C (zh) | 电磁辐射脉冲定时控制 | |
JP4182515B2 (ja) | パターン描画装置 | |
US4365256A (en) | Method for accurate control of a light beam in phototypesetting and other applications | |
JP2007094122A (ja) | レーザ直接描画装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NAL | Patent in force |
Ref document number: 8008725-7 Format of ref document f/p: F |