RU99116264A - Способ нахождения фазы при получении фазовых контрастных изображений - Google Patents

Способ нахождения фазы при получении фазовых контрастных изображений

Info

Publication number
RU99116264A
RU99116264A RU99116264/28A RU99116264A RU99116264A RU 99116264 A RU99116264 A RU 99116264A RU 99116264/28 A RU99116264/28 A RU 99116264/28A RU 99116264 A RU99116264 A RU 99116264A RU 99116264 A RU99116264 A RU 99116264A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation
phase
irradiating
image
values
Prior art date
Application number
RU99116264/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2214697C2 (ru
Inventor
Стефен Вилльям УИЛКИНЗ
Эндрю Весли СТЕВЕНСОН
Эндрю Питер ПОГАНИ
Тимур ГУРЕЕВ
Original Assignee
Экс-Рэй Текнолоджиз Пти Лтд
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from AUPO4344A external-priority patent/AUPO434496A0/en
Priority claimed from AUPO8991A external-priority patent/AUPO899197A0/en
Application filed by Экс-Рэй Текнолоджиз Пти Лтд filed Critical Экс-Рэй Текнолоджиз Пти Лтд
Publication of RU99116264A publication Critical patent/RU99116264A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2214697C2 publication Critical patent/RU2214697C2/ru

Links

Claims (33)

1. Способ получения изображения изменения фазы, введенного объектом в проникающее излучение, падающее на объект, включающий облучение объекта проникающим излучением, имеющим высокую поперечную пространственную когерентность; прием, по меньшей мере, части этого излучения детектором после того, как излучение вышло из объекта, и посредством этого получение и запись, по меньшей мере, двух записей напряженности для принятого излучения, причем каждая из них включает величины напряженности на предопределенных интервалах; и использование этих величин для получения матрицы величин, определяющих изображение изменения фазы, вводимого объектом в проникающее излучение, в котором упомянутые записи напряженности получают на постоянном ограниченном расстоянии после того, как излучение вышло из объекта, и относят к соответствующим различным распределениям энергии детектируемого излучения.
2. Способ по п. 1, в котором соответствующие различные распределения энергии получают путем изменения спектра энергии излучения, облучающего объект.
3. Способ по п. 1, в котором соответствующие различные распределения энергии получают путем обеспечения детектора возможностью обеспечивать напряженность как функцию энергии в определенном энергетическом диапазоне или диапазонах.
4. Способ по пп. 1, 2 или 3, в котором упомянутое вычисление включает решение одного или более дифференциальных уравнений передачи напряженности, связывающих фазу на плоскости объекта с изменением распределения напряженности вдоль направления распространения, используя предопределенные постоянные граничные условия.
5. Способ по пп. 1, 2 или 3, в котором упомянутое вычисление включает решение оптических уравнений Фурье.
6. Способ по любому из предшествующих пунктов, в котором упомянутые значения напряженности также отражают контрастность поглощения в объекте, и этот способ дополнительно включает использование упомянутых значений для нахождения матрицы величин, определяющих действительное чистое поглощающе-контрастное изображение объекта.
7. Способ по любому из предшествующих пунктов, в котором упомянутое проникающее излучение содержит излучение рентгеновских лучей.
8. Способ по п. 7, в котором упомянутое излучение рентгеновских лучей находится в диапазоне от 0,5 кэВ до 1 МэВ.
9. Способ по п.7 или 8, в котором упомянутое облучающее излучение является существенно монохроматическим.
10. Способ по п.7 или 8, в котором упомянутое облучающее излучение является полихроматическим.
11. Способ по любому из пп.7-10, в котором упомянутое облучающее излучение исходит от существенно точечного источника с полной шириной полумаксимума в 40 мкм или меньше.
12. Устройство для получения изображения изменения фазы, вводимого объектом в проникающее излучение, падающее на объект, содержащее источник для облучения объекта проникающим излучением, имеющим высокую поперечную пространственную когерентность; и детектор для приема, по меньшей мере, части упомянутого излучения после того, как излучение вышло из объекта, и посредством этого генерации, по меньшей мере, двух записей напряженности для принятого излучения, причем каждая из них включает величины напряженности на предопределенных интервалах; причем детектор предназначен для получения упомянутых записей напряженности на постоянном ограниченном расстоянии после того, как излучение вышло из объекта, и обеспечен средством, отличающим энергию, посредством которого упомянутые записи напряженности выполняются для соответственно различных распределений энергии детектированного излучения.
13. Устройство по п.12, в котором упомянутое средство, отличающее энергию, предназначено для изменения спектра энергии излучения, облучающего объект.
14. Устройство по п.13, в котором упомянутое средство, отличающее энергию, включает средство перевода данных детектора, способное обеспечить напряженность как функцию энергии в определенном энергетическом диапазоне или диапазонах.
15. Устройство по пп.12, 13 или 14, которое дополнительно включает компьютерное программное устройство, содержащее набор машинно-читаемых команд, который, будучи установленным в компьютере, имеющем подходящую операционную систему и средство памяти, конфигурирует компьютер таким образом, чтобы он мог при работе использовать упомянутые значения для нахождения матрицы величин, определяющих изображение изменения фазы, вносимого объектом в проникающее излучение.
16. Устройство по п.15, в котором упомянутое вычисление включает решение одного или более дифференциальных уравнений передачи напряженности, связывающих фазу на плоскости объекта с изменением распределения напряженности вдоль направления распространения, используя предопределенные постоянные граничные условия.
17. Устройство по п.15, в котором упомянутое вычисление включает решение оптических уравнений Фурье.
18. Устройство по любому из пп.12-17, которое дополнительно включает источник излучения рентгеновских лучей в качестве упомянутого источника для облучения объекта.
19. Устройство по п. 18, в котором упомянутое излучение рентгеновских лучей находится в диапазоне от 0,5 кэВ до 1 МэВ.
20. Устройство по п.18 или 19, в котором упомянутое облучающее излучение является существенно монохроматическим.
21. Устройство по п.18 или 19, в котором упомянутое облучающее излучение является полихроматическим.
22. Устройство по любому из пп.18-21, в котором упомянутый источник является существенно точечным источником с полной шириной полумаксимума в 40 мкм или меньше.
23. Способ получения изображения изменения фазы, введенного объектом в проникающее излучение, падающее на объект, из одной или более двумерных записей напряженности проникающего излучения после того, как оно прошло через объект, причем излучение имеет высокую поперечную пространственную когерентность, когда падает на объект, а запись или каждая из записей, полученная на ограниченном расстоянии после того, как излучение вышло из объекта, включает фазово-возмущенные составляющие в окружающем поле излучения, либо равномерно фазово-возмущенном, либо фазово не возмущенном, при этом способ включает запись величин напряженности из записи или каждой записи с предопределенными интервалами; использование этих величин и некоторых предопределенных постоянных граничных условий для нахождения матрицы величин, определяющих изображение изменения фазы, внесенного объектом в проникающее излучение, путем решения дифференциального уравнения передачи напряженности, связывающего фазу в выходной плоскости объекта с изменением распределения напряженности вдоль направления распространения.
24. Способ получения изображения изменения фазы, введенного объектом в проникающее излучение, падающее на объект, включающий облучение объекта проникающим излучением, имеющим высокую поперечную пространственную когерентность, прием, по меньшей мере, части упомянутого излучения детектором на одном или более ограниченных расстояниях после того, как излучение было выпущено из объекта, включая фазово-возмущенные составляющие в окружающем поле излучения, либо равномерно фазово-возмущенном, либо фазово не возмущенном, и таким образом, получение и запись значений напряженности для принятого излучения на предопределенных интервалах; и использование этих величин и некоторых постоянных граничных условий для нахождения матрицы величин, определяющих изображение изменения фазы, внесенного объектом в проникающее излучение, путем решения дифференциального уравнения передачи напряженности, связывающего фазу в плоскости объекта с изменением распределения напряженности вдоль направления распространения.
25. Способ по п.23 или 24, в котором упомянутые значения напряженности также отражают контрастность поглощения в объекте, и этот способ дополнительно включает использование упомянутых значений для нахождения матрицы величин, определяющих действительное чистое поглощающе-контрастное изображение объекта.
26. Способ по пп.23, 24 или 25, в котором упомянутое проникающее излучение содержит излучение рентгеновских лучей.
27. Способ по п.26, в котором упомянутое излучение рентгеновских лучей находится в диапазоне от 0,5 кэВ до 1 МэВ.
28. Способ по п.26 или 27, в котором упомянутое облучающее излучение является существенно монохроматическим.
29. Способ по п.26 или 27, в котором упомянутое облучающее излучение является полихроматическим.
30. Способ по п.29, в котором упомянутое уравнение включает спектрально взвешенный член или коэффициент, зависящий от квадрата соответствующих составляющих длин волн.
31. Способ по любому из пп.23-30, в котором упомянутые граничные условия включают постоянные Дирихле, Неймана или периодические граничные условия и выбираются так, чтобы достичь единственного решения уравнения для фазы, по меньшей мере, согласно произвольной постоянной составляющей.
32. Способ по п.31, в котором решение дополнительно использует одно или более оптических условий, выбранных из группы, состоящей из малой кривизны волнового фронта для падающего излучения, отсутствия точек фокуса между объектом и изображением, и равномерного освещения объекта.
33. Устройство для получения изображения изменения фазы, внесенного объектом в проникающее излучение, падающее на объект, содержащее источник для облучения объекта проникающим излучением, имеющим высокую поперечную пространственную когерентность; детектор для приема, по меньшей мере, части упомянутого излучения на ограниченном расстоянии после того, как излучение вышло из объекта, включая фазово-возмущенные составляющие в окружающем поле излучения, либо фазово не возмущенном, либо равномерно фазово-возмущенном, и таким образом, генерации значений напряженности для принятого излучения на предопределенных интервалах; и компьютер, включающий записанную программу машинно-читаемых команд, способную работать для использования упомянутых значений и некоторых предопределенных постоянных граничных условий, чтобы находить матрицу величин, определяющих изображение изменения фазы, внесенного объектом в проникающее излучение, путем решения дифференциального уравнения передачи напряженности, связывающего фазу на плоскости объекта с изменением распределения напряженности вдоль направления распространения.
RU99116264/28A 1996-12-24 1997-12-24 Способ и устройство для получения изображения изменения фазы, вводимого объектом в проникающее излучение RU2214697C2 (ru)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AUPO4344 1996-12-24
AUPO4344A AUPO434496A0 (en) 1996-12-24 1996-12-24 Deriving a phase-contrast image with a point source
AUPO8991 1997-09-05
AUPO8991A AUPO899197A0 (en) 1997-09-05 1997-09-05 Deriving a phase-contrast image with a point source

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU99116264A true RU99116264A (ru) 2001-07-10
RU2214697C2 RU2214697C2 (ru) 2003-10-20

Family

ID=25645337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99116264/28A RU2214697C2 (ru) 1996-12-24 1997-12-24 Способ и устройство для получения изображения изменения фазы, вводимого объектом в проникающее излучение

Country Status (13)

Country Link
US (2) US6226353B1 (ru)
EP (1) EP0954951B1 (ru)
JP (1) JP4436459B2 (ru)
KR (1) KR100511470B1 (ru)
CN (1) CN1214698C (ru)
AT (1) ATE422285T1 (ru)
AU (1) AU716800B2 (ru)
CA (1) CA2276051C (ru)
DE (1) DE69739243D1 (ru)
HK (1) HK1026565A1 (ru)
IL (1) IL130628A0 (ru)
RU (1) RU2214697C2 (ru)
WO (1) WO1998028950A1 (ru)

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL130628A0 (en) * 1996-12-24 2000-06-01 X Ray Technologies Pty Ltd Phase retrieval in phase contrast imaging
AUPP690098A0 (en) 1998-11-02 1998-11-26 University Of Melbourne, The Phase determination of a radiation wave field
EP1069429B2 (en) * 1999-07-16 2011-10-19 Konica Corporation X-ray image radiographing method
US6526121B1 (en) * 2000-03-29 2003-02-25 Yeu-Kuang Hwu Apparatus and method for imaging an object with real-time response
JP2001299733A (ja) * 2000-04-27 2001-10-30 Konica Corp Pci放射線画像処理装置、pci放射線画像検出処理装置、pci放射線画像出力装置及びpci画像診断支援装置
US6349128B1 (en) * 2000-04-27 2002-02-19 Philips Electronics North America Corporation Method and device using x-rays to measure thickness and composition of thin films
US6870896B2 (en) 2000-12-28 2005-03-22 Osmic, Inc. Dark-field phase contrast imaging
US6804324B2 (en) * 2001-03-01 2004-10-12 Osmo, Inc. X-ray phase contrast imaging using a fabry-perot interferometer concept
JP2002336232A (ja) * 2001-05-16 2002-11-26 Fuji Photo Film Co Ltd 位相コントラスト画像生成方法および装置並びにプログラム
US6792070B2 (en) * 2001-10-16 2004-09-14 Fuji Photo Film Co., Ltd. Radiation image recording method and apparatus
JP4137499B2 (ja) * 2002-04-23 2008-08-20 富士フイルム株式会社 位相情報復元方法及び位相情報復元装置、並びに、位相情報復元プログラム
US7171031B2 (en) * 2002-04-30 2007-01-30 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method, apparatus, and program for restoring phase information
JP4137514B2 (ja) * 2002-05-16 2008-08-20 富士フイルム株式会社 放射線画像構成方法及びこれを使用する放射線撮像装置、並びに、放射線撮像プログラム
US20040052426A1 (en) * 2002-09-12 2004-03-18 Lockheed Martin Corporation Non-iterative method and system for phase retrieval
US7424173B2 (en) * 2002-09-30 2008-09-09 Fujifilm Corporation Method, apparatus and program for restoring phase information
JP4137580B2 (ja) * 2002-10-04 2008-08-20 富士フイルム株式会社 位相情報復元方法及び位相情報復元装置、並びに、位相情報復元プログラム
US7103140B2 (en) * 2002-11-26 2006-09-05 Konica Minolta Medical & Graphic Inc. Radiation image radiographic apparatus
JP2004248736A (ja) * 2003-02-18 2004-09-09 Konica Minolta Holdings Inc 放射線画像撮影装置
KR101159495B1 (ko) * 2004-03-11 2012-06-22 이코스비젼 시스팀스 엔.브이. 파면 조정 및 향상된 3?d 측정을 위한 방법 및 장치
US7412024B1 (en) * 2004-04-09 2008-08-12 Xradia, Inc. X-ray mammography
US7286640B2 (en) * 2004-04-09 2007-10-23 Xradia, Inc. Dual-band detector system for x-ray imaging of biological samples
GB0409572D0 (en) * 2004-04-29 2004-06-02 Univ Sheffield High resolution imaging
CN100442044C (zh) * 2004-12-15 2008-12-10 中国科学院上海光学精密机械研究所 中子干涉仪中位相恢复方法
US7634152B2 (en) * 2005-03-07 2009-12-15 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for correcting image vignetting
WO2007051842A1 (de) * 2005-11-04 2007-05-10 Christian Hogl Verfahren und system zum übertragen von daten von einer ersten datenverarbeitungseinrichtung an eine zweite datenverarbeitungseinrichtung
JP4788887B2 (ja) * 2005-11-11 2011-10-05 独立行政法人物質・材料研究機構 透過電子顕微鏡
DE102006015356B4 (de) * 2006-02-01 2016-09-22 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System
AU2007221086A1 (en) * 2006-02-27 2007-09-07 University Of Rochester Phase contrast cone-beam CT imaging
US7564545B2 (en) * 2007-03-15 2009-07-21 Kla-Tencor Technologies Corp. Inspection methods and systems for lithographic masks
CN101873828B (zh) * 2007-11-26 2013-03-27 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于x射线相位对比成像的探测装置
US7693256B2 (en) * 2008-03-19 2010-04-06 C-Rad Innovation Ab Phase-contrast X-ray imaging
JP4737724B2 (ja) * 2008-04-21 2011-08-03 コニカミノルタホールディングス株式会社 放射線画像処理装置
GB0817650D0 (en) * 2008-09-26 2008-11-05 Phase Focus Ltd Improvements in the field of imaging
WO2010119019A1 (de) * 2009-04-17 2010-10-21 Siemens Aktiengesellschaft Detektoranordnung und röntgentomographiegerät zur durchführung von phasenkontrastmessungen sowie verfahren zur durchführung einer phasenkontrastmessung
EP2442722B1 (en) * 2009-06-16 2017-03-29 Koninklijke Philips N.V. Correction method for differential phase contrast imaging
US8705694B2 (en) * 2009-11-11 2014-04-22 Physical Optics Corporation X-ray imaging system and method
GB201020516D0 (en) * 2010-12-03 2011-01-19 Univ Sheffield Improvements in providing image data
DE102011077982B4 (de) * 2011-06-22 2017-11-30 Hochschule Bremen Verfahren und Vorrichtung zur optischen Analyse eines Prüflings
US9538970B2 (en) * 2012-01-12 2017-01-10 Koninklijke Philips N.V. Generating attenuation image data and phase image data in an X-ray system
CN102867294B (zh) * 2012-05-28 2015-06-17 天津大学 基于傅里叶和小波正则化的同轴相衬图像恢复方法
DE102012211146A1 (de) * 2012-06-28 2014-01-02 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Röntgensystem zur Erzeugung einer Phasenkontrastdarstellung
AU2012258412A1 (en) * 2012-11-30 2014-06-19 Canon Kabushiki Kaisha Combining differential images by inverse Riesz transformation
US9364191B2 (en) 2013-02-11 2016-06-14 University Of Rochester Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
KR20140109192A (ko) * 2013-03-05 2014-09-15 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
KR20140111818A (ko) * 2013-03-12 2014-09-22 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
CN103559686B (zh) * 2013-10-16 2016-07-06 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于多面图像信息的同轴相衬成像相位恢复方法及系统
GB2519955B (en) * 2013-11-01 2015-09-30 Paragon Inspection Ltd Apparatus and method for radiological pipe inspection
JP2016538978A (ja) * 2013-11-05 2016-12-15 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. フォトン束の高速空間変調を用いるx線撮像装置
TWI629474B (zh) * 2014-05-23 2018-07-11 財團法人工業技術研究院 X光光源以及x光成像的方法
CN104323790B (zh) * 2014-10-27 2016-09-21 中国科学院深圳先进技术研究院 同轴相衬成像方法及系统和相衬ct方法及系统
EP3312619B1 (en) 2016-10-19 2022-03-30 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Test system and method for testing a device under test
JP2019007802A (ja) * 2017-06-22 2019-01-17 株式会社東芝 光学検査装置及び光学検査方法
CN107432749B (zh) * 2017-07-05 2019-05-21 天津大学 一种x射线相衬成像的相位抽取方法
JP2021067456A (ja) * 2018-02-22 2021-04-30 株式会社ニコン X線画像生成方法、x線装置および構造物の製造方法
JP7225432B2 (ja) * 2019-04-18 2023-02-20 プリズマティック、センサーズ、アクチボラグ 医療用透過x線撮影におけるx線の操作に使用されるインラインx線集束光学系

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5005200A (en) * 1988-02-12 1991-04-02 Fischer Addison M Public key/signature cryptosystem with enhanced digital signature certification
US5241364A (en) * 1990-10-19 1993-08-31 Fuji Photo Film Co., Ltd. Confocal scanning type of phase contrast microscope and scanning microscope
WO1995005725A1 (en) * 1993-08-16 1995-02-23 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Improved x-ray optics, especially for phase contrast imaging
WO1995008174A1 (de) * 1993-09-15 1995-03-23 Carl-Zeiss-Stiftung Handelnd Als Carl Zeiss Phasenkontrast-röntgenmikroskop
JP3449791B2 (ja) * 1994-08-23 2003-09-22 理化学研究所 撮像方法及び撮像装置
US5646997A (en) * 1994-12-14 1997-07-08 Barton; James M. Method and apparatus for embedding authentication information within digital data
IL117051A (en) * 1995-02-10 1999-08-17 Cardiac Mariners Inc X-ray imaging system
CN1869997A (zh) * 1995-02-13 2006-11-29 英特特拉斯特技术公司 用于安全交易管理和电子权利保护的系统和方法
AUPN201295A0 (en) * 1995-03-28 1995-04-27 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Simplified conditions and configurations for phase-contrast imaging with hard x-rays
US6011874A (en) * 1995-04-28 2000-01-04 Forskningscenter Riso (Danish National Laboratory) Phase contrast imaging
DE69730550T2 (de) * 1996-03-29 2005-11-10 Hitachi, Ltd. Phasenkontrast-Röntgenabbildungssystem
US5844986A (en) * 1996-09-30 1998-12-01 Intel Corporation Secure BIOS
IL130628A0 (en) * 1996-12-24 2000-06-01 X Ray Technologies Pty Ltd Phase retrieval in phase contrast imaging

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU99116264A (ru) Способ нахождения фазы при получении фазовых контрастных изображений
RU2214697C2 (ru) Способ и устройство для получения изображения изменения фазы, вводимого объектом в проникающее излучение
Dexter et al. The resolved size and structure of hot dust in the immediate vicinity of AGN
Le Borgne et al. Photometric redshifts from evolutionary synthesis with PÉGASE: The code Z-PEG and the age constraint
Barnett et al. Observations of the Lyman series forest towards the redshift 7.1 quasar ULAS J1120+ 0641
Hudson et al. Hot X-ray onsets of solar flares
US20180217071A1 (en) X-ray imaging system and method
Della Ceca et al. The properties of x-ray selected active galactic nuclei. ii-a deeper look at the cosmological evolution
Trèvese et al. Continuum variability of active galactic nuclei in the optical-ultraviolet range
Arnason et al. A low-mass main-sequence star and accretion disk in the very faint x-ray transient M15 X-3
Reid et al. Sunyaev-Zel'dovich effect signals in cluster models
D’Ammando NICER, NuSTAR, and Swift follow-up observations of the γ-ray flaring blazar BL Lacertae in 2020 August–October
Magaudda et al. Transitions in magnetic behavior at the substellar boundary
EP0803726A2 (en) Method and apparatus for discriminating coal species
Sanfrutos et al. The ionized X-ray outflowing torus in ESO 323− G77: low-ionization clumps confined by homogeneous warm absorbers
Li Target infrared radiation calculation model and method based on finite element analysis method in infrared photoelectric detection system
Zhou et al. Long-term multiband correlation study and spectral energy distribution modeling of blazar 3C 454.3
Maltby et al. The intensity of the penumbra of large sunspots
Kul’chin et al. Optoelectronic neural system for processing the output data from a fiber-optic measuring network
Ahmadi et al. Automatic method for detection of solar coronal width using extreme ultra-violet (EUV) radiation
Li et al. Research on target recognition technology of GISC spectral imaging based on active laser lighting
JPS5622925A (en) Analytic measurement method for base material for optical fiber
Cugier et al. Multiwavelength studies of beta Cephei stars: delta Ceti.
Waskett et al. XMM-Newton Surveys of the CFRS Fields-I: The Sub-mm/X-ray relation
Goicoechea et al. Continuum reverberation mapping in az= 1.41 radio-loud quasar