RU98116218A

RU98116218A - Многомерный анализ образцов

Info

Publication number: RU98116218A
Application number: RU98116218/28A
Authority: RU
Inventors: Дэниел Чарльз Альсмейер (US); Дэниел Чарльз Альсмейер; Винсент Элвин Найсли (US); Винсент Элвин Найсли
Original assignee: Истман Кемикал Компани (US); Истман Кемикал Компани
Priority date: 1996-01-31
Filing date: 1997-01-24
Publication date: 2000-06-10
Also published as: CA2243677C; CA2243677A1; ZA97786B; ATE215693T1; CN1214767A; AU2245997A; MY133615A; EP0877923A1; CO4560399A1; WO1997028436A1; DE69711602D1; PT877923E; EP0877923B1; US5610836A; TW310366B; BR9707214A; AR005523A1; DK0877923T3; JP2000504822A; ID15854A

Claims

1. Способ для анализа образца неизвестного состава при помощи аналитического устройства с использованием множества аналитических измерений и множества стандартных измерений, полученных на множестве образцов, включающий воздействие на указанное множество образцов для измерения с использованием первого аналитического устройства, тем самым получая множество аналитических измерений, составляющее первое множество многомерных сигналов-откликов; математическую обработку первого множества многомерных сигналов-откликов для устранения эффектов разброса рабочих характеристик, связанного с указанным первым аналитическим устройством, тем самым получая первую матрицу математически обработанных сигналов-откликов; воздействие на множество образцов для измерения с использованием второго аналитического устройства, тем самым получая множество стандартных измерений, содержащее второе множество многомерных сигналов-откликов; математическую обработку второго множества многомерных сигналов-откликов для устранения эффектов разброса рабочих характеристик, связанного со вторым аналитическим устройством, тем самым получая вторую матрицу математически обработанных сигналов-откликов; разложение одной из указанных матриц математически обработанных сигналов-откликов на произведение матриц, которое содержит матрицу, включающую множество основных факторов, и матрицу, содержащую величины, связанные с каждым из множества основных факторов; получение сжатого произведения матриц сигнала-отклика, которое содержит матрицу, включающую подмножество указанного множества основных факторов, и матрицу, содержащую величины, связанные с каждым из основных факторов, включенных в подмножество; вычисление проекционной матрицы из матрицы, содержащей величины, связанные с каждым из основных факторов, включенных в подмножество; получение первого нормированного произведения матриц, содержащего нормирующую матрицу и другую из указанных матриц математически обработанных сигналов-откликов; получение сжатого нормированного произведения матриц, содержащего проекционную матрицу и первое нормированное произведение матриц; вычисление значений компонентов нормирующей матрицы, которые минимизируют разницу между указанным первым нормированным произведением матриц и сжатым нормированным произведением матриц, тем самым получая оптимальную нормирующую матрицу; получение второго нормированного произведения матриц, содержащего оптимальную нормирующую матрицу и одну из матриц математически обработанных сигналов-откликов; получение из второй из матриц математически обработанных сигналов-откликов и второго нормированного произведения матриц калибровки, пригодной для анализа сигналов-откликов, полученных от образца неизвестного состава с помощью первого аналитического устройства; и применение калибровки для анализа сигналов-откликов, полученных от образца неизвестного состава с помощью первого аналитического устройства, тем самым делая возможным точное определение состава образца.

2. Способ по п. 1, по которому первое множество многомерных сигналов-откликов, подвергающихся математической обработке для устранения эффектов разброса рабочих характеристик, связанного с первым аналитическим устройством, содержит первую матрицу X математически обработанных сигналов-откликов и второе множество многомерных сигналов-откликов, подвергающееся математической обработке для устранения эффектов разброса рабочих характеристик, связанного со вторым аналитическим устройством, содержит вторую матрицу У математически обработанных сигналов-откликов, а также дополнительно включает разложение матрицы X в виде произведения матриц AB, где матрица B представляет собой первое множество основных факторов, а матрица A представляет собой величины, связанные с каждым из указанного первого множества основных факторов; получение матрицы

представляющей подмножество основных факторов, и матрицы

представляющей величины, связанные с каждым из указанного подмножества основных факторов, при этом произведение указанных матриц

образует сжатую матрицу сигналов-откликов

вычисление из

проекционной матрицы

где

получение из Y первого нормированного произведения матриц W, где
W = NY,
N содержит нормирующую матрицу, которая делает W пропорциональной X;
получение из

и W сжатого произведения матриц

где

вычисление значения компонентов N, которые минимизируют разницу между W и

тем самым получая оптимальную нормирующую матрицу N₀;
получение из N₀ и X второго нормированного произведения матриц X_N, где
X_N = N₀ ^-1 X;
получение из Y и X_N калибровки, пригодной для анализа сигналов-откликов, полученных от образца неизвестного состава с помощью первого аналитического устройства; и применение калибровки для анализа сигналов-откликов, полученных от образца неизвестного состава с помощью первого аналитического устройства, тем самым делая возможным точное определение состава образца.

3. Способ по п.1, по которому первое аналитическое устройство выбирают из группы, состоящей из устройства для рамановской спектрометрии, для спектрометрии в ближней инфракрасной области, для ультрафиолетовой спектрометрии/ спектрометрии в видимой области, для спектрометрии ядерного магнитного резонанса, для масс-спектрометрии, для газовой хроматографии, для жидкостной хроматографии, гравиметрическое, волюметрическое, титриметрическое и вискозиметрическое устройство.

4. Способ по п. 3, по которому первое аналитическое устройство является устройством для рамановской спектрометрии или устройством для спектрометрии в ближней инфракрасной области.

5. Способ по п.1, по которому второе аналитическое устройство выбирают из группы, состоящей из устройства для рамановской спектрометрии, для спектрометрии в ближней инфракрасной области, для ультрафиолетовой спектрометрии/ спектрометрии в видимой области, для спектрометрии ядерного магнитного резонанса, для масс-спектрометрии, для газовой хроматографии, для жидкостной хроматографии, гравиметрическое, волюметрическое, титриметрическое и вискозиметрическое устройство.

6. Способ по п.5, по которому второе аналитическое устройство выбирают из группы, состоящей из устройств для спектрометрии ядерного магнитного резонанса, для газовой хроматографии и для жидкостной хроматографии.

7. Способ по п.4 или 6, по которому множество стандартных измерений содержит спектр ядерного магнитного резонанса, а множество аналитических измерений содержит спектр, выбираемый из группы, состоящей из рамановского спектра и спектра в ближней инфракрасной области.

8. Способ по п.1, по которому образец неизвестного состава содержит твердое тело, жидкость или их обоих.

9. Способ по п.1, по которому образец является жидкостью при температуре кипения или вблизи нее.

10. Способ по п. 8, по которому образец является жидкостью и дополнительно содержит пар.

11. Способ по п.1, по которому образец неизвестного состава содержит компоненты реакционной смеси.