RU96116893A - Оптическая колонка для излучения частиц - Google Patents

Оптическая колонка для излучения частиц

Info

Publication number
RU96116893A
RU96116893A RU96116893/09A RU96116893A RU96116893A RU 96116893 A RU96116893 A RU 96116893A RU 96116893/09 A RU96116893/09 A RU 96116893/09A RU 96116893 A RU96116893 A RU 96116893A RU 96116893 A RU96116893 A RU 96116893A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
alternating
emitting particles
lenses
column
ion source
Prior art date
Application number
RU96116893/09A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2144237C1 (ru
Inventor
Фредерик Уайт Мартин
Original Assignee
Фредерик Уайт Мартин
Filing date
Publication date
Application filed by Фредерик Уайт Мартин filed Critical Фредерик Уайт Мартин
Priority claimed from PCT/US1994/013358 external-priority patent/WO1996016426A1/en
Publication of RU96116893A publication Critical patent/RU96116893A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2144237C1 publication Critical patent/RU2144237C1/ru

Links

Claims (7)

1. Оптическая колонка для излучения частиц, включающая игольчатый источник ионов, вытягивающий электрод, конденсорную линзу и систему чередующейся квадрупольной линзы, служащая для получения остро сфокусированного пучка частиц, причем в чередующейся линзе применено критическое соотношение электрических и магнитных полей, в результате чего отрицательная хроматическая аберрация чередующихся линз устраняет положительную хроматическую аберрацию всех остальных излучающих частицы оптических компонентов, а диаметр пятна преимущественно не зависит от небольших колебаний в энергии частиц.
2. Оптическая колонка для излучения частиц по п. 1, дополнительно включающая скоростной фильтр Винера, расположенный между источником ионов и чередующимися квадрупольными линзами и служащий для получения остро сфокусированного пучка частиц с одинаковой массой.
3. Оптическая колонка для излучения частиц с разделением по массе по п. 2, дополнительно включающая пучок, пересекающийся с фильтром Винера и, тем самым, снижающий аберрации относительно колонки, в которой широкий пучок проходит через фильтр Винера.
4. Оптическая колонка для излучения частиц, включающая игольчатый источник ионов, вытягивающий электрод и множество чередующихся квадрупольных линз, служащая для получения остро сфокусированного пучка частиц, причем в чередующейся линзе применено критическое соотношение электрических и магнитных полей, в результате чего не происходит добавления хроматической аберрации к положительной хроматической аберрации, генерируемой игольчатым источником ионов и вытягивающим электродом, а зависимость диаметра пятна от энергии снижено по сравнению с колонкой, использующей лишь электростатические линзы для генерирования острых пучков.
5. Оптическая колонка для излучения частиц по п. 4, дополнительно включающая скоростной фильтр Винера, расположенный между источником ионов и чередующимися квадрупольными линзами и служащий для получения остро сфокусированного пучка частиц с одинаковой массой.
6. Оптическая колонка для излучения частиц с разделением по массе по пункту 5, дополнительно включающая пучок, пересекающийся с фильтром Винера и, тем самым, снижающий аберрации относительно колонки, в которой широкий пучок проходит через фильтр Винера.
7. Оптическая колонка для излучения частиц, служащая для получения остро сфокусированного пучка частиц, включающая игольчатый источник ионов и множество линз, и дополнительно включающая систему чередующейся квадрупольной линзы, в которой применено критическое соотношение электрических и магнитных полей, в результате чего отрицательная хроматическая аберрация чередующихся линз устраняет положительную хроматическую аберрацию всех остальных излучающих частицы оптических компонентов, а диаметр пятна преимущественно не зависит от небольших колебаний в энергии частиц.
RU96116893A 1994-11-18 1994-11-18 Оптическая колонка для излучения частиц RU2144237C1 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/US1994/013358 WO1996016426A1 (en) 1993-08-20 1994-11-18 Chromatically compensated particle-beam column

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU96116893A true RU96116893A (ru) 1998-11-10
RU2144237C1 RU2144237C1 (ru) 2000-01-10

Family

ID=22243299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU96116893A RU2144237C1 (ru) 1994-11-18 1994-11-18 Оптическая колонка для излучения частиц

Country Status (8)

Country Link
EP (1) EP0745266B1 (ru)
JP (1) JP3844253B2 (ru)
KR (1) KR100308720B1 (ru)
AU (1) AU689528B2 (ru)
CA (1) CA2188997C (ru)
DE (1) DE69432670T2 (ru)
RU (1) RU2144237C1 (ru)
WO (1) WO1996016426A1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0883891B1 (en) * 1996-12-03 2003-04-23 Fei Company Method of operating a particle-optical apparatus
US6593578B1 (en) * 2001-11-08 2003-07-15 Schlumberger Technologies, Inc. Wien filter for use in a scanning electron microscope or the like
EP1956630A1 (en) 2007-02-06 2008-08-13 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Achromatic mass separator
US9624570B2 (en) 2012-02-09 2017-04-18 Fluxion Inc. Compact, filtered ion source

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4555666A (en) * 1979-03-29 1985-11-26 Martin Frederick W Energy-stable accelerator with needle-like source and focused particle beam
US4590379A (en) * 1980-09-16 1986-05-20 Martin Frederick W Achromatic deflector and quadrupole lens
EP0175933A1 (de) * 1984-09-21 1986-04-02 Siemens Aktiengesellschaft Rasterlinsen-System ohne Ablenkfarbfehler zur Materialbearbeitung mit Korpuskularstrahlen

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4755685A (en) Ion micro beam apparatus
JP2810797B2 (ja) 反射電子顕微鏡
GB1078823A (en) Improvements in ion microscopes
EP1432006A3 (en) Energy filter and electron microscope
DE3681634D1 (de) Spektrometer-objektiv fuer die elektronenstrahl-messtechnik.
RU96116893A (ru) Оптическая колонка для излучения частиц
CA2061160A1 (en) Low aberration field emission electron gun
EP1045424A3 (en) Particle beam system with dynamic focusing
MY118043A (en) Optical pick-up.
JPS5880255A (ja) イオン源
GB865050A (en) Improvements in or relating to x-ray shadow microscopes with adjustable optical focussing
JPS5942432A (ja) 光散乱式浮遊粒子計数装置
SU654979A1 (ru) Электростатическа линза
SU1598227A1 (ru) Устройство дл получени молекул рного пучка
JPS5760648A (en) Electron microscope
JPH01243355A (ja) 集束イオンビーム処理装置
JPH03194502A (ja) 多重焦点光学系
SU801135A1 (ru) Электростатическа квадруполь-НА лиНзА
SU140918A1 (ru) Интенсивный ионный источник
JPH0435803Y2 (ru)
JPH08293282A (ja) 四重極質量フィルタ
SU670991A1 (ru) Электроннооптическое устройство со скорректированной сферической аберрацией
JPS61114453A (ja) 荷電粒子線装置
RU2019885C1 (ru) Импульсная система для электронно-лучевых микрозондовых приборов
JPH053010A (ja) 荷電粒子ビーム装置