RU2613573C1 - Устройство для определения нагрузочной способности микросхем - Google Patents
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем Download PDFInfo
- Publication number
- RU2613573C1 RU2613573C1 RU2015146536A RU2015146536A RU2613573C1 RU 2613573 C1 RU2613573 C1 RU 2613573C1 RU 2015146536 A RU2015146536 A RU 2015146536A RU 2015146536 A RU2015146536 A RU 2015146536A RU 2613573 C1 RU2613573 C1 RU 2613573C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- input
- output
- switch
- voltmeter
- load
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Технический результат заключатся в повышении точности и достоверности определения нагрузочной способности микросхем. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем содержит генератор прямоугольного напряжения 1, испытуемую микросхему 2, вольтметр 3, элементы нагрузки 4-1…4-k, коммутатор 5, элемент И 6, компаратор 7, счетчик импульсов 8 и источник опорного напряжения 9. 1 ил.
Description
Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Известен способ для определения нагрузочной способности микросхем (Фролкин В.Т., Попов Л.Н. Импульсные и цифровые устройства: Учеб. пособие для вузов. - М.: Радио и связь, 1992. - 336 с.: ил. - С. 127), связанный с нахождением наибольшего числа входов логических элементов, которые можно подключить к выходу испытуемой микросхемы без ухудшения ее параметров.
Недостатками устройств, реализующих этот способ, являются низкие точность и достоверность определения нагрузочной способности.
Наиболее близким к предлагаемому изобретению является устройство для определения нагрузочной способности дискретных схем (авторское свидетельство СССР №836606, МПК G01R 31/28, опубл. 07.06.81. Бюл. №21), содержащее коммутатор, три генератора, триггер, усилитель, индикатор, дифференцирующий элемент, элемент И и блок памяти.
Недостатками устройства являются низкие точность и достоверность определения нагрузочной способности микросхем.
В основу изобретения поставлена задача повысить точность и достоверность определения нагрузочной способности микросхем.
Данная задача решается в устройстве для определения нагрузочной способности микросхем, которое содержит элементы нагрузки и коммутатор, последовательно соединенные генератор прямоугольного напряжения, элемент И и счетчик импульсов, согласно изобретению в него дополнительно введены вольтметр, вход которого и сигнальный вход коммутатора объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы, входная клемма которой и управляющий вход коммутатора объединены и также подключены к выходу генератора прямоугольного напряжения, последовательно соединенные источник опорного напряжения и компаратор, второй вход которого подключен к выходу вольтметра, а выход - ко второму входу элемента И, каждый из выходов коммутатора подключен к входу одноименного элемента нагрузки.
На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит генератор прямоугольного напряжения 1, испытуемую микросхему 2, вольтметр 3, элементы нагрузки 4-1…4-k, коммутатор 5, элемент И 6, компаратор 7, счетчик импульсов 8, источник опорного напряжения 9.
В устройстве последовательно соединены генератор прямоугольного напряжения 1, элемент И 6 и счетчик импульсов 8, а также источник опорного напряжения 9 и компаратор 7. Входная клемма испытуемой микросхемы 2 и управляющий вход коммутатора 5 объединены и также подключены к выходу генератора прямоугольного напряжения 1. Вход вольтметра 3 и сигнальный вход коммутатора 5 объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы 2. Выход вольтметра 3 связан со вторым входом компаратора 7, выход которого подключен ко второму входу элемента И 6. Каждый из выходов коммутатора 5 подключен к входу одноименного элемента нагрузки 4-1…4-k.
Устройство позволяет определять нагрузочную способность испытуемой микросхемы 2 по изменению высокого уровня (первый режим) и по изменению низкого уровня (второй режим) ее выходного сигнала.
В соответствии с первым режимом устройство работает следующим образом. Генератор прямоугольного напряжения 1 формирует первый импульс, который одновременно поступает на вход испытуемой микросхемы 2, управляющий вход коммутатора 5 и первый вход элемента И 6. На выходе испытуемой микросхемы 2 формируется импульс высокого уровня, который одновременно поступает на вход вольтметра 3 и сигнальный вход коммутатора 5. Последний выполнен на основе регистра сдвига и набора аналоговых ключей.
С приходом первого импульса на управляющий вход коммутатора 5 последний подключает свой сигнальный вход (выход испытуемой микросхемы 2) к входу первого элемента нагрузки 4-1.
На выходе вольтметра 3 в течение периода выходного сигнала испытуемой микросхемы 2 устанавливается значение напряжения его высокого уровня. Компаратор 7 сравнивает выходные напряжения вольтметра 3 и источника опорного напряжения 9. Последнее совпадает с минимально допустимым значением напряжения высокого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2.
В случае использования исправной испытуемой микросхемы 2, нагруженной по выходу элементом 4-1, выходное напряжение вольтметра 3 превышает напряжение источника опорного напряжения 9, и на выходе компаратора 7 формируется логическая «1». Она поступает на второй вход элемента И 6, разрешая прохождение с его первого входа на выход импульса высокого уровня. При этом счетчик импульсов 8 фиксирует поступление на свой вход первой логической «1». Это означает, что нагрузочная способность испытуемой микросхемы 2 в результате первого рабочего цикла ее определения составляет число не менее единицы.
В течение действия последующих выходных импульсов генератора прямоугольного напряжения 1 устройство в целом работает аналогично ранее описанному. Отличие состоит лишь в том, что с приходом очередного импульса на управляющий вход коммутатора 5 последний подключает свой сигнальный вход (выход испытуемой микросхемы 2) к входу одноименного элемента нагрузки из имеющихся 4-2…4-k. Каждый из них включает в себя свой ряд (от одного до нескольких десятков) одинаковых логических элементов, число входов которых, объединенных друг с другом общим входом элемента нагрузки, совпадает с его номером. При этом с каждым новым переключением коммутатора 5 значение напряжения высокого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2 в связи с уменьшением сопротивления нагрузки (и возрастанием ее тока), уменьшается. До тех пор, пока это напряжение, измеряемое вольтметром 3, остается больше напряжения источника опорного напряжения 9 (в течение всех рабочих циклов), счетчик импульсов 8 фиксирует импульсы, производя тем самым запись числа (n), определяющего нагрузочную способность.
Для обеспечения второго режима работы устройства, позволяющего определять нагрузочную способность испытуемой микросхемы 2 по изменению низкого уровня ее выходного сигнала, необходимо:
- первый вход компаратора 7 подключить к выходу вольтметра 3, а второй вход - к выходу источника опорного напряжения 9,
- значение выходного напряжения источника опорного напряжения 9 установить равным максимально допустимому значению напряжения низкого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2.
При этом с каждым новым переключением коммутатора 5 значение напряжения низкого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2 увеличивается. До тех пор, пока это напряжение, измеряемое вольтметром 3, остается меньше напряжения источника опорного напряжения 9 (в течение всех рабочих циклов), счетчик импульсов 8 фиксирует импульсы, производя тем самым определение нагрузочной способности -n (по второму режиму). В остальном работа всех блоков устройства в обоих режимах одинакова.
Кроме того, преимуществами устройства по сравнению с прототипом являются: возможность определения нагрузочной способности микросхем в двух режимах работы, не меняя состав его блоков, обеспечение автоматического режима работы и адаптированность к смене испытуемых микросхем 2 и элементов нагрузки 4-1…4-k.
Claims (1)
- Устройство для определения нагрузочной способности микросхем, содержащее элементы нагрузки и коммутатор, последовательно соединенные генератор прямоугольного напряжения, элемент И и счетчик импульсов, отличающееся тем, что в него дополнительно введены вольтметр, вход которого и сигнальный вход коммутатора объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы, входная клемма которой и управляющий вход коммутатора объединены и также подключены к выходу генератора прямоугольного напряжения, последовательно соединенные источник опорного напряжения и компаратор, второй вход которого подключен к выходу вольтметра, а выход - ко второму входу элемента И, каждый из выходов коммутатора подключен к входу одноименного элемента нагрузки.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2015146536A RU2613573C1 (ru) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2015146536A RU2613573C1 (ru) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2613573C1 true RU2613573C1 (ru) | 2017-03-17 |
Family
ID=58458447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2015146536A RU2613573C1 (ru) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2613573C1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2723968C1 (ru) * | 2019-07-02 | 2020-06-18 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
| RU2793145C1 (ru) * | 2022-08-31 | 2023-03-29 | Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Самарский Национальный Исследовательский Университет Имени Академика С.П. Королева" (Самарский Университет) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU269297A1 (ru) * | Институт электроники , вычислительной техники Латвийс | БЛЙОТЕКД г-В. А. Пелипейкоои | ||
| SU836606A1 (ru) * | 1979-07-17 | 1981-06-07 | Серпуховское Высшее Военное Командноеучилище Им. Ленинского Комсомола | Устройство дл определени нагрузочнойСпОСОбНОСТи диСКРЕТНыХ CXEM |
| US4439858A (en) * | 1981-05-28 | 1984-03-27 | Zehntel, Inc. | Digital in-circuit tester |
| US4646299A (en) * | 1983-08-01 | 1987-02-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Method and apparatus for applying and monitoring programmed test signals during automated testing of electronic circuits |
| DE102007004555A1 (de) * | 2007-01-30 | 2008-07-31 | Qimonda Ag | Verfahren und System zum Testen einer integrierten Schaltung |
-
2015
- 2015-10-28 RU RU2015146536A patent/RU2613573C1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU269297A1 (ru) * | Институт электроники , вычислительной техники Латвийс | БЛЙОТЕКД г-В. А. Пелипейкоои | ||
| SU266945A1 (ru) * | УСТРОЙСТВО дл КОНТРОЛЯ НАГРУЗОЧНОЙ СНОСОБНОСТИ ПОРОГОВЫХ СХЕМ | |||
| SU836606A1 (ru) * | 1979-07-17 | 1981-06-07 | Серпуховское Высшее Военное Командноеучилище Им. Ленинского Комсомола | Устройство дл определени нагрузочнойСпОСОбНОСТи диСКРЕТНыХ CXEM |
| US4439858A (en) * | 1981-05-28 | 1984-03-27 | Zehntel, Inc. | Digital in-circuit tester |
| US4646299A (en) * | 1983-08-01 | 1987-02-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Method and apparatus for applying and monitoring programmed test signals during automated testing of electronic circuits |
| DE102007004555A1 (de) * | 2007-01-30 | 2008-07-31 | Qimonda Ag | Verfahren und System zum Testen einer integrierten Schaltung |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2723968C1 (ru) * | 2019-07-02 | 2020-06-18 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
| RU2793145C1 (ru) * | 2022-08-31 | 2023-03-29 | Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Самарский Национальный Исследовательский Университет Имени Академика С.П. Королева" (Самарский Университет) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
| RU2819099C1 (ru) * | 2023-09-19 | 2024-05-14 | Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Самарский Национальный Исследовательский Университет Имени Академика С.П. Королева" (Самарский Университет) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2937705B1 (en) | Circuit arrangement with a thyristor circuit, as well as a method for testing the thyristor circuit | |
| EP2562932B1 (en) | Integrated circuit | |
| CN102970007B (zh) | 用于时间电流转换的方法和装置 | |
| US20160169947A1 (en) | Measurement Circuit | |
| US8860455B2 (en) | Methods and systems to measure a signal on an integrated circuit die | |
| CN111052611B (zh) | 使用时基和电流源的模数转换器自测 | |
| RU2613573C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| RU2613568C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| US9519015B2 (en) | Rise time and fall time measurement | |
| JPH05215791A (ja) | 電圧低下検出回路 | |
| RU2649244C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| EP2687862B1 (en) | Built-in test injection for current sensing circuit | |
| RU2793145C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| RU2723968C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| RU2388006C1 (ru) | Устройство для отбраковки диодов | |
| Chen et al. | An automatic IGBT collector current sensing technique via the gate node | |
| US10274536B2 (en) | Time to current converter | |
| KR101588963B1 (ko) | 수명 시험 장치 | |
| JP6541456B2 (ja) | 試験装置 | |
| CN104569612B (zh) | 片上任意波形的测量机构在建立时序库时的应用方法 | |
| WO2018156049A1 (ru) | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов | |
| JP3166060U (ja) | 回路裝置 | |
| RU2682802C1 (ru) | Контрольное устройство | |
| RU2450281C1 (ru) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов | |
| JP2006184048A (ja) | 閾値に基づくパルス特性検出回路及びその測定評価試験方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20171029 |