RU2388006C1 - Устройство для отбраковки диодов - Google Patents
Устройство для отбраковки диодов Download PDFInfo
- Publication number
- RU2388006C1 RU2388006C1 RU2009100475/28A RU2009100475A RU2388006C1 RU 2388006 C1 RU2388006 C1 RU 2388006C1 RU 2009100475/28 A RU2009100475/28 A RU 2009100475/28A RU 2009100475 A RU2009100475 A RU 2009100475A RU 2388006 C1 RU2388006 C1 RU 2388006C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- output
- voltage
- comparator
- current
- reference voltage
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Изобретение относится к технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых диодов при их производстве. Технический результат: повышение точности и достоверности отбраковки. Сущность: устройство содержит двухпороговый компаратор 1, первый источник опорного напряжения 2, генератор пилообразного напряжения 3, второй источник опорного напряжения 4, испытуемый диод 5, третий источник опорного напряжения 6, компаратор 7, дифференцирующее устройство 8 и преобразователь ток-напряжение 9. 1 ил.
Description
Изобретение относится к микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых диодов при их производстве.
Известно устройство для разбраковки диодов по времени восстановления обратного сопротивления (авторское свидетельство СССР №1140064, МПК G01R 31/26, опубл. 15.02.85. Бюл. №6), содержащее генератор прямого тока, генератор импульсов обратного напряжения, клеммы для подключения испытуемого диода, резистор, три одновибратора, формирователь сдвига уровня, три D-триггера, дешифратор и четыре индикатора.
Недостатками устройства являются низкие точность и достоверность отбраковки.
Наиболее близким к предлагаемому изобретению является устройство для отбраковки диодов - патент РФ №2046366, МПК G01R 31/26, опубл. 20.10.95. Бюл. №29), содержащее генератор экспоненциального напряжения, формирователь временного интервала, ключ, контролируемый диод, резистор нагрузки, преобразователи ток - напряжение и время - напряжение, четыре источника опорного напряжения, четыре компаратора и два элемента И (компараторы и элементы И образуют два двухпороговых компаратора).
Недостатками устройства являются низкие точность и достоверность отбраковки.
В основу изобретения поставлена задача повысить точность и достоверность отбраковки.
Данная задача решается в устройстве для отбраковки диодов, которое содержит двухпороговый компаратор, первый и второй источники опорного напряжения, выходы которых связаны соответственно с первым и вторым пороговыми входами двухпорогового компаратора, выход которого образует выход устройства, последовательно соединенные третий источник опорного напряжения и компаратор, преобразователь ток - напряжение, согласно изобретению в него дополнительно введены генератор пилообразного напряжения и дифференцирующее устройство, вход которого связан с выходом преобразователя ток - напряжение, а выход - со вторым входом компаратора, выход которого связан с управляющим входом генератора пилообразного напряжения, выход которого и сигнальный вход двухпорогового компаратора объединены и подключены к анодной клемме испытуемого диода, катодная клемма которого связана со входом преобразователя ток - напряжение.
На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит двухпороговый компаратор 1, первый источник опорного напряжения 2, генератор пилообразного напряжения 3, второй источник опорного напряжения 4, испытуемый диод 5, третий источник опорного напряжения 6, компаратор 7, дифференцирующее устройство 8 и преобразователь ток - напряжение 9.
В устройстве последовательно соединены преобразователь ток - напряжение 9, дифференцирующее устройство 8 и компаратор 7. Выход третьего источника опорного напряжения 6 связан с первым входом компаратора 7, выход которого подключен к управляющему входу генератора пилообразного напряжения 3. Выходы первого и второго источников опорного напряжения 2 и 4 связаны соответственно с первыми вторым пороговыми входами двухпорогового компаратора 1, выход которого образует выход устройства. Сигнальный вход двухпорогового компаратора 1 и выход генератора пилообразного напряжения 3 объединены и подключены к анодной клемме испытуемого диода 5, катодная клемма которого связана со входом преобразователя ток - напряжение 9.
Устройство работает следующим образом. Генератор пилообразного напряжения 3 (на основе последовательно соединенных генератора прямоугольных импульсов, элемента И и счетчика, а также ЦАП и компаратора) формирует пилообразный сигнал положительного знака, который поступает на сигнальный вход "С" двухпорогового компаратора 1 и анод испытуемого диода 5. Преобразователь ток - напряжение 9 (на основе инвертирующей схемы включения операционного усилителя) преобразует ток, протекающий через испытуемый диод 5, в пропорциональное ему напряжение. При этом вход преобразователя ток - напряжение 9 представляет собой "виртуальную землю", поэтому потенциал катода испытуемого диода 5, связанного с ней, близок к нулю, а напряжение на диоде 5 совпадает с выходным напряжением генератора пилообразного напряжения 3.
На выходе дифференцирующего устройства 8 формируется напряжение, пропорциональное первой производной по времени выходного напряжения преобразователя ток - напряжение 9. Компаратор 7 сравнивает выходные напряжения дифференцирующего устройства 8 и третьего источника опорного напряжения 6. Последнее пропорционально численному значению аналогичной производной заведомо качественного диода, взятой для случая, когда прямое напряжение на нем равно контактной разности потенциалов. По превышении первым входным напряжением компаратора 7 уровня второго на его выходе формируется логический "0". Он поступает на управляющий вход генератора пилообразного напряжения 3, останавливая дальнейший рост и осуществляя фиксацию его выходного напряжения.
В силу отличий одного диода от другого зафиксированное выходное напряжение генератора пилообразного напряжения 3, совпадающее с контактной разностью потенциалов, будет иметь некоторый разброс. Нижняя граница области допустимых значений задается выходным напряжением первого источника опорного напряжения 2, верхняя - выходным напряжением второго источника опорного напряжения 4. Эти напряжения поступают соответственно на первый П1 и второй П2 пороговые входы двухпорогового компаратора 1.
Если зафиксированное выходное напряжение генератора пилообразного напряжения 3 лежит в заданном поле допуска, то на выходе двухпорогового компаратора 1 формируется логическая «1», в противном случае - логический «0». Наличие логической «1» на выходе двухпорогового компаратора 1 позволяет говорить об исправности испытуемого диода 5, а наличие логического «0» - о его дефектном состоянии.
Преимуществами устройства по сравнению с прототипом являются повышенные точность и достоверность, которые достигаются путем проведения отбраковки диодов, используя прямую ветвь ВАХ. В этом случае (по сравнению с обратной ветвью ВАХ) через диод течет больший ток, связанный с основными носителями заряда, который легче измерить и при этом обеспечить лучшее соотношение сигнал/шум.
Кроме того, устройство позволяет проводить динамическую отбраковку диодов, задавая различные скорости изменения выходного напряжения генератора пилообразного напряжения 3.
Claims (1)
- Устройство для отбраковки диодов, содержащее двухпороговый компаратор, первый и второй источники опорного напряжения, выходы которых связаны соответственно с первым и вторым пороговыми входами двухпорогового компаратора, выход которого образует выход устройства, последовательно соединенные третий источник опорного напряжения и компаратор, преобразователь ток - напряжение, отличающееся тем, что в него дополнительно введены генератор пилообразного напряжения и дифференцирующее устройство, вход которого связан с выходом преобразователя ток - напряжение, а выход- со вторым входом компаратора, выход которого связан с управляющим входом генератора пилообразного напряжения, выход которого и сигнальный вход двухпорогового компаратора объединены и подключены к анодной клемме испытуемого диода, катодная клемма которого связана со входом преобразователя ток - напряжение.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2009100475/28A RU2388006C1 (ru) | 2009-01-11 | 2009-01-11 | Устройство для отбраковки диодов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2009100475/28A RU2388006C1 (ru) | 2009-01-11 | 2009-01-11 | Устройство для отбраковки диодов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2388006C1 true RU2388006C1 (ru) | 2010-04-27 |
Family
ID=42672764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2009100475/28A RU2388006C1 (ru) | 2009-01-11 | 2009-01-11 | Устройство для отбраковки диодов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2388006C1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2445640C1 (ru) * | 2010-10-01 | 2012-03-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов |
| RU2450281C1 (ru) * | 2010-11-10 | 2012-05-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов |
-
2009
- 2009-01-11 RU RU2009100475/28A patent/RU2388006C1/ru not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2445640C1 (ru) * | 2010-10-01 | 2012-03-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов |
| RU2450281C1 (ru) * | 2010-11-10 | 2012-05-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20130158924A1 (en) | Digital circuit and method for measuring ac voltage values | |
| GB2336217A (en) | Method of measuring current while applying a voltage and apparatus therefor | |
| KR20140020304A (ko) | 전류 센서 | |
| US7612698B2 (en) | Test apparatus, manufacturing method, and test method | |
| EP2017633B1 (en) | Power applying circuit and testing apparatus | |
| RU2388006C1 (ru) | Устройство для отбраковки диодов | |
| CN114839423A (zh) | 一种电压幅值探测的方法、探测系统及装置 | |
| US7489146B2 (en) | V/I source and test system incorporating the same | |
| CN1109896C (zh) | 施加电压测定电流的方法及装置 | |
| JP2015155825A (ja) | 半導体試験装置および半導体装置 | |
| RU2415447C1 (ru) | Устройство для отбраковки диодов | |
| ITUA20163750A1 (it) | Procedimento per misurare il carico in amplificatori di tipo switching, dispositivo e amplificatore corrispondenti | |
| CN105717393B (zh) | 一种用于电子元器件的参数测试系统以及测试方法 | |
| US7012537B2 (en) | Apparatus and method for determining voltage using optical observation | |
| US7545156B2 (en) | Test circuit and test method that includes supplying a current to a plurality of light-receiving elements | |
| RU2046366C1 (ru) | Устройство для отбраковки диодов | |
| RU2613573C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| CN105934886B (zh) | 半导体开关和用于确定通过半导体开关的电流的方法 | |
| US20110018576A1 (en) | Method and device for testing semiconductor | |
| RU2445640C1 (ru) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов | |
| RU2450281C1 (ru) | Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов | |
| CN108572273A (zh) | 低电流测量电路及其测量方法 | |
| RU2649244C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| RU2548925C1 (ru) | Способ измерения последовательного сопротивления базы полупроводникового диода | |
| Aielli et al. | Test of ATLAS RPCs front-end electronics |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20110112 |