JP2006184048A

JP2006184048A - 閾値に基づくパルス特性検出回路及びその測定評価試験方法

Info

Publication number: JP2006184048A
Application number: JP2004375589A
Authority: JP
Inventors: Akifumi Muto; 明文武藤
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2004-12-27
Filing date: 2004-12-27
Publication date: 2006-07-13

Abstract

【課題】パルス幅あるいはパルス波高値等のパルス特性の検出の閾値を効率よく測定評価することが可能なパルス特性検出回路及びその閾値特性の測定評価方法を提供すること。【解決手段】所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出手段と、前記パルス特性検出手段が所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出した検出信号をカウントする検出パルス数カウンタと、所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルス特性の閾値をはさむ複数の異なるパルス特性のパルス系列信号である測定評価試験用信号を出力する測定評価試験用信号発生手段を設け、前記測定評価試験用信号を前記パルス特性検出手段に入力し、パルス特性検出手段の出力した検出信号を前記検出パルス数カウンタで計数すること。
【選択図】図１

Description

本発明は、所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出回路に関するものであり、特にパルス幅あるいはパルス波高値というパルス特性を閾値に基づいて検出するパルス特性検出回路を含む、電子機器のパルス特性検出回路に関するものである。

パルス幅あるいはパルス波高値というパルスの特性が規定の値以上であるか否かを検出するパルス特性検出回路は電子機器の産業分野に広く利用されている。本発明は、パルスの幅値が規定値以上であることを検出するパルス幅値あるいはパルスの波高値が規定値以上であることを検出するパルス波高値というパルス特性を閾値に基づいて検出するパルス特性検出回路を含む電子機器のパルス特性検出回路およびその特性の測定評価試験方法に関するものである。

従来のパルス特性検出回路を含む電子機器のパルス特性検出回路とその特性の測定評価試験方法を図４〜図１２に基づき説明する。

図４は従来のパルス特性検出回路とその特性の測定評価試験方法を示す一例の構成ブロック図、図５はパルス幅検出回路、図６はパルス幅検出回路の動作タイミングチャート、図７はパルス波高値検出回路、図８はパルス波高値検出回路の動作タイミングチャート、図９は検出結果記憶部、図１０は検出結果記憶部の動作タイミングチャート、図１１は従来の構成の測定評価試験用信号発生器によるパルス幅検出回路の測定評価試験用信号、図１２は従来の構成の測定評価試験用信号発生器によるパルス波高値検出回路の測定評価試験用信号を示す。

図４において、１１は測定評価試験用信号１２を発生するための測定評価試験用信号発生器、１３は特性測定評価試験の対象であるパルス特性検出回路、１７はこのパルス特性検出回路１３を制御するための演算制御部である。

そしてこのパルス特性検出回路１３は、検出すべきパルスの特性に応じて、パルス幅検出回路あるいはパルス波高値検出回路として構成され、所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルスが入力されたときに検出パルス１５を発生するパルス特性検出部１４と、この検出パルス１５が発生したことを記憶する１ビットの検出結果記憶部１６より構成される。

図５に、検出すべきパルス特性がパルス幅の場合のパルス特性検出部１４としてのパルス幅検出回路の１例を示す。また図６にその動作タイミングチャートを示す。

図５に示すパルス幅検出回路は、遅延素子２２とＤフリップフロップ２４で構成される。このパルス幅検出回路において、入力パルス信号２１は遅延時間Ｔｄの遅延素子２２とＤフリップフロップ２４のデータ入力Ｄに接続されている。

図５に示すパルス幅検出回路において、図４に示す演算制御部１７から出力される検出イネーブル信号１９をディセーブルにしてＤフリップフロップ２４をあらかじめリセットした後、再度イネーブルにした状態で、入力パルス信号２１が入力されると、図６のタイミングチャートに示す如く、入力パルス信号のパルス幅ＴＷが遅延素子２２の遅延時間Ｔｄよりも大きい場合にＤフリップフロップ２４の出力Ｑには、入力パルス信号が所定のパルス幅以上のパルスであることを示す論理「１」が検出パルス１５として出力される。なお遅延素子２２の遅延時間Ｔｄが所定のパルス幅を示す閾値であることになる。

そして入力パルス信号２１のパルス幅ＴＷが遅延素子２２の遅延時間Ｔｄより小さい場合には、Ｄフリップフロップ２４の出力Ｑは論理「０」を保持し、検出パルス１５は出力されない。

図７に検出すべきパルス特性がパルス波高値の場合のパルス特性検出部１４としてのパルス波高値検出回路の１例を示し、図８にその動作タイミングチャートを示す。

図７に示す如く、パルス波高値検出回路は参照比較電圧をＶｔｈとするアナログコンパレータ２５により構成され、図８に示す如く、入力パルス信号２１のパルス波高値が参照比較電圧Ｖｔｈよりも大きい場合には比較論理出力として論理「１」の検出パルス１５を出力し、パルス波高値が参照比較電圧Ｖｔｈよりも小さい場合には論理「０」のままとなり、検出パルス１５は出力されない。

１ビットの検出結果記憶部１６は、前記パルス幅検出回路またはパルス波高値検出回路より出力されるパルス幅が所定のパルス幅より大きいことまたはパルス波高値が所定の波高値より大きいことを示す検出パルス１５が入力されたときこの検出結果を保持するもので、たとえば、図９に示す如く、インバータ２６，２７と、２個の２入力ナンド回路２８，２９からなるＲＳフリップフロップで構成される。

この図９で示す検出結果記憶部１６は、図１０のタイミングチャートに示す如く、あらかじめ図４に示す演算制御部１７よりのリセット信号１８によりＲＳフリップフロップをリセット状態にして検出結果出力２０を論理「０」にしておく。この状態で、図４に示す、前記パルス特性検出部１４から検出パルス１５が入力されると、この検出結果記憶部１６は、論理「１」を検出結果出力として記憶保持するので、その後パルス特性検出部１４から検出パルス１５の有無にかかわらず、この検出結果出力として論理「１」が出力保持される。

このようなパルス特性検出部１４及び検出結果記憶部１６より構成されるパルス特性検出回路１３の特性の測定評価試験を行うために、図４に示す測定評価試験用信号発生器１１は、検出すべきパルス特性、すなわちパルス幅特性、あるいはパルス波高値特性に応じて、図１１に示す、パルス幅がＮ種類の固定パルス幅のパルスを１個以上（図１１では６個）含む信号、あるいは図１２に示す、パルス波高値がＮ種類の固定パルス波高値のパルスを１個以上（図１２では６個）含む信号を測定評価試験用信号１２として発生するように構成している。

ただし図４においては、図１１あるいは図１２に示すＮ種類の発生する測定評価試験用信号１２の切替は、測定回毎に適宜人手によって行うものとしている。

測定評価試験用信号発生器１１としては、任意波形発生器あるいはパターンジェネレータ等の汎用機器あるいは専用に開発された信号発生器を使用することにより、これらの信号を容易に発生することができる。

以下パルス幅検出とパルス波高値検出の場合にわけて、測定評価試験の方法について説明する。

（１）パルス幅検出の場合
まず最初にパルス幅検出の場合の測定評価試験について説明する。

図１１はパルス幅検出の場合に測定評価試験用信号発生器１１によって発生されるＮ種の測定評価試験用信号を示したものである。それぞれの信号はパルス幅が
Ｔ₀，Ｔ₀＋ΔＴ、Ｔ₀＋２ｘΔＴ、・・・、Ｔ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＴ
のＮ種の固定パルス幅の個別の信号からなる。

最小パルス幅Ｔ₀、最大パルス幅Ｔ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＴは、図５に示すパルス幅検出回路の期待される閾値パルス幅すなわち最小検出パルス幅が前記最小値と最大値の間に含まれるように、またパルス幅差ΔＴは、特性評価の必要精度に応じて決定される。

図５に示すパルス幅検出回路の特性の測定評価は、図１１に示したパルス幅の異なる複数の測定評価試験用の固定パルス幅信号をそれぞれ個別に、図５に示すパルス幅検出回路に入力し、その検出結果を分析判定することにより行われる。

すなわち、パルス幅がＴ₀＋ＫｘΔＴ以下の場合に検出パルス１５が検出されず、パルス幅がＴ₀＋（Ｋ＋１）ｘΔＴ以上の場合に検出パルス１５が検出された場合には、図５に示すパルス幅検出回路の検出閾値は、
Ｔ₀＋ＫｘΔＴとＴ₀＋（Ｋ＋１）ｘΔＴ
の間にあると考えることができ、一般的にはその中央値をもって閾値とすることができる。

測定回ごとのバラツキを考慮してより高精度に評価を行う場合には、Ｍ回の測定の統計的な値から検出パルス幅閾値とその標準偏差を求めることができる。

例えば、パルス幅Ｔ₀＋ｋｘΔＴ（ｋ＝１、２、３、・・・、Ｎ−１）の測定評価試験用信号１２で、それぞれＭ回の測定を行ったときの、図５に示すパルス幅検出回路によるそれぞれの検出回数をｍ_k回とし、このパルス幅検出回路の閾値がパルス幅
Ｔ₀＋（ｋ−１）ｘΔＴとＴ₀＋ｋｘΔＴ
の間にあったとき、その中央値をもって閾値とすると、この区間に閾値が存在したときに相当するパルス検出回数はｍ_k−ｍ_{k -1}回と考えることができるから、この度数分布を解析することにより、図５に示すパルス幅検出回路の特性を次式により統計的に求めることができる。（ｋ＝１、２、・・・、Ｎ−１）

（２）パルス波高値検出の場合
次にパルス波高値検出の場合の測定評価試験について説明する。

図１２はパルス波高値検出の場合に測定評価試験用信号発生器１１によって発生されるＮ種の測定評価試験用信号を示したものである。それぞれの信号はパルス幅が
Ｖ₀，Ｖ₀＋ΔＶ、Ｖ₀＋２ｘΔＶ、・・・、Ｖ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＶ
のＮ種の個定パルス波高値の個別の信号からなる。

最小パルス波高値Ｖ₀、最大パルス波高値Ｖ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＶは、図７に示すパルス波高値検出回路の期待される閾値パルス波高値すなわち最小検出パルス波高値が最小値と最大値の間に含まれるように、またパルス波高値差ΔＶは特性評価の必要精度に応じて決定される。

図７に示すパルス波高値検出回路の特性の測定評価は図１２に示したパルス波高値の異なる複数の測定評価試験用の固定パルス波高値信号をそれぞれ個別に、図７に示すパルス波高値検出回路に入力し、その検出結果を分析判定することによって行われる。

すなわち、パルス波高値Ｖ₀＋ＫｘΔＶ以下の場合に検出パルス１５が検出されず、パルス波高値がＶ₀＋（Ｋ＋１）ｘΔＶ以上の場合に検出パルス１５が検出された場合には、図７に示すパルス波高値検出回路の検出閾値は
Ｖ₀＋ＫｘΔＶとＶ₀＋（Ｋ＋１）ｘΔＶ
の間にあると考えることができ、一般的にはその中央値をもって閾値とすることができる。

パルス幅検出の場合と同様に、測定回ごとのばらつきを考慮してより高精度に評価を行う場合には、Ｍ回の測定の統計的な値から検出パルス波高値の閾値とその標準偏差を求めることができる。

例えば、パルス波高値Ｖ₀＋ｋｘΔＶ（ｋ＝１、２、３、・・・、Ｎ−１）の、図１２に示す如き測定評価試験用信号でそれぞれＭ回の試験を行ったときの、図７に示すパルス波高値検出回路による検出回数をそれぞれｍ_k回とし、このパルス波高値検出回路の閾値がパルス波高値
Ｖ₀＋（ｋ−１）ｘΔＶとＶ₀＋ｋｘΔＶ
の間にあったときその中央値を閾値とすると、この区間に閾値が存在したときに相当するパルス検出回数はｍ_k−ｍ_{k -1}回と考えることができるから、この度数分布を解析することにより、図７に示すパルス波高値検出回路の特性を次式により統計的に求めることができる。（ｋ＝１、２、・・・Ｎ−１）

図１３は、従来のパルス特性検出回路とその特性の測定評価試験方法を示す別の構成例を示したブロック図である。前記図４の例との相違は、測定評価試験用信号発生器１１が外部入力による発生信号切替信号３０にもとづく発生信号の切替機能を備えている点にある。

この発生信号切替信号３０は演算制御部１７により発生され、図１１あるいは図１２に示すＮ種の測定評価試験用信号を切替えることができる。これにより測定回毎に適宜測定評価試験用信号を人手により切り替える必要がなくなる。ただし演算制御部１７及び測定評価試験用信号発生器１１が切替制御に対応した複雑な機能を備える必要がある。

ところで、前記従来技術では、パルス特性すなわちパルス幅あるいはパルス波高値の異なる複数の固定パルス幅あるいは固定パルス波高値の測定評価試験用信号１２を測定回毎に入力するためにこの測定評価試験用信号を人手により切替えて所定のパルス幅以上あるいは所定の波高値以上のパルスとして検出したかどうかの複数回の測定を行い、その検出結果全体に基づいてパルス特性検出回路１３すなわち、図５に示すパルス幅検出回路あるいは図７で示すパルス波高値検出回路の測定評価試験を行う必要があったため、測定評価試験に非常に大きな労力と時間を要した。

図１３に示す如く、測定評価試験用信号発生器１１が発生する信号の切替機能を備え、パルス特性検出回路１３とともに組み込まれた演算制御部１７が切替信号発生機能を備えている場合にはこのような人手による測定評価試験用信号の切替の必要はなくなる。

ただし、一般にパルス特性検出回路１３はある特定の機能を備えた機器の一部の機能として組み込まれることが多く、このような機器の本来の機能としてはパルス特性の測定評価試験用信号を切替えるための切替信号発生機能は不要のものである。そのため切替信号発生機能の付加は測定評価試験用信号発生器１１およびパルス特性検出回路１３を組み込んだ機器自体のハード、ソフト両面にわたるコストあるいは物量の面からも望ましいことではなく、より簡単な方法が望まれている。

前記課題は、下記（１）、（２）により解決することができる。

（１）所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出回路において、
所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出手段と、
前記パルス特性検出手段が所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出した検出信号をカウントする検出パルス数カウンタと、
所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルス特性の閾値をはさむ複数の異なるパルス特性のパルス系列信号である測定評価試験用信号を出力する測定評価試験用信号発生手段を設け、
前記測定評価試験用信号を前記パルス特性検出手段に入力し、パルス特性検出手段の出力した検出信号を前記検出パルス数カウンタで計数することにより閾値評価を可能とするパルス特性検出回路。

（２）所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出手段と、
前記パルス特性検出手段が所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出した検出信号をカウントする検出パルス数カウンタと、
所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルス特性の閾値をはさむ複数の異なるパルス特性のパルス系列信号である測定評価試験用信号を出力する測定評価試験用信号発生手段を設け、
前記測定評価試験用信号発生手段から、複数回測定評価試験用信号を出力して統計的解析することにより、パルス特性検出回路の特性を統計的に得ることを特徴とするパルス特性検出回路の測定評価試験方法。

従来のパルス特性検出回路の特性評価を行うためには１回ごとの測定に固定パルス幅あるいは固定パルス波高値のパルスを使用しているために、特性の評価に少なくともＮ（Ｎは複数）回の測定を必要とし、測定評価試験用信号の切替を測定回毎に人手によって行う、あるいは測定評価試験用信号の切替機能を測定評価試験用信号発生器と演算制御部の両者に付加する必要があったものを下記の如く改善できる。

本発明によれば、パルス特性検出回路の特性評価を行うとき、１回の測定で特性を評価することが可能となる。

本発明によれば、評価精度を高めるために、複数回の測定により統計的な評価を行う場合にも測定評価試験用信号を切り替えることなく評価を行うことができるため、パルス特性検出回路の特性の測定評価に要する労力と時間を大きく削減することができる。

本発明によれば、測定評価時にのみ必要な機能である測定評価試験用信号の切替機能を付加せずに検出パルス数のカウントという簡単な回路機能の付加のみで評価ができるので、ソフト、ハード両面にわたるコストあるいは物量の面からみてもその節約効果は著しいものである。

本発明の実施の形態を図１〜図３に基づき説明する。図１は本発明によるパルス特性検出回路とその特性評価のための構成を示すもの、図２は図１に示す本発明の構成において、パルス特性検出回路の検出すべき特性がパルス幅の場合の、図５に示す如きパルス幅検出回路の特性を測定評価するための測定評価試験用信号を示すもの、図３は図１に示す本発明の構成において、パルス特性検出回路の検出すべき特性がパルス波高値の場合の、図７に示す如きパルス波高値検出回路の特性を測定評価するための測定評価試験用信号を示すものである。

図中、１は測定評価試験用信号発生器、２は測定評価試験用信号、３はパルス特性検出回路、４はパルス特性検出部、５は検出パルス、６は検出パルス数カウンタ、７は演算制御部、８はリセット信号、９は検出イネーブル信号、１０は検出パルス数カウント出力である。

本発明を詳述するに先立ち、その概略を説明する。本発明では、検出すべきパルス特性に応じて所定のパルス幅以上の、あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出した回数をカウントするための検出パルス数カウンタ６を設けるとともに、パルス特性検出回路３のパルス幅あるいはパルス波高値の期待される閾値の前後のパルス幅、パルス波高値を含む異なるパルス幅あるいはパルス波高値のパルス系列からなる測定評価用信号をパルス特性検出部４すなわち、図５に示す如きパルス幅検出回路あるいは図７に示す如きパルス波高値検出回路に入力して測定を行い、そのときの検出パルス数カウンタ６の検出カウント値から実際のパルス幅検出回路あるいはパルス波高値検出回路の特性を測定評価する。

測定評価試験用信号発生器１は、図２または図３に示す測定評価試験用信号を出力するものであり、図５に示す如きパルス幅検出回路の特性測定の場合は、後述する図２に示す測定評価試験用信号を出力し、また、図７に示す如きパルス波高値検出回路の特性測定の場合は、後述する図３に示す測定評価試験用信号を出力する。

パルス特性検出回路３は、パルス特性検出部４と検出パルス数カウンタ６を有する。

パルス特性検出部４は、その特性を測定評価されるものであり、図５で示す如きパルス幅検出回路または図７で示す如きパルス波高値検出回路で構成される。

検出パルス５は、パルス特性検出部４がパルス幅検出回路の場合は、図２で示す如き測定評価試験用信号のパルス幅が閾値以上のときに、またパルス波高値検出回路の場合は、図３で示す如き測定評価試験用信号のパルス波高値が閾値以上のときにこれを検出して発生するパルス信号である。

検出パルス数カウンタ６は、この検出パルス５を計数するカウンタである。

演算制御部７は、前記検出パルス数カウンタ６の出力である検出パルス数カウント出力１０にもとづき、後述する如く、パルス幅あるいはパルス波高値の閾値の演算、閾値の標準偏差の演算を行うとともに、測定評価試験に際して検出パルス数カウンタ６をリセットするリセット信号８を出力したり、パルス特性検出部４をイネーブル状態にする検出イネーブル信号９を出力するものである。

本発明において、パルス特性検出回路３の検出すべき特性がパルス幅の場合、測定評価試験用信号発生器１より、図２に示す如き、測定評価試験用信号２が出力される。この信号は、パルス幅が
Ｔ₀，Ｔ₀＋ΔＴ、Ｔ₀＋２ｘΔＴ、・・・、Ｔ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＴ
のＮ個のパルスからなる単一のパルス系列信号が測定評価試験用信号２として測定評価試験用信号発生器１より発生される。

最小パルス幅Ｔ₀、最大パルス幅Ｔ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＴ
およびそれぞれのパルス幅の差ΔＴは、従来の場合と同様に測定評価試験すべき図５に１例を示すパルス幅検出回路の閾値の期待値および必要とする測定評価精度により決定される。

今、図２に示す測定評価試験用信号により測定を行ったときに検出パルス数カウンタ６のカウント値がＣになったとすると、図５に示すパルス幅検出回路はある所定の閾値パルス幅以上のパルス数を検出するものと考えることができるため、図２の測定評価試験用信号２に含まれるパルス幅
Ｔ₀，Ｔ₀＋ΔＴ、Ｔ₀＋２ｘΔＴ、・・・、Ｔ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＴ
のＮ個のパルスの内のパルス幅の広いＣ個のパルス
Ｔ₀＋（Ｎ−Ｃ）ｘΔＴ、Ｔ₀＋（Ｎ−Ｃ＋１）ｘΔＴ、・・・、Ｔ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＴ
のパルスが検出されたものと考えることができる。

すなわちこの場合の、図５に示すパルス幅検出回路のパルス幅の閾値は、
Ｔ₀＋（Ｎ−Ｃ−１）ｘΔＴとＴ₀＋（Ｎ−Ｃ）ｘΔＴ
の間にあるとすることができ、通常は上記の中央値をもって閾値とすることにより、１回の測定でパルス幅検出回路の閾値を測定評価することができる。なおこの演算は、演算制御部７で行うことができる。

バラツキ等を含めてより詳細な評価を行う場合には、図２に示す測定評価試験信号２によりＭ回測定を行ったときのそれぞれの検出パルス数カウンタ６のカウント値をＣ_i（ｉ＝１，２・・・Ｍ）とすると、Ｃ_iの度数分布を解析することにより、図５に示すパルス幅検出回路の特性を次式により統計的に評価して求めることができる。この演算は演算制御部７で行うことができる。

次に図１の構成において、パルス特性検出回路３の検出すべき特性がパルス波高値の場合の、図７に示す如きパルス波高値検出回路の特性の測定評価試験を行うときは、図３に示す如き、測定評価試験用信号を使用する。すなわち、パルス波高値が
Ｖ₀，Ｖ₀＋ΔＶ、Ｖ₀＋２ｘΔＶ、・・・、Ｖ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＶ
のＮ個のパルスからなる単一のパルス系列信号が測定評価試験用信号２として測定評価試験用信号発生器１より発生される。

最小パルス波高値Ｖ₀、最大パルス波高値Ｖ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＶ
およびそれぞれのパルス波高値の差ΔＶは、従来の場合と同様に、測定評価試験すべき、図７に示す如き、パルス波高値検出回路の閾値の期待値および必要とする測定評価精度により決定される。

今、図３に示す測定評価試験用信号により測定を行ったときに検出パルス数カウンタ６のカウント値がＣになったとすると、図７に示す如き、パルス波高値検出回路はある所定の閾値パルス波高値以上のパルスを検出するものと考えることができるため、図３に示す測定評価試験用信号に含まれるパルス波高値
Ｖ₀，Ｖ₀＋ΔＶ、Ｖ₀＋２ｘΔＶ、・・・、Ｖ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＶ
のＮ個のパルスの内のパルス波高値の大きなＣ個のパルス、
Ｖ₀＋（Ｎ−Ｃ）ｘΔＶ、Ｖ₀＋（Ｎ−Ｃ＋１）ｘΔＶ、・・・、Ｖ₀＋（Ｎ−１）ｘΔＶ
のパルスが検出されたものと考えることができる。

すなわち、この場合の、図７に示すパルス波高値検出回路のパルス波高値の閾値は、
Ｖ₀＋（Ｎ−Ｃ−１）ｘΔＶとＶ₀＋（Ｎ−Ｃ）ｘΔＶ
の間にあるものとすることができ、通常は上記の中央値をもって閾値とすることにより、１回の測定で、図７に示すパルス波高値検出回路の閾値を測定評価することかできる。なおこの演算は、演算制御部７で行うことができる。

バラツキ等を含めより詳細な評価を行う場合には、図３に示す測定評価試験用信号によりＭ回測定を行ったときのそれぞれの検出パルス数カウンタ６のカウント値をＣ_i（ｉ＝１，２・・・Ｍ）とすると、Ｃ_iの度数分布を解析することにより、図７に示すパルス波高値検出回路の特性を次式により統計的に評価して求めることができる。この演算は演算制御部７で行うことができる。

本発明によるパルス特性検出回路とその特性の測定評価試験のための構成である。本発明による構成のパルス幅検出回路の特性の測定評価の場合の測定評価試験用信号である。本発明による構成のパルス波高値検出回路の特性の測定評価の場合の測定評価試験用信号である。従来のパルス特性検出回路とその特性の測定評価試験のための構成である。

パルス幅検出回路である。パルス幅検出回路の動作タイミングチャートである。パルス波高値検出回路である。パルス波高値検出回路の動作波形図である。検出結果記憶部である。検出結果記憶部の動作タイミングチャートである。従来のパルス幅検出回路の測定評価試験用信号である。従来のパルス波高値検出回路の測定評価試験用信号である。従来のパルス特性検出回路の特性評価のための別の構成例である。

符号の説明

１測定評価試験用信号発生器
２測定評価試験用信号
３パルス特性検出回路
４パルス特性検出部
５検出パルス
６検出パルス数カウンタ
７演算制御部
８リセット信号
９検出イネーブル信号
１０検出パルス数カウント出力
１１測定評価試験用信号発生器
１２測定評価試験用信号
１３パルス特性検出回路
１４パルス特性検出部
１５検出パルス
１６検出結果記憶部
１７演算制御部
１８リセット信号
１９検出イネーブル信号
２０検出結果出力
２１入力パルス信号
２２遅延素子
２３遅延素子出力
２４Ｄフリップフロップ
２５アナログコンパレータ
２６インバータ
２７インバータ
２８ナンド回路
２９ナンド回路
３０発生信号切替信号

Claims

所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出回路において、
所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出手段と、
前記パルス特性検出手段が所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出した検出信号をカウントする検出パルス数カウンタと、
所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルス特性の閾値をはさむ複数の異なるパルス特性のパルス系列信号である測定評価試験用信号を出力する測定評価試験用信号発生手段を設け、
前記測定評価試験用信号を前記パルス特性検出手段に入力し、パルス特性検出手段の出力した検出信号を前記検出パルス数カウンタで計数することにより閾値評価を可能とするパルス特性検出回路。
所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出するパルス特性検出手段と、
前記パルス特性検出手段が所定のパルス幅以上あるいは所定のパルス波高値以上のパルスを検出した検出信号をカウントする検出パルス数カウンタと、
所定のパルス幅以上のパルスあるいは所定のパルス波高値以上のパルス特性の閾値をはさむ複数の異なるパルス特性のパルス系列信号である測定評価試験用信号を出力する測定評価試験用信号発生手段を設け、
前記測定評価試験用信号発生手段から、複数回測定評価試験用信号を出力して統計的解析することにより、パルス特性検出回路の特性を統計的に得ることを特徴とするパルス特性検出回路の測定評価試験方法。