RU2613568C1 - Устройство для определения нагрузочной способности микросхем - Google Patents

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем Download PDF

Info

Publication number
RU2613568C1
RU2613568C1 RU2015153664A RU2015153664A RU2613568C1 RU 2613568 C1 RU2613568 C1 RU 2613568C1 RU 2015153664 A RU2015153664 A RU 2015153664A RU 2015153664 A RU2015153664 A RU 2015153664A RU 2613568 C1 RU2613568 C1 RU 2613568C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
output
input
microcircuit
switch
voltmeter
Prior art date
Application number
RU2015153664A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Николаевич Пиганов
Геннадий Павлович Шопин
Сергей Викторович Тюлевин
Роман Олегович Мишанов
Original Assignee
федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) filed Critical федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ)
Priority to RU2015153664A priority Critical patent/RU2613568C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2613568C1 publication Critical patent/RU2613568C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Технический результат: повышение точности и достоверности определения нагрузочной способности микросхем. Сущность: устройство содержит генератор прямоугольного напряжения 1, испытуемую микросхему 2, рабочую микросхему 3, вольтметр 4, элементы нагрузки 5-1…5-k, коммутатор 6, элемент И 7, компаратор 8, счетчик импульсов 9, источник опорного напряжения 10. В устройстве последовательно соединены генератор прямоугольного напряжения 1, рабочая микросхема 3, элемент И 7 и счетчик импульсов 9, а также источник опорного напряжения 10 и компаратор 8. Входная клемма испытуемой микросхемы 2 также подключена к выходу генератора прямоугольного напряжения 1. Сигнальные входы вольтметра 4 и коммутатора 6 объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы 2. Управляющие входы вольтметра 4 и коммутатора 6 объединены и также подключены к выходу рабочей микросхемы 3. Выход вольтметра 4 связан со вторым входом компаратора 8, выход которого подключен ко второму входу элемента И 7. Каждый из выходов коммутатора 6 подключен к входу одноименного элемента нагрузки 5-1…5-k. 1 ил.

Description

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Известен способ для определения нагрузочной способности микросхем (Фролкин В.Т., Попов Л.Н. Импульсные и цифровые устройства: Учеб. пособие для вузов. - М.: Радио и связь, 1992. - 336 с.: ил. - с. 127), связанный с нахождением наибольшего числа входов логических элементов, которые можно подключить к выходу испытуемой микросхемы без ухудшения ее параметров.
Недостатками устройств, реализующих этот способ, являются низкие точность и достоверность определения нагрузочной способности.
Наиболее близким к предлагаемому изобретению является устройство для определения нагрузочной способности дискретных схем (авторское свидетельство СССР №836606, МПК G01R 31/28, опубл. 07.06.81. Бюл. №21), содержащее коммутатор, соединенный первыми входами с выходами контролируемых дискретных схем, последовательно соединенные первый генератор, усилитель, индикатор, дифференцирующий элемент и второй генератор, а также третий генератор, элемент И и блок памяти, триггер, первый и второй выходы которого соединены соответственно с первым входом элемента И и входом первого генератора, первый вход триггера также соединен с входом второго генератора, первый и второй выходы которого соединены со вторыми входами соответственно коммутатора и триггера, вход индикатора соединен также с выходом коммутатора.
Недостатками устройства являются низкие точность и достоверность определения нагрузочной способности.
В основу изобретения поставлена задача повысить точность и достоверность определения нагрузочной способности микросхем.
Данная задача решается в устройстве для определения нагрузочной способности микросхем, которое содержит генератор прямоугольного напряжения, элементы нагрузки, коммутатор, а также последовательно соединенные элемент И и счетчик импульсов, согласно изобретению, в него дополнительно введены рабочая микросхема, вход которой и входная клемма испытуемой микросхемы объединены и подключены к выходу генератора прямоугольного напряжения, вольтметр, сигнальный вход которого и сигнальный вход коммутатора объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы, управляющие входы вольтметра и коммутатора, а также первый вход элемента И объединены и подключены к выходу рабочей микросхемы, последовательно соединенные источник опорного напряжения и компаратор, второй вход которого подключен к выходу вольтметра, а выход - ко второму входу элемента И, каждый из выходов коммутатора подключен к входу одноименного элемента нагрузки.
На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит генератор прямоугольного напряжения 1, испытуемую микросхему 2, рабочую микросхему 3, вольтметр 4, элементы нагрузки 5-1…5-k, коммутатор 6, элемент И 7, компаратор 8, счетчик импульсов 9 и источник опорного напряжения 10.
В устройстве последовательно соединены генератор прямоугольного напряжения 1, рабочая микросхема 3, элемент И 7 и счетчик импульсов 9, а также источник опорного напряжения 10 и компаратор 8. Входная клемма испытуемой микросхемы 2 также подключена к выходу генератора прямоугольного напряжения 1. Сигнальные входы вольтметра 4 и коммутатора 6 объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы 2. Управляющие входы вольтметра 4 и коммутатора 6 объединены и также подключены к выходу рабочей микросхемы 3. Выход вольтметра 4 связан со вторым входом компаратора 8, выход которого подключен ко второму входу элемента И 7. Каждый из выходов коммутатора 6 подключен к входу одноименного элемента нагрузки 5-1…5-k.
Устройство позволяет определять нагрузочную способность испытуемой микросхемы 2 по изменению высокого уровня (первый режим) и по изменению низкого уровня (второй режим) ее выходного сигнала.
В соответствии с первым режимом устройство работает следующим образом. Генератор прямоугольного напряжения 1 формирует первый импульс, который одновременно поступает на входы идентичных испытуемой 2 и рабочей 3 микросхем. На выходе каждой из этих микросхем формируется по импульсу высокого уровня с одинаковой длительностью. Выходной сигнал испытуемой микросхемы 2 одновременно поступает на сигнальные входы вольтметра 4 и коммутатора 6. Последний выполнен на основе регистра сдвига и набора аналоговых ключей. Выходной сигнал рабочей микросхемы 3 одновременно поступает на управляющие входы вольтметра 4 и коммутатора 6, а также первый вход элемента И 7.
С приходом первого импульса высокого уровня на управляющий вход коммутатора 6 последний подключает свой сигнальный вход (выход испытуемой микросхемы 2) к входу первого элемента нагрузки 5-1.
На выходе вольтметра 4 в течение всего периода выходного сигнала рабочей микросхемы 3, совпадающего по времени с аналогичным периодом испытуемой микросхемы 2, поддерживается значение напряжения высокого уровня выходного сигнала последней. Компаратор 8 сравнивает значения выходных напряжений вольтметра 4 и источника опорного напряжения 10. Последнее совпадает с минимально допустимым значением напряжения высокого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2 при определении ее нагрузочной способности по первому режиму.
В случае использования исправной испытуемой микросхемы 2, нагруженной по выходу элементом 5-1, выходное напряжение вольтметра 4 превышает напряжение источника опорного напряжения 10 и на выходе компаратора 8 формируется логическая "1". Она поступает на второй вход элемента И 7, разрешая прохождению с его первого входа на выход импульса высокого уровня. При этом счетчик импульсов 9 фиксирует поступление на свой вход первой логической "1". Это означает, что нагрузочная способность испытуемой микросхемы 2 в результате первого рабочего цикла ее определения составляет число не менее единицы.
В течение действия последующих выходных импульсов генератора прямоугольного напряжения 1 устройство в целом работает аналогично ранее описанному. Отличие состоит лишь в том, что с приходом очередного импульса (высокого уровня) на управляющий вход коммутатора 6, последний подключает свой сигнальный вход (выход испытуемой микросхемы 2) к входу одноименного элемента нагрузки из имеющихся 5-2…5-k. Каждый из них включает в себя свой ряд (от одного до нескольких десятков) одинаковых логических элементов, число входов которых, объединенных друг с другом общим входом элемента нагрузки, совпадает с его номером. При этом с каждым новым переключением коммутатора 6 значение напряжения высокого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2, в связи с уменьшением сопротивления нагрузки (и возрастанием ее тока), уменьшается. До тех пор, пока это напряжение, измеряемое вольтметром 4, остается больше напряжения источника опорного напряжения 10 (в течение всех рабочих циклов), счетчик импульсов 9 фиксирует импульсы, производя тем самым запись числа (n), определяющего нагрузочную способность.
Для обеспечения второго режима работы устройства, позволяющего определять нагрузочную способность испытуемой микросхемы 2 по изменению низкого уровня ее выходного сигнала, необходимо:
- первый вход компаратора 8 подключить к выходу вольтметра 4, а второй вход - к выходу источника опорного напряжения 10,
- значение выходного напряжения источника опорного напряжения 10 установить равным максимально допустимому значению напряжения низкого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2.
При этом, с каждым новым переключением коммутатора 6, значение напряжения низкого уровня выходного сигнала испытуемой микросхемы 2 увеличивается. До тех пор, пока это напряжение, измеряемое вольтметром 4, остается меньше напряжения источника опорного напряжения 10 (в течение всех рабочих циклов), счетчик импульсов 9 фиксирует импульсы, производя тем самым определение нагрузочной способности (по второму режиму). В остальном работа всех блоков устройства в обоих режимах одинакова.
Введение рабочей микросхемы 3, идентичной испытуемой 2, позволило синхронизировать процесс управления вольтметром 4, коммутатором 6 и элементом И 7 с временными параметрами выходного сигнала испытуемой микросхемы 2, не подключая соответствующие входы указанных блоков к ее выходу. Это снизило влияние на процесс определения нагрузочной способности искажений выходных импульсов испытуемой микросхемы 2, возникающих при подключении к ее выходу большого числа входов логических элементов, входящих в состав элементов нагрузки 5-1…5-k. При этом неискаженный управляющий сигнал в те же моменты времени и той же длительности, что и у испытуемой микросхемы 2, стал поступать на управляющие входы вольтметра 4 и коммутатора 6, а также вход элемента И 7 с выхода рабочей микросхемы 3.
Кроме того, преимуществами устройства по сравнению с прототипом являются: возможность определения нагрузочной способности микросхем в двух режимах работы, не меняя состав его блоков, обеспечение автоматического режима работы и адаптированность к смене испытуемых микросхем 2 и элементов нагрузки 5-1…5-k.

Claims (1)

  1. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем, содержащее генератор прямоугольного напряжения, элементы нагрузки, коммутатор, а также последовательно соединенные элемент И и счетчик импульсов, отличающееся тем, что в него дополнительно введены рабочая микросхема, вход которой и входная клемма испытуемой микросхемы объединены и подключены к выходу генератора прямоугольного напряжения, вольтметр, сигнальный вход которого и сигнальный вход коммутатора объединены и подключены к выходной клемме испытуемой микросхемы, управляющие входы вольтметра и коммутатора, а также первый вход элемента И объединены и подключены к выходу рабочей микросхемы, последовательно соединенные источник опорного напряжения и компаратор, второй вход которого подключен к выходу вольтметра, а выход - ко второму входу элемента И, каждый из выходов коммутатора подключен к входу одноименного элемента нагрузки.
RU2015153664A 2015-12-14 2015-12-14 Устройство для определения нагрузочной способности микросхем RU2613568C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015153664A RU2613568C1 (ru) 2015-12-14 2015-12-14 Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015153664A RU2613568C1 (ru) 2015-12-14 2015-12-14 Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2613568C1 true RU2613568C1 (ru) 2017-03-17

Family

ID=58458402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015153664A RU2613568C1 (ru) 2015-12-14 2015-12-14 Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2613568C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2723968C1 (ru) * 2019-07-02 2020-06-18 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
RU2793145C1 (ru) * 2022-08-31 2023-03-29 Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Самарский Национальный Исследовательский Университет Имени Академика С.П. Королева" (Самарский Университет) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU266945A1 (ru) * УСТРОЙСТВО дл КОНТРОЛЯ НАГРУЗОЧНОЙ СНОСОБНОСТИ ПОРОГОВЫХ СХЕМ
SU836606A1 (ru) * 1979-07-17 1981-06-07 Серпуховское Высшее Военное Командноеучилище Им. Ленинского Комсомола Устройство дл определени нагрузочнойСпОСОбНОСТи диСКРЕТНыХ CXEM
JPS63122973A (ja) * 1986-11-12 1988-05-26 Nec Corp Ic試験装置
SU1564623A1 (ru) * 1988-01-04 1990-05-15 Предприятие П/Я М-5028 Многоканальное устройство тестового контрол логических узлов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU266945A1 (ru) * УСТРОЙСТВО дл КОНТРОЛЯ НАГРУЗОЧНОЙ СНОСОБНОСТИ ПОРОГОВЫХ СХЕМ
SU836606A1 (ru) * 1979-07-17 1981-06-07 Серпуховское Высшее Военное Командноеучилище Им. Ленинского Комсомола Устройство дл определени нагрузочнойСпОСОбНОСТи диСКРЕТНыХ CXEM
JPS63122973A (ja) * 1986-11-12 1988-05-26 Nec Corp Ic試験装置
SU1564623A1 (ru) * 1988-01-04 1990-05-15 Предприятие П/Я М-5028 Многоканальное устройство тестового контрол логических узлов

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2723968C1 (ru) * 2019-07-02 2020-06-18 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королёва" Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
RU2793145C1 (ru) * 2022-08-31 2023-03-29 Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Самарский Национальный Исследовательский Университет Имени Академика С.П. Королева" (Самарский Университет) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2937705B1 (en) Circuit arrangement with a thyristor circuit, as well as a method for testing the thyristor circuit
US3621387A (en) Computer-controlled tester for integrated circuit devices
US9488674B2 (en) Testing device and a circuit arrangement
US20080068099A1 (en) Methods and apparatus for inline measurement of switching delay history effects in PD-SOI technology
KR100269704B1 (ko) 지연 소자 시험 장치 및 시험 기능을 갖는 집적 회로
CN111052611B (zh) 使用时基和电流源的模数转换器自测
US8860455B2 (en) Methods and systems to measure a signal on an integrated circuit die
RU2613568C1 (ru) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
CN106950486B (zh) 自动测试设备的群组化时间测量模块及其方法
RU2613573C1 (ru) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
US20090093987A1 (en) Method for accurate measuring stray capacitance of automatic test equipment and system thereof
US9519015B2 (en) Rise time and fall time measurement
CN106970319B (zh) 一种关于继电器抖断抖闭时间的测量方法
JPWO2008114307A1 (ja) 遅延回路及び該回路の試験方法
RU2649244C9 (ru) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
US20080232538A1 (en) Test apparatus and electronic device
RU2793145C1 (ru) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
RU2723968C1 (ru) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем
US8008935B1 (en) Tester and a method for testing an integrated circuit
US10274536B2 (en) Time to current converter
CN106407486A (zh) 工艺偏差检测电路及方法
US9344075B2 (en) Measuring delay between signal edges of different signals using an undersampling clock
CN104569612A (zh) 一种片上波形的测量机构及其在建立时序库的应用方法
JP3166060U (ja) 回路裝置
US7646206B2 (en) Apparatus and method for measuring the current consumption and the capacitance of a semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20171215