RU2391647C2 - Способ локализации включений в алмазе - Google Patents

Способ локализации включений в алмазе Download PDF

Info

Publication number
RU2391647C2
RU2391647C2 RU2003119969/63K RU2003119969K RU2391647C2 RU 2391647 C2 RU2391647 C2 RU 2391647C2 RU 2003119969/63 K RU2003119969/63 K RU 2003119969/63K RU 2003119969 K RU2003119969 K RU 2003119969K RU 2391647 C2 RU2391647 C2 RU 2391647C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
diamond
inclusion
holder
observation
specified
Prior art date
Application number
RU2003119969/63K
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Борисович СИВОВОЛЕНКО (RU)
Сергей Борисович СИВОВОЛЕНКО
ДЕР СТЕН Пол ВАН (BE)
ДЕР СТЕН Пол ВАН
Original Assignee
Диамкад Н.В.
Сергей Борисович СИВОВОЛЕНКО
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=8172374&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=RU2391647(C2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Диамкад Н.В., Сергей Борисович СИВОВОЛЕНКО filed Critical Диамкад Н.В.
Application granted granted Critical
Publication of RU2391647C2 publication Critical patent/RU2391647C2/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/87Investigating jewels

Landscapes

  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области исследования драгоценных камней, в частности алмазов. Алмаз фиксируют на держателе, исследуют его под определенным углом для получения изображения, затем осуществляют второе измерение для получения двух наборов данных, рассчитываемых на компьютере, при этом указанный второй набор данных можно получить посредством измерения глубины или путем изменения направления наблюдения. Изобретение позволяет повысить точность локализации. 3 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к способу и устройству для локализации включений в алмазе.
До настоящего времени для определения включений в алмазах использовали несколько способов (GB 2081439, US 4152069), и все они имеют недостатки, связанные с трудностью локализации включений относительно внешней поверхности алмаза. Главным образом, могут быть получены двумерные изображения алмаза, что приведет к неточной локализации таких включений.
Цель изобретения заключается в преодолении вышеупомянутых недостатков, и способ согласно изобретению отличается тем, что алмаз фиксируют на держателе, указанный алмаз на держателе исследуют (измеряют) под предварительно определенным углом для получения изображения, затем осуществляют второе измерение, для получения двух наборов данных, рассчитываемых на компьютере, для локализации включения относительно внешней поверхности указанного алмаза. Согласно первому варианту реализации изобретения способ, кроме того, отличается тем, что алмаз фиксируют на держателе, при этом указанный алмаз на держателе детектируют под предварительно определенным углом для получения эталонного изображения, далее осуществляют изменение направления, под которым осуществляют исследование алмаза, по меньшей мере, один раз, для получения изменений, при этом данные изображения вносят в компьютер для расчета трехмерного изображения, включающего одно или каждое включение по отношению к эталонному.
После осуществления четкой локализации включения по отношению к внешней поверхности алмаза, указанный алмаз можно легко разрезать по наиболее оптимальной плоскости, рассчитанной с помощью компьютера. Указанная оптимальная плоскость проходит через включение так, что при разрезании алмаза включение исчезает.
Хотя направление наблюдения относительно алмаза может быть осуществлено изменением положения сканера и так далее, согласно изобретению это легче сделать вращением и/или перемещением держателя с алмазом по отношению к фиксированному направлению наблюдения.
Кроме того, одна из целей изобретения заключается во введении корректирующего коэффициента, связанного с показателем преломления алмаза, который следует учесть при расчете, в том случае, когда направление сканирования отклоняется от направления наблюдения, перпендикулярного поверхности алмаза.
Для более простого осуществления точной локализации и/или определения объемности включения в алмазе можно использовать оптический цилиндр, диаметр и направление детектирования которого используют для расчета на компьютере.
Согласно еще одному варианту реализации изобретения включение можно локализовать, используя сканер, имеющий устройство для фокусировки, для получения положения глубины вдоль указанного направления наблюдения посредством фокусировки указанного включения.
Изобретение поясняется посредством следующего описания варианта реализации изобретения, заключающегося в локализации включений в алмаз.
На чертежах представлено:
Фиг.1 представляет перспективный вид варианта реализации изобретения, иллюстрирующий сканирование алмаза на держателе.
На фиг.2A, B, C, D схематично представлены последовательные стадии предпочтительного способа согласно изобретению.
На фиг.1 изображен корпус 1, который содержит держатель 2, над которым зафиксирован алмаз D. Посредством подходящего привода можно осуществлять вращение держателя и/или перемещение держателя, для размещения алмаза на оптической оси A, являющейся оптической осью проекционного светового луча 7, проецируемого сквозь алмаз на полупроницаемое зеркало, отражающее изображение алмаза на микроскоп и/или камеру 3 и на сканер 4.
При проецировании света возможно установить держатель 2 в правильное положение относительно шкалы микроскопа ручным способом, выполненным оператором. Сканер 4 используют для получения необходимых данных для указанного конкретного изображения и использования полученных данных в расчетах на компьютере.
На фиг.2 представлено осуществление нескольких этапов реализации способа согласно изобретению.
a) Осуществляют фиксацию алмаза на столике и устанавливают сканер 4 от внешней поверхности камня в произвольном начальном положении. Координаты данного положения - X0, Y0, Z0, α0, β0, γo.
i) Осуществляют вращение камня, чтобы сделать необходимое включение видимым посредством микроскопа (с измеряющим окуляром).
b) Осуществляют перемещение включения в положение перед шкалой 9 микроскопа. Оператор, исследующий камень через микроскоп, делает это, регулируя столик. Выполненные перемещения X1, Y1, Z1 и вращения α1, β1, γ1 алмаза на столике регистрируют исходя из его начального положения. Определяют грань (по ее нормали α1, β1, γ1) через которую включение видимо. Определяют цилиндр (или линию) так, чтобы включение было внутри указанного цилиндра (или пересекалось указанной линией). Такую же процедуру (стадии a и b) осуществляют из нескольких различных положений "n".
c) Различные местоположения понимают либо или как просмотр через разные грани алмаза, либо просмотр через одни и те же грани, но по различным направлениям. Регистрируют различный набор перемещений и вращений: X2…Xn, Y2…Yn, Z2…Zn, α2…αn, β2…βn, γ2…γn.
d) Местоположение включений внутри алмаза рассчитывают исходя из зарегистрированных перемещений и вращений, сканирования внешней поверхности и показателя преломления алмаза. Положение включения определяют как ближайшие точки пересечения линий или цилиндров, созданные на стадии b. Символ включения 8 проецируется в сканируемое изображение.
Изобретение не ограничивается вышеописанным способом. Например, перекрестье (шкала) микроскопа можно заменить "координатной картой", тем самым избегая перемещения держателя в каждом просматриваемом направлении.

Claims (4)

1. Способ локализации включений в алмазе (D), при котором осуществляют фиксирование алмаза на держателе (2), осуществляют исследование алмаза (D) на держателе в первоначальном положении для получения изображения наружной поверхности указанного алмаза, при этом осуществляют регистрацию координат (Х0, Y0, Z0, α0, β0, γ0) первоначального положения, отличающийся тем, что осуществляют исследование включения в алмазе, по меньшей мере, в первом и втором направлениях наблюдения, при этом по меньшей мере в первом и втором положении с координатами (X1, Y1, Z1, α1, β1, γ1) (X2, Y2, Z2, α2, β2, γ2) указанные координаты подаются в компьютер для осуществления локализации включения (8) относительно внешней поверхности указанного алмаза (D).
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что осуществляют вращение и/или перемещение держателя (2) с алмазом (D) для обеспечения направления наблюдения.
3. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что при отклонении направления наблюдения от 90° относительно поверхности алмаза вводят корректирующий коэффициент, являющийся функцией показателя преломления алмаза при осуществлении вычислений компьютером.
4. Способ по любому из предыдущих пунктов, отличающийся тем, что направление наблюдения является таким, что включение или каждое включение (8) является заключенным в оптический цилиндр, диаметр и направление детектирования которого используют при осуществлении вычислений компьютером.
RU2003119969/63K 2000-12-04 2001-12-03 Способ локализации включений в алмазе RU2391647C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP00204323.0A EP1211503B2 (en) 2000-12-04 2000-12-04 A method and apparatus for locating inclusions in a diamond stone
EP00204323,0 2000-12-04

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2391647C2 true RU2391647C2 (ru) 2010-06-10

Family

ID=8172374

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2003119969/28A RU2263304C2 (ru) 2000-12-04 2001-12-03 Способ локализации включений в алмазе
RU2003119969/63K RU2391647C2 (ru) 2000-12-04 2001-12-03 Способ локализации включений в алмазе

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2003119969/28A RU2263304C2 (ru) 2000-12-04 2001-12-03 Способ локализации включений в алмазе

Country Status (8)

Country Link
EP (1) EP1211503B2 (ru)
AT (1) ATE338946T1 (ru)
AU (1) AU2002229638A1 (ru)
CA (1) CA2430694C (ru)
DE (1) DE60030569D1 (ru)
IL (2) IL156034A0 (ru)
RU (2) RU2263304C2 (ru)
WO (1) WO2002046725A1 (ru)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030223054A1 (en) * 2002-05-29 2003-12-04 Natural Crystal Information Systems Method and apparatus for identifying gemstones
US7755072B2 (en) 2004-09-21 2010-07-13 Zvi Porat System and method for three-dimensional location of inclusions in a gemstone
DE102005039679A1 (de) 2005-08-22 2007-03-08 Galatea Ltd. Verfahren zum Bestimmen des Wertes eines Objekts
US7800741B2 (en) 2005-08-22 2010-09-21 Galatea Ltd. Method for evaluation of a gemstone
EP1980846A1 (en) * 2007-04-13 2008-10-15 Universiteit Gent Methods and systems for performing differential radiography
WO2009068354A1 (en) 2007-11-27 2009-06-04 Ideal-Scope Pty. Ltd. Method and system for improved optical modeling of gemstones
GB0807849D0 (en) * 2008-04-30 2008-06-04 Diamond Trading Company The Lt Locating inclusions in diamond
GB0919235D0 (en) 2009-11-03 2009-12-16 De Beers Centenary AG Inclusion detection in polished gemstones
BE1019409A5 (nl) * 2010-07-07 2012-07-03 Octonus Finland Oy Verbeterde werkwijze voor het analyseren van een edelsteen.
EP3028034A4 (en) 2013-06-18 2017-05-03 Arvindbhai Lavjibhai Patel Method and device for gemstone evolution
CN112041667B (zh) 2018-03-02 2024-05-31 澳大利亚国立大学 确定宝石、矿物或其样本中的异物和/或杂质的位置的方法和系统
WO2019185974A1 (en) * 2018-03-28 2019-10-03 Engemma Oy Holder arrangement for gemological object recognition system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU498200A1 (ru) * 1972-06-21 1976-01-05 Надувна лодка
GB2081439A (en) * 1980-06-04 1982-02-17 Gersan Ets Examining a gem stone
RU2054656C1 (ru) * 1993-01-12 1996-02-20 Алтайское производственное объединение "Кристалл" Способ определения положения дефекта в прозрачном камне
GB2293236A (en) * 1994-09-07 1996-03-20 Gersan Ets Examining a diamond

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1700496A (en) * 1927-04-28 1929-01-29 Heitzler Frank Method of identifying precious stones
SU408200A1 (ru) 1971-11-25 1973-12-10 УСТРОЙСТВО дл ДЕФЕКТОСКОПИИ ПРОЗРАЧНЫХ
GB1416568A (en) * 1972-10-20 1975-12-03 Wilson S S Method of and apparatus for evaluating registering and identifying gemstones
BE821278A (nl) 1974-10-21 1975-02-17 Methode voor voorafgaande berekening van het gewichtsverlies
IT1085202B (it) 1976-02-05 1985-05-28 Dihaco Diamanten Handels Co Procedimento e dispositivo per la determinazione dei dati di stima di pietre preziose
NL8100119A (nl) 1981-01-13 1982-08-02 Lely Nv C Van Der Grondbewerkingsmachine.
GB2096793B (en) 1981-04-06 1985-02-20 Gersan Ets Visually examining a gem stone
GB2103355B (en) 1981-08-03 1985-08-07 Gersan Ets Examining a gemstone
IL87499A (en) 1988-08-19 1991-04-15 Sarin Research & Dev Ltd Computer-aided design apparatus for precious stones
US6020954A (en) 1997-12-18 2000-02-01 Imagestatistics, Inc. Method and associated apparatus for the standardized grading of gemstones
WO2009068354A1 (en) 2007-11-27 2009-06-04 Ideal-Scope Pty. Ltd. Method and system for improved optical modeling of gemstones
BE1019409A5 (nl) 2010-07-07 2012-07-03 Octonus Finland Oy Verbeterde werkwijze voor het analyseren van een edelsteen.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU498200A1 (ru) * 1972-06-21 1976-01-05 Надувна лодка
GB2081439A (en) * 1980-06-04 1982-02-17 Gersan Ets Examining a gem stone
RU2054656C1 (ru) * 1993-01-12 1996-02-20 Алтайское производственное объединение "Кристалл" Способ определения положения дефекта в прозрачном камне
GB2293236A (en) * 1994-09-07 1996-03-20 Gersan Ets Examining a diamond

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ЕПИФАНОВ В.И. и др. Технология обработки алмазов в бриллианты. - М.: Высшая школа, 1982, с.86. *

Also Published As

Publication number Publication date
RU2263304C2 (ru) 2005-10-27
EP1211503A1 (en) 2002-06-05
IL156034A0 (en) 2003-12-23
ATE338946T1 (de) 2006-09-15
EP1211503B2 (en) 2015-12-02
WO2002046725A1 (en) 2002-06-13
AU2002229638A1 (en) 2002-06-18
IL156034A (en) 2008-06-05
EP1211503B1 (en) 2006-09-06
CA2430694C (en) 2008-08-19
CA2430694A1 (en) 2002-06-13
DE60030569D1 (de) 2006-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2391647C2 (ru) Способ локализации включений в алмазе
US5428448A (en) Method and apparatus for non-contact digitazation of frames and lenses
US20040234122A1 (en) Surface shape measurement apparatus, surface shape measurement method, surface state graphic apparatus
CN100395517C (zh) 一种三维形状测量的传感装置及其测量方法
JP3786941B2 (ja) 心出し駆動ピンを自動的に位置決めする装置を備えた眼鏡レンズの特性を自動的に決定する装置
US20040202364A1 (en) Calibration object
JP7300915B2 (ja) 測量装置
US7869060B2 (en) Jig for measuring an object shape and method for measuring a three-dimensional shape
JP2000337815A (ja) 少なくとも一つの対象物体点における立体座標の測定のため方法およびシステム
KR950035535A (ko) 단층촬영기 및 그를 사용한 검사 및 수리장치
KR20070116721A (ko) 편심량 측정 방법
JPH04500127A (ja) 表面ならい盤の観察装置
JP7448397B2 (ja) 測量装置及び測量システム
JP2023022331A (ja) レーザスキャナ測量用ターゲット
RU2003119969A (ru) Способ и устройство для локализации включений в алмазе
CN113776462A (zh) 基于数字图像的高铁无咋轨道承轨台三维形貌检测方法
JP3293830B2 (ja) 物体の幾何学パラメータを測定および計算する装置および方法
CN1007179B (zh) 从至少一组立体象对中提取三维定量信息的设备
CN208187357U (zh) 一种拍摄透明物体表面三维轮廓的装置
US2747284A (en) Double image micrometer
JP6245552B2 (ja) 薄切片作製装置、及び薄切片作製方法
JP4922905B2 (ja) 回転中心線の位置変動測定方法および装置
JP3718312B2 (ja) 機械高測定装置
CN215899873U (zh) 一种用于x光成像手术定位标尺
KR20050121217A (ko) 시각적 위치 측정 장치

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20161204