JP7448397B2 - 測量装置及び測量システム - Google Patents
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Description
3 測量装置本体
18 測距部
19 演算制御部
23 光軸偏向部
32 測距光
33 反射測距光
43 測定点
44 ターゲット装置
47 測定面
51 測定面
53 2次元マップ
54 測定面
55 基準点
56 2次元マップ
61 測量装置
63 トータルステーション
64 2次元レーザスキャナ
68 演算制御部
79 演算制御部
83 測距部
84 走査鏡
87 測定点
88 測定面
89 ターゲット装置
92 測定面
93 2次元マップ
94 測定面
Claims (12)
- 測量装置本体を具備し、該測量装置本体は、測定対象物に向って測距光を射出し、前記測定対象物からの反射測距光に基づき測距を行う測距部と、前記測距光を少なくとも1軸で走査可能な光軸偏向部と、複数の測定点の位置情報を有する2次元マップを格納する記憶部と、前記測距部及び前記光軸偏向部の動作を制御する演算制御部とを有し、該演算制御部は、前記測距光の軌跡に沿って得られた各点の3次元座標のうち、高さを除いた2次元座標と、前記2次元マップ中の前記測定点の位置情報とを比較し、該測定点の位置情報から予め設定した閾値の範囲内にある点を前記測定点として選択する様構成されると共に、
前記2次元マップに基づき所定の測定点から次の測定点迄の回転角を演算し、該回転角に基づき前記測量装置本体を回転させる様構成された測量装置。 - 誘導光を照射する誘導光照射部を更に具備し、前記演算制御部は、選択された前記測定点を前記誘導光で指示する様構成された請求項1に記載の測量装置。
- 前記誘導光照射部は前記測距部であり、前記誘導光は可視光の測距光である請求項2に記載の測量装置。
- 前記誘導光照射部は、前記測距光と同軸でレーザポインタ光を照射する様構成された請求項2に記載の測量装置。
- 前記誘導光照射部は、前記測距光の光軸に対して既知のオフセット量でレーザポインタ光を照射する様構成され、前記測量装置本体を左右方向又は上下方向に回転する回転駆動部により前記測量装置本体と一体に回転する様構成された請求項2に記載の測量装置。
- 前記光軸偏向部は、前記測距光の光軸を中心として回転可能な一対の光学プリズムであり、該一対の光学プリズムの回転方向、回転速度、回転比の制御により前記測距光の照射方向を制御する様に構成され、前記演算制御部は、選択された前記測定点を中心に前記測距光が所定半径で円を描く様に前記光軸偏向部を制御する様構成された請求項2~請求項4のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 測量装置本体を左右方向又は上下方向に回転する回転駆動部を更に具備し、前記光軸偏向部は、前記測距光の光軸を中心として1軸で回転可能な走査ミラーであり、前記演算制御部は、選択された前記測定点に測距光が照射される様に前記回転駆動部と前記走査ミラーを制御する様構成された請求項2~請求項4の内のいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記演算制御部は、前記測距光の軌跡に沿って得られた各点のうち、前記2次元マップ中の前記測定点から最も近い2点を選択し、選択した2点を結んだ線上で、前記2次元マップ中の前記測定点から最も近い点を該測定点として演算する様構成された請求項1~請求項7のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記演算制御部は、前記測距光の軌跡に沿って得られた各点が、前記閾値の範囲内に存在しなかった場合に、アラームで通知する様構成された請求項1~請求項8のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 前記演算制御部は、2次元マップの面に対して垂直な方向に前記測距光を走査する様前記光軸偏向部を制御する様構成された請求項1~請求項9のうちのいずれか1項に記載の測量装置。
- 所定の測定点に設置されたターゲット装置と、該ターゲット装置を追尾可能な測量装置とを有する測量システムであって、前記測量装置は、前記ターゲット装置に向って測距光を射出し、前記ターゲット装置からの反射測距光に基づき測距を行う測距部と、前記測距光を少なくとも1軸で走査可能な光軸偏向部と、複数の測定点の位置情報を有する2次元マップを格納する記憶部と、前記測距部及び前記光軸偏向部の動作を制御する演算制御部とを有し、該演算制御部は、前記ターゲット装置の測定結果と、前記2次元マップ中の前記測定点の位置情報に基づき次の測定点迄の回転角を演算し、該回転角に基づき前記測量装置を回転させ、前記測距光が次の測定点を通過する様測定面に沿って1軸で走査し、前記測距光の軌跡に沿って得られた各点の3次元座標のうち、高さを除いた2次元座標と、前記2次元マップ中の前記測定点の位置情報とを比較し、該測定点の位置情報から予め設定した閾値の範囲内にある点を前記測定点として選択する様構成された測量システム。
- 前記測量装置は、誘導光を照射する誘導光照射部を更に有し、前記演算制御部は、選択された前記測定点を前記誘導光で指示し、指示された測定点と前記ターゲット装置の下端とが合致する様該ターゲット装置を移動させる様構成された請求項11に記載の測量システム。
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