RU2224311C2 - Получение рентгеновского изображения с высоким разрешением очень малых объектов - Google Patents

Получение рентгеновского изображения с высоким разрешением очень малых объектов Download PDF

Info

Publication number
RU2224311C2
RU2224311C2 RU99123366/06A RU99123366A RU2224311C2 RU 2224311 C2 RU2224311 C2 RU 2224311C2 RU 99123366/06 A RU99123366/06 A RU 99123366/06A RU 99123366 A RU99123366 A RU 99123366A RU 2224311 C2 RU2224311 C2 RU 2224311C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
cell
ray
mass
substance
Prior art date
Application number
RU99123366/06A
Other languages
English (en)
Other versions
RU99123366A (ru
Inventor
Стефен Вилль м УИЛКИНС (AU)
Стефен Вилльям УИЛКИНС
Original Assignee
Экс Эр Ти Лимитед
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from AUPO6041A external-priority patent/AUPO604197A0/en
Priority claimed from AUPO7453A external-priority patent/AUPO745397A0/en
Application filed by Экс Эр Ти Лимитед filed Critical Экс Эр Ти Лимитед
Publication of RU99123366A publication Critical patent/RU99123366A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2224311C2 publication Critical patent/RU2224311C2/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K7/00Gamma- or X-ray microscopes
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение предназначено для использования в области рентгеновской микроскопии. Ячейка для образца содержит образующую камеру для образца конструкцию. На последней расположена масса возбуждаемого падающим пучком для генерации рентгеновского излучения вещества. Рентгеновский микроскоп или микрозонд имеет средство для формирования сфокусированного пучка электронов и ячейку для образца. Последняя выполнена с возможностью удерживания держателем в положении, при котором пучок электронов фокусируется на массе возбуждаемого вещества с помощью ячейки для образца. Происходит обеспечение падающего пучка для возбуждения вещества для формирования рентгеновского излучения. Рентгеновский микроскоп содержит детектор. Последний размещен вне ячейки образца. Способ получения увеличенного рентгеновского изображения одной или более внутренних границ или других деталей образца заключается в помещении образца в ячейку для образца. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения содержит ячейку для образца, детектор. Последний размещен вне ячейки для образца для обнаружения рентгеновского излучения. Обеспечивается получение микрофокусного источника рентгеновского излучения. 4 с. и 34 з.п.ф-лы. 12 ил., 1 табл.

Description

Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)

Claims (38)

1. Ячейка для образца, предназначенная для использования при получении рентгеновских изображений, содержащая конструкцию, образующую камеру для образца, и расположенную на упомянутой конструкции массу вещества, возбуждаемого падающим пучком для генерации рентгеновского излучения, причем ячейка расположена таким образом, чтобы при использовании, по меньшей мере, часть рентгеновского излучения пересекала указанную камеру для облучения находящегося в ней образца, а затем выходила из конструкции для регистрации.
2. Ячейка для образца по п.1, отличающаяся тем, что представляет собой интегральный автономный узел, выполненный с возможностью и размерами, позволяющими установить его во вспомогательном держателе электронного микроскопа или микрозонда в положении, при котором пучок электронов микроскопа фокусируется на массе возбуждаемого вещества и тем самым обеспечивает падающий пучок для возбуждения упомянутого вещества и формирования рентгеновского излучения.
3. Ячейка для образца по п.1, отличающаяся тем, что упомянутое вещество способно возбуждаться падающим сфокусированным пучком электромагнитного излучения для формирования рентгеновского излучения.
4. Ячейка для образца по любому из пп.1, 2 или 3, отличающаяся тем, что указанная ячейка выполнена в виде группы слоев многоугольной формы в плоскости каждого слоя, при этом размеры каждого слоя в виде многоугольной формы составляют от 1 мкм до 10 мм.
5. Ячейка для образца по п.4, отличающаяся тем, что выполнена с возможностью использования при получении изображений методом фазового контраста, где упомянутые слои, через которые проходит возбужденное рентгеновское излучение, имеют высокую однородность и очень гладкие поверхности для сохранения высокой пространственной когерентности падающего пучка излучения, облучающего образец, обеспечивая тем самым полезный оптимальный контраст в изображении.
6. Ячейка для образца по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что упомянутая масса возбуждаемого вещества представляет собой слой вещества, нанесенного на конструкцию, образующую ячейку.
7. Ячейка для образца по п.6, отличающаяся тем, что слой возбуждаемого вещества имеет толщину в пределах от 10 до 1000 нм и расположен таким образом, что во время использования расстояние между этим слоем и образцом составляет от 1 до 1000 мкм.
8. Ячейка для образца по любому из п.6 или 7, отличающаяся тем, что упомянутая конструкция содержит подложку и/или разделительный слой, прозрачный для рентгеновских лучей вообще или для выбранного энергетического диапазона или диапазонов рентгеновского излучения, отделяющий слой возбуждаемого вещества от образца.
9. Ячейка для образца по п.8, отличающаяся тем, что подложка и/или разделяющий слой имеет сильное поглощение для энергий, находящихся за пределами указанного выбранного энергетического диапазона или диапазонов рентгеновского излучения, в целях увеличения хроматической когерентности рентгеновского излучения, формирующего изображение.
10. Ячейка для образца по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что упомянутая масса является разделенной или рельефной группой частей массы, удерживаемых на общей подложке.
11. Ячейка для образца по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что камера выполнена открытой.
12. Ячейка для образца по п.11, отличающаяся тем, что камера выполнена с возможностью герметизации после помещения в нее образца.
13. Ячейка для образца по любому из пп.1-10, отличающаяся тем, что камера выполнена с возможностью ее закрытия, а упомянутая конструкция содержит прозрачное для рентгеновских лучей окно, через которое рентгеновское излучение выходит из конструкции для регистрации.
14. Ячейка для образца по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что ячейка в комбинации с энергочувствительным или энергоразличающим детектором.
15. Ячейка для образца по п.10, отличающаяся тем, что упомянутая разделенная или рельефная группа частей массы представляет собой группу пятен, разнесенных по общей подложке.
16. Ячейка для образца по п.15, отличающаяся тем, что указанные пятна имеют диаметр около 0,2 мкм.
17. Ячейка для образца по одному из п.15 или 16, отличающаяся тем, что пятна расположены таким образом, чтобы падающий пучок был шире любого пятна.
18. Рентгеновский микроскоп или микрозонд, имеющий средство для формирования сфокусированного пучка электронов и ячейку для образца, выполненную с возможностью удерживания держателем в положении, при котором пучок электронов фокусируется на массе возбуждаемого вещества с помощью ячейки для образца и тем самым обеспечивается падающий пучок для возбуждения вещества для формирования рентгеновского излучения, а также детектор, размещенный вне ячейки образца, при этом указанное рентгеновское излучение пересекает часть ячейки для образца для облучения указанного образца, при этом, по меньшей мере, часть облучающего образец рентгеновского излучения выходит из ячейки и является зарегистрированным.
19. Рентгеновский микроскоп или микрозонд по п.18, отличающийся тем, что пучок электронов фокусируется на ширину в пределах от 10 до 1000 нм в массе возбуждаемого вещества.
20. Рентгеновский микроскоп или микрозонд по одному из п.18 или 19, отличающийся тем, что средство для формирования сфокусированного пучка электронов представляет собой остроконечный источник автоэлектронной эмиссии.
21. Рентгеновский микроскоп или микрозонд по одному из пп.18, 19 или 20, отличающийся тем, что дополнительно содержит энергочувствительный или энергоразличающий детектор.
22. Способ получения увеличенного рентгеновского изображения одной или более внутренних границ или других деталей образца, заключающийся в том, что образец помещают в ячейку для образца, включающую массу возбуждаемого вещества и камеру для удержания образца, устанавливают ячейку в держателе электронного микроскопа или микрозонда в положение, при котором пучок электронов, сформированный посредством микроскопа или микрозонда, фокусируется на массе возбуждаемого вещества, осуществляют облучение указанного возбуждаемого вещества пучком электронов для формирования веществом рентгеновского излучения, по меньшей мере часть которого пересекает камеру, облучая образец, содержащий одну или более внутренних границ или других деталей, и после этого выходит из структуры ячейки, и обнаруживают и регистрируют по меньшей мере часть излучения после облучения образца, для обеспечения изображения одной или более внутренних границ или других деталей образца.
23. Способ по п.22, отличающийся тем, что рентгеновское изображение получают методом фазового контраста или комбинации абсорбционного и фазового контраста.
24. Способ по п.23, отличающийся тем, что падающий пучок рентгеновских лучей и облучающее образец излучение имеют высокую пространственную когерентность для получения оптимального полезного контраста в изображении.
25. Способ по одному из пп.22-24, отличающийся тем, что пучок электронов фокусируют на ширину в пределах от 10 до 1000 нм в массе возбуждаемого вещества.
26. Способ по одному из пп.22-25, отличающийся тем, что используемая ячейка для образца представляет собой группу слоев многоугольной формы в плоскости каждого слоя, при этом размеры каждого слоя в виде многоугольной формы составляют от 1 мкм до 10 мм, причем слои, через которые проходит возбужденное рентгеновское излучение, имеют высокую однородность и очень гладкие поверхности для сохранения высокой пространственной когерентности падающего пучка в излучении, обучающем образец, для обеспечения оптимального полезного контраста в изображении.
27. Способ по одному из пп.22-26, отличающийся тем, что рентгеновское излучение, формируемое возбуждаемым веществом, находится в пределах от среднего до жесткого рентгеновского излучения, т.е. от 1 кэВ до 1 МэВ, и является, по существу, полихроматическим.
28. Способ по одному из пп.22-26, отличающийся тем, что рентгеновское излучение, формируемое возбуждаемым веществом, является, по существу, монохроматическим, при этом дополнительно увеличивают степень монохроматизации рентгеновского излучения.
29. Способ по одному из пп.22-28, отличающийся тем, что указанная масса представляет собой группу пятен, разнесенных по общей подложке, причем пучок электронов шире каждого пятна.
30. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения, содержащая ячейку для образца, содержащая средство для размещения образца, массу вещества, возбуждаемого падающим пучком, для формирования рентгеновского излучения, причем масса располагается на подложке, находящейся при использовании между упомянутой массой и образцом и служащей разделителем, и детектор, размещенный вне ячейки для образца для обнаружения рентгеновского излучения, пересекающего ячейку для образца, а также средство для регулирования относительного положения образца и массы.
31. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения по п.30, отличающаяся тем, что подложка является фильтром для рентгеновского излучения и выполнена с возможностью прохождения через нее выбранного энергетического диапазона или диапазонов рентгеновского излучения.
32. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения по одному из п.30 или 31, отличающаяся тем, что упомянутое вещество способно возбуждаться падающим пучком электронов, например, в электронном микроскопе или микрозонде.
33. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения по одному из п.30 или 31, отличающаяся тем, что упомянутое вещество возбуждается посредством падающего фокусированного пучка электромагнитного излучения для формирования рентгеновского излучения.
34. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения по одному из пп.30-33, отличающаяся тем, что предназначена при использовании для получения изображений методом фазового контраста, при этом масса и подложка представляют собой слои, имеющие высокую однородность и очень гладкую поверхность после, и включая выходную границу массы для сохранения высокой пространственной когерентности падающего пучка излучения, облучающего образец, и обеспечения оптимального полезного контраста в изображении.
35. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения по одному из пп.30-34, отличающаяся тем, что упомянутая масса представляет собой разделенную или рельефную группу частей массы, удерживаемых на общей подложке.
36. Установка для получения рентгеновского микроскопического изображения по п.35, отличающаяся тем, что упомянутая разделенная или рельефная группа частей массы представляет собой группу пятен, разнесенных по общей подложке.
37. Установка для получения рентгеновского микроскопического изображения по п.36, отличающаяся тем, что указанные пятна имеют диаметр около 0,2 мкм.
38. Установка для получения микроскопического изображения по одному из п.36 или 37, отличающаяся тем, что пятна расположены таким образом, чтобы падающий пучок был шире любого пятна.
RU99123366/06A 1997-04-08 1998-04-08 Получение рентгеновского изображения с высоким разрешением очень малых объектов RU2224311C2 (ru)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AUPO6041 1997-04-08
AUPO6041A AUPO604197A0 (en) 1997-04-08 1997-04-08 Deriving a phase-contrast image
AUPO7453 1997-06-20
AUPO7453A AUPO745397A0 (en) 1997-06-20 1997-06-20 High resolution x-ray imaging of very small objects

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU99123366A RU99123366A (ru) 2001-08-20
RU2224311C2 true RU2224311C2 (ru) 2004-02-20

Family

ID=25645392

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99123366/06A RU2224311C2 (ru) 1997-04-08 1998-04-08 Получение рентгеновского изображения с высоким разрешением очень малых объектов

Country Status (12)

Country Link
US (2) US6163590A (ru)
EP (1) EP0974149B1 (ru)
JP (1) JP2001519022A (ru)
KR (1) KR100606490B1 (ru)
CN (1) CN1175430C (ru)
AT (1) ATE349757T1 (ru)
CA (1) CA2285296C (ru)
DE (1) DE69836730T2 (ru)
HK (1) HK1026505A1 (ru)
IL (1) IL132351A (ru)
RU (1) RU2224311C2 (ru)
WO (1) WO1998045853A1 (ru)

Families Citing this family (79)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0974149B1 (en) * 1997-04-08 2006-12-27 XRT Limited High resolution x-ray imaging of very small objects
EP1126477A3 (de) * 2000-02-14 2003-06-18 Leica Microsystems Lithography GmbH Verfahren zur Untersuchung von Strukturen auf einem Halbleiter-Substrat
AUPQ831200A0 (en) * 2000-06-22 2000-07-13 X-Ray Technologies Pty Ltd X-ray micro-target source
EP1451563A1 (en) * 2001-11-05 2004-09-01 Vanderbilt University Phase-contrast enhanced computed tomography
EP1488441A2 (en) * 2002-01-31 2004-12-22 The Johns Hopkins University X-ray source and method for more efficiently producing selectable x-ray frequencies
KR100592956B1 (ko) * 2002-06-03 2006-06-23 삼성전자주식회사 방사선 영상 장치 및 초점 조정 방법
JP3998556B2 (ja) * 2002-10-17 2007-10-31 株式会社東研 高分解能x線顕微検査装置
US7130379B2 (en) * 2003-05-28 2006-10-31 International Business Machines Corporation Device and method for generating an x-ray point source by geometric confinement
WO2005014784A2 (en) * 2003-06-20 2005-02-17 Tumer Tumay O System for molecular imaging
US7394890B1 (en) * 2003-11-07 2008-07-01 Xradia, Inc. Optimized x-ray energy for high resolution imaging of integrated circuits structures
US7218703B2 (en) * 2003-11-21 2007-05-15 Tohken Co., Ltd. X-ray microscopic inspection apparatus
EP1557865A1 (en) * 2004-01-23 2005-07-27 Tohken Co., Ltd. Microfocus x-ray tube for microscopic inspection apparatus
EP1557864A1 (en) * 2004-01-23 2005-07-27 Tohken Co., Ltd. X-ray microscopic inspection apparatus
US7412024B1 (en) * 2004-04-09 2008-08-12 Xradia, Inc. X-ray mammography
US7286640B2 (en) * 2004-04-09 2007-10-23 Xradia, Inc. Dual-band detector system for x-ray imaging of biological samples
US7006741B1 (en) * 2005-03-22 2006-02-28 Bi Yu Contact-field optical microscope
GB0509611D0 (en) * 2005-05-11 2005-06-15 Amersham Biosciences Ab Method and device for imaging a sample
DE102005041923A1 (de) * 2005-09-03 2007-03-08 Comet Gmbh Vorrichtung zur Erzeugung von Röntgen- oder XUV-Strahlung
DE202005017496U1 (de) * 2005-11-07 2007-03-15 Comet Gmbh Target für eine Mikrofocus- oder Nanofocus-Röntgenröhre
DE102006037255A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-02 Siemens Ag Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006037282B4 (de) * 2006-02-01 2017-08-17 Siemens Healthcare Gmbh Fokus-Detektor-Anordnung mit röntgenoptischem Gitter zur Phasenkontrastmessung
DE102006037256B4 (de) 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
DE102006030874B4 (de) * 2006-07-04 2013-03-14 Pro-Beam Ag & Co. Kgaa Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Werkstücken
JP2009210371A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Tohken Co Ltd 低加速電圧x線顕微装置
US7787588B1 (en) * 2008-07-21 2010-08-31 Xradia, Inc. System and method for quantitative reconstruction of Zernike phase-contrast images
JP4565168B2 (ja) * 2009-01-29 2010-10-20 独立行政法人産業技術総合研究所 走査型x線顕微鏡および走査型x線顕微鏡像の観察方法
JP5317120B2 (ja) * 2009-05-22 2013-10-16 独立行政法人産業技術総合研究所 X線顕微鏡用試料収容セル、x線顕微鏡、およびx線顕微鏡像の観察方法
JP2013513418A (ja) * 2009-12-10 2013-04-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 微分位相コントラストイメージングシステム
JP5626757B2 (ja) * 2010-02-24 2014-11-19 独立行政法人産業技術総合研究所 X線顕微鏡像観察用試料支持部材、x線顕微鏡像観察用試料収容セル、およびx線顕微鏡
JP2011209118A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Jeol Ltd X線顕微鏡及びx線を用いた顕微方法。
CN101846497A (zh) * 2010-04-29 2010-09-29 上海宏力半导体制造有限公司 关键尺寸矫正方法及其装置
JP5750763B2 (ja) 2011-09-09 2015-07-22 国立研究開発法人産業技術総合研究所 X線顕微鏡用試料収容セルおよびx線顕微鏡像の観察方法
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
WO2014047424A1 (en) * 2012-09-20 2014-03-27 University Of Houston System Single step x-ray phase imaging
DE102012221885A1 (de) * 2012-11-29 2014-06-05 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Vorbereitung einer Probe für die Invitrodiagnostik
US10297359B2 (en) 2013-09-19 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray illumination system with multiple target microstructures
US9390881B2 (en) 2013-09-19 2016-07-12 Sigray, Inc. X-ray sources using linear accumulation
US10269528B2 (en) 2013-09-19 2019-04-23 Sigray, Inc. Diverging X-ray sources using linear accumulation
US9570265B1 (en) 2013-12-05 2017-02-14 Sigray, Inc. X-ray fluorescence system with high flux and high flux density
US9448190B2 (en) 2014-06-06 2016-09-20 Sigray, Inc. High brightness X-ray absorption spectroscopy system
US9449781B2 (en) 2013-12-05 2016-09-20 Sigray, Inc. X-ray illuminators with high flux and high flux density
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10304580B2 (en) 2013-10-31 2019-05-28 Sigray, Inc. Talbot X-ray microscope
CN103558238A (zh) * 2013-11-11 2014-02-05 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 内爆芯部自发射诊断用多光谱显微成像系统
US9823203B2 (en) 2014-02-28 2017-11-21 Sigray, Inc. X-ray surface analysis and measurement apparatus
US9594036B2 (en) 2014-02-28 2017-03-14 Sigray, Inc. X-ray surface analysis and measurement apparatus
WO2015134277A1 (en) 2014-03-05 2015-09-11 Faxitron Bioptics, Llc System and method for multi-axis imaging of specimens
CN103839598B (zh) * 2014-03-26 2015-07-15 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 一种内爆双流线诊断系统
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
CN104323790B (zh) * 2014-10-27 2016-09-21 中国科学院深圳先进技术研究院 同轴相衬成像方法及系统和相衬ct方法及系统
US10352880B2 (en) 2015-04-29 2019-07-16 Sigray, Inc. Method and apparatus for x-ray microscopy
US10295486B2 (en) 2015-08-18 2019-05-21 Sigray, Inc. Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution
WO2017040977A1 (en) 2015-09-04 2017-03-09 Faxitron Bioptics, Llc Multi-axis specimen imaging device with embedded orientation markers
CN105486341B (zh) * 2015-11-25 2017-12-08 长春乙天科技有限公司 一种大幅面高速高精度自动光学检测设备
CN105911681A (zh) * 2016-06-28 2016-08-31 顾士平 高分辨率X射线、γ射线、电子射线显微镜
EP3176569B1 (en) 2016-10-11 2018-12-26 FEI Company Arrangement for x-ray tomography
WO2018085719A1 (en) * 2016-11-04 2018-05-11 Hologic, Inc. Specimen radiography system
CN106596594B (zh) * 2016-11-25 2018-12-21 天津大学 一种基于成像系统特性的x射线相位成像方法
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
WO2018175570A1 (en) 2017-03-22 2018-09-27 Sigray, Inc. Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
EP3682228A4 (en) 2017-09-11 2021-06-16 Faxitron Bioptics, LLC ADAPTIVE OBJECT MAGNIFICATION IMAGING SYSTEM
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
US10845491B2 (en) 2018-06-04 2020-11-24 Sigray, Inc. Energy-resolving x-ray detection system
EP3579664A1 (en) * 2018-06-08 2019-12-11 Excillum AB Method for controlling an x-ray source
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
DE112019004433T5 (de) 2018-09-04 2021-05-20 Sigray, Inc. System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung
CN112823280A (zh) 2018-09-07 2021-05-18 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
CN109541675B (zh) * 2018-12-06 2020-05-26 四川理工学院 基于点源空间效率函数的层析γ扫描体素效率刻度方法
WO2021046059A1 (en) 2019-09-03 2021-03-11 Sigray, Inc. System and method for computed laminography x-ray fluorescence imaging
US11175243B1 (en) 2020-02-06 2021-11-16 Sigray, Inc. X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
US20210289610A1 (en) * 2020-03-10 2021-09-16 Globalfoundries U.S. Inc. Failure analysis apparatus using x-rays
CN111289545A (zh) * 2020-03-18 2020-06-16 中国工程物理研究院流体物理研究所 一种基于相衬成像的高能x射线ct装置及成像方法
JP7395775B2 (ja) 2020-05-18 2023-12-11 シグレイ、インコーポレイテッド 結晶解析装置及び複数の検出器素子を使用するx線吸収分光法のためのシステム及び方法
JP2023542674A (ja) 2020-09-17 2023-10-11 シグレイ、インコーポレイテッド X線を用いた深さ分解計測および分析のためのシステムおよび方法
US11593938B2 (en) * 2020-10-04 2023-02-28 Borrirs Pte. Ltd. Rapid and automatic virus imaging and analysis system as well as methods thereof
WO2022126071A1 (en) 2020-12-07 2022-06-16 Sigray, Inc. High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source
US11885755B2 (en) 2022-05-02 2024-01-30 Sigray, Inc. X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5044001A (en) * 1987-12-07 1991-08-27 Nanod Ynamics, Inc. Method and apparatus for investigating materials with X-rays
US5042058A (en) * 1989-03-22 1991-08-20 University Of California Ultrashort time-resolved x-ray source
US5045696A (en) * 1989-03-31 1991-09-03 Shimadzu Corporation Photoelectron microscope
US5004919A (en) * 1989-07-05 1991-04-02 Jeol, Ltd. Transmission electron microscope
EP0432568A3 (en) * 1989-12-11 1991-08-28 General Electric Company X ray tube anode and tube having same
DE4027285A1 (de) * 1990-08-29 1992-03-05 Zeiss Carl Fa Roentgenmikroskop
US5528646A (en) * 1992-08-27 1996-06-18 Olympus Optical Co., Ltd. Sample vessel for X-ray microscopes
US5285061A (en) * 1992-08-28 1994-02-08 Csl Opto-Electronics Corp. X-ray photocathode for a real time x-ray image intensifier
JP2927627B2 (ja) * 1992-10-20 1999-07-28 株式会社日立製作所 走査電子顕微鏡
US5550378A (en) * 1993-04-05 1996-08-27 Cardiac Mariners, Incorporated X-ray detector
US5349624A (en) * 1993-05-21 1994-09-20 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Solid particle contaminant detection and analysis system
US5402460A (en) * 1993-08-02 1995-03-28 University Of Washington Three-dimensional microtomographic analysis system
JP3184675B2 (ja) * 1993-09-22 2001-07-09 株式会社東芝 微細パターンの測定装置
JP3191554B2 (ja) * 1994-03-18 2001-07-23 株式会社日立製作所 X線撮像装置
EP0723385A1 (en) * 1995-01-18 1996-07-24 Shimadzu Corporation X-ray generating apparatus and x-ray microscope
AUPN201295A0 (en) * 1995-03-28 1995-04-27 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Simplified conditions and configurations for phase-contrast imaging with hard x-rays
US5563415A (en) * 1995-06-07 1996-10-08 Arch Development Corporation Magnetic lens apparatus for a low-voltage high-resolution electron microscope
JP2642907B2 (ja) * 1995-06-14 1997-08-20 工業技術院長 X線露光装置
JPH095500A (ja) * 1995-06-26 1997-01-10 Shimadzu Corp X線顕微鏡
EP0974149B1 (en) * 1997-04-08 2006-12-27 XRT Limited High resolution x-ray imaging of very small objects

Also Published As

Publication number Publication date
EP0974149A1 (en) 2000-01-26
ATE349757T1 (de) 2007-01-15
CA2285296A1 (en) 1998-10-15
HK1026505A1 (en) 2000-12-15
CN1175430C (zh) 2004-11-10
IL132351A0 (en) 2001-03-19
CN1252158A (zh) 2000-05-03
EP0974149B1 (en) 2006-12-27
KR100606490B1 (ko) 2006-07-31
DE69836730T2 (de) 2007-10-04
US20010001010A1 (en) 2001-05-10
US6163590A (en) 2000-12-19
WO1998045853A1 (en) 1998-10-15
EP0974149A4 (en) 2004-05-26
JP2001519022A (ja) 2001-10-16
CA2285296C (en) 2007-12-04
DE69836730D1 (de) 2007-02-08
IL132351A (en) 2003-03-12
US6430254B2 (en) 2002-08-06
KR20010006201A (ko) 2001-01-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2224311C2 (ru) Получение рентгеновского изображения с высоким разрешением очень малых объектов
RU99123366A (ru) Получение рентгеновского изображения с высоким разрешением очень малых объектов
Kirz et al. Soft x‐ray microscopes
Snigirev The recent development of Bragg–Fresnel crystal optics. Experiments and applications at the ESRF
US7583789B1 (en) X-ray imaging systems employing point-focusing, curved monochromating optics
JP3641288B2 (ja) 標本表面の分析装置
Schmahl et al. Zone-plate X-ray microscopy
Adam et al. Table-top water window transmission x-ray microscopy: Review of the key issues, and conceptual design of an instrument for biology
Howells et al. Soft‐X‐Ray Microscopes
Falkenberg et al. CRL optics and silicon drift detector for P06 Microprobe experiments at 35 keV
Thompson et al. Focussing of synchroton radiation X-ray beams using synthetic multilayer mirrors
WO2001046962A1 (en) 'x-ray microscope having an x-ray source for soft x-rays
Schroer et al. Microbeam production using compound refractive lenses: beam characterization and applications
Bartoll et al. Micro-X-ray absorption near edge structure spectroscopy investigations of baroque tin-amalgam mirrors at BESSY using a capillary focusing system
Cazaux Prospects in high resolution X-ray photoelectron microscopy
AU747809B2 (en) High resolution X-ray imaging of very small objects
Tomie et al. X-ray photoelectron spectroscopy with a laser plasma source
Yang et al. A micro X-ray fluorescence analysis method using polycapillary X-ray optics and grazing exit geometry
Wachulak et al. Nanoscale imaging using a compact laser plasma source of soft X-rays and Extreme Ultraviolet (EUV)
Ohchi et al. Micro X-ray Photoelectron spectroscopy of the laser ablated silicon surface with a laser-produced plama X-ray source
KOZLOV Morphological changes of the human healthy blood erythro-cytes caused by terahertz laser radiation
Lai et al. Direct observation of surface standing waves in Mo Si multilayers
JPH07243996A (ja) X線微小分析法
Howells SOME IDEAS ON THE ADVANTAGES OF SOFT X-RAY AS IMAGING PARTICLES
Vis A comparison between the use of MeV ion beams and synchrotron radiation for element analysis