RU2193079C1 - Способ получения монокристаллического кремния - Google Patents

Способ получения монокристаллического кремния Download PDF

Info

Publication number
RU2193079C1
RU2193079C1 RU2001131737/12A RU2001131737A RU2193079C1 RU 2193079 C1 RU2193079 C1 RU 2193079C1 RU 2001131737/12 A RU2001131737/12 A RU 2001131737/12A RU 2001131737 A RU2001131737 A RU 2001131737A RU 2193079 C1 RU2193079 C1 RU 2193079C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
crucible
crystal
melt
silicon
speed
Prior art date
Application number
RU2001131737/12A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2001131737A (ru
Inventor
О.А. Ремизов (RU)
О.А. Ремизов
Юн Квон ДЖЕЙ (KR)
Юн Квон Джей
Original Assignee
Ремизов Олег Алексеевич
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ремизов Олег Алексеевич filed Critical Ремизов Олег Алексеевич
Priority to RU2001131737/12A priority Critical patent/RU2193079C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2193079C1 publication Critical patent/RU2193079C1/ru
Publication of RU2001131737A publication Critical patent/RU2001131737A/ru

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Область применения: изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при выращивании монокристаллов кремния по методу Чохральского. Сущность изобретения состоит в способе получения монокристаллического кремния, включающем расплавление исходного кремния в тигле, введение затравки, вытягивание кристалла из расплава на вращающуюся затравку, в котором процесс ведут в атмосфере инертного газа, при совпадении направлений вращения тигля и кристалла и при соотношении скоростей вращения тигля и кристалла, определяемом по формуле
Figure 00000001
где ωT и ωK - соответственно скорость вращения тигля и кристалла, об/мин; k - число из интервала от 0,1 до 0,5; Dвн - внутренний диаметр кварцевого тигля, мм; dном - номинальный диаметр выращиваемого монокристалла, мм; hp - начальная глубина расплава в тигле, мм; Нн - длина греющей части нагревателя, мм; γ - коэффициент позиционирования, учитывающий положение тигля с расплавом в полости нагревателя, а также конструкцию теплового узла. Находится в интервале 0,5-3,0 и предварительно определяемый экспериментально. Изобретение позволяет получать бездислокационные монокристаллы кремния с однородным радиальным распределением легирующей примеси и кислорода при большой массе загрузки. 2 з.п. ф-лы.

Description

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при выращивании монокристаллов кремния по методу Чохральского.
Известны различные способы получения монокристаллического кремния с однородным распределением кислорода и/или легирующей примеси, включающие вытягивание из расплава кремния, находящегося в тигле.
Например, известен также способ выращивания монокристаллов кремния под воздействием осесимметричного постоянного магнитного поля с индукцией 0,03-0,06 Тл при одновременном выборе соответствующих частот вращения кристалла и тигля ( RU 2042749, С 30 В 15/20, 1995).
В вышеописанном способе тигель состоит из цилиндрической и сферической частей, при этом вытягивание кристалла из цилиндрической части тигля ведут при вполне определенной постоянной скорости вращения, а при достижении уровня сферической части частоту вращения тигля увеличивают в зависимости от роста кристалла.
Другим вариантом выращивания монокристаллов кремния на вращающуюся затравку из расплава в тигле, состоящем из цилиндрической и сферической частей, является способ, предусматривающий изменение частоты вращения тигля и поддержания постоянной частоты вращения кристалла при Wкр > Wт, при этом при выращивании кристалла на цилиндрическом участке Wт увеличивают на (0,2-0,5) об/мин, а при выращивании на сферическом участке тигля Wт уменьшают на (0,15-0,45) об/мин на каждый сантиметр длины кристалла (RU 2077615, С 30 В 15/00, 1997).
Однако вышеописанные способы сложны в исполнении, хотя и обеспечивают высокую осевую однородность кристаллов с нормированным уровнем содержания кислорода.
Известен способ получения монокристаллического кремния, в котором скорость вращения кристалла изменяли от 0 до 6 об/мин, а скорость вращения тигля от 0 до 25 об/мин в различных вариациях. Способ проводили под ультразвуковым воздействием (RU 2035530, С 30 В 15/22, 1994).
Однако оптимальное сочетание скоростей вращения кристалла и тигля определенно.
В научно-технической литературе отмечалось, что скорость вращения кристалла и скорость вращения тигля оказывают заметное влияние на гидродинамику потоков в расплаве кремния, что в свою очередь влияет на концентрацию и распределение кислорода и/или легирующей примеси (см., например, Гускина Л. Г. Влияние условий выращивания на распределение кислорода в монокристаллах кремния. Электронная техника. Серия Материалы 1983 г., выпуск 2 (175), с. 37-38).
Однако конкретных рекомендаций по поддержанию необходимых скоростей вращения данная статья не содержит.
Известен способ выращивания монокристаллов кремния из расплава при непрерывном вращении затравочного кристалла со скоростью 5-25 об/мин и периодическом вращении тигля в противоположную сторону со скоростью 5-20 об/мин (US 4040895, В 01 J 17/18, 1977).
Однако способ не обеспечивает однородного радиального распределения кислорода в монокристаллах.
Более равномерное распределение кислорода в монокристаллах регулируется путем изменения как величины, так и соотношения скоростей вращения затравки и тигля (ЕР 0055619, С 30 В 15/30, 1982).
Однако при выращивании стержня из тиглей с массой загрузки более 10 кг часто происходит как деформация (скручивание) стержня, вследствие чего он принимает винтообразную форму, так и искривление граней роста. Это явление вызвано действием тепловой конвекции, интенсивность которой возрастает с увеличением массы загрузки и особенно сильно проявляется в начале процесса вытягивания при большой глубине расплава кремния.
Задачей настоящего изобретения является разработка способа получения бездислокационных монокристаллов кремния с однородным радиальным распределением легирующей примеси и кислорода при большой массе загрузки.
Поставленная задача решается описываемым способом получения монокристаллического кремния, включающим расплавление исходного кремния в тигле, введение затравки, вытягивание кристалла из расплава на вращающуюся кристаллическую затравку, в котором направления вращения тигля и кристалла совпадают, а отношение скоростей их вращения рассчитывают по формуле:
Figure 00000003

где ωт и ωк - соответственно скорость вращения тигля и кристалла, об/мин;
k - число из интервала от 0,1 до 0,5;
Dвн - внутренний диаметр кварцевого тигля, мм;
dном - номинальный диаметр выращиваемого монокристалла, мм;
hp - начальная глубина расплава в тигле, мм;
Нн - длина греющей части нагревателя, мм;
γ- коэффициент позиционирования, равный 0,5-3,0, зависящий от положения тигля с расплавом в полости нагревателя, и конструкции теплового узла и определяемый экспериментально.
Предпочтительно вытягивание кристалла из расплава проводить в атмосфере защитного инертного газа (например, аргона) с переменной скоростью вытягивания, вначале со скоростью 3-7 мм/мин до получения шейки монокристалла диаметром 2-5 мм и достижения бездислокационной структуры, затем вытягивают стержень со скоростью 0,1-1,0 мм/мин до достижения заданного диаметра, после чего скорость поддерживают на уровне 0,8-1,5 мм/мин с постепенным снижением ее до 0,4-0,8 мм/мин, а затем повышают до 1,5-2,5 мм/мин для образования обратного конуса.
Сущность изобретения заключается в том, что процесс выращивания монокристалла кремния из расплава, находящегося в кварцевом тигле, ведут при оптимальном профиле движения гидродинамических потоков в расплаве, стимулированных действием как вынужденной, так и тепловой конвекции.
Из теории и практики выращивания монокристаллов кремния методом Чохральского известно, что профиль гидродинамических течений в расплаве зависит от численных значений комплексов:
- Рейнольдса
Figure 00000004

- Рэлея
Figure 00000005

и симплексов: DK/DT, hp/DT и
Figure 00000006

где ωк и ωт - соответственно угловая скорость вращения кристалла и тигля;
Dк и Dт - диаметр кристалла и тигля соответственно;
ν - кинематическая вязкость расплава;
g - ускорение силы тяжести;
β - коэффициент объемного расширения жидкого кремния;
α - коэффициент температуропроводности расплава;
hp - глубина расплава;
ΔT - перепад температуры на расстоянии hp, зависящий от положения тигля с расплавом в полости нагревателя и конструкции теплового узла.
Вышеуказанная совокупность признаков учитывает все вышеперечисленные геометрические, скоростные и тепловые параметры процесса. В результате получаются бездислокационные во всем объеме монокристаллы кремния, имеющие правильную цилиндрическую форму и ровные грани роста, с высокой однородностью распределения как легирующей примеси, так и кислорода в поперечном сечении. Настоящее изобретение иллюстрируется следующим примером.
Пример 1.
Загрузку исходного поликристаллического кремния в количестве 16 кг помещают в кварцевый тигель с внутренним диаметром 262 мм. Закрывают рабочую камеру установки и вакуумируют ее до остаточного давления ~ 1•102 Торр. Закрывают клапан на линии откачки и контролируют герметичность рабочей камеры. Величина натекания не должна превышать 5•10-3 л•Торр/сек. После этого вновь открывают клапан на линии откачки и подают в рабочую камеру сухой очищенный аргон в количестве 1800 нл/час. Загрузку в течение 30 минут подогревают до 600oС, а затем за счет увеличения мощности нагревателя производят ее расплавление. После этого мощность нагревателя снижают до значения, соответствующего мощности при вытягивании и в течение 30 минут расплав стабилизируют до достижения температуры 1442-1445oС. Закрывают клапан на линии откачки и с помощью вентиля на байпасной линии устанавливают давление аргона в камере печи равным 10-12 Торр. Расход аргона при этом уменьшают до 1200 нл/мин.
Поднимают тигель, вращающийся со скоростью 5 об/мин, в рабочее положение, соответствующее величине γ=1,5, и в расплав на глубину 2 - 4 мм вводят затравку диаметром 12,7 мм, вращающуюся со скоростью 12 об/мин в том же направлении, что и тигель. Подбирают номинальную температуру для затравления и производят вытягивание тонкой шейки монокристалла диаметром 2,5-3 мм до появления на ней бездислокационной структуры. Скорость вытягивания уменьшают до 0,3 мм/мин и понижают температуру расплава до достижения монокристаллом заданного диаметра, равного 102±1,5 мм. Затем скорость вытягивания увеличивают до 1,5 мм/мин и поддерживают ее в течение 3-5 минут для плавного выхода монокристалла на заданный диаметр. Включают систему автоматического регулирования диаметра и устанавливают начальную скорость вытягивания равной до 1,4 мм/мин. Производят вытягивание цилиндрической части монокристалла, при этом во избежание переохлаждения расплава и его спонтанной кристаллизации по периферии тигля скорость вытягивания автоматически (по заданной программе) уменьшается, достигая 0.4 мм/мин в конце процесса.
По окончании выращивания цилиндрической части слитка автоматическую систему регулирования диаметра отключают, и во избежание последствий термоудара при последующем отрыве слитка от расплава, изготавливают обратный конус длиной 65-80 мм. Для этого скорость вытягивания слитка плавно увеличивают до 2 мм/мин и/или несколько увеличивают мощность на нагревателе. Выращенный монокристалл кремния за счет ускоренного перемещения затравки вверх отрывают и удаляют от расплава на 30-50 мм. Закрывают кран на байпасной линии и заполняют рабочую камеру аргоном до давления 600-700 Торр.
Получают бездислокационный монокристалл кремния массой 14,94 кг с длиной цилиндрической части 630 мм. В зависимости от требуемых электрофизических параметров выход в готовую продукцию составляет 40-65%. Полученный монокристалл имеет правильную цилиндрическую форму без искривления граней роста, а радиальная неоднородность удельного сопротивления (RRV) и кислорода (ORV) не превышают соответственно 1,5% и 2,5%. Отношение скорости вращения тигля к скорости вращения кристалла на протяжении процесса выращивания поддерживают равным 0,416 из расчета его по формуле:
Figure 00000007

где k - число из интервала от 0,1 до 0,5;
Dвн и dном - соответственно внутренний диаметр тигля (262 мм) и номинальный диаметр кристалла (100 мм);
hp и Нн - соответственно начальная глубина расплава в тигле (145 мм) и длина греющей части нагревателя (300 мм);
γ - коэффициент позиционирования, в данном примере равный 1,5 и учитывающий положение расплава в полости нагревателя. Для каждой конструкции теплового узла численное значение коэффициента определяется опытным путем и может изменяться от 0,5 до 3,0.
В данном примере коэффициент позиционирования равен 1,5. Вышесказанное значение получено путем экспериментального подбора положения расплава в полости нагревателя, обеспечивающего получение кристалла с равными гранями.
Измерения RRV и ORV проводились на шайбах, вырезанных из верхней, средней и нижней части слитка. Толщина отрезанных шайб составляла 5±1 мм для измерения RRV и 2,4±0,1 мм для измерения ORV. Для разрушения термодоноров, искажающих истинные значения удельного сопротивления, шайбы термообрабатывались при температуре 650oС в течение одного часа, а затем со скоростью 30oС/мин охлаждались на воздухе. После двухсторонней подшлифовки толстых шайб на глубину ~ 0,5 мм на них проводились измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом. Более тонкие шайбы полировались до толщины 2,25±0,05 мм и на них измерялось содержание оптически активного кислорода на инфракрасном спектрофотомере дифференциальным методом.
Расчеты радиальной неоднородности распределения удельного сопротивления (RRV) и кислорода (ORV)
Figure 00000008

проводились в соответствии с требованиями международного стандарта ASTM (соответственно F 81 plan В и F 951 plan В):
где
Figure 00000009
- удельное сопротивление на периферии шайбы в 6 мм от края. Среднее из четырех измерений под углом 90oС.
Figure 00000010
- удельное сопротивление в центре шайбы. Среднее из двух измерений под углом 180oС.
Figure 00000011

где (Oi)к - концентрация оптически активного кислорода на периферии шайбы вблизи 6 мм от края. Среднее из двух измерений под углом 180oС;
(Oi)ц - концентрация оптически активного кислорода в центре шайбы.
Технический эффект предлагаемого способа заключается в получении монокристаллического кремния с высоким выходом и однородным радиальным распределением легирующей примеси и кислорода.
Предлагаемое изобретение обеспечивает при реализации следующие преимущества:
- Увеличивается выход годных микросхем с пластины.
- Материал позволяет изготавливать микросхемы с высокой степенью интеграции, включая сверхбольшие интегральные схемы, а также запоминающие устройства с большим объемом памяти.
- Снижается себестоимость изготовления монокристаллов и микросхем.
- На 1,5-2% повышается кпд солнечных элементов, изготовленных из монокристаллов, полученных по предлагаемому способу.

Claims (3)

1. Способ получения монокристаллического кремния, включающий расплавление исходного кремния в тигле, введение затравки, вытягивание кристалла из расплава на вращающуюся кристаллическую затравку, отличающийся тем, что направление вращения тигля и кристалла совпадают, а отношение скоростей вращения тигля и кристалла рассчитывают по формуле
Figure 00000012

где ωT и ωK - соответственно скорость вращения тигля и кристалла, об/мин;
k - число из интервала от 0,1 до 0,5;
Dвн и dном - соответственно внутренний диаметр тигля и номинальный диаметр выращиваемого монокристалла, мм;
hp - начальная глубина расплава в тигле, мм;
Нн - длина греющей части нагревателя, мм;
γ - коэффициент позиционирования, равный от 0,5 до 3,0, зависящий от положения тигля с расплавом в полости нагревателя и конструкции теплового узла и предварительно определенный экспериментальным путем.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что вытягивание кристалла из расплава ведут с переменной скоростью 3-7 мм/мин до вытягивания шейки монокристалла диаметром 2-5 мм и достижения бездислокационной структуры, затем вытягивают стержень со скоростью 0,1-1,0 мм/мин до достижения заданного диаметра, после чего скорость поддерживают на уровне 0,8-1,5 мм/мин с постепенным снижением ее до 0,4-0,8 мм/мин, а затем с повышением до 1,5-2,0 мм/мин для образования обратного конуса.
3. Способ по п. 1 или 2, отличающийся тем, что процесс ведут в атмосфере инертного газа.
RU2001131737/12A 1999-04-14 1999-04-14 Способ получения монокристаллического кремния RU2193079C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2001131737/12A RU2193079C1 (ru) 1999-04-14 1999-04-14 Способ получения монокристаллического кремния

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2001131737/12A RU2193079C1 (ru) 1999-04-14 1999-04-14 Способ получения монокристаллического кремния

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2193079C1 true RU2193079C1 (ru) 2002-11-20
RU2001131737A RU2001131737A (ru) 2004-08-10

Family

ID=20254446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2001131737/12A RU2193079C1 (ru) 1999-04-14 1999-04-14 Способ получения монокристаллического кремния

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2193079C1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1261715A (en) Apparatus and process for growing monocrystals of semiconductor materials from shallow crucibles by czochralski technique
EP2705178B1 (en) Growth of a uniformly doped silicon ingot by doping only the initial charge
US20100319613A1 (en) Silicon monocrystal growth method
TWI774174B (zh) 一種用於晶體生長的引晶方法
TW202113168A (zh) 一種矽單晶的生長方法
CN105506731A (zh) 单晶硅生长氧含量控制技术
JPH03261693A (ja) 単結晶製造方法
WO2006012924A1 (en) Method of growing single crystals from melt
KR100800253B1 (ko) 실리콘 단결정 제조방법
US20020129759A1 (en) Method for producing silicon single crystal
US20090038537A1 (en) Method of pulling up silicon single crystal
US5471943A (en) Process and device for pulling crystals according to the Czochralski method
RU2193079C1 (ru) Способ получения монокристаллического кремния
JP4013324B2 (ja) 単結晶成長方法
JPS5979000A (ja) 半導体単結晶の製造方法
CN111101194A (zh) 一种单晶硅晶棒的长晶方法
TWI736169B (zh) 一種半導體晶體生長方法和裝置
RU2261297C1 (ru) Способ выращивания монокристаллов из расплава методом амосова
JP2837903B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
JP3885245B2 (ja) 単結晶引上方法
JPH04305091A (ja) 単結晶引上方法及びその装置
JP2531875B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JPS62197398A (ja) 単結晶の引上方法
JPH04357191A (ja) 単結晶製造装置
JP2733898B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20050415