RU2142622C1 - Способ обнаружения дефектов поверхности - Google Patents
Способ обнаружения дефектов поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- RU2142622C1 RU2142622C1 RU98110528A RU98110528A RU2142622C1 RU 2142622 C1 RU2142622 C1 RU 2142622C1 RU 98110528 A RU98110528 A RU 98110528A RU 98110528 A RU98110528 A RU 98110528A RU 2142622 C1 RU2142622 C1 RU 2142622C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- defect
- reflected light
- defects
- mirror
- diffusely reflected
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали. Для обнаружения дефектов поверхности деталей световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, дискретно регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, в точках поверхности, интервал между которыми не превышает среднего расстояния между гребешками микронеровностей для данного класса деталей, определяют выборки регистрируемых световых потоков объема n, предварительно определяемого для бездефектной поверхности, причем для каждой выборки объема n измеряют оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих, вычисляют их произведение и по его величине судят о наличии или отсутствии дефектов на поверхности детали. Техническим результатом является повышения надежности обнаружения дефектов путем применения параметра, характеризующего дефектность и равного произведению оценок дисперсий зеркальной и диффузной составляющих. 1 ил.
Description
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали.
Известен способ обнаружения дефектов поверхности, заключающийся в том, что при освещении предмета световым лучом измеряют как зеркально отражаемый свет, так и диффузно отражаемый свет. Выходные сигналы фотоумножителей подаются на анализатор, чей выходной сигнал усиливается и разделяется на две составляющие. Первая составляющая содержит серию импульсов, каждый из которых соответствует дефекту. Вторая составляющая представляет собой случайный набор импульсов, соответствующий флуктуациям интенсивности отраженного света. Обе составляющие выпрямляются и сравниваются сравнивающим устройством, которое измеряет отношение сигнала к фону и при наличии дефекта выдает соответствующий сигнал (заявка Великобритании N 1350189, НКИ G1A). Недостатком способа является низкая надежность обнаружения дефектов при высоком уровне шумов.
Наиболее близким является способ (а. с. СССР N 1495693, кл. G 01 N 21/88, 1989), заключающийся в том, что световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, измеряют сумму предварительно усиленных сигналов и по величине этой суммы судят о дефектности поверхности.
Данный способ компенсирует влияние на надежность обнаружения дефектов цветности и посторонних включений в структуру материала микро- и макро-геометрии поверхности, одновременно снижая надежность обнаружения механических дефектов поверхности (трещин, царапин и т.д.).
Задачей настоящего изобретения является повышение надежности обнаружения дефектов поверхности деталей, путем применения нового параметра, характеризующего дефектность поверхности - параметра R, равного произведению оценок дисперсий зеркальной и диффузной составляющих.
Поставленная задача решается тем, что для обнаружения дефектов поверхности деталей световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, дискретно регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, в точках поверхности, интервал между которыми не превышает среднего расстояния между гребешками микронеровностей для данного класса деталей, определяют выборки регистрируемых световых потоков объема n, предварительно определяемого для бездефектной поверхности из соотношения
где n - объем выборки;
ds - оценка дисперсии сигнала зеркально отраженного светового потока от бездефектной поверхности;
dd - оценка дисперсии сигнала диффузно отраженного светового потока от бездефектной поверхности;
ks,d - оценка корреляционного момента между сигналами зеркально и диффузно отраженных световых потоков от бездефектной поверхности;
δ - доверительный предел оценки корреляционного момента;
ρ - доверительная вероятность, с которой измеряется оценка корреляционного момента;
tρ/2 - величина аргумента функции Лапласа, при котором ее значение равно Ф(t) = ρ/2;
для каждой выборки объема n измеряют оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих и по их произведению R судят о наличии или отсутствии дефектов на поверхности детали, R = Ds,Dd, где R - параметр дефектности; Ds, Dd - оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих соответственно.
где n - объем выборки;
ds - оценка дисперсии сигнала зеркально отраженного светового потока от бездефектной поверхности;
dd - оценка дисперсии сигнала диффузно отраженного светового потока от бездефектной поверхности;
ks,d - оценка корреляционного момента между сигналами зеркально и диффузно отраженных световых потоков от бездефектной поверхности;
δ - доверительный предел оценки корреляционного момента;
ρ - доверительная вероятность, с которой измеряется оценка корреляционного момента;
tρ/2 - величина аргумента функции Лапласа, при котором ее значение равно Ф(t) = ρ/2;
для каждой выборки объема n измеряют оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих и по их произведению R судят о наличии или отсутствии дефектов на поверхности детали, R = Ds,Dd, где R - параметр дефектности; Ds, Dd - оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих соответственно.
Предлагаемый способ реализован в устройстве, представленном на чертеже. Устройство включает фотоприемник 1, расположенный в ходе зеркально отраженного контролируемой деталью 2 светового потока, фотоприемник 3, расположенный в ходе диффузно отраженного светового потока и блока контроля 4, входы которого соединены с выходами фотоприемников 1 и 3. Блок контроля состоит из аналого-цифрового двухканального преобразователя и вычислителя.
Способ заключается в следующем: световой поток, заданной интенсивности I, направляют на поверхность вращающейся с угловой скоростью ω детали 2 и регистрируют с помощью фотоприемников 1 и 3 зеркальную s и диффузную d составляющие отраженного поверхностью света и преобразуют в электрические сигналы, дискретно, в точках поверхности, интервал между которыми не превышает среднего расстояния между гребешками микронеровностей для данного класса деталей. Блоком контроля 4 вычисляют произведение дисперсий между случайными значениями сигналов зеркальной s и диффузной d составляющих для каждого объема выборки n регистрируемых световых потоков и по его величине судят о наличии или отсутствии дефектов на поверхности детали.
При отсутствии дефектов величина оценок дисперсий Ds и Dd определяется только микрогеометрией поверхности со случайным, нерегулярным профилем микронеровностей. В этом случае значения оценок дисперсий относительно невелики. При наличии на поверхности дефектов различного происхождения (механические или дефекты цветности) значения оценок дисперсий Ds и Dd или одной из них изменяется на порядок.
Так как измерение профиля поверхности (как случайного процесса) в данном случае носит дискретный характер, то для оценки дисперсии принимается следующее выражение
где n - общее число выборок случайного процесса в моменты времени t = iΔ (i = 1,2,...,n);
xi,j - текущее значение зеркальной или диффузной составляющих i,j=(1,2,. ..,n).
где n - общее число выборок случайного процесса в моменты времени t = iΔ (i = 1,2,...,n);
xi,j - текущее значение зеркальной или диффузной составляющих i,j=(1,2,. ..,n).
Применение дисперсий для определения дефектов обусловлено следующими причинами:
- увеличение отношения сигнал/шум;
- значение параметра R не зависит от знака входного сигнала с датчиков.
- увеличение отношения сигнал/шум;
- значение параметра R не зависит от знака входного сигнала с датчиков.
При анализе на математических моделях выяснилось, что значение параметра R при обнаружении дефекта на порядок превосходит его значение при отсутствии дефекта, что является вполне достаточным для отсеивания брака от потока годных деталей. Это решение удовлетворяет требованиям массового производства, где не требуется идентификация дефекта, а требуется только определить его наличие или отсутствие.
Claims (1)
- Способ обнаружения дефектов поверхности, заключающийся в том, что световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки и по амплитуде электрического сигнала судят о наличии дефекта, отличающийся тем, что зеркально и диффузно отраженные световые потоки регистрируют и преобразуют в электрические сигналы дискретно, в точках поверхности, интервал между которыми не превышает среднего расстояния между гребешками микронеровностей для данного класса деталей, измеряют оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих для каждой выборки регистрируемых световых потоков объема n, предварительно определяемого для бездефектной поверхности из соотношения
где n - объем выборки;
ds - оценка дисперсии сигнала зеркально отраженного светового потока от бездефектной поверхности;
dd - оценка дисперсии сигнала диффузно отраженного светового потока от бездефектной поверхности;
Kc,d - оценка корреляционного момента между сигналами зеркально и диффузно отраженных световых потоков от бездефектной поверхности;
δ - доверительный предел оценки корреляционного момента;
ρ - доверительная вероятность, с которой измеряется оценка корреляционного момента;
tρ/2 - величина аргумента функции Лапласа, при котором ее значение равно φ(t) = ρ/2;
и по произведению дисперсной зеркальной и диффузной составляющих судят о наличии или отсутствии дефектов на поверхности детали.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU98110528A RU2142622C1 (ru) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | Способ обнаружения дефектов поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU98110528A RU2142622C1 (ru) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | Способ обнаружения дефектов поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2142622C1 true RU2142622C1 (ru) | 1999-12-10 |
Family
ID=20206771
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU98110528A RU2142622C1 (ru) | 1998-06-04 | 1998-06-04 | Способ обнаружения дефектов поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2142622C1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101804274A (zh) * | 2010-04-23 | 2010-08-18 | 杭州路先非织造股份有限公司 | 一种水刺非织造布复合过滤材料及其制造方法 |
RU2486466C2 (ru) * | 2011-05-03 | 2013-06-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Мобильные Системы Диагностики Холдинг" (ООО "МСД Холдинг") | Способ автоматического измерения износа контактного провода (проводов контактной сети) |
-
1998
- 1998-06-04 RU RU98110528A patent/RU2142622C1/ru active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101804274A (zh) * | 2010-04-23 | 2010-08-18 | 杭州路先非织造股份有限公司 | 一种水刺非织造布复合过滤材料及其制造方法 |
CN101804274B (zh) * | 2010-04-23 | 2011-09-14 | 杭州路先非织造股份有限公司 | 一种水刺非织造布复合过滤材料及其制造方法 |
RU2486466C2 (ru) * | 2011-05-03 | 2013-06-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Мобильные Системы Диагностики Холдинг" (ООО "МСД Холдинг") | Способ автоматического измерения износа контактного провода (проводов контактной сети) |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2019179251A1 (zh) | 基于太赫兹波检测大米的方法及系统 | |
RU2142622C1 (ru) | Способ обнаружения дефектов поверхности | |
US3779649A (en) | Method of and an electro-optical system for inspecting material | |
JP2705842B2 (ja) | 金属板の表面性状測定方法及びその装置 | |
JP2005189113A (ja) | 表面検査装置および表面検査方法 | |
US20170074804A1 (en) | Electromagnetic wave measurement device, measurement method, program, and recording medium | |
JPH0694642A (ja) | 表面欠陥検査方法および装置 | |
CN111638226A (zh) | 检测方法、图像处理器以及检测系统 | |
EP0222346B1 (en) | Method of measuring a sound pressure distribution in a solid body due to a ultrasonic probe by using photoelasticity | |
KR100484812B1 (ko) | 이미지 센서를 이용한 표면 검사방법 및 검사장치 | |
JP2018084550A (ja) | 糊付け検査装置 | |
JP2962171B2 (ja) | 表面疵検査装置 | |
JP2929096B2 (ja) | 曲面を有する被検査物の表面検査装置 | |
RU2156437C2 (ru) | Устройство для определения шероховатости поверхности | |
RU2593922C2 (ru) | Способ и устройство для оценки состояния поверхности резиновых или пластиковых нитей | |
JPH01297503A (ja) | 塗り肌自動検査装置 | |
JPS6344151A (ja) | 外観検査装置 | |
JPH05188010A (ja) | 表面検査装置 | |
RU2165612C1 (ru) | Способ обнаружения дефектов поверхности | |
JPS593245A (ja) | 欠陥検査装置 | |
RU2113707C1 (ru) | Прибор для измерения механических повреждений на плодах | |
SU853515A1 (ru) | Способ контрол качества изделийи МАТЕРиАлОВ | |
WO2002073173A3 (en) | Systems and methods for inspection of specimen surfaces | |
JPS5892936A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP2002156332A (ja) | 表面傷等の検出方法及び装置 |