RU2065644C1 - Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as - Google Patents

Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as Download PDF

Info

Publication number
RU2065644C1
RU2065644C1 RU9494021123A RU94021123A RU2065644C1 RU 2065644 C1 RU2065644 C1 RU 2065644C1 RU 9494021123 A RU9494021123 A RU 9494021123A RU 94021123 A RU94021123 A RU 94021123A RU 2065644 C1 RU2065644 C1 RU 2065644C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
gaas
etching
hydrogen peroxide
layer
multilayer
Prior art date
Application number
RU9494021123A
Other languages
English (en)
Other versions
RU94021123A (ru
Inventor
И.А. Бадмаева
М.Р. Бакланов
В.Н. Овсюк
Л.Л. Свешникова
А.И. Торопов
В.В. Шашкин
Original Assignee
Институт физики полупроводников СО РАН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт физики полупроводников СО РАН filed Critical Институт физики полупроводников СО РАН
Priority to RU9494021123A priority Critical patent/RU2065644C1/ru
Publication of RU94021123A publication Critical patent/RU94021123A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2065644C1 publication Critical patent/RU2065644C1/ru

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

Использование: в полупроводниковой технике и при изготовлении одиночных и многоэлементных фотоприемных устройств. Сущность изобретения: способ заключается в нанесении на подложку из полуизолирующего арсенида галлия последовательности слоев. Между ближайшим к подложке проводящим n+GaAs слоем и многослойной периодической структурой наносят туннельно-тонкий стоп-слой AlAs толщиной 2-5 нм. Травление ведут при температуре 20-22 град.С в растворе, дополнительно содержащем органическую кислоту. В качестве органической кислоты используют винную кислоту при следующих соотношениях компонентов (вес. проц. ): винная кислота 35-45, перекись водорода 5-10, вода остальное, или молочную кислоту при следующих соотношениях компонентов (вес.проц.): молочная кислота 25-35, перекись водорода 5-10, вода остальное. 2 з.п.ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при изготовлении одиночных и многоэлементных фотоприемных устройство на основе многослойных квантоворазмерных гетероструктур GaAs/AlGaAs.
Известен способ изготовления приборов на основе многослойной гетероструктуры GaAs/AlxGa1-xAs, таких как селективно-легированный гетероструктурный транзистор, транзистор с высокой подвижностью электронов, в которых для контролируемого удаления эпитаксиальных слоев субмикронной толщины используется высокоселективное ионно-реактивное травление (Mimura T. Hiyamizi S. Joshin K. Hikosaka K. Enhancement Mode High Electron Mobility Transistors for Logic Application. Jap. J. Appl. Phys. v.20, L.317, 1981).
При ионно-реактивном травлении гетероструктуры при использывании ССl2F2 скорость травления GaAs в десятки раз выше, чем AlxGa1-x>As. Фактор селективности (отношение скоростей травления GaAs и AlxGa1-xAs) достигает 300, что позволяет контролируемо удалить слой GaAs и остановить процесс травления на верхней границе AlxGa1-xAs (G. M. Knoedler, T,F.Kuech. Celective GaAs/AlxGa1-xAs reactive ion etching using CCl2F2, J. Vac. Sci. Techn. B. 4(5), 1233-1236, 1986).
При травлении гетероструктуры GaAs/AlxGa1-xAs ( x > 0,4) в растворах фтористоводородной кислоты селективность для AlxGa1-xAs составляет ≈100, что также позволяет контролируемо остановить процесс травления на границе GaAs (X. S. Wu, L.A.Coldren, J.L.Ners. Selective ething characteristics of HF for AlxGa1-xAs/GaAs. Electronics Letters. 21, N 13, 558-569, 1985).
Указанный способ имеет следующие недостатки. Из-за высокой селективности он неприменим для структур из чередующихся слоев GaAs и AlxGa1-xAs. На изготовление мезаструктуры в этом случае требуется большое время, так как скорость травления одного из слоев в структуре очень мала. При ионно-реактивном травлении особенно при больших временах под воздействием плазмы в слоях GaAs возникают дефекты, влияющие на электрофизические характеристики слоев.
Известны фотоприемные устройства на основе гетероструктур GaAs/AlGaAs, в которых фотоприемный элемент состоит из проводящего легированного слоя GaAs толщиной 0,5-1 мкм, выращенного на подложке полуизолирующего GaAs, многослойной периодической гетероструктуры GaAs/AlGaAs, состоящей из 50-100 слоев AlxGa1-xAs, 30-50 нм (х 0,2-0,5) и 50-100 слоев n+GaAs толщиной 4-5 нм, и второго проводящего слоя n+ толщиной 0,5-1 мкм (B.F.Levine, G.Hasnain, C.G. Bethea, N.Chang Broabdand 8-12 μm high-sensitivity GaAs quantum well infrared photodetector. Appl. Phys.Lett. 54(26) 2704-2706, 1989).
Обязательным этапом изготовления фотоприемных элементов является изготовление жидкостным травлением мезаструктуры. Для этого используют травители на основе перекиси водорода и серной кислоты. (D.W.Shaw. Localized GaAs etchind with acidic hydroden peroxide solution. J.Electrochem. Soc. 128, 784-880, 1981).
Так как суммарная глубина травления составляет 1,5-5 мкм, требуются травители с малой скоростью травления. Для этого применяют травители с большим содержанием воды. В растворах H2SO4-H2O2-H2O с объемным соотношением 1: 8: (80-169) скорость травления меняется от 0,26 до 0,54 мкм/мин. Также применяют и перекисно-аммиачные травители, содержащие большое количество воды, например NH4OH: H2O2:H2O 3:1:150. Эти травители травят практически с одинаковой скоростью GaAs и AlxGa1-xAs ( х 0,2-0,5) (Fricke K. Hartnagel H.L. Lee W-Y. Wurf J. AlGaAs/GaAs HBT for high-temperature applications. IEEE Trans. Electron Devices, 39, N 9, 1977-1981, 1992).
Однако известные способы изготовления таких фотоприемных элементов обладают следующими недостатками. Так как при изготовлении элемента процесс травления следует остановить при достижении нижнего n+GaAs слоя толщиной 0,5-1 мкм, который является общим электродом, то требуется непрерывный контроль глубины протравленной области, который затруднен из-за наличия толстой защитной маски на нетравленных участках. Требуется применение травителей со скоростью травления, заданной не хуже, чем 5-10% Точное задание скорости травления требует дополнительных усилий по поддержанию температуры в процессе травления, состава травителя и не всегда возможно вследствие неконтролируемых вариаций структурного совершенства образцов, состава твердого раствора AlGaAs.
Недостатком фотоприемного элемента является то, что при его изготовлении из-за сложности контроля процесса травления возможно как недотравливание, так и перетравливание, что приводит к разбросу величин фоточувствительности, а это уменьшает выход годных элементов.
Целью изобретения является увеличение точности и прецизионности травления при изготовлении фотоприемных элементов, увеличение выхода годных изделий.
Поставленная цель достигается тем, что в способе изготовления фотоприемных элементов на основе многослойных гетероструктур GaAs/AlGaAs, заключающемся в нанесении на подложку из полуизолирующего арсенида галлия последовательности слоев проводящего n+GaAs слоя, многослойной периодической структуры GaAs/AlGaAs и второго проводящего n+GaAs слоя с последующим травлением верхнего проводящего n+GaAs слоя и многослойной гетероструктуры в водном растворе перекиси водорода, между ближайшим к подложке проводящим n+GaAs слоем и многослойной периодической структурой наносят туннельно-тонкий стоп-слой AlAs толщиной 2-5 нм, а травление ведут при температуре 20-22oС в растворе, дополнительно содержащем органическую кислоту.
Травление структуры ведут в растворе травителя, содержащем в качестве органической кислоты винную кислоту при следующих соотношениях компонентов (вес.):
Винная кислота 35-45
Перекись водорода 5-10
Вода Остальное
Травление структуры ведут в растворе травителя, содержащем в качестве органической кислоты молочную кислоту при следующих соотношениях компонентов (вес.):
Молочная кислота 25-35
Перекись водорода 5-10
Вода Остальное
На фиг. 1 представлен фотоприемный элемент на основе гетероструктуры GaAs/AlxGa1-xAs, где 1 подложка GaAs (полуизолирующий), 2 слой n+GaAs, 3 слой AlAs, 4 электрод GeAu, 5 периодическая структура GaAs/AlxGa1-xAs.
На фиг.2 представлена зависимость глубины травления структуры от времени, где а пример 1, б пример 2, х травитель с винной кислотой, Δ - травитель с молочной кислотой.
Сущность изобретения заключается в том, что в многослойной структуре, являющейся основой фотоприемного элемента, формируется еще один слой, состоящий из AlAs, толщиной 2-5 нм. Этот слой не влияет на электрофизические характеристики всей структуры в целом, так как толщина AlAs выбрана такой, чтобы сопротивление фоточувствительного слоя было в 104 раз и более выше, чем сопротивление слоя AlAs.
Для создания мезаструктуры выбраны травители на основе перекиси водорода и органических кислот винной или молочной в таких соотношениях, при которых GaAs и AlGaAs травятся со скоростью меньше 1 мкм/мин, а AlAs практически не травится, так что процесс травления останавливается при достижении AlAs, являющегося стоп-слоем.
Выбор параметров обусловлен следующим.
При толщине < 2 нм слой может быть неоднородным и дефектным, что приводит к подтравливанию лежащего под ним n+GaAs слоя, и тогда AlAs перестает работать как стоп-слой в процессе травления.
При толщине слоя > 5 нм AlAs хорошо выдерживает процесс травления, но изменяются фотоэлектрические характеристики всей структуры в целом.
Выбор состава травителя обусловлен следующим.
При содержании винной кислоты более 45 вес. или молочной кислоты более 35 вес. и перекиси водорода менее 5 вес. скорость растворения гетероструктуры становится очень маленькой и требуется большое время травления для изготовления мезаструктуры.
При содержании винной кислоты менее 35 вес. или молочной кислоты менее 25 вес. и перекиси водорода более 10 вес. скорость травления возрастает, процесс становится слабо контролируемым, так как время травления при толщине структуры 2-5 мкм становится малым. К тому же при малом содержании органической кислоты возможно образование пленок на поверхности структуры из-за плохой растворимости продуктов травления. Органические кислоты образуют комплексные соединения с продуктами реакции, которые хорошо растворимы в водных растворах.
Примеры конкретного выполнения способа.
На фиг.1 представлен фотоприемный элемент на основе гетероструктуры GaAs/AlxGa1-xAs со слоем AlAs, выращенной методом молекулярно-лучевой эпитаксии, где 1 подложка GaAs (полуизолирующий), 2 - n+GaAS, 3 AlAs, 4 электрод GeAu, 5 периодическая структура GaAs и AlxGa1-xAs.
Методом фотолитографии создавался топологический рисунок фотоприемников. Раствор для травления готовили из 30 вес. перекиси водорода и винной или молочной кислоты при различных соотношениях компонентов. Травление проводили в кварцевом стакане без перемешивания при 20-22oС. После травления образец промывали деионизованной водой ≈18 Мом. Глубину травления измеряли с помощью интерференционного микроскопа МИИ-4.
Пример 1. На подложке из полуизолирующего GaAs выращивали слои: n+GaAs-Si (2•1018 см-3) 0,5 мкм, AlAs 2 нм, периодическую структуру 50 слоев GaAs по 4,8 нм и 50 слоев Al0,22Ga0,78As по 50 нм и слой n+GaAs-Si (1-5•1018 см -3) 1,5 мкм. Структуру травили в травителе состава (вес.): винная кислота 35, перекись водорода 10, вода 55. Время травления 12 мин, скорость травления 0,7 мкм/мин.
Пример 1а. Эту же структуру травили в травителе состава (вес.): молочная кислота 25, перекись водорода 10, вода 65. Время травления 12 мин, скорость травления 0,7-0,75 мкм/мин.
Пример 2. На подложке из полуизолирующего GaAs выращивали слои: n+GaAs-Si (2•1018 см-3) толщиной 0,5 мкм, AlAs 4 нм, n+GaAs-Si (2•1018 см-3) 0,1 мкм, периодическую структуру 20 слоев GaAs по 5,3 нм и 20 слоев Al0,29Ga0,71As по 40 нм и n+GaAs-Si (1-5•1018 см-3) 0,3 мкм. Структуру травили в травителе состава (вес.): винная кислота 37,5; перекись водорода 7,5; вода 55. Время травления 8 мин, скорость травления 0,6 мкм/мин.
Пример 2а. Эту же структуру травили в травителе состава (вес.): молочная кислота 30; перекись водорода 7,5; вода 62,5. Время травления 8 мин, скорость травления 0,6-0,65 мкм/мин.
Пример 3. На подложке из полуизолирующего GaAs выращивали слои: n+GaAs-Si (2•1018 см-3) толщиной 0,8 мкм, AlAs 5 нм, периодическую структуру 50 слоев GaAs по 5,1 нм, 50 слоев Al0,3Ga0,7As по 50 нм и n+GaAs-Si (1•18 см-3)
0,5 мкм. Структуру травили в травителе состава (вес.): винная кислота 45, перекись водорода 5, вода 50. Время травления 16 мин, скорость травления 0,4 мкм/мин.
Пример 3а. Эту же структуру травили в травителе состава (вес.): молочная кислота 35, перекись водорода 5, вода 60. Время травления 16 мин, скорость травления 0,4 мкм/мин.
На фиг. 2 приведена зависимость глубины травления структуры от времени, где а пример 1, б пример 2, х травитель с винной кислотой, D - травитель с молочной кислотой.
Вначале глубина травления изменяется линейно со временем, а затем остается постоянной. Эта величина соответствует глубине залегания стоп-слоя, то есть слой AlAs действительно останавливает процесс травления, причем во всех приводимых примерах время травления в 2-4 раза превышало время травления структуры до стоп-слоя.
Фотоприемное устройство работает следующим образом.
Инфракрасное излучение с поляризацией, перпендикулярной слоям гетероструктуры, вызывает переходы электронов с основного заполненного уровня в квантовых ямах в первое возбужденное состояние вблизи края зоны проводимости твердого раствора AlxGa1-xAs. В возбужденном состоянии электроны слабо связаны потенциалом квантовой ямы GaAs и поэтому переносятся во внешнем электрическом поле в направлении слоя n+GaAs с положительной полярностью. Достаточно толстые барьеры из AlxGa1-xAs (толщина > 400
Figure 00000002
) препятствуют поперечному движению невозбужденных электронов на основном уровне в направлении внешнего поля. При этом толщина тонкого стоп-слоя AlAs (2-5 нм) выбирается такой, чтобы туннельная проводимость его была в 102-103 раз больше, чем проводимость фоточувствительной части структуры, чтобы не изменять спектральную и амплитудную характеристики фототока.
Предлагаемый способ изготовления фотоприемных элементов по сравнению с прототипом имеет следующие преимущества: увеличивается выход годных структур, так как при наличии стоп-слоя исключается возможность перетравливания структуры, достигается более равномерное травление по всей площади структуры, что устраняет вариации фоточувствительности, появляется возможность уменьшения толщины нижнего проводящего n+GaAs слоя, что уменьшает расход основных компонентов, удешевляет процесс и соответственно стоимость фотоприемного элемента.

Claims (2)

1. Способ изготовления фотоприемных элементов на основе многослойных гетероструктур GaAs/AlGaAs, заключающийся в нанесении на подложку из полуизолирующего GaAs последовательности слоев: проводящего n+-GaAs-слоя, многослойной периодической структуры GaAs/AlGaAS и второго проводящего n+-GaAs-слоя, с последующим травлением верхнего проводящего n+-GaAs-слоя и многослойной гетероструктуры в водном растворе перекиси водорода, отличающийся тем, что между ближайшим к подложке проводящим n+-GaAs-слоем и многослойной периодической структурой наносят тонкий стоп-слой из AlAs толщиной 2 5 нм, а травление ведут при 20 22°С в растворе, дополнительно содержащем органическую кислоту.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что раствор травителя в качестве органической кислоты содержит винную кислоту при следующих соотношениях компонентов мас.
Винная кислота 35 45
Перекись водорода 5 10
Вода Остальное
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что раствор травителя в качестве органической кислоты содержит молочную кислоту при следующих соотношениях компонентов, мас.
Молочная кислота 25 35
Перекись водорода 5 10
Вода Остальное
RU9494021123A 1994-06-14 1994-06-14 Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as RU2065644C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU9494021123A RU2065644C1 (ru) 1994-06-14 1994-06-14 Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU9494021123A RU2065644C1 (ru) 1994-06-14 1994-06-14 Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU94021123A RU94021123A (ru) 1996-04-20
RU2065644C1 true RU2065644C1 (ru) 1996-08-20

Family

ID=20156856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU9494021123A RU2065644C1 (ru) 1994-06-14 1994-06-14 Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2065644C1 (ru)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2469432C1 (ru) * 2011-07-28 2012-12-10 Закрытое Акционерное Общество "Светлана-Рост" Способ выращивания гетероструктуры для инфракрасного фотодетектора
RU2485628C1 (ru) * 2012-01-19 2013-06-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук Способ изготовления чипов наногетероструктуры и травитель
RU2570099C1 (ru) * 2014-08-05 2015-12-10 Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина") Способ изготовления полупроводниковой гетероструктуры
RU2607734C1 (ru) * 2015-10-27 2017-01-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕМЕНТА НА ОСНОВЕ GaAs
RU2676221C1 (ru) * 2018-02-21 2018-12-26 Российская Федерация, от имени которой выступает ФОНД ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ Способ изготовления импульсного фотодетектора
RU2690859C1 (ru) * 2018-05-30 2019-06-06 Российская Федерация, от имени которой выступает ФОНД ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ Способ изготовления полупроводниковых гетероструктур с атомарно гладкими стоп-слоями InGaP и InP на подложках GaAs и InP

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Mimura T., Hiyamizu S., Toshin K., Hikosaka K. Enhancement Mode High Electron Mobility Transistors for Logic Application. Jap. J. Appe. phys., v. 20, L.317, 1981. Levine B.F. et all. Broadband 8-12 мм high-sensitivity GaAs quantum nell infrared photodetector. Appl. Phys. Left. 54(26), 2704 - 2706, 1989. *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2469432C1 (ru) * 2011-07-28 2012-12-10 Закрытое Акционерное Общество "Светлана-Рост" Способ выращивания гетероструктуры для инфракрасного фотодетектора
WO2013015722A1 (ru) * 2011-07-28 2013-01-31 Закрытое Акционерное Общество "Светлана-Рост" Способ выращивания гетероструктуры для инфракрасного фотодетектора
RU2485628C1 (ru) * 2012-01-19 2013-06-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук Способ изготовления чипов наногетероструктуры и травитель
RU2570099C1 (ru) * 2014-08-05 2015-12-10 Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина") Способ изготовления полупроводниковой гетероструктуры
RU2607734C1 (ru) * 2015-10-27 2017-01-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕМЕНТА НА ОСНОВЕ GaAs
RU2676221C1 (ru) * 2018-02-21 2018-12-26 Российская Федерация, от имени которой выступает ФОНД ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ Способ изготовления импульсного фотодетектора
RU2690859C1 (ru) * 2018-05-30 2019-06-06 Российская Федерация, от имени которой выступает ФОНД ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ Способ изготовления полупроводниковых гетероструктур с атомарно гладкими стоп-слоями InGaP и InP на подложках GaAs и InP

Also Published As

Publication number Publication date
RU94021123A (ru) 1996-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61158146A (ja) デバイスの製作方法
RU2065644C1 (ru) Способ изготовления фотоприемного элемента на основе многослойных гетероструктур ga as/al ga as
Kelly et al. Surface Charging Effects during Photoanodic Dissolution of n‐GaAs Electrodes
Kitano et al. Selective wet etching for highly uniform GaAs/Al 0.15 Ga 0.85 As heterostructure field effect transistors
US4689115A (en) Gaseous etching process
Kodama et al. Silicon interlayer based surface passivation of near‐surface quantum wells
US4943540A (en) Method for selectively wet etching aluminum gallium arsenide
JP4537549B2 (ja) 化合物半導体装置の製造方法
Yang et al. Surface-emitting GaAlAs/GaAs laser with etched mirrors
US6093657A (en) Fabrication process of semiconductor device
US4396443A (en) Reduction of leakage current in InGaAs diodes
JP5072633B2 (ja) 電気絶縁材料の表面上の半導体層の厚さを減少しかつ均一化する方法
JP3232833B2 (ja) GaAs単結晶ウェハの製造方法
JP4151247B2 (ja) 半導体装置の製造方法およびこれに用いる半導体装置の製造装置
US6531414B1 (en) Method of oxidizing strain-compensated superlattice of group III-V semiconductor
Kudoh et al. Tapered SiO2 Etch in Diode‐Type Reactive Ion Etching
KR890003416B1 (ko) 반도체 장치 및 그의 제조방법
Moutonnet Maskless photoassisted etching of N-type Ga 0.47 In 0.53 As in basic solutions
JPH11238720A (ja) アンチモン系化合物半導体結晶のエッチング方法及びエッチング溶液
Fischer et al. Depth Profiling of MBE GaInAs and Detection of the GaInAs‐InP Interface Using Anodic Oxidation
Klockenbrink et al. Improved thermal stability of In/sub 0.53/Ga/sub 0.47/As metal-semiconductor-metal photodetectors with Al 2 O 3 interfacial layer
Ramam et al. Study of Mesa Undercuts Produced in GaAs with H 3 PO 4‐Based Etchants
JPH06163515A (ja) 化合物半導体装置の製造方法
JPH05198554A (ja) 半導体装置の作製方法
JPH0349225A (ja) 化合物半導体のエッチング方法