RU2061095C1 - Способ получения пленок двуокиси кремния - Google Patents

Способ получения пленок двуокиси кремния Download PDF

Info

Publication number
RU2061095C1
RU2061095C1 SU4493387A RU2061095C1 RU 2061095 C1 RU2061095 C1 RU 2061095C1 SU 4493387 A SU4493387 A SU 4493387A RU 2061095 C1 RU2061095 C1 RU 2061095C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
silicon
films
silicon dioxide
reactor
oxygen
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
В.Ф. Кочубей
Т.Б. Сенюта
И.М. Гутор
В.Л. Аврустимов
Ю.Л. Бирковый
В.П. Токарчук
М.В. Гуменяк
С.Н. Маскович
Original Assignee
Бориславский научно-исследовательский институт "Синтез" с опытным заводом
Концерн "Родон"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Бориславский научно-исследовательский институт "Синтез" с опытным заводом, Концерн "Родон" filed Critical Бориславский научно-исследовательский институт "Синтез" с опытным заводом
Priority to SU4493387 priority Critical patent/RU2061095C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2061095C1 publication Critical patent/RU2061095C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Использование: в микроэлектронике. Сущность изобретения: осаждение из газовой смеси инициируется однократным разрядом в течение 0,001 - 0,01 с, а газовая смесь содержит 0,006 - 0,048 об.% соединения типа SiMn Cl4-n, водород и кислород при их соотношении 1 - 4 : 4. 1 з. п.ф-лы, 1 ил, 2 табл.

Description

Изобретение относится к химическому нанесению покрытий осаждением паров из металлоорганических соединений, в частности к получению пленок двуокиси кремния, используемых в микроэлектронике.
Известен способ получения пленки двуокиси кремния из смеси дисилан-закись азота в отношении 1:10. Газом-носителем является водород либо аргон. Процесс проводят при 100-500оС, давлении в реакционной камере 1,33·103 Па, при облучении ртутной лампой с длиной волны 254 нм и интенсивностью 0,01-5,0 Вт/см2. Образующая пленка не содержит кластеров кремния (заявка Японии 59-215731, кл. Н 01 21/316, С 01 В 33/113, 1984).
Недостатком данного способа является воздействие высокой энергии до 5 Вт·см-2 и генерация зарядов в формируемом окисле, повышение плотности поверхностных состояний на границе раздела полупроводника и окисла. Повышение температуры до 500оС приводит к перераспределению примесей в формируемой полупроводниковой структуре за счет диффузионных процессов.
Известен способ низкотемпературного осаждения двуокиси кремния из силано-кислород-водородной смеси, инициируемой тлеющим разрядом (патент США N 4572841, кл. 427/39, 1986).
Кремниевую подложку помещают в камеру, производят вакуумирование системы до 10-6 мм рт.ст. продувку азотом и подают силан, кислородсодержащее соединение и водород. При зажигании между электродами плазменного разряда (мощность 300 Вт при частоте 13,56 МГц) по всему объему камеры происходит осаждение пленки двуокиси кремния со скоростью 180-300
Figure 00000001
/мин. Коэффициент преломления пленки 1,480. Эффективная плотность энергии на подложку 1,0 3,0 Вт/см2, температура подложки ниже 300оС, предпочтительно 150оС. Данный способ позволяет получать пленки двуокиси кремния толщиной 80 100
Figure 00000002
.
Недостатками данного способа являются:
низкая производительность процесса, обусловленная необходимостью глубокого вакуумирования (до 0,1-1·10-6 торр) и ограниченностью количества пластин, помещаемых на электроде;
воздействие эффективной энергии разряда (1-3 Вт/см2) на формируемые слои полупроводника и растущей пленки, приводящее к загрязнению их примесями конструкционных материалов реактора;
использование энергоемких источников и сложность в их обслуживании;
невозможность получения пленок двуокиси кремния с равномерным контролируемым легированием, обусловленной разностью скоростей окисления субстрата (моносилана) и соединений В, Р, Рb, As, Sb и др.
Наиболее близким к изобретению по техническому решению является способ низкотемпературного осаждения двуокиси кремния из паровой фазы, заключающийся в том, что кремниевую подложку помещают в кварцевый реактор и осаждение пленки двуокиси кремния ведут при температуре около 200оС под действием излучения в коротковолновой области спектра (УФ-лампа) из непрерывно подаваемой в реактор смеси моносилан-кислорот-азот.
Недостатками этого способа являются:
необходимость использования специального источника непрерывного инициирования процесса;
низкая производительность процесса;
принципиальная невозможность получения равномерных по толщине пленок двуокиси кремния в пределах одной загрузки подложек и качественных пленок на подложках большого диаметра (более 150 мм) вследствие естественной разности газодинамических, тепловых и химических характеристик реакционного потока по объему реактора.
Цель изобретения разработка управляемого процесса получения пленок двуокиси кремния, в том числе легированных на подложках больших диаметров (практически неограниченных размеров) в заданными электрофизическими параметрами, большой производительностью и малой энергоемкостью.
Цель достигается путем формирования самораспространяющегося фронта цепной разветвленной химической реакции по гомогенной газовой смеси, содержащей соединения кремния SiHnCl4-n (n 0,1,2,3) в количестве 0,08-0,048 об. водород-кислородную смесь (отношение H2: O2 (1-4): 4) и легирующие компоненты (фосфин, арсин, боран и др.) в требуемых количествах без внешнего обогрева исходной смеси и подложек.
Инициирование проводят однократно в начале процесса точечным искровым разрядом от низковольтного источника напряжения 4. Процесс проводят в горизонтальной кварцевой трубе 1 требуемого диаметра (чертеж). Соотношение диаметра подложки и реактора составляет не более07. Кремниевые либо другие типа подложки помещают на кварцевый подложкодержатель 2 перпендикулярно оси реактора с промежутком между пластинами не менее 5 мм. Длина реактора и количество подложек в загрузке определяется требованиями производства.
Для повышения качества пленок двуокиси кремния, улучшения адгезии проводят предварительную обработку подложек хлористоводородной смесью. С этой целью реактор с помещенными внутрь подложками вакуумируют до остаточного давления 1·10-3 мм рт. ст. и включают искровой разряд. Далее реактор вакуумируют до остаточного давления 1·10-3 мм рт.ст. и продувают рабочей смесью 3, содержащей водород-кислород и кремнийсодержащее соединение до давления 35-60 мм рт.ст в зависимости от требуемой толщины пленки двуокиси кремния, и с помощью искрового разряда 4 производят поджог смеси. При давлении фронта реакции от торца трубы, в которой вмонтирован искровой разрядчик, вдоль оси реактора происходит поочередное нанесение пленки SiO2 на поверхность кремниевых подложек. Время взаимодействия фронта реакции с поверхностью одной пластины составляет тысячные доли секунд. При этом возможно получение пленок SiO2от мономолекулярных слоев до 10 нм. Для получения более толстых пленок проводят повторный цикл без предварительной обработки подложек.
Предлагаемое техническое решение отличается от прототипа:
возможностью создания многокомпозиционных структур с разрешающей способностью разнотипных легированных слоев в пределах разрешения метода (т.е. мономолекулярных слоев);
исключением воздействия эффективной энергии на подложку;
получением равномерных полей температур во фронте реакции как по диаметру, так и по длине реактора, что снимает механические напряжения в пленках;
отсутствием нагрева подложки и реакционной смеси, что исключает влияние факторов дефектообразования в пленках и снижает энергетические затраты;
повышением производительности процеcса вследствие возможности его проведения в реакторах нужных геометрических размеров.
П р и м е р нанесения пленки двуокиси кремния. В кварцевый реактор диаметром 150 мм с помещенными внутрь пластинами кремния КДБ10(100) диаметром 100 мм создают разрежение 10-3 мм рт.ст. и вводят смесь H2 и Сl2 в отношении 1:1 до давления 40 мм рт.ст. и с помощью искрового разряда зажигают ее. После эвакуации продуктов реакции реактор заполняют рабочей смесью, содержащей четыреххлористый кремний, водород, кислород, соединение легирующего компонента (или без него) до давления 50 мм рт.ст. и подают искровой разряд. После прохождения фронта реакции реактор вакуумируют и заполняют его сухим инертным газом (Ar, HE, N2). При необходимости нанесения толстых слоев цикл повторяют без предварительной обработки подложек хлористоводородной смесью. Результаты нанесения пленок SiO2 представлены в табл.1.
В табл.2 приведены данные по получению пленок SiO2 легированных фосфором из смеси, содержащей 0,8 об.
Использование предлагаемого изобретения позволит разработать новый технологический процесс получения пленок двуокиси кремния, в том числе легированных, для использования, например, в создании трехмерных полупроводниковых приборов, повысить производительность процесса и снизить его энергозатраты.

Claims (2)

1. Способ получения пленок двуокиси кремния, включающий осаждение в газовой смеси, содержащей соединение кремния и кислород, отличающийся тем, что осаждение инициируется однократным искровым разрядом в течение 0,001 0,01 с, при этом газовая смесь дополнительно содержит водород и, при необходимости, легирующие добавки, а в качестве соединения кремния берут соединение типа SiHnCl4-n в количестве 0,006 0,048 об. при соотношении содержания водорода и кислорода (1-4):4.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что при осаждении легированных пленок двуокиси кремния берут добавки летучих соединений фосфора, бора и мышьяка в количестве 0,001 0,005 об.
SU4493387 1988-07-18 1988-07-18 Способ получения пленок двуокиси кремния RU2061095C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4493387 RU2061095C1 (ru) 1988-07-18 1988-07-18 Способ получения пленок двуокиси кремния

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4493387 RU2061095C1 (ru) 1988-07-18 1988-07-18 Способ получения пленок двуокиси кремния

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2061095C1 true RU2061095C1 (ru) 1996-05-27

Family

ID=21403844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4493387 RU2061095C1 (ru) 1988-07-18 1988-07-18 Способ получения пленок двуокиси кремния

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2061095C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2568334C1 (ru) * 2014-05-06 2015-11-20 Общество с ограниченной ответственностью "СибИС" (ООО "СибИС") Способ получения слоя диоксида кремния
RU2660622C1 (ru) * 2017-09-19 2018-07-06 Акционерное общество "Центральный научно-исследовательский институт "Электрон" Пленка двуокиси кремния на кремнии и способ ее получения

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Заявка Японии N 59-53674, кл. C 23C 11/08, 1984. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2568334C1 (ru) * 2014-05-06 2015-11-20 Общество с ограниченной ответственностью "СибИС" (ООО "СибИС") Способ получения слоя диоксида кремния
RU2660622C1 (ru) * 2017-09-19 2018-07-06 Акционерное общество "Центральный научно-исследовательский институт "Электрон" Пленка двуокиси кремния на кремнии и способ ее получения

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0642460B2 (ja) 薄膜形成方法
US4292343A (en) Method of manufacturing semiconductor bodies composed of amorphous silicon
JPS59199035A (ja) 薄膜生成装置
JPS61153277A (ja) 微結晶シリコン薄膜の製造方法
RU2061095C1 (ru) Способ получения пленок двуокиси кремния
JPS59198718A (ja) 気相法による被膜作製方法
US5221643A (en) Method for producing polycrystalline semiconductor material by plasma-induced vapor phase deposition using activated hydrogen
RU2100477C1 (ru) Способ осаждения пленок гидрогенизированного кремния
EP0407088B1 (en) Method of forming an amorphous semiconductor film
JPS61216318A (ja) 光cvd装置
JPH02248038A (ja) 多結晶質半導体物質層の製造方法
RU2635981C2 (ru) Способ нанесения тонкого слоя аморфного кремния
JPH0578933B2 (ru)
JPS6357778A (ja) 堆積膜製造装置
JP2670561B2 (ja) プラズマ気相反応による被膜形成方法
JPH0364909A (ja) 半導体薄膜
JPH0459769B2 (ru)
JPH0364019A (ja) 半導体薄膜
JP2659401B2 (ja) 炭素含有シリコン薄膜の形成方法
JP4165855B2 (ja) 薄膜製造方法
JPS6281022A (ja) 非晶質半導体膜製造装置
JPS63224216A (ja) 堆積膜形成法
JPH01730A (ja) 多層薄膜の形成方法
JPS6150147B2 (ru)
JPH02184023A (ja) 多層構造体のグロー放電析出法