RU2011130930A - Способ неразрушающего контроля механической детали - Google Patents

Способ неразрушающего контроля механической детали Download PDF

Info

Publication number
RU2011130930A
RU2011130930A RU2011130930/28A RU2011130930A RU2011130930A RU 2011130930 A RU2011130930 A RU 2011130930A RU 2011130930/28 A RU2011130930/28 A RU 2011130930/28A RU 2011130930 A RU2011130930 A RU 2011130930A RU 2011130930 A RU2011130930 A RU 2011130930A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
images
database
image sensor
zones
light source
Prior art date
Application number
RU2011130930/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2518288C2 (ru
Inventor
Жерар ДЕРРЬЕН
Клод ЛЕОНЕТТИ
Original Assignee
Снекма
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Снекма filed Critical Снекма
Publication of RU2011130930A publication Critical patent/RU2011130930A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2518288C2 publication Critical patent/RU2518288C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J9/00—Programme-controlled manipulators
    • B25J9/16—Programme controls
    • B25J9/1694—Programme controls characterised by use of sensors other than normal servo-feedback from position, speed or acceleration sensors, perception control, multi-sensor controlled systems, sensor fusion
    • B25J9/1697—Vision controlled systems
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/401—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8867—Grading and classifying of flaws using sequentially two or more inspection runs, e.g. coarse and fine, or detecting then analysing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
    • G01N2021/9518—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device using a surface follower, e.g. robot
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/35—Nc in input of data, input till input file format
    • G05B2219/35075—Display picture of scanned object together with picture of cad object, combine
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/37—Measurements
    • G05B2219/37205—Compare measured, vision data with computer model, cad data
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/37—Measurements
    • G05B2219/37206—Inspection of surface
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/37—Measurements
    • G05B2219/37563—Ccd, tv camera
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/45—Nc applications
    • G05B2219/45066—Inspection robot
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30164—Workpiece; Machine component

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1. Автоматизированный способ неразрушающего контроля механической детали (14) при помощи устройства (10), содержащего датчик (24) изображений, световой источник (26) освещения и средства (18, 22) относительного перемещения датчика изображений, светового источника и механической детали, при этом способ в основном состоит в осуществлении трехмерной съемки поверхности детали, в определении разбивки поверхности детали на зоны, которые можно фотографировать при помощи датчика изображений, в определении траектории датчика изображений и светового источника относительно детали и в получении изображений упомянутых зон поверхности детали, отличающийся тем, что он также состоит в том, что- эти изображения анализируют и в этих изображениях определяют зоны сильно экспонированные или слабо экспонированные;- оптимизируют оптические параметры получения изображений этих зон и определяют вторую разбивку поверхности детали с учетом оптимизации упомянутых оптических параметров для этих зон;- определяют новую траекторию датчика изображений и светового источника, позволяющую получать изображения поверхности детали с использованием второй разбивки и оптимизированных оптических параметров;- получают изображения этих зон при новой траектории и эти изображения записывают в память; и- автоматически определяют возможные дефекты поверхности детали в записанных изображениях и сравнивают их с известными дефектами, записанными в базе данных.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что он состоит в том, что предварительно составляют базу данных, в которую записывают контрольные изображения поверхностей механической детали с типовыми дефек

Claims (10)

1. Автоматизированный способ неразрушающего контроля механической детали (14) при помощи устройства (10), содержащего датчик (24) изображений, световой источник (26) освещения и средства (18, 22) относительного перемещения датчика изображений, светового источника и механической детали, при этом способ в основном состоит в осуществлении трехмерной съемки поверхности детали, в определении разбивки поверхности детали на зоны, которые можно фотографировать при помощи датчика изображений, в определении траектории датчика изображений и светового источника относительно детали и в получении изображений упомянутых зон поверхности детали, отличающийся тем, что он также состоит в том, что
- эти изображения анализируют и в этих изображениях определяют зоны сильно экспонированные или слабо экспонированные;
- оптимизируют оптические параметры получения изображений этих зон и определяют вторую разбивку поверхности детали с учетом оптимизации упомянутых оптических параметров для этих зон;
- определяют новую траекторию датчика изображений и светового источника, позволяющую получать изображения поверхности детали с использованием второй разбивки и оптимизированных оптических параметров;
- получают изображения этих зон при новой траектории и эти изображения записывают в память; и
- автоматически определяют возможные дефекты поверхности детали в записанных изображениях и сравнивают их с известными дефектами, записанными в базе данных.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что он состоит в том, что предварительно составляют базу данных, в которую записывают контрольные изображения поверхностей механической детали с типовыми дефектами, при этом каждое изображение записывают вместе с данными характеристик поверхности, таких как природа материала и его шероховатость, с данными, относящимися к условиям освещения и съемки, и с индикатором качества обнаружения дефекта на поверхности детали, после чего способ состоит в том, что в эту базу данных записывают изменения оптических параметров и траектории получения, а также результаты контроля, осуществленного на разных деталях.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что трехмерную съемку поверхности детали производят один раз для данного типа механической детали, когда различия формы и внешнего вида между контролируемыми деталями являются незначительными или по существу нулевыми.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что производят трехмерную съемку поверхности контролируемой детали, когда она имеет не ничтожные отклонения формы и внешнего вида по сравнению с другими контролируемыми деталями.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что он состоит также в том, что после трехмерной съемки поверхности детали создают цифровую модель этой поверхности в виде математических кривых, таких как кривые Безье и функции NURBS, и корректируют датчик изображений и световой источник относительно детали, используя данные трехмерной съемки.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что оптимизация оптических параметров получения изображений состоит в изменении интенсивности и угла падения освещения от светового источника и в определении оптимального значения интенсивности и угла падения освещения путем сравнения изображений между собой со ссылкой на базу данных с установлением отношения между уровнем обнаружения поверхностных дефектов и с одной стороны, интенсивностью и углом падения освещения и с другой стороны, характеристиками поверхности.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что оптимизация также состоит в том, что проверяют также, чтобы поверхность каждой зоны, полученной в результате вторичной разбивки, была меньше поля, охватываемого датчиком изображений, и чтобы типовое отклонение нормалей в любой точке этих зон было меньше предопределенного минимального значения.
8. Способ по п.1, отличающийся тем, что он состоит в том, что датчик (24) изображений и световой источник (26) перемещают относительно механической детали (14) при помощи робота-манипулятора (18, 22), несущего соответственно датчик изображений и световой источник.
9. Способ по п.1, отличающийся тем, что датчик (24) изображений является фотоаппаратом с фотодетекторной матрицей типа CCD или CMOS.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что он состоит, в основном, в том, что осуществляют:
- трехмерную съемку поверхности детали, на основании которой вычисляют реальное положение детали перед устройством освещения и съемок,
- вычисление траектории этого устройства для двухмерного оптического получения поверхности детали,
- получение общих изображений детали с использованием параметров из базы данных, относящихся к материалу, шероховатости и форме поверхности,
- анализ изображений и определение в этих изображениях зон, позволяющих оптимизацию оптических регулировок, связанных с экспонированием, в зависимости от параметров, фигурирующих в базе данных об ориентации съемочного датчика, освещении и форме поверхности,
- вычисление траектории получения изображений, позволяющей оптимизировать оптические регулировки с учетом вышеуказанного анализа, и траектории устройства освещения,
- оптимизацию оптических регулировок получения изображений определенных ранее зон,
- анализ изображений, подтверждение оптимизированных регулировок для различных зон и их запись в базу данных,
- дискретизацию поверхности детали на зоны получения с учетом оптимизированных регулировок,
- затем, в комбинации с результатом этапа сегментирования, упрощения и реконструкции, вычисление траектории получения изображений в реальном режиме,
- съемку поверхности детали с применением оптимизированных регулировок,
- анализ изображений и выявление дефектов и оптических артефактов,
- характеристику найденных дефектов и артефактов и их сравнение с известными дефектами и артефактами, записанными в базе данных,
- затем, если найденные дефекты и артефакты уже известны, их запись в базу контрольных данных и составление соответствующего отчета,
- или, если найденные дефекты и артефакты не фигурируют в базе данных, их корреляцию при помощи способов неразрушающего контроля (например, токов Фуко или фототермии), их идентификацию в качестве нового дефекта или нового оптического артефакта и их запись в базу контрольных данных.
RU2011130930/28A 2008-12-24 2009-12-21 Способ неразрушающего контроля механической детали RU2518288C2 (ru)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR08/07460 2008-12-24
FR0807460A FR2940449A1 (fr) 2008-12-24 2008-12-24 Procede de controle non destructif d'une piece mecanique
FR09/03289 2009-07-03
FR0903289A FR2940443B1 (fr) 2008-12-24 2009-07-03 Procede de controle non destructif d'une piece mecanique
PCT/FR2009/001468 WO2010072920A1 (fr) 2008-12-24 2009-12-21 Procede de controle non destructif d'une piece mecanique

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011130930A true RU2011130930A (ru) 2013-01-27
RU2518288C2 RU2518288C2 (ru) 2014-06-10

Family

ID=40897518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011130930/28A RU2518288C2 (ru) 2008-12-24 2009-12-21 Способ неразрушающего контроля механической детали

Country Status (9)

Country Link
US (1) US8866891B2 (ru)
EP (1) EP2368105B1 (ru)
JP (1) JP2012514193A (ru)
CN (1) CN102308201A (ru)
BR (1) BRPI0923657B1 (ru)
CA (1) CA2748013C (ru)
FR (2) FR2940449A1 (ru)
RU (1) RU2518288C2 (ru)
WO (1) WO2010072920A1 (ru)

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100091094A1 (en) * 2008-10-14 2010-04-15 Marek Sekowski Mechanism for Directing a Three-Dimensional Camera System
FR2962357B1 (fr) * 2010-07-09 2013-02-22 Snecma Procede de reparation ou de rechargement d'au moins une piece metallique
FR2965388B1 (fr) * 2010-09-29 2012-10-19 Tokendo Procede de mesure videoscopique
CN103364403A (zh) * 2012-04-06 2013-10-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 产品质量自动化控管系统及方法
FR2994308B1 (fr) * 2012-08-03 2014-07-25 Snecma Procede de controle non destructif d'une preforme d'aube
FR2997926B1 (fr) * 2012-11-13 2014-12-26 Dassault Aviat Systeme et procede de controle automatique de la conformite de realisation d'elements dans une structure d'aeronef
JP2014169947A (ja) * 2013-03-05 2014-09-18 Hitachi Ltd 形状検査方法およびその装置
US9976967B2 (en) * 2013-03-29 2018-05-22 Snecma System for detecting defects on an object
CN104280398A (zh) * 2013-07-05 2015-01-14 上海维锐智能科技有限公司 一种电子元器件的自动测试装置
AT514553B1 (de) * 2013-09-26 2015-02-15 Polymer Competence Ct Leoben Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Oberfläche eines Körpers
US9404904B2 (en) * 2013-11-05 2016-08-02 The Boeing Company Methods and systems for non-destructive inspection
CN104697444A (zh) * 2013-12-10 2015-06-10 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 检测系统
CN103759638B (zh) * 2014-01-10 2019-04-02 北京力信联合科技有限公司 一种零件检测方法
US9229674B2 (en) 2014-01-31 2016-01-05 Ebay Inc. 3D printing: marketplace with federated access to printers
CN103808734B (zh) * 2014-03-07 2016-10-05 上海齐宏检测技术有限公司 汽车零配件全自动检测设备
CN103954213B (zh) * 2014-04-17 2017-05-31 北京力信联合科技有限公司 一种分析零件的实测图的方法
CN104006757B (zh) * 2014-06-13 2017-01-11 苏州西博三维科技有限公司 焊接变形实时检测系统及其检测方法
RU2570938C1 (ru) * 2014-07-28 2015-12-20 Открытое акционерное общество "Московское машиностроительное предприятие им. В.В. Чернышёва" Способ диагностирования образования и развития трещины в дисках авиационного газотурбинного двигателя при циклической нагрузке
CN112837266A (zh) * 2014-11-24 2021-05-25 基托夫系统有限公司 自动检查
US9595037B2 (en) 2014-12-16 2017-03-14 Ebay Inc. Digital rights and integrity management in three-dimensional (3D) printing
US20160167307A1 (en) * 2014-12-16 2016-06-16 Ebay Inc. Systems and methods for 3d digital printing
CN104897686A (zh) * 2015-05-25 2015-09-09 张家港市锐正精密工具有限公司 一种检测锯片铣刀质量的方法
JP6520451B2 (ja) * 2015-06-19 2019-05-29 株式会社デンソー 外観撮影装置及び外観撮影方法
JP6423769B2 (ja) 2015-08-31 2018-11-14 ファナック株式会社 加工精度維持機能を有する加工システム
US10713773B2 (en) * 2015-09-08 2020-07-14 General Electric Company System and method for identifying a condition of rotary machine components
US10852217B2 (en) 2015-09-08 2020-12-01 General Electric Company Methods and systems for determining causes of conditions in components of rotary machines
CN105259248A (zh) * 2015-11-20 2016-01-20 北京理工大学 航空发动机叶片表面损伤涡流扫查系统
US9747683B2 (en) * 2015-12-21 2017-08-29 General Electric Company Methods and systems for detecting component wear
US9880075B2 (en) 2016-02-11 2018-01-30 Caterpillar Inc. Wear measurement system using a computer model
US9875535B2 (en) 2016-02-11 2018-01-23 Caterpillar Inc. Wear measurement system using computer vision
JP6568500B2 (ja) * 2016-04-28 2019-08-28 川崎重工業株式会社 部品取付システムおよび部品取付方法
US10596754B2 (en) * 2016-06-03 2020-03-24 The Boeing Company Real time inspection and correction techniques for direct writing systems
US10262404B2 (en) * 2016-06-14 2019-04-16 General Electric Company Method and system for articulation of a visual inspection device
JP6695253B2 (ja) * 2016-10-07 2020-05-20 株式会社豊田中央研究所 表面検査装置及び表面検査方法
JP6353008B2 (ja) * 2016-11-02 2018-07-04 ファナック株式会社 検査条件決定装置、検査条件決定方法及び検査条件決定プログラム
CN106556343A (zh) * 2016-12-01 2017-04-05 西安电子科技大学 一种风力发电装备轮毂特征参数快速测量系统及方法
FR3063153B1 (fr) * 2017-02-22 2019-04-05 Safran Aircraft Engines Procede et dispositif de controle de conformite d'une piece
JP2018159650A (ja) * 2017-03-23 2018-10-11 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 照明装置、照明方法および撮像装置
JP2018165655A (ja) * 2017-03-28 2018-10-25 凸版印刷株式会社 対象物計測制御装置及び対象物計測制御方法
FR3067113B1 (fr) * 2017-05-30 2019-06-28 Areva Np Procede de controle de la surface d'une piece par un capteur robotise
FR3069346B1 (fr) * 2017-07-24 2020-11-13 Safran Procede de controle d'une surface
US10269108B2 (en) * 2017-09-01 2019-04-23 Midea Group Co., Ltd. Methods and systems for improved quality inspection of products using a robot
JP2019045330A (ja) * 2017-09-04 2019-03-22 日本電産コパル株式会社 外観検査装置及び製品製造システム
JP2019155625A (ja) * 2018-03-08 2019-09-19 宇部興産機械株式会社 成形品の撮影方法および成形品の撮影装置
JP6870636B2 (ja) * 2018-03-12 2021-05-12 オムロン株式会社 外観検査システム、画像処理装置、設定装置および検査方法
JP6977634B2 (ja) * 2018-03-13 2021-12-08 オムロン株式会社 外観検査装置、外観検査方法及びプログラム
JP6879238B2 (ja) * 2018-03-13 2021-06-02 オムロン株式会社 ワークピッキング装置及びワークピッキング方法
JP7073828B2 (ja) * 2018-03-22 2022-05-24 オムロン株式会社 外観検査システム、設定装置および検査方法
US10621717B2 (en) * 2018-03-30 2020-04-14 General Electric Compnay System and method for image-based target object inspection
JP6962858B2 (ja) * 2018-04-27 2021-11-05 ファナック株式会社 画像管理装置
JP7006567B2 (ja) * 2018-11-09 2022-01-24 オムロン株式会社 撮影方法及び撮影装置
US10726543B2 (en) 2018-11-27 2020-07-28 General Electric Company Fluorescent penetrant inspection system and method
US10746667B2 (en) 2018-11-27 2020-08-18 General Electric Company Fluorescent penetrant inspection system and method
IT201900004063A1 (it) * 2019-03-20 2020-09-20 Automatic System Srl Sistema di caricamento per una pluralità di componenti da lavorare o assemblare e relativa macchina automatica per l’assemblaggio o per la lavorazione di una pluralità di componenti.
CN110146505A (zh) * 2019-04-01 2019-08-20 广州超音速自动化科技股份有限公司 极片材料物理缺陷多级曝光时间检测方法及设备
JP7274208B2 (ja) * 2019-07-18 2023-05-16 レボックス株式会社 光学系設計情報管理システム
EP3875892B1 (de) * 2020-03-04 2022-06-01 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Optische messvorrichtung, verfahren zum erstellen eines messprogramms zur optischen vermessung eines messobjektes und prüfverfahren zur optischen vermessung eines messobjektes
CN111610751B (zh) * 2020-05-21 2023-07-28 天津工业大学 过点集nurbs插值曲线的插值误差多次细分迭代计算方法
CN116134305A (zh) * 2020-05-29 2023-05-16 朗姆研究公司 自动化目视检查系统
CN112826308B (zh) * 2020-12-29 2022-06-03 浙江上享厨具有限公司 一种多层复合不锈钢锅具及其制备方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5164603A (en) * 1991-07-16 1992-11-17 Reynolds Metals Company Modular surface inspection method and apparatus using optical fibers
US5175601A (en) * 1991-10-15 1992-12-29 Electro-Optical Information Systems High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system
RU2126523C1 (ru) * 1996-10-28 1999-02-20 Институт физики прочности и материаловедения СО РАН Способ неразрушающего контроля механического состояния объектов и устройство для его осуществления
US5963328A (en) * 1997-08-28 1999-10-05 Nissan Motor Co., Ltd. Surface inspecting apparatus
EP1173749B1 (de) * 1999-04-19 2005-09-28 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Bildbearbeitung zur vorbereitung einer texturanalyse
US6693664B2 (en) * 1999-06-30 2004-02-17 Negevtech Method and system for fast on-line electro-optical detection of wafer defects
JP4398153B2 (ja) * 2001-03-16 2010-01-13 ヴィジョン・ロボティクス・コーポレーション 画像センサの有効ダイナミックレンジを増加させる装置及び方法
JP3729156B2 (ja) * 2002-06-07 2005-12-21 株式会社日立製作所 パターン欠陥検出方法およびその装置
DE10261865A1 (de) * 2002-12-20 2004-07-15 Uwe Braun Sonnenlichtleitsysteme Lichtsysteme Gmbh Verfahren, Vorrichtung und Computerprogramm zur optischen Oberflächenerfassung
DE102004007829B4 (de) * 2004-02-18 2007-04-05 Isra Vision Systems Ag Verfahren zur Bestimmung von zu inspizierenden Bereichen
DE102004052508B4 (de) * 2004-10-21 2006-08-03 Pixargus Gmbh System und Verfahren zum Vermessen und zum Überwachen der Oberfläche eines Körpers
JP4266971B2 (ja) * 2005-09-22 2009-05-27 アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 パターン検査装置、パターン検査方法、及び検査対象試料
US7760930B2 (en) * 2006-02-21 2010-07-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Translation engine of defect pattern recognition
KR20080013059A (ko) * 2006-08-07 2008-02-13 삼성전자주식회사 씨엠피공정설비의 웨이퍼 검사장치 및 그 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012514193A (ja) 2012-06-21
BRPI0923657B1 (pt) 2021-05-04
FR2940443A1 (fr) 2010-06-25
EP2368105B1 (fr) 2017-06-28
RU2518288C2 (ru) 2014-06-10
CA2748013A1 (fr) 2010-07-01
CA2748013C (fr) 2017-07-04
BRPI0923657A2 (pt) 2016-01-19
WO2010072920A8 (fr) 2011-07-07
WO2010072920A1 (fr) 2010-07-01
EP2368105A1 (fr) 2011-09-28
FR2940443B1 (fr) 2011-10-14
FR2940449A1 (fr) 2010-06-25
US20110298901A1 (en) 2011-12-08
CN102308201A (zh) 2012-01-04
US8866891B2 (en) 2014-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011130930A (ru) Способ неразрушающего контроля механической детали
CN109499908A (zh) 一种用于机械零件的视觉检测系统
JP3922784B2 (ja) ３次元形状計測装置
JP5342413B2 (ja) 画像処理方法
CN111899215B (zh) 一种光学元件体缺陷的提取方法
US10579890B2 (en) Automatic alignment of a 3D model to a test object
JP2017040600A (ja) 検査方法、検査装置、画像処理装置、プログラム及び記録媒体
CN106959292A (zh) 用于带材缺陷检测快速确定精准成像方案的系统
CN106895793A (zh) 双模式深度测量的方法与装置
KR101913705B1 (ko) 라인 레이저를 이용한 원통 부착물의 심도 측정 방법 및 장치
JP2022533848A (ja) カメラ部品が損傷しているかどうかを判定するためのシステムおよび方法
JP2011174896A (ja) 撮像装置及び撮像方法
CN110402386A (zh) 圆筒体表面检查装置及圆筒体表面检查方法
CN116148277B (zh) 一种透明体缺陷三维检测方法、装置、设备及存储介质
CN113189005A (zh) 一种便携式表面缺陷一体化检测装置及表面缺陷自动检测方法
JP5042503B2 (ja) 欠陥検出方法
CN111344553A (zh) 曲面物体的缺陷检测方法及检测系统
JP7134253B2 (ja) ワーク検査装置及びワーク検査方法
CN110333248A (zh) 玻璃表面缺陷与表面落尘的区分方法
JP6251049B2 (ja) 表面形状検査装置
JP2012002605A (ja) 溶接表面の欠陥検査方法
US20230053666A1 (en) Scanning of objects
JP2018146401A (ja) 検査装置用制御装置、検査装置、検査装置制御方法、及び、プログラム
KR20170069143A (ko) 검사 장치
JP2006071512A (ja) 三次元計測方法および三次元計測装置

Legal Events

Date Code Title Description
PD4A Correction of name of patent owner