RU2011122642A - Спектрометры с функцией картирования изображений - Google Patents

Спектрометры с функцией картирования изображений Download PDF

Info

Publication number
RU2011122642A
RU2011122642A RU2011122642/28A RU2011122642A RU2011122642A RU 2011122642 A RU2011122642 A RU 2011122642A RU 2011122642/28 A RU2011122642/28 A RU 2011122642/28A RU 2011122642 A RU2011122642 A RU 2011122642A RU 2011122642 A RU2011122642 A RU 2011122642A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
image mapping
image
redirected
mapping
optical component
Prior art date
Application number
RU2011122642/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Томаш С. ТКАЧИК
Роберт Т. КЕСТЕР
Лян ГАО
Original Assignee
Уилльям Марш Райз Юниверсити
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Уилльям Марш Райз Юниверсити filed Critical Уилльям Марш Райз Юниверсити
Publication of RU2011122642A publication Critical patent/RU2011122642A/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/2823—Imaging spectrometer
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/021—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or particular reflectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02—Details
    • G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0229—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/36—Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
    • G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1066—Beam splitting or combining systems for enhancing image performance, like resolution, pixel numbers, dual magnifications or dynamic range, by tiling, slicing or overlapping fields of view
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/143—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using macroscopically faceted or segmented reflective surfaces
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/22—Telecentric objectives or lens systems
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0025—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00—Simple or compound lenses
    • G02B3/0087—Simple or compound lenses with index gradient

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Endoscopes (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Lenses (AREA)

Abstract

1. Система, содержащаяполевой блок картирования изображений, выполненный с возможностью приема изображения и вывода совокупности форм картирования изображения, в которой полевой блок картирования изображений содержитпервый оптический компонент, выполненный с возможностью перенаправления первой формы картирования изображения вдоль первого угла для генерации перенаправленной первой формы картирования изображения,второй оптический компонент, выполненный с возможностью перенаправления второй формы картирования изображения вдоль первого угла для генерации перенаправленной второй формы картирования изображения, итретий оптический компонент, выполненный с возможностью перенаправления третьей формы картирования изображения вдоль второго угла для генерации перенаправленной третьей формы картирования изображения,причем первая форма картирования изображения и вторая форма картирования изображения составляют часть субизображения изображения,причем субизображение является двухмерным.2. Система по п.1, в которой система выполнена с возможностью оптического преобразования, по меньшей мере, одной, выбранной из группы, состоящей из перенаправленной первой формы картирования изображения, перенаправленной второй формы картирования изображения и перенаправленной третьей формы картирования изображения.3. Система по п.2, в которой оптическое преобразование, по меньшей мере, одной, выбранной из группы, состоящей из перенаправленной первой формы картирования изображения, перенаправленной второй формы картирования изображения и перенаправленной третьей формы картирования изображения, содержитприем, по

Claims (15)

1. Система, содержащая
полевой блок картирования изображений, выполненный с возможностью приема изображения и вывода совокупности форм картирования изображения, в которой полевой блок картирования изображений содержит
первый оптический компонент, выполненный с возможностью перенаправления первой формы картирования изображения вдоль первого угла для генерации перенаправленной первой формы картирования изображения,
второй оптический компонент, выполненный с возможностью перенаправления второй формы картирования изображения вдоль первого угла для генерации перенаправленной второй формы картирования изображения, и
третий оптический компонент, выполненный с возможностью перенаправления третьей формы картирования изображения вдоль второго угла для генерации перенаправленной третьей формы картирования изображения,
причем первая форма картирования изображения и вторая форма картирования изображения составляют часть субизображения изображения,
причем субизображение является двухмерным.
2. Система по п.1, в которой система выполнена с возможностью оптического преобразования, по меньшей мере, одной, выбранной из группы, состоящей из перенаправленной первой формы картирования изображения, перенаправленной второй формы картирования изображения и перенаправленной третьей формы картирования изображения.
3. Система по п.2, в которой оптическое преобразование, по меньшей мере, одной, выбранной из группы, состоящей из перенаправленной первой формы картирования изображения, перенаправленной второй формы картирования изображения и перенаправленной третьей формы картирования изображения, содержит
прием, по меньшей мере, одной формы картирования изображения, причем принятая форма картирования изображения выбрана из группы, состоящей из перенаправленной первой формы картирования изображения, перенаправленной второй формы картирования изображения и перенаправленной третьей формы картирования изображения,
спектральное разнесение, по меньшей мере, одной формы картирования изображения для генерации, по меньшей мере, одной спектрально разнесенной формы картирования изображения, и
вывод, по меньшей мере, одной спектрально разнесенной формы картирования изображения.
4. Система по п.3, дополнительно, содержащая
блок избирательного построения изображения, причем блок избирательного построения изображения выполнен с возможностью повторного построения изображения, по меньшей мере, одной спектрально разнесенной формы картирования изображения в, по меньшей мере, одном положении на детекторе.
5. Система по п.4, в которой блок избирательного построения изображения содержит совокупность оптических компонентов блока избирательного построения изображения, и, по меньшей мере, один из совокупности оптических компонентов блока избирательного построения изображения является динамическим.
6. Система по п.5, в которой, по меньшей мере, один из совокупности оптических компонентов блока избирательного построения изображения выполнен с возможностью приема, по меньшей мере, первой и второй форм картирования изображения, каждая из которых перенаправлена вдоль первого угла.
7. Система по п.4, в которой детектор содержит двухмерную (2D) матрицу детекторов электромагнитного излучения.
8. Система по п.4, в которой детектор выполнен с возможностью вывода, по меньшей мере, одной спектрально разнесенной формы картирования изображения на блок обработки цифровых сигналов.
9. Система по п.8, в которой блок обработки цифровых сигналов выполнен с возможностью повторного картирования, по меньшей мере, одной спектрально разнесенной формы картирования изображения для получения оптического изображения и пространственно разрешенного спектра.
10. Система по п.9, в которой блок обработки цифровых сигналов также выполнен с возможностью вывода оптического изображения и пространственно разрешенного спектра на дисплей.
11. Система по п.1, в которой первый оптический компонент выбран из группы, состоящей из преломляющего компонента, отражающего компонента и волновода.
12. Система по п.1, в которой первый оптический компонент является динамическим.
13. Система по п.1, в которой полевой блок картирования изображений одновременно перенаправляет первую форму картирования изображения, вторую форму картирования изображения и третью форму картирования изображения.
14. Система по п.13, в которой полевой блок картирования изображений одновременно получает первую форму картирования изображения, вторую форму картирования изображения и третью форму картирования изображения.
15. Система по п.1, в которой полевой блок картирования изображений содержит совокупность зеркальных граней, причем первый оптический компонент является первым из совокупности зеркальных граней, второй оптический компонент является вторым из совокупности зеркальных граней и третий оптический компонент является третьим из совокупности зеркальных граней.
RU2011122642/28A 2008-11-04 2009-11-04 Спектрометры с функцией картирования изображений RU2011122642A (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11118208P 2008-11-04 2008-11-04
US61/111,182 2008-11-04
PCT/US2009/063259 WO2010053979A2 (en) 2008-11-04 2009-11-04 Image mapping spectrometers

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2011122642A true RU2011122642A (ru) 2012-12-20

Family

ID=42153523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011122642/28A RU2011122642A (ru) 2008-11-04 2009-11-04 Спектрометры с функцией картирования изображений

Country Status (9)

Country Link
US (1) US8654328B2 (ru)
EP (1) EP2364436A4 (ru)
JP (1) JP2012508366A (ru)
CN (1) CN102265124A (ru)
BR (1) BRPI0921770A2 (ru)
CA (1) CA2742273A1 (ru)
IL (1) IL212613A0 (ru)
RU (1) RU2011122642A (ru)
WO (1) WO2010053979A2 (ru)

Families Citing this family (117)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8406859B2 (en) * 2008-08-10 2013-03-26 Board Of Regents, The University Of Texas System Digital light processing hyperspectral imaging apparatus
DE102009043538A1 (de) * 2009-09-30 2011-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Messendoskop
US8993964B2 (en) 2010-03-09 2015-03-31 Chemimage Technologies Llc System and method for detecting contaminants in a sample using near-infrared spectroscopy
WO2012078417A1 (en) * 2010-12-10 2012-06-14 William Marsh Rice University Image mapped optical coherence tomography
JP2013546000A (ja) 2010-12-14 2013-12-26 ウィリアム・マーシュ・ライス・ユニバーシティ イメージマップ分光偏光法
JP5657375B2 (ja) * 2010-12-24 2015-01-21 オリンパス株式会社 内視鏡装置及びプログラム
DE102011009075B4 (de) * 2011-01-21 2021-07-22 Kostal Automobil Elektrik Gmbh & Co. Kg Kameraanordnung für ein Kraftfahrzeug
US20140002639A1 (en) * 2011-03-25 2014-01-02 Joseph M. Cheben Autonomous Detection of Chemical Plumes
DE102011080276A1 (de) * 2011-08-02 2013-02-07 Carl Zeiss Ag Spektrometer
JP5787695B2 (ja) * 2011-09-28 2015-09-30 株式会社トプコン 画像取得装置
US9716846B2 (en) * 2011-09-30 2017-07-25 Los Alamos National Security, Llc Full-frame, programmable hyperspectral imager
TWI567953B (zh) 2011-12-20 2017-01-21 新加坡恒立私人有限公司 光電模組及包含該模組之裝置
EP2631619A1 (en) 2012-02-27 2013-08-28 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Spectral imager
US9433341B2 (en) * 2012-03-26 2016-09-06 Karl Storz Imaging, Inc. Compensated relays for reducing number of elements in rod lens endoscopes
US9440844B2 (en) 2012-04-02 2016-09-13 Semiconductor Components Industries, Llc Optical and infrared imaging system
KR102223290B1 (ko) * 2012-04-05 2021-03-04 매직 립, 인코포레이티드 능동 포비에이션 능력을 갖는 와이드-fov(field of view) 이미지 디바이스들
EP2850403B1 (en) 2012-05-18 2021-10-27 Rebellion Photonics, Inc. Divided-aperture infra-red spectral imaging system for chemical detection
US9599508B2 (en) 2012-05-18 2017-03-21 Rebellion Photonics, Inc. Divided-aperture infra-red spectral imaging system
US9184038B2 (en) * 2012-06-06 2015-11-10 Purdue Research Foundation Ion focusing
CN102788756A (zh) * 2012-07-13 2012-11-21 上海凯度机电科技有限公司 多模态生物显微分析仪
CN102928079A (zh) * 2012-10-16 2013-02-13 南京邮电大学 一种基于衍射孔阵列的微型光谱仪
US9565996B2 (en) 2013-01-18 2017-02-14 Ricoh Company, Ltd. Plenoptic otoscope
CN103932661B (zh) * 2013-01-18 2017-01-11 株式会社理光 全光耳镜
US9182278B2 (en) * 2013-03-14 2015-11-10 Sciaps, Inc. Wide spectral range spectrometer
GB2512886B (en) * 2013-04-10 2017-11-01 Bae Systems Plc Spectral imaging
US10007109B2 (en) * 2013-06-20 2018-06-26 The University Of North Carolina At Charlotte Wavelength discriminating imaging systems and methods
US9945721B2 (en) * 2013-06-20 2018-04-17 The University Of North Carolina At Charlotte Selective wavelength imaging systems and methods
US9861277B2 (en) 2013-06-20 2018-01-09 Cylite Pty Ltd Wavefront analyser
DE102013019347A1 (de) * 2013-08-15 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
WO2015039031A1 (en) * 2013-09-16 2015-03-19 Kla-Tencor Corporation Multiple angles of incidence semiconductor metrology systems and methods
CA2870419C (en) 2013-11-12 2023-05-16 Rebellion Photonics, Inc. Divided-aperture infra-red spectral imaging system
US9453763B2 (en) * 2013-11-21 2016-09-27 William Marsh Rice University Tunable light-guide image processor for multi-dimensional imaging
IL230640B (en) * 2014-01-23 2019-10-31 Rafael Advanced Defense Systems Ltd Anamorphic optics that resolve off-axis point sources
JP2017519193A (ja) * 2014-04-27 2017-07-13 コロライト エルティーディー．ＣｏｌｏＲｉｇｈｔ Ｌｔｄ． 毛髪を分析するための、及び／又はヘアカラー処理の結果を予測するための装置及び方法
US9756263B2 (en) 2014-05-01 2017-09-05 Rebellion Photonics, Inc. Mobile gas and chemical imaging camera
US11290662B2 (en) 2014-05-01 2022-03-29 Rebellion Photonics, Inc. Mobile gas and chemical imaging camera
US9464984B2 (en) 2014-06-20 2016-10-11 Fluke Corporation Laser illuminated gas imaging device for determining inoperable gas detection pixels
WO2015199911A1 (en) 2014-06-23 2015-12-30 Exxonmobil Upstream Research Company Methods and systems for detecting a chemical species
US10458905B2 (en) 2014-07-07 2019-10-29 Rebellion Photonics, Inc. Gas leak emission quantification with a gas cloud imager
US9880053B2 (en) * 2014-10-29 2018-01-30 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Image pickup apparatus, spectroscopic system, and spectroscopic method
US10551560B1 (en) 2014-10-30 2020-02-04 Tomasz S. Tkaczyk Arrays of tapered light-guides for snapshot spectral imaging
KR101607404B1 (ko) 2014-11-12 2016-03-30 한양대학교 산학협력단 현미경용 다중화 광원 장치
US9883798B2 (en) * 2014-11-14 2018-02-06 Ricoh Company, Ltd. Simultaneous capture of filtered images of the eye
CN104501959B (zh) * 2014-12-30 2016-08-17 华中科技大学 一种红外图谱关联智能探测方法及装置
US9395293B1 (en) * 2015-01-12 2016-07-19 Verily Life Sciences Llc High-throughput hyperspectral imaging with superior resolution and optical sectioning
CN104614847B (zh) * 2015-01-14 2017-02-01 浙江大学 一种宽视场高分辨率显微成像系统和方法
WO2016125165A2 (en) * 2015-02-05 2016-08-11 Verifood, Ltd. Spectrometry system with visible aiming beam
CN104729708B (zh) * 2015-03-11 2017-05-03 航天东方红卫星有限公司 一种消像散宽光谱探测光栅光谱仪
JPWO2016174963A1 (ja) * 2015-04-30 2018-02-22 住友電気工業株式会社 顕微鏡装置
US10690544B1 (en) * 2015-05-28 2020-06-23 Wavefront Research, Inc. Non-circular aperture reflective imager
US10107682B1 (en) * 2015-05-28 2018-10-23 Wavefront Research, Inc. Non-circular aperture reflective imager
EP4375631A2 (en) 2015-05-29 2024-05-29 Rebellion Photonics, Inc. Hydrogen sulfide imaging system
EP3329832A1 (en) * 2015-07-30 2018-06-06 Olympus Corporation Camera head for endoscopes, and endoscopic device provided with same
US10098529B2 (en) 2015-10-28 2018-10-16 Ricoh Company, Ltd. Optical design of a light field otoscope
US10018560B2 (en) * 2016-02-02 2018-07-10 Kla-Tencor Corporation System and method for hyperspectral imaging metrology
WO2017139008A1 (en) * 2016-02-11 2017-08-17 Stratio Broadband visible-shortwave infrared spectrometer
US10281327B2 (en) 2016-02-11 2019-05-07 Stratio Spectrometers with self-compensation of rotational misalignment
JP2017191071A (ja) * 2016-04-15 2017-10-19 キヤノン株式会社 分光データ処理装置、撮像装置、分光データ処理方法および分光データ処理プログラム
JP6765064B2 (ja) 2016-06-23 2020-10-07 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 赤外線検出装置
US10495518B2 (en) * 2016-06-23 2019-12-03 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Infrared detection apparatus
JP6392999B2 (ja) * 2016-07-19 2018-09-19 株式会社アサヒビジョン 眼球分析装置および眼球分析方法
JP6438603B2 (ja) * 2016-07-19 2018-12-19 株式会社アサヒビジョン 眼球分析装置
US10228283B2 (en) * 2016-08-12 2019-03-12 Spectral Insights Private Limited Spectral imaging system
US10775508B1 (en) * 2016-08-19 2020-09-15 Apple Inc. Remote sensing device
EP3513229A4 (en) 2016-09-15 2020-05-20 Magna International Inc. METAL SURFACE LENS ARRANGEMENT FOR CHROMATIC SEPARATION
EP3529592B1 (en) 2016-10-21 2023-04-05 Rebellion Photonics, Inc. Gas imaging system
CN114609075A (zh) 2016-10-21 2022-06-10 瑞柏丽恩光子股份有限公司 移动气体和化学物成像相机
FR3061301B1 (fr) * 2016-12-26 2020-09-04 Commissariat Energie Atomique Procede d'observation d'un objet
CN106772417B (zh) * 2016-12-31 2017-11-14 华中科技大学 一种动目标多维度多尺度红外光谱特征测量方法及系统
JP2020508469A (ja) * 2017-02-03 2020-03-19 ガマヤ エスエイ 広角コンピュータ撮像分光法および装置
US10955355B2 (en) 2017-02-22 2021-03-23 Rebellion Photonics, Inc. Systems and methods for monitoring remote installations
US10296780B2 (en) 2017-03-07 2019-05-21 Ricoh Company, Ltd. Automatic eardrum registration from light field data
US10275644B2 (en) 2017-03-08 2019-04-30 Ricoh Company, Ltd Automatic classification of eardrum shape
US11022546B2 (en) 2017-05-16 2021-06-01 Fluke Corporation Optical gas imaging systems and methods
CN107436194A (zh) * 2017-06-22 2017-12-05 北京理工大学 一种高光通量实时光谱成像装置
US11357388B2 (en) * 2017-06-29 2022-06-14 Sony Corporation Medical imaging system, method and computer program
CN114815223A (zh) 2017-07-06 2022-07-29 浜松光子学株式会社 光学器件
US10620408B2 (en) 2017-07-11 2020-04-14 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Compact orthoscopic VNIR/SWIR lens
US10345144B2 (en) * 2017-07-11 2019-07-09 Bae Systems Information And Electronics Systems Integration Inc. Compact and athermal VNIR/SWIR spectrometer
CN111066263B (zh) * 2017-07-21 2023-10-03 加州理工学院 超薄平面无透镜相机
US11587419B2 (en) * 2017-08-04 2023-02-21 Toyota Research Institute, Inc. Methods and systems providing an intelligent camera system
WO2019033110A1 (en) 2017-08-11 2019-02-14 California Institute Of Technology THIN-DIMENSIONAL IMAGING WITHOUT LENS USING DIRECTIONAL DETECTION ELEMENTS
CN111149062B (zh) 2017-09-28 2022-11-04 Asml控股股份有限公司 量测方法和装置
EP3477246A1 (en) 2017-10-27 2019-05-01 Nokia Technologies Oy Apparatus, systems and methods for detecting light
EP3707497B1 (en) 2017-11-09 2022-09-28 Rebellion Photonics, Inc. Window obscuration sensors for mobile gas and chemical imaging cameras
EP3517021B1 (de) 2018-01-26 2020-10-14 Visotec GmbH Full-field-oct-verfahren und -system zum erzeugen einer abbildung eines augenhintergrunds
CN112567217A (zh) 2018-05-25 2021-03-26 弗兰克公司 与未冷却热成像相机兼容的光学气体成像系统和方法
US10760954B2 (en) * 2018-06-06 2020-09-01 Honeywell International Inc. Quantum resolution imaging
US10908015B2 (en) * 2018-06-06 2021-02-02 Honeywell International Inc. Super-resolution modal imaging
IL263035B2 (en) * 2018-11-14 2023-10-01 Israel Aerospace Ind Ltd A method for increasing the field of view in a hyperspectral system
EP3653987A1 (en) * 2018-11-16 2020-05-20 Nokia Technologies Oy Apparatus and method for detecting light
CN109696298B (zh) * 2018-12-10 2024-01-26 上海复享光学股份有限公司 角度依赖成像测量系统及方法
CN109708759B (zh) * 2018-12-28 2021-03-23 中国计量大学 一种基于叠层玻璃映射的成像光谱仪
CN109579994A (zh) * 2018-12-31 2019-04-05 苏州大学 基于微反射镜阵列的快照式光谱成像方法及其系统
KR20200094058A (ko) * 2019-01-29 2020-08-06 한국과학기술원 렌즈리스 초분광 영상 이미징 방법 및 그 장치
US11478145B2 (en) 2019-05-15 2022-10-25 Aizhong Zhang Multispectral and hyperspectral meibography
US11516388B2 (en) * 2019-06-20 2022-11-29 Cilag Gmbh International Pulsed illumination in a fluorescence imaging system
SE1950813A1 (en) * 2019-06-28 2020-07-14 Guenot Diego Optical spectrometer and method for spectrally resolved two-dimensional imaging of an object
TWI704379B (zh) * 2019-07-05 2020-09-11 明達醫學科技股份有限公司 光譜儀
US11253151B2 (en) 2019-09-08 2022-02-22 Aizhong Zhang Multispectral and hyperspectral ocular surface evaluator
CN110736541A (zh) * 2019-09-19 2020-01-31 杭州远方光电信息股份有限公司 一种光谱仪
CN110687670B (zh) * 2019-10-16 2022-02-08 锘海生物科学仪器(上海)有限公司 平铺光片显微镜及其使用方法
US11047737B2 (en) * 2019-10-23 2021-06-29 Spectral Sciences, Inc. Temporal-spectral multiplexing sensor and method
JP2022174355A (ja) * 2019-11-01 2022-11-24 コニカミノルタ株式会社 分光測定器
JPWO2021157398A1 (ru) * 2020-02-03 2021-08-12
WO2021226493A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-11 The Regents Of The University Of California Label-free real-time hyperspectral endoscopy for molecular-guided cancer surgery
US20220065694A1 (en) * 2020-08-28 2022-03-03 Salvo Technologies, Inc. Application of linear variable optical bandpass filters onto detector arrays to create mobile smart phone spectrometers
KR102466257B1 (ko) * 2020-09-10 2022-11-14 주식회사 더웨이브톡 다중 광원을 활용한 분광 장치
CN112665618B (zh) * 2020-12-17 2022-05-17 安徽中元新材料技术有限公司 一种基于形态学的波长敏感模式提取装置及方法
US20240110863A1 (en) * 2021-03-15 2024-04-04 Sony Group Corporation Information processing device, information processing method, and program
CN113029340B (zh) * 2021-03-25 2022-10-11 中国计量大学 一种入射光瞳离轴像映射光谱仪结构
CN113467095B (zh) * 2021-06-08 2023-06-30 西安交通大学 一种非成像型激光匀质系统及匀质元件的制作方法
EP4366602A2 (en) * 2021-07-09 2024-05-15 Cedars-Sinai Medical Center A method to detect retinal amyloidosis and tauopathy using snap hyperspectral imaging and/or snap hyperspectral optical coherence tomography
CN113837961B (zh) * 2021-09-22 2023-10-20 中国科学院深圳先进技术研究院 一种适用于活体长时间内源成像的方法和系统
JP2024000342A (ja) * 2022-06-20 2024-01-05 国立大学法人東京工業大学 フォトニックバンドイメージング装置、フォトニックバンドイメージング方法およびプログラム
CN114994881B (zh) * 2022-06-24 2023-07-25 苏州大学 一种快照式光谱共焦位移传感器色散镜头及其设计方法
CN117848502B (zh) * 2024-03-06 2024-05-10 长春理工大学 基于像差补偿的编码孔径偏振光谱成像装置和方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4678332A (en) * 1984-02-21 1987-07-07 Dan Rock Broadband spectrometer with fiber optic reformattor
JPH0431720A (ja) 1990-05-28 1992-02-03 Res Dev Corp Of Japan ２次元物体の分光装置
JP3429589B2 (ja) 1995-01-19 2003-07-22 浜松ホトニクス株式会社 画像分光装置
JP2000329617A (ja) 1999-03-18 2000-11-30 Minolta Co Ltd 分光画像入力システム
US20050270528A1 (en) 1999-04-09 2005-12-08 Frank Geshwind Hyper-spectral imaging methods and devices
US6734962B2 (en) * 2000-10-13 2004-05-11 Chemimage Corporation Near infrared chemical imaging microscope
US6522403B2 (en) * 2000-12-04 2003-02-18 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Computed tomography imaging spectrometer (CTIS) with 2D reflective grating for ultraviolet to long-wave infrared detection especially useful for surveying transient events
US6795199B2 (en) 2001-07-18 2004-09-21 Avraham Suhami Method and apparatus for dispersion compensated reflected time-of-flight tomography
US20060072109A1 (en) * 2004-09-03 2006-04-06 Andrew Bodkin Hyperspectral imaging systems
US7404929B2 (en) * 2002-01-18 2008-07-29 Newton Laboratories, Inc. Spectroscopic diagnostic methods and system based on scattering of polarized light
CN1659424A (zh) 2002-03-06 2005-08-24 埃斯柏克特瑞克斯公司 用于辐射编码及分析的方法和装置
JP3785507B2 (ja) * 2002-03-28 2006-06-14 フジノン株式会社 内視鏡装置
US20030187330A1 (en) 2002-03-28 2003-10-02 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Electronic endoscope apparatus using micromirror device
EP1570411A4 (en) * 2002-10-22 2007-05-30 Univ Rice William M CONFOCAL HIGH SPEED MICROSCOPE WITH RANDOM ACCESS
JP4368163B2 (ja) 2003-08-19 2009-11-18 富士フイルム株式会社 分光素子アレイ及びこれを備えた分光画像測定装置並びに分光画像測定方法
US7253882B2 (en) * 2003-12-26 2007-08-07 Fujifilm Corporation Exposure method and exposure system
JP2007199572A (ja) * 2006-01-30 2007-08-09 Nikon Corp 顕微鏡装置
DE102006031654A1 (de) * 2006-04-24 2007-10-25 Carl Zeiss Smt Ag Facettenspiegel mit einer Vielzahl von Spiegelsegmenten
RU70575U1 (ru) 2007-07-16 2008-01-27 ГОУ ВПО Иркутский государственный университет Статический мультиплексный дисперсионный спектрометр

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010053979A2 (en) 2010-05-14
IL212613A0 (en) 2011-07-31
US20110285995A1 (en) 2011-11-24
JP2012508366A (ja) 2012-04-05
CN102265124A (zh) 2011-11-30
US8654328B2 (en) 2014-02-18
EP2364436A4 (en) 2016-01-27
BRPI0921770A2 (pt) 2016-01-05
EP2364436A2 (en) 2011-09-14
WO2010053979A3 (en) 2010-07-08
CA2742273A1 (en) 2010-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011122642A (ru) Спектрометры с функцией картирования изображений
US8953084B2 (en) Plural focal-plane imaging
Kendrick et al. Flat-panel space-based space surveillance sensor
JP5723881B2 (ja) マルチスペクトル撮像
US8314872B2 (en) Imaging device
CN101806625B (zh) 静态傅立叶变换干涉成像光谱全偏振探测装置
US9239263B2 (en) Image mapped spectropolarimetry
KR20100112115A (ko) 엘이디 어레이와 색선별 쐐기를 이용한 소형 투사 장치
CN101526400A (zh) 阿达玛变换干涉光谱成像方法及设备
CN112020853B (zh) 摄像机模块及其超分辨率图像处理方法
WO2021097064A1 (en) Dual path light detection and ranging system
US9188785B2 (en) Single-pixel camera architecture with simultaneous multi-band acquisition
CN101799327A (zh) 无源静态三角共路干涉成像光谱全偏振探测装置
CN114353943A (zh) 用于高分辨率和宽幅光谱仪的技术
US20110181763A1 (en) Image pickup device and solid-state image pickup element of the type illuminated from both faces
Love et al. Full-frame programmable spectral filters based on micromirror arrays
US20070097252A1 (en) Imaging methods, cameras, projectors, and articles of manufacture
CN207995235U (zh) 一种分光成像装置
CN113534484A (zh) 一种光发射装置及电子设备
CN103558160A (zh) 一种提高光谱成像空间分辨率的方法和系统
CN204165651U (zh) 偏轴球面蓝宝石棱镜中波红外成像光谱仪
US10677645B1 (en) Pupil division multiplexed imaging systems
CN207037311U (zh) 一种基于线性滤光片的超光谱摄像机
CN106052874B (zh) 干涉成像光谱仪及干涉仪
US11378810B2 (en) Polygon x-prism for imaging and display applications