RU2010133954A - Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство - Google Patents
Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство Download PDFInfo
- Publication number
- RU2010133954A RU2010133954A RU2010133954/08A RU2010133954A RU2010133954A RU 2010133954 A RU2010133954 A RU 2010133954A RU 2010133954/08 A RU2010133954/08 A RU 2010133954/08A RU 2010133954 A RU2010133954 A RU 2010133954A RU 2010133954 A RU2010133954 A RU 2010133954A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- state
- signal
- transition
- processor
- response
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
- G09G3/3433—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using light modulating elements actuated by an electric field and being other than liquid crystal devices and electrochromic devices
- G09G3/3466—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using light modulating elements actuated by an electric field and being other than liquid crystal devices and electrochromic devices based on interferometric effect
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
- B81C99/003—Characterising MEMS devices, e.g. measuring and identifying electrical or mechanical constants
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/04—Optical MEMS
- B81B2201/042—Micromirrors, not used as optical switches
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/06—Details of flat display driving waveforms
- G09G2310/066—Waveforms comprising a gently increasing or decreasing portion, e.g. ramp
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/029—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
- G09G2320/0295—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel by monitoring each display pixel
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/06—Adjustment of display parameters
- G09G2320/0693—Calibration of display systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Micromachines (AREA)
Abstract
1. Способ, согласно которому ! подают между первым и вторым электродами устройства сигнал, который изменяет состояние устройства с первого состояния на второе состояние и обратно на первое состояние, при этом указанный переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние имеет такую длительность, что этот переход, по существу, незаметен для человеческого зрения, ! измеряют электрический отклик устройства на поданный сигнал и ! определяют по меньшей мере одну рабочую характеристику устройства на основе измеренного электрического отклика. ! 2. Способ по п.1, согласно которому переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние завершается менее чем за 400 мс. ! 3. Способ по п.1, согласно которому переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние завершается более чем за примерно 400 мс и менее чем за примерно 4000 мс. !4. Способ по п.1, согласно которому дополнительно повторяют подачу, измерение и определение с временной периодичностью. ! 5. Способ по п.1, согласно которому дополнительно повторяют подачу, измерение и определение с псевдослучайной временной периодичностью. ! 6. Способ по п.1, согласно которому дополнительно повторяют подачу, измерение и определение во времени на основе изменения температуры. ! 7. Способ по п.1, согласно которому дополнительно выполняют подачу, измерение и определение на основе срока службы устройства. ! 8. Способ по п.1, согласно которому подачу указанного сигнала напряжения выполняют многократно при различных напряжениях, а рабочую характеристику определяют для каждого напряжения, при этом дополнительно ! сохраня�
Claims (27)
1. Способ, согласно которому
подают между первым и вторым электродами устройства сигнал, который изменяет состояние устройства с первого состояния на второе состояние и обратно на первое состояние, при этом указанный переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние имеет такую длительность, что этот переход, по существу, незаметен для человеческого зрения,
измеряют электрический отклик устройства на поданный сигнал и
определяют по меньшей мере одну рабочую характеристику устройства на основе измеренного электрического отклика.
2. Способ по п.1, согласно которому переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние завершается менее чем за 400 мс.
3. Способ по п.1, согласно которому переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние завершается более чем за примерно 400 мс и менее чем за примерно 4000 мс.
4. Способ по п.1, согласно которому дополнительно повторяют подачу, измерение и определение с временной периодичностью.
5. Способ по п.1, согласно которому дополнительно повторяют подачу, измерение и определение с псевдослучайной временной периодичностью.
6. Способ по п.1, согласно которому дополнительно повторяют подачу, измерение и определение во времени на основе изменения температуры.
7. Способ по п.1, согласно которому дополнительно выполняют подачу, измерение и определение на основе срока службы устройства.
8. Способ по п.1, согласно которому подачу указанного сигнала напряжения выполняют многократно при различных напряжениях, а рабочую характеристику определяют для каждого напряжения, при этом дополнительно
сохраняют данные, характеризующие рабочую характеристику и уровень каждого из различных напряжений, и
определяют уровень управляющего напряжения на основе сохраненных данных и заданную рабочую характеристику.
9. Способ по п.1, согласно которому при определении по меньшей мере одной рабочей характеристики определяют по меньшей мере один из следующих параметров: активирующее напряжение, раскрепляющее напряжение и время отклика.
10. Способ по п.1, согласно которому сигнал напряжения содержит по меньшей мере один из следующих импульсов: синусоидальный, пилообразный и прямоугольный импульс.
11. Прибор, содержащий
схему формирователя, выполненную с возможностью подачи сигнала между первым и вторым электродами устройства, причем сигнал изменяет состояния устройства из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние, при этом указанный переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние имеет такую длительность, что переход, по существу, незаметен для человеческого зрения,
схему обратной связи, выполненную с возможностью измерения электрического отклика устройства в ответ на поданный сигнал напряжения, и
процессор, выполненный с возможностью управления схемой формирователя, получения данных, характеризующих измеренный электрический отклик, и определения на основе этого отклика по меньшей мере одной рабочей характеристики устройства.
12. Прибор по п.11, в котором переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние может быть завершен менее чем за 400 мс.
13. Прибор по п.11, в котором переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние может быть завершен более чем за примерно 400 мс и менее чем за примерно 4000 мс.
14. Прибор по п.11, в котором процессор выполнен с возможностью управления схемой формирователя для подачи сигнала с временной периодичностью.
15. Прибор по п.11, в котором процессор выполнен с возможностью управления схемой формирователя для подачи сигнала с псевдослучайной временной периодичностью.
16. Прибор по п.11, в котором процессор выполнен с возможностью управления схемой формирователя для подачи сигнала во времени на основе изменения температуры.
17. Прибор по п.11, в котором процессор выполнен с возможностью управления схемой формирователя для подачи сигнала на основе срока службы устройства.
18. Прибор по п.11, в котором процессор выполнен с возможностью управления схемой формирователя для многократной подачи сигнала на различных уровнях, определения рабочей характеристики, связанной с каждым из многократных уровней, сохранения данных, характеризующих рабочие характеристики и указанные уровни, и определения управляющего уровня на основе сохраненных данных и заданной рабочей характеристики.
19. Прибор по п.18, в котором по меньшей мере одна рабочая характеристика содержит по меньшей мере один из следующих параметров: активирующее напряжение, раскрепляющее напряжение и время отклика.
20. Прибор по п.11, в котором сигнал содержит по меньшей мере один из следующих импульсов: синусоидальный, пилообразный и прямоугольный импульс.
21. Прибор по п.11, в котором процессор выполнен с возможностью управления схемой управления для подачи сигнала напряжения, обеспечивающего временное усреднение отображаемого цвета.
22. Устройство, содержащее
средства подачи сигнала между первым и вторым электродами устройства, причем сигнал изменяет состояние устройства из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние, при этом указанный переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние имеет такую длительность, что переход, по существу, незаметен для человеческого зрения,
средства измерения электрического отклика устройства в ответ на приложенный сигнал напряжения и
средства получения данных, характеризующих измеренный электрический отклик, и определения по меньшей мере одной рабочей характеристики устройства на основе этого отклика.
23. Устройство, содержащее
матрицу интерферометрических модуляторов, схему управления, выполненную с возможностью подачи сигнала между первым и вторым электродами по меньшей мере одного из интерферометрических модуляторов, причем сигнал изменяет состояние интерферометрического модулятора из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние, при этом указанный переход из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние имеет такую длительность, что переход, по существу, незаметен для человеческого зрения,
схему обратной связи, выполненную с возможностью измерения электрического отклика интерферометрического модулятора в ответ на приложенный сигнал напряжения,
процессор, выполненный с возможностью управления схемой формирователя, получения данных, характеризующих измеренный электрический отклик, и определения на основе этого отклика по меньшей мере одной рабочей характеристики интерферометрического модулятора, и
запоминающее устройство, выполненное с возможностью взаимодействия с процессором.
24. Устройство по п.23, которое дополнительно содержит контроллер, выполненный с возможностью передачи по меньшей мере части видеоданных в схему формирователя.
25. Устройство по п.23, которое дополнительно содержит модуль источника изображений, выполненный с возможностью передачи указанных видеоданных на процессор.
26. Устройство по п.25, в котором модуль источника изображений содержит по меньшей мере один из следующих компонентов: приемник, приемопередатчик и передатчик.
27. Устройство по п.23, которое дополнительно содержит устройство ввода, выполненное с возможностью приема входных данных и их передачи процессору.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US2772708P | 2008-02-11 | 2008-02-11 | |
| US61/027,727 | 2008-02-11 | ||
| PCT/US2009/033435 WO2009102639A1 (en) | 2008-02-11 | 2009-02-06 | Method and apparatus for sensing, measurement or characterization of display elements integrated with the display drive scheme, and system and applications using the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2010133954A true RU2010133954A (ru) | 2012-03-20 |
| RU2526708C2 RU2526708C2 (ru) | 2014-08-27 |
Family
ID=40666776
Family Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2010133663/08A RU2526763C2 (ru) | 2008-02-11 | 2009-02-06 | Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство |
| RU2010133953/08A RU2010133953A (ru) | 2008-02-11 | 2009-02-06 | Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство |
| RU2010133954/08A RU2526708C2 (ru) | 2008-02-11 | 2009-02-06 | Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство |
Family Applications Before (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2010133663/08A RU2526763C2 (ru) | 2008-02-11 | 2009-02-06 | Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство |
| RU2010133953/08A RU2010133953A (ru) | 2008-02-11 | 2009-02-06 | Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (4) | US20090207159A1 (ru) |
| EP (3) | EP2252991A1 (ru) |
| JP (3) | JP2011516903A (ru) |
| KR (3) | KR20100118131A (ru) |
| CN (3) | CN101946277B (ru) |
| BR (3) | BRPI0908803A2 (ru) |
| CA (3) | CA2715283A1 (ru) |
| RU (3) | RU2526763C2 (ru) |
| TW (3) | TW200949793A (ru) |
| WO (3) | WO2009102641A1 (ru) |
Families Citing this family (42)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2419704A1 (en) | 2003-02-24 | 2004-08-24 | Ignis Innovation Inc. | Method of manufacturing a pixel with organic light-emitting diode |
| CA2495726A1 (en) | 2005-01-28 | 2006-07-28 | Ignis Innovation Inc. | Locally referenced voltage programmed pixel for amoled displays |
| EP2067841A1 (en) * | 2007-12-06 | 2009-06-10 | Agfa HealthCare NV | X-Ray imaging photostimulable phosphor screen or panel. |
| US8027800B2 (en) * | 2008-06-24 | 2011-09-27 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Apparatus and method for testing a panel of interferometric modulators |
| US8035812B2 (en) * | 2009-03-24 | 2011-10-11 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for measuring display quality with a hyperspectral imager |
| US8283967B2 (en) | 2009-11-12 | 2012-10-09 | Ignis Innovation Inc. | Stable current source for system integration to display substrate |
| WO2012031101A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method of updating drive scheme voltages |
| US8780104B2 (en) * | 2011-03-15 | 2014-07-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method of updating drive scheme voltages |
| US20120274666A1 (en) * | 2011-03-15 | 2012-11-01 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for tuning multi-color displays |
| CN103688302B (zh) | 2011-05-17 | 2016-06-29 | 伊格尼斯创新公司 | 用于显示系统的使用动态功率控制的系统和方法 |
| US9606607B2 (en) | 2011-05-17 | 2017-03-28 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods for display systems with dynamic power control |
| US9070775B2 (en) | 2011-08-03 | 2015-06-30 | Ignis Innovations Inc. | Thin film transistor |
| US8901579B2 (en) | 2011-08-03 | 2014-12-02 | Ignis Innovation Inc. | Organic light emitting diode and method of manufacturing |
| US8847862B2 (en) | 2011-11-29 | 2014-09-30 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Systems, devices, and methods for driving an interferometric modulator |
| US10089924B2 (en) | 2011-11-29 | 2018-10-02 | Ignis Innovation Inc. | Structural and low-frequency non-uniformity compensation |
| US9385169B2 (en) | 2011-11-29 | 2016-07-05 | Ignis Innovation Inc. | Multi-functional active matrix organic light-emitting diode display |
| US20130135325A1 (en) * | 2011-11-29 | 2013-05-30 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Systems, devices, and methods for driving an analog interferometric modulator |
| TWI457575B (zh) * | 2012-04-06 | 2014-10-21 | Ind Tech Res Inst | 具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法 |
| US20130321379A1 (en) * | 2012-05-31 | 2013-12-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method of sensing actuation and release voltages of interferometric modulators |
| US8922533B2 (en) * | 2012-06-28 | 2014-12-30 | Htc Corporation | Micro-electro-mechanical display module and display method |
| KR102005962B1 (ko) | 2012-09-06 | 2019-07-31 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 드라이버 집적회로 및 그것의 디스플레이 데이터 처리 방법 |
| US9721505B2 (en) | 2013-03-08 | 2017-08-01 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
| WO2014140992A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Ignis Innovation Inc. | Dynamic adjustment of touch resolutions on an amoled display |
| US9502653B2 (en) | 2013-12-25 | 2016-11-22 | Ignis Innovation Inc. | Electrode contacts |
| US10997901B2 (en) * | 2014-02-28 | 2021-05-04 | Ignis Innovation Inc. | Display system |
| US10176752B2 (en) | 2014-03-24 | 2019-01-08 | Ignis Innovation Inc. | Integrated gate driver |
| US9835455B2 (en) * | 2014-04-24 | 2017-12-05 | Nxp Usa, Inc. | Drive circuitry and method for a vibration gyroscope |
| US9366823B1 (en) * | 2014-05-09 | 2016-06-14 | Google Inc. | Non-linear analog mapper for MEMS based optical circuit switches |
| CA2872563A1 (en) | 2014-11-28 | 2016-05-28 | Ignis Innovation Inc. | High pixel density array architecture |
| CA2898282A1 (en) | 2015-07-24 | 2017-01-24 | Ignis Innovation Inc. | Hybrid calibration of current sources for current biased voltage progra mmed (cbvp) displays |
| US10373554B2 (en) | 2015-07-24 | 2019-08-06 | Ignis Innovation Inc. | Pixels and reference circuits and timing techniques |
| US10657895B2 (en) | 2015-07-24 | 2020-05-19 | Ignis Innovation Inc. | Pixels and reference circuits and timing techniques |
| CA2909813A1 (en) | 2015-10-26 | 2017-04-26 | Ignis Innovation Inc | High ppi pattern orientation |
| KR102565082B1 (ko) * | 2015-12-16 | 2023-08-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광 표시장치와 그의 열화 센싱 방법 |
| US9847053B2 (en) * | 2016-02-05 | 2017-12-19 | Novatek Microelectronics Corp. | Display apparatus, gate driver and operation method thereof |
| KR102609508B1 (ko) * | 2016-11-11 | 2023-12-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 외부 보상용 드라이버 집적회로와 그를 포함한 표시장치 |
| US10586491B2 (en) | 2016-12-06 | 2020-03-10 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for mitigation of hysteresis |
| US10714018B2 (en) | 2017-05-17 | 2020-07-14 | Ignis Innovation Inc. | System and method for loading image correction data for displays |
| US11025899B2 (en) | 2017-08-11 | 2021-06-01 | Ignis Innovation Inc. | Optical correction systems and methods for correcting non-uniformity of emissive display devices |
| US10971078B2 (en) | 2018-02-12 | 2021-04-06 | Ignis Innovation Inc. | Pixel measurement through data line |
| JP2019169212A (ja) * | 2018-03-22 | 2019-10-03 | 東芝メモリ株式会社 | 半導体メモリ装置 |
| TWI655485B (zh) * | 2018-03-30 | 2019-04-01 | 友達光電股份有限公司 | 顯示器 |
Family Cites Families (156)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US666561A (en) * | 1900-09-01 | 1901-01-22 | Robert Rudkin | Envelop. |
| JPS5563768A (en) * | 1978-11-08 | 1980-05-14 | Fujitsu Ltd | Threshold voltage measuring instrument |
| US4571603A (en) * | 1981-11-03 | 1986-02-18 | Texas Instruments Incorporated | Deformable mirror electrostatic printer |
| US4500171A (en) * | 1982-06-02 | 1985-02-19 | Texas Instruments Incorporated | Process for plastic LCD fill hole sealing |
| US4566935A (en) * | 1984-07-31 | 1986-01-28 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator and method |
| US5096279A (en) * | 1984-08-31 | 1992-03-17 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator and method |
| GB2186708B (en) | 1985-11-26 | 1990-07-11 | Sharp Kk | A variable interferometric device and a process for the production of the same |
| US5835255A (en) | 1986-04-23 | 1998-11-10 | Etalon, Inc. | Visible spectrum modulator arrays |
| US4982184A (en) * | 1989-01-03 | 1991-01-01 | General Electric Company | Electrocrystallochromic display and element |
| US5079544A (en) * | 1989-02-27 | 1992-01-07 | Texas Instruments Incorporated | Standard independent digitized video system |
| US5287096A (en) * | 1989-02-27 | 1994-02-15 | Texas Instruments Incorporated | Variable luminosity display system |
| US5192946A (en) * | 1989-02-27 | 1993-03-09 | Texas Instruments Incorporated | Digitized color video display system |
| CH682523A5 (fr) * | 1990-04-20 | 1993-09-30 | Suisse Electronique Microtech | Dispositif de modulation de lumière à adressage matriciel. |
| EP0467048B1 (en) * | 1990-06-29 | 1995-09-20 | Texas Instruments Incorporated | Field-updated deformable mirror device |
| US5099353A (en) * | 1990-06-29 | 1992-03-24 | Texas Instruments Incorporated | Architecture and process for integrating DMD with control circuit substrates |
| US5083857A (en) * | 1990-06-29 | 1992-01-28 | Texas Instruments Incorporated | Multi-level deformable mirror device |
| US5192395A (en) * | 1990-10-12 | 1993-03-09 | Texas Instruments Incorporated | Method of making a digital flexure beam accelerometer |
| US5602671A (en) * | 1990-11-13 | 1997-02-11 | Texas Instruments Incorporated | Low surface energy passivation layer for micromechanical devices |
| CA2063744C (en) * | 1991-04-01 | 2002-10-08 | Paul M. Urbanus | Digital micromirror device architecture and timing for use in a pulse-width modulated display system |
| US5179274A (en) * | 1991-07-12 | 1993-01-12 | Texas Instruments Incorporated | Method for controlling operation of optical systems and devices |
| US5287215A (en) * | 1991-07-17 | 1994-02-15 | Optron Systems, Inc. | Membrane light modulation systems |
| US5296950A (en) * | 1992-01-31 | 1994-03-22 | Texas Instruments Incorporated | Optical signal free-space conversion board |
| US5312513A (en) * | 1992-04-03 | 1994-05-17 | Texas Instruments Incorporated | Methods of forming multiple phase light modulators |
| JPH0651250A (ja) * | 1992-05-20 | 1994-02-25 | Texas Instr Inc <Ti> | モノリシックな空間的光変調器およびメモリのパッケージ |
| US5818095A (en) * | 1992-08-11 | 1998-10-06 | Texas Instruments Incorporated | High-yield spatial light modulator with light blocking layer |
| US5499733A (en) * | 1992-09-17 | 1996-03-19 | Luxtron Corporation | Optical techniques of measuring endpoint during the processing of material layers in an optically hostile environment |
| US5488505A (en) * | 1992-10-01 | 1996-01-30 | Engle; Craig D. | Enhanced electrostatic shutter mosaic modulator |
| US6674562B1 (en) * | 1994-05-05 | 2004-01-06 | Iridigm Display Corporation | Interferometric modulation of radiation |
| US5559358A (en) * | 1993-05-25 | 1996-09-24 | Honeywell Inc. | Opto-electro-mechanical device or filter, process for making, and sensors made therefrom |
| US5489952A (en) * | 1993-07-14 | 1996-02-06 | Texas Instruments Incorporated | Method and device for multi-format television |
| JP2889089B2 (ja) * | 1993-07-20 | 1999-05-10 | ソニー・テクトロニクス株式会社 | 素子特性測定装置 |
| US5497197A (en) * | 1993-11-04 | 1996-03-05 | Texas Instruments Incorporated | System and method for packaging data into video processor |
| US5598565A (en) * | 1993-12-29 | 1997-01-28 | Intel Corporation | Method and apparatus for screen power saving |
| US7550794B2 (en) * | 2002-09-20 | 2009-06-23 | Idc, Llc | Micromechanical systems device comprising a displaceable electrode and a charge-trapping layer |
| US7123216B1 (en) * | 1994-05-05 | 2006-10-17 | Idc, Llc | Photonic MEMS and structures |
| US6040937A (en) * | 1994-05-05 | 2000-03-21 | Etalon, Inc. | Interferometric modulation |
| US6680792B2 (en) * | 1994-05-05 | 2004-01-20 | Iridigm Display Corporation | Interferometric modulation of radiation |
| US6710908B2 (en) * | 1994-05-05 | 2004-03-23 | Iridigm Display Corporation | Controlling micro-electro-mechanical cavities |
| US7460291B2 (en) * | 1994-05-05 | 2008-12-02 | Idc, Llc | Separable modulator |
| US5497172A (en) * | 1994-06-13 | 1996-03-05 | Texas Instruments Incorporated | Pulse width modulation for spatial light modulator with split reset addressing |
| US5499062A (en) * | 1994-06-23 | 1996-03-12 | Texas Instruments Incorporated | Multiplexed memory timing with block reset and secondary memory |
| US5610624A (en) * | 1994-11-30 | 1997-03-11 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator with reduced possibility of an on state defect |
| US5612713A (en) * | 1995-01-06 | 1997-03-18 | Texas Instruments Incorporated | Digital micro-mirror device with block data loading |
| US5610438A (en) * | 1995-03-08 | 1997-03-11 | Texas Instruments Incorporated | Micro-mechanical device with non-evaporable getter |
| US5729075A (en) * | 1995-06-12 | 1998-03-17 | National Semiconductor Corporation | Tuneable microelectromechanical system resonator |
| US5835256A (en) | 1995-06-19 | 1998-11-10 | Reflectivity, Inc. | Reflective spatial light modulator with encapsulated micro-mechanical elements |
| JP3251489B2 (ja) * | 1996-02-16 | 2002-01-28 | シャープ株式会社 | 座標入力装置 |
| US5999012A (en) * | 1996-08-15 | 1999-12-07 | Listwan; Andrew | Method and apparatus for testing an electrically conductive substrate |
| US6160541A (en) * | 1997-01-21 | 2000-12-12 | Lear Automotive Dearborn Inc. | Power consumption control for a visual screen display by utilizing a total number of pixels to be energized in the image to determine an order of pixel energization in a manner that conserves power |
| US6028689A (en) * | 1997-01-24 | 2000-02-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Multi-motion micromirror |
| EP0877272B1 (en) * | 1997-05-08 | 2002-07-31 | Texas Instruments Incorporated | Improvements in or relating to spatial light modulators |
| US5867302A (en) * | 1997-08-07 | 1999-02-02 | Sandia Corporation | Bistable microelectromechanical actuator |
| US6950193B1 (en) * | 1997-10-28 | 2005-09-27 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | System for monitoring substrate conditions |
| US6028690A (en) * | 1997-11-26 | 2000-02-22 | Texas Instruments Incorporated | Reduced micromirror mirror gaps for improved contrast ratio |
| US6180428B1 (en) * | 1997-12-12 | 2001-01-30 | Xerox Corporation | Monolithic scanning light emitting devices using micromachining |
| US6195196B1 (en) * | 1998-03-13 | 2001-02-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Array-type exposing device and flat type display incorporating light modulator and driving method thereof |
| DE69800055T2 (de) * | 1998-04-17 | 2000-08-03 | Barco Nv | Videosignalumsetzung zur Steuerung einer Flüssigkristallanzeige |
| US20030102858A1 (en) * | 1998-07-08 | 2003-06-05 | E Ink Corporation | Method and apparatus for determining properties of an electrophoretic display |
| JP4074714B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2008-04-09 | 富士フイルム株式会社 | アレイ型光変調素子及び平面ディスプレイの駆動方法 |
| US6323834B1 (en) * | 1998-10-08 | 2001-11-27 | International Business Machines Corporation | Micromechanical displays and fabrication method |
| US6256430B1 (en) | 1998-11-23 | 2001-07-03 | Agere Systems Inc. | Optical crossconnect system comprising reconfigurable light-reflecting devices |
| US6391675B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-05-21 | Raytheon Company | Method and apparatus for switching high frequency signals |
| US6690344B1 (en) * | 1999-05-14 | 2004-02-10 | Ngk Insulators, Ltd. | Method and apparatus for driving device and display |
| TW523727B (en) * | 1999-05-27 | 2003-03-11 | Koninkl Philips Electronics Nv | Display device |
| US6201633B1 (en) * | 1999-06-07 | 2001-03-13 | Xerox Corporation | Micro-electromechanical based bistable color display sheets |
| US6862029B1 (en) * | 1999-07-27 | 2005-03-01 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Color display system |
| DE19938721A1 (de) * | 1999-08-16 | 2001-02-22 | Busch Dieter & Co Prueftech | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln von Schäden an sich zyklisch bewegenden Maschinenelementen |
| US6507330B1 (en) * | 1999-09-01 | 2003-01-14 | Displaytech, Inc. | DC-balanced and non-DC-balanced drive schemes for liquid crystal devices |
| US6275326B1 (en) * | 1999-09-21 | 2001-08-14 | Lucent Technologies Inc. | Control arrangement for microelectromechanical devices and systems |
| WO2003007049A1 (en) * | 1999-10-05 | 2003-01-23 | Iridigm Display Corporation | Photonic mems and structures |
| US6674090B1 (en) * | 1999-12-27 | 2004-01-06 | Xerox Corporation | Structure and method for planar lateral oxidation in active |
| WO2001065800A2 (en) * | 2000-03-01 | 2001-09-07 | British Telecommunications Public Limited Company | Data transfer method and apparatus |
| US6612029B2 (en) | 2000-03-24 | 2003-09-02 | Onix Microsystems | Multi-layer, self-aligned vertical combdrive electrostatic actuators and fabrication methods |
| US6567715B1 (en) * | 2000-04-19 | 2003-05-20 | Sandia Corporation | Method and system for automated on-chip material and structural certification of MEMS devices |
| US6356085B1 (en) * | 2000-05-09 | 2002-03-12 | Pacesetter, Inc. | Method and apparatus for converting capacitance to voltage |
| JP3843703B2 (ja) * | 2000-06-13 | 2006-11-08 | 富士ゼロックス株式会社 | 光書き込み型記録表示装置 |
| US6853129B1 (en) * | 2000-07-28 | 2005-02-08 | Candescent Technologies Corporation | Protected substrate structure for a field emission display device |
| US6798517B2 (en) | 2000-09-28 | 2004-09-28 | Color-Spec Technologies, Inc. | Handheld, portable color measuring device with display |
| JP3918499B2 (ja) * | 2000-11-01 | 2007-05-23 | セイコーエプソン株式会社 | 間隙測定方法、間隙測定装置、形状測定方法、形状測定装置並びに液晶装置の製造方法 |
| JP2002202109A (ja) * | 2000-11-01 | 2002-07-19 | Seiko Epson Corp | 間隙測定方法、間隙測定装置、形状測定方法、形状測定装置並びに液晶装置の製造方法 |
| JP2002140033A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Fujitsu Hitachi Plasma Display Ltd | プラズマディスプレイの駆動方法 |
| US6859218B1 (en) * | 2000-11-07 | 2005-02-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Electronic display devices and methods |
| US6845190B1 (en) * | 2000-11-27 | 2005-01-18 | University Of Washington | Control of an optical fiber scanner |
| WO2002061781A1 (fr) * | 2001-01-30 | 2002-08-08 | Advantest Corporation | Commutateur et dispositif de circuit integre |
| US20020174720A1 (en) * | 2001-04-17 | 2002-11-28 | Donato Cardarelli | MEMS gyroscope and accelerometer with mechanical reference |
| US6529654B1 (en) * | 2001-05-02 | 2003-03-04 | Nayna Networks, Inc. | Method for transparent switching and controlling optical signals using mirror designs |
| US6781702B2 (en) * | 2001-05-25 | 2004-08-24 | California Institute Of Technology | Determining large deformations and stresses of layered and graded structures to include effects of body forces |
| SG106612A1 (en) * | 2001-05-29 | 2004-10-29 | Sony Electronics Singapore Pte | A force sensing device |
| US6509620B2 (en) * | 2001-05-31 | 2003-01-21 | Hewlett-Packard Company | Flexure coupling block for motion sensor |
| US6771851B1 (en) * | 2001-06-19 | 2004-08-03 | Nayna Networks | Fast switching method for a micro-mirror device for optical switching applications |
| KR100382766B1 (ko) * | 2001-07-02 | 2003-05-09 | 삼성전자주식회사 | 커패시턴스 변화량 측정 장치 및 방법 |
| JP4032216B2 (ja) * | 2001-07-12 | 2008-01-16 | ソニー株式会社 | 光学多層構造体およびその製造方法、並びに光スイッチング素子および画像表示装置 |
| JP3749147B2 (ja) * | 2001-07-27 | 2006-02-22 | シャープ株式会社 | 表示装置 |
| US6614298B2 (en) * | 2001-08-13 | 2003-09-02 | Soma Networks, Inc. | Apparatus and method for controlling adaptive circuits |
| US20030080811A1 (en) * | 2001-10-05 | 2003-05-01 | Toshifumi Nakatani | Variable gain amplifying apparatus and wireless communication apparatus |
| JP4652641B2 (ja) * | 2001-10-11 | 2011-03-16 | ソニー株式会社 | ディスク記録媒体、ディスクドライブ装置、再生方法 |
| US6870581B2 (en) * | 2001-10-30 | 2005-03-22 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Single panel color video projection display using reflective banded color falling-raster illumination |
| US6791735B2 (en) * | 2002-01-09 | 2004-09-14 | The Regents Of The University Of California | Differentially-driven MEMS spatial light modulator |
| US6791441B2 (en) * | 2002-05-07 | 2004-09-14 | Raytheon Company | Micro-electro-mechanical switch, and methods of making and using it |
| ATE389888T1 (de) * | 2002-05-29 | 2008-04-15 | Imec Vzw Interuniversitair Mic | Gerät und verfahren, um die leistung von mikromaschinen oder mikroelektromechanischen bauelementen zu bestimmen |
| US7106066B2 (en) * | 2002-08-28 | 2006-09-12 | Teravicta Technologies, Inc. | Micro-electromechanical switch performance enhancement |
| US7095494B2 (en) * | 2002-08-29 | 2006-08-22 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for measuring temporal response characteristics of digital mirror devices |
| TW544787B (en) * | 2002-09-18 | 2003-08-01 | Promos Technologies Inc | Method of forming self-aligned contact structure with locally etched gate conductive layer |
| EP1573894B1 (en) * | 2002-12-10 | 2011-07-13 | Epcos Ag | Driving of an array of micro-electro-mechanical-system (mems) elements |
| GB0229692D0 (en) * | 2002-12-19 | 2003-01-29 | Koninkl Philips Electronics Nv | Active matrix display device |
| KR100750575B1 (ko) * | 2003-01-27 | 2007-08-21 | 캘리포니아 인스티튜트 오브 테크놀로지 | 계층 구조 설계 및 제조 방법, 응력 분석 시스템 및 국소 응력 계산 방법 |
| US6829132B2 (en) * | 2003-04-30 | 2004-12-07 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Charge control of micro-electromechanical device |
| US6865313B2 (en) * | 2003-05-09 | 2005-03-08 | Opticnet, Inc. | Bistable latching actuator for optical switching applications |
| US7190380B2 (en) * | 2003-09-26 | 2007-03-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Generating and displaying spatially offset sub-frames |
| US7173314B2 (en) * | 2003-08-13 | 2007-02-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Storage device having a probe and a storage cell with moveable parts |
| US20050042777A1 (en) * | 2003-08-20 | 2005-02-24 | The Boc Group Inc. | Control of etch and deposition processes |
| US20050057442A1 (en) * | 2003-08-28 | 2005-03-17 | Olan Way | Adjacent display of sequential sub-images |
| GB0320503D0 (en) * | 2003-09-02 | 2003-10-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Active maxtrix display devices |
| US20050068583A1 (en) * | 2003-09-30 | 2005-03-31 | Gutkowski Lawrence J. | Organizing a digital image |
| US6861277B1 (en) * | 2003-10-02 | 2005-03-01 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming MEMS device |
| US7161728B2 (en) * | 2003-12-09 | 2007-01-09 | Idc, Llc | Area array modulation and lead reduction in interferometric modulators |
| US7142346B2 (en) | 2003-12-09 | 2006-11-28 | Idc, Llc | System and method for addressing a MEMS display |
| US20060007248A1 (en) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Damoder Reddy | Feedback control system and method for operating a high-performance stabilized active-matrix emissive display |
| US7408531B2 (en) * | 2004-04-14 | 2008-08-05 | Pioneer Corporation | Plasma display device and method for driving the same |
| US7026821B2 (en) | 2004-04-17 | 2006-04-11 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Testing MEM device array |
| US7102467B2 (en) * | 2004-04-28 | 2006-09-05 | Robert Bosch Gmbh | Method for adjusting the frequency of a MEMS resonator |
| US7075700B2 (en) * | 2004-06-25 | 2006-07-11 | The Boeing Company | Mirror actuator position sensor systems and methods |
| US7126741B2 (en) * | 2004-08-12 | 2006-10-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Light modulator assembly |
| US7889163B2 (en) * | 2004-08-27 | 2011-02-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Drive method for MEMS devices |
| CN100458497C (zh) * | 2004-08-27 | 2009-02-04 | Idc公司 | 用于感测干涉式调制器的激励电压及释放电压的系统及方法 |
| US7551159B2 (en) * | 2004-08-27 | 2009-06-23 | Idc, Llc | System and method of sensing actuation and release voltages of an interferometric modulator |
| US7499208B2 (en) * | 2004-08-27 | 2009-03-03 | Udc, Llc | Current mode display driver circuit realization feature |
| CN1755476A (zh) * | 2004-09-27 | 2006-04-05 | Idc公司 | 干涉式调制的方法和支柱结构 |
| US7359066B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-04-15 | Idc, Llc | Electro-optical measurement of hysteresis in interferometric modulators |
| US7675669B2 (en) * | 2004-09-27 | 2010-03-09 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and system for driving interferometric modulators |
| US7136213B2 (en) * | 2004-09-27 | 2006-11-14 | Idc, Llc | Interferometric modulators having charge persistence |
| US7453579B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-11-18 | Idc, Llc | Measurement of the dynamic characteristics of interferometric modulators |
| US7545550B2 (en) * | 2004-09-27 | 2009-06-09 | Idc, Llc | Systems and methods of actuating MEMS display elements |
| US7525730B2 (en) * | 2004-09-27 | 2009-04-28 | Idc, Llc | Method and device for generating white in an interferometric modulator display |
| US20060103643A1 (en) | 2004-09-27 | 2006-05-18 | Mithran Mathew | Measuring and modeling power consumption in displays |
| US7327510B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-02-05 | Idc, Llc | Process for modifying offset voltage characteristics of an interferometric modulator |
| CN101006491A (zh) * | 2004-09-27 | 2007-07-25 | Idc公司 | 测量和建模显示器中的功率消耗 |
| US7289256B2 (en) * | 2004-09-27 | 2007-10-30 | Idc, Llc | Electrical characterization of interferometric modulators |
| US8310441B2 (en) * | 2004-09-27 | 2012-11-13 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and system for writing data to MEMS display elements |
| US20060066594A1 (en) * | 2004-09-27 | 2006-03-30 | Karen Tyger | Systems and methods for driving a bi-stable display element |
| JP2006153793A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Agilent Technol Inc | 半導体特性測定装置用スイッチングマトリックス |
| US7538474B2 (en) | 2005-03-30 | 2009-05-26 | National University Of Singapore | System and method for Micro Electro Mechanical System (MEMS) device characterization |
| US7339384B2 (en) * | 2005-06-02 | 2008-03-04 | Georgia Tech Research Corporation | System and method for sensing capacitance change of a capacitive sensor |
| US7355779B2 (en) * | 2005-09-02 | 2008-04-08 | Idc, Llc | Method and system for driving MEMS display elements |
| US7834829B2 (en) * | 2005-10-03 | 2010-11-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Control circuit for overcoming stiction |
| US20070080695A1 (en) * | 2005-10-11 | 2007-04-12 | Morrell Gary A | Testing system and method for a MEMS sensor |
| TW200717682A (en) * | 2005-10-11 | 2007-05-01 | Orbotech Ltd | Method for inspecting microelectronic components on a substrate and apparatus for testing same |
| US8079246B2 (en) | 2006-04-19 | 2011-12-20 | The Regents Of The University Of California | Integrated MEMS metrology device using complementary measuring combs |
| US20080119716A1 (en) * | 2006-05-17 | 2008-05-22 | Olga Boric-Lubecke | Determining presence and/or physiological motion of one or more subjects with quadrature doppler radar receiver systems |
| US7702192B2 (en) | 2006-06-21 | 2010-04-20 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Systems and methods for driving MEMS display |
| US7586602B2 (en) * | 2006-07-24 | 2009-09-08 | General Electric Company | Method and apparatus for improved signal to noise ratio in Raman signal detection for MEMS based spectrometers |
| US7423287B1 (en) * | 2007-03-23 | 2008-09-09 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for measuring residual stress |
| US7412775B1 (en) * | 2007-08-03 | 2008-08-19 | Honeywell International Inc. | Gyroscope north seeker system and method |
| US20090051369A1 (en) * | 2007-08-21 | 2009-02-26 | Qualcomm Incorporated | System and method for measuring adhesion forces in mems devices |
| JP5355594B2 (ja) * | 2008-02-11 | 2013-11-27 | クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド | 干渉変調器の測定及び特性評価のための方法 |
| US8274299B2 (en) * | 2008-02-11 | 2012-09-25 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Methods for measurement and characterization of interferometric modulators |
-
2009
- 2009-02-06 RU RU2010133663/08A patent/RU2526763C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2009-02-06 CA CA2715283A patent/CA2715283A1/en not_active Abandoned
- 2009-02-06 CN CN200980104790.5A patent/CN101946277B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-06 RU RU2010133953/08A patent/RU2010133953A/ru not_active Application Discontinuation
- 2009-02-06 CA CA2715274A patent/CA2715274A1/en not_active Abandoned
- 2009-02-06 WO PCT/US2009/033445 patent/WO2009102641A1/en active Application Filing
- 2009-02-06 CN CN2009801048503A patent/CN101946278A/zh active Pending
- 2009-02-06 BR BRPI0908803-2A patent/BRPI0908803A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2009-02-06 BR BRPI0908464A patent/BRPI0908464A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2009-02-06 CA CA2715280A patent/CA2715280A1/en not_active Abandoned
- 2009-02-06 JP JP2010546062A patent/JP2011516903A/ja active Pending
- 2009-02-06 EP EP09710982A patent/EP2252991A1/en not_active Withdrawn
- 2009-02-06 KR KR1020107019548A patent/KR20100118131A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-02-06 JP JP2010546058A patent/JP2011515704A/ja active Pending
- 2009-02-06 WO PCT/US2009/033435 patent/WO2009102639A1/en active Application Filing
- 2009-02-06 WO PCT/US2009/033419 patent/WO2009102637A1/en active Application Filing
- 2009-02-06 BR BRPI0907132-6A patent/BRPI0907132A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2009-02-06 RU RU2010133954/08A patent/RU2526708C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2009-02-06 KR KR1020107019547A patent/KR20100121498A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-02-06 CN CN200980104731.8A patent/CN101971239B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-06 EP EP09710820A patent/EP2255355A1/en not_active Withdrawn
- 2009-02-06 KR KR1020107019417A patent/KR20100124263A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-02-06 JP JP2010546065A patent/JP2011516904A/ja active Pending
- 2009-02-06 EP EP09709481A patent/EP2252990A1/en not_active Withdrawn
- 2009-02-11 TW TW098104366A patent/TW200949793A/zh unknown
- 2009-02-11 TW TW098104370A patent/TW200949795A/zh unknown
- 2009-02-11 TW TW098104369A patent/TW200949794A/zh unknown
- 2009-02-11 US US12/369,620 patent/US20090207159A1/en not_active Abandoned
- 2009-02-11 US US12/369,652 patent/US20090213107A1/en not_active Abandoned
- 2009-02-11 US US12/369,678 patent/US8169426B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-04-30 US US13/459,642 patent/US20120212468A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2010133954A (ru) | Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство | |
| US8534914B2 (en) | System and method for estimating the junction temperature of a light emitting diode | |
| TW200841294A (en) | Device and method for driving light-emitting diodes | |
| RU2419888C1 (ru) | Устройство задней подсветки, способ управления задней подсветкой и устройство жидкокристаллического дисплея | |
| TW200509020A (en) | An improved driving scheme for an electrophoretic display | |
| CN106611583B (zh) | 电致发光显示器件的伽马电压调试方法及装置 | |
| TW200623019A (en) | Gamma voltage generating apparatus and method of testing a gamma voltage | |
| US9082354B2 (en) | Display device and control method therefor | |
| US20120286674A1 (en) | Light amount control apparatus, control method therefor, and display apparatus | |
| RU2012103550A (ru) | Жидкокристаллическое устройство отображения и способ управления источником света | |
| JP2017003699A5 (ru) | ||
| CN100424733C (zh) | 控制图像显示设备亮度的方法和装置 | |
| RU2011101312A (ru) | Устройство для измерения давления, содержащее микроэлектромеханическую систему | |
| TW200632830A (en) | Liquid crystal display and driving method thereof | |
| TW200743075A (en) | Liquid crystal display, timing controller thereof and generating method of overdriving parameter therefor | |
| TW200515356A (en) | A method of driving data lines, apparatus for driving data lines and display device having the same | |
| TW200744041A (en) | System for displaying image and driving method for liquid crystal displaying device | |
| TW200606776A (en) | Display devicea | |
| CN109975821B (zh) | 控制方法及装置、飞行时间组件、存储介质和计算机设备 | |
| JP4762651B2 (ja) | 液晶バックライト用調光回路 | |
| CN101529979A (zh) | 用于测量多个光源中选定的单个光源的通量的方法和设备 | |
| KR102371979B1 (ko) | 표시 장치 및 이의 구동 방법 | |
| JP2017161754A (ja) | 表示装置の測定装置及びその制御方法 | |
| JP2006253591A (ja) | チャネルデータ設定回路及びそれを用いた発光素子駆動回路 | |
| KR101493083B1 (ko) | 액정표시장치의 구동 장치 및 그 구동 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160207 |