JP2889089B2 - 素子特性測定装置 - Google Patents

素子特性測定装置

Info

Publication number
JP2889089B2
JP2889089B2 JP20026993A JP20026993A JP2889089B2 JP 2889089 B2 JP2889089 B2 JP 2889089B2 JP 20026993 A JP20026993 A JP 20026993A JP 20026993 A JP20026993 A JP 20026993A JP 2889089 B2 JP2889089 B2 JP 2889089B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
maximum peak
voltage
under test
device under
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP20026993A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0735812A (ja
Inventor
保広 大日方
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Priority to JP20026993A priority Critical patent/JP2889089B2/ja
Publication of JPH0735812A publication Critical patent/JPH0735812A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2889089B2 publication Critical patent/JP2889089B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、素子特性測定装置に関
し、特に被測定デバイス(負荷)に供給している電力の
把握を容易にするものである。
【0002】
【従来の技術】カーブ・トレーサなどの素子特性測定装
置は、例えば、トランジスタのコレクタ・エミッタ間電
圧VCEとコレクタ電流Icの関係等、種々のデバイスの
特性を測定表示するために使用される。図5は、従来の
素子特性測定装置を用いてトランジスタ(被測定デバイ
ス)のコレクタ・エミッタ間電圧VCEに対するコレクタ
電流Icの特性を測定する場合の接続状態を示すブロッ
ク図である。ステップ・ジェネレータ12は、被測定デ
バイス(負荷)10のベースに階段状の電圧を供給す
る。なお、ステップ・ジェネレータ12がエミッタに接
続された場合には、階段状の電流を供給する。コレクタ
・サプライ14は、被測定デバイス10に動作電圧を供
給するもので、この場合には被測定デバイス10である
トランジスタのコレクタに電圧を供給している。コレク
タ・サプライ14は、定電圧源13及び内部直列抵抗1
5で構成される。この内部直列抵抗15は、被測定デバ
イス10に供給しようとする所望の最大ピーク電力に応
じてその抵抗値が切り換えられる。
【0003】この従来例では、素子特性測定装置の表示
器として陰極線管(CRT)を使用しており、電子ビー
ムはその垂直及び水平偏向板19及び21で偏向され、
VCEとIcの特性曲線が表示される。電流検出抵抗器2
0は、被測定デバイス10に流れる電流を検出するため
に設けられる。電流検出抵抗器20の両端間電圧は、垂
直軸増幅器18で増幅され垂直偏向板19に印加され
る。電流検出抵抗器20の両端間電圧は、この場合では
コレクタ電流Icに比例している。コレクタ・エミッタ
間電圧VCEは水平軸増幅器16で増幅され、水平偏向板
21に印加される。
【0004】図6は、従来の素子特性測定装置によりト
ランジスタのコレクタ・エミッタ間電圧VCEに対するコ
レクタ電流Icの特性を示す特性曲線を示している。コ
レクタ・サプライ14の電圧を上昇させると、一般に特
性曲線は最初急激に立ち上がった後、水平軸方向に略水
平に延びていく。しかし、コレクタ・サプライ10の電
圧を更に上昇させると降伏電圧に達して再び急激に立ち
上がろうとする。従来は、降伏電圧を越える電圧を被測
定デバイスに印加すると、被測定デバイスを破壊する恐
れがあるので、表示器の画面上の特性曲線を確認しなが
ら操作パネル(図示せず)により徐々にコレクタ・サプ
ライ14の電圧を上昇させていた。
【0005】ところで最大電力供給定理によれば、最大
ピーク電力時において内部直列抵抗の抵抗値と負荷のイ
ンピーダンスは等しくなり、また、両方に印加される電
圧も等しくなる。よってこのときの負荷にかかる電圧
は、コレクタ・サプライが供給する最大ピーク電圧の2
分の1となる。また、内部直列抵抗の抵抗値の選択によ
って、素子特性測定装置が被測定デバイスに供給できる
最大ピーク電力が定まることになる。つまり、内部直列
抵抗の抵抗値の選択によって、最大ピーク電力より大き
い電力を被測定デバイスに印加しないようにできる。従
来、この最大ピーク電力の設定は次の表1を参考にし
て、操作者が操作パネルを用いて行っていた。この設定
により、被測定デバイスに供給される電力は設定した最
大ピーク電力に制限される。
【0006】
【表1】
【0007】表1は、最大ピーク電力とコレクタ・サプ
ライ14の内部直列抵抗15との関係を示すもので、そ
の第1行はコレクタ・サプライ14が供給する電圧を示
し、第1列は負荷にかかる電力を示している。内部直列
抵抗15は、表1の如く予め算出されており、負荷に直
列に接続される。例えば、最大ピーク電力として250
Wを、最大ピーク電圧として16Vを選択した場合、最
大ピーク電力供給時の内部直列抵抗の抵抗値は0.26
Ωが選択される。従って、最大ピーク電力供給時の負荷
のインピーダンスも0.26Ωとわかるので、最大ピー
ク電力を供給したときに負荷に流れる電流がわかる。よ
って、最大ピーク電力を供給したときに負荷に印加され
る電圧及び電流の点がわかり、この点と最大ピーク電圧
で電流が零の点を結んだ線で被測定デバイスに供給され
る電力が制限される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、測定実施時に
おいて表1をその都度参考にして最大ピーク電力を設定
するのは煩雑である。また、例えば、250Wと50W
の中間に最大ピーク電力を設定したい場合などもある。
最大ピーク電圧についても同様である。そのため、最大
ピーク電力又は最大ピーク電圧は大ざっぱに設定し、特
性曲線の変化を観察して図6に示す降伏電圧の兆候が現
れたところでコレクタ・サプライで供給する電圧の上昇
を止めるのがより一般的な操作であった。ところが、被
測定デバイスに供給される電力に対して表示器の画面に
表示される特性曲線は時間的に遅れるので、結果的に被
測定デバイスに過剰な電力を供給し、破壊してまうこと
があった。また、最大ピーク電力に対して、現在、被測
定デバイスに供給されている電力がどの程度であるのか
把握するのが難しかった。
【0009】そこで本発明の目的は、被測定デバイスの
安全動作領域の確認が容易な素子特性測定装置を提供す
ることである。本発明の他の目的は、最大ピーク電力供
給時の負荷線を表示することにより被測定デバイス(負
荷)に供給している電力の把握が容易な素子特性測定装
置を提供することである。本発明の他の目的は、最大ピ
ーク電力供給時の負荷線を表示することにより、被測定
デバイスの破壊を防止できる素子特性測定装置を提供す
ることである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の素子特性測定装
置は、被測定デバイス10に電力を供給する電力供給手
段14と、被測定デバイス10に供給する最大ピーク電
力又は最大ピーク電圧を設定する設定手段36と、最大
ピーク電力、最大ピーク電圧及び電力供給手段14の内
部抵抗の値の関係を記憶する記憶手段30又は32と、
被測定デバイス10の電気特性を表示する表示手段34
と、演算制御手段28を具えている。演算手段28は、
設定手段36により大ピーク電力及び最大ピーク電圧を
設定すると記憶手段30又は32が記憶する最大ピーク
電力、最大ピーク電圧及び電力供給手段14の内部抵抗
15の値の関係から内部抵抗15の抵抗値を決定して、
被測定デバイス10に流れる電流を決定する。最大ピー
ク電力を供給したときの被測定デバイス10の電圧は最
大ピーク電圧の2分の1であるから、最大ピーク電力供
給時の電流及び電圧が定まる。これで定まった電流及び
電圧の点と、最大ピーク電圧で電流が零の点を通る負荷
線を引けば、被測定デバイス10に最大ピーク電力を供
給したときの負荷線を表示手段34に表示できる。
【0011】
【実施例】図1は、本発明の素子特性測定装置のブロッ
ク図である。図中、従来と対応するブロックには同じ符
号を付している。コレクタ・サプライ(電力供給手段)
14は、内部直列抵抗15と定電圧源13で構成されて
いる。内部直列抵抗15は、その抵抗値を被測定デバイ
ス10に供給する電力に応じて変更可能である。また、
定電圧源13のインピーダンスは、ほぼ零とみなすこと
ができる一定値である。コレクタ・サプライ14には、
デジタル・アナログ変換器を使用しても良く、バス26
に接続されて所望の電圧及び電力を負荷に供給する。本
発明の素子特性測定装置によれば、被測定デバイス(負
荷)10に印加される電圧は電圧検出器16で検出さ
れ、アナログ・デジタル変換器(ADC)22でデジタ
ル値に変換される。
【0012】図1の実施例では、被測定デバイス10と
してエミッタ接地のトランジスタが使用されており、ス
テップ・ジェネレータ12が階段状の電圧をベースに供
給している。なお、ステップ・ジェネレータ12は、図
示せずもバス26に接続されている。被測定デバイス1
0としてはダイオード等でも良く、この場合ステップ・
ジェネレータ12を使用する必要はない。電流検出抵抗
器20の両端間電圧は差動増幅器18で検出され、AD
C24でデジタル値に変換される。ADC22及び24
の出力デジタル値は、一旦RAMなどのメモリ30に記
憶された後、CPU28で必要に応じて処理される。そ
して、被測定デバイス10の電気特性が表示器(表示手
段)34に表示される。電流検出抵抗器20の抵抗値は
既知なので、被測定デバイス10を流れる電流はADC
24の出力デジタル値から算出することができる。な
お、電流検出抵抗器20の抵抗値は、RAMなどのメモ
リ30に記憶しておいても良いし、ROMなどのメモリ
32に記憶しておいても良い。
【0013】メモリ(記憶手段)30又は32には、表
1に示すようなコレクタ・サプライ14が供給する電圧
と、被測定デバイス10が消費する電力と、コレクタ・
サプライ14の内部直列抵抗15の抵抗値との関係が記
憶されている。バス26は、各ブロックを接続してい
る。操作パネル36は、バス26及びCPU28を介し
てコレクタ・サプライ14が出力する電圧及び電力を設
定することができる。操作パネル36により最大ピーク
電圧又は最大ピーク電力も設定可能で、好適には連続的
にその値を変更することができる。
【0014】本発明の素子特性測定装置は、図2に示す
ように表示器34の画面上で最大ピーク電力供給時の負
荷線を表示することができる。本発明の好適実施例によ
れば、まずコレクタ・サプライ14が被測定デバイス1
0に供給してもよい最大ピーク電圧Vpを操作パネル3
6により所望の値に設定する。次に、最大ピーク電力P
wを所望の値に設定する。最大ピーク電圧Vp及び最大
ピーク電力Pwは、負荷、即ち被測定デバイス10の最
大定格から定めれば良い。最大ピーク電圧Vp及び最大
ピーク電力Pwが定まると、CPU28がメモリ30又
は32の記憶内容を用いてコレクタ・サプライ14の内
部直列抵抗15の抵抗値Rpを決定する。さらに最大ピ
ーク電力Pw供給時の負荷の電圧VをV=Vp/2によ
って求める。同時にこのときの電流IをI=V/Rpに
よって求める。そしてこの電圧V及び電流Iの点と、最
大ピーク電圧Vpで電流が零の点とを通る負荷線を表示
器34の画面上に表示する。
【0015】これによって操作者は、最大ピーク電力P
w供給時の負荷線を事前に確認できる。この時点で必要
に応じて、さらに最大ピーク電力の設定を変更しても良
い。負荷線が表示されているので、当業者ならば設定変
更を感覚的に適切に行うことができる。これにより、操
作パネルでコレクタ・サプライ14の出力電圧を大ざっ
ぱに上げていっても、最大ピーク電力供給時に対して現
在どの程度の電力を被測定デバイスに供給しているのか
の把握が容易であり、被測定デバイス10に過剰な電力
を供給するのを防止できる。また、上述において最大ピ
ーク電力の設定を変更する代わりに内部抵抗15の抵抗
値を変更しても良い。
【0016】図3は本発明の他の好適実施例を示してい
る。まず最大ピーク電圧Vpを操作パネル36により所
望の値に設定する。これによって、最大ピーク電圧Vp
で電流が零の点が定まる。するとこの点を支点として負
荷線が電流軸の目盛りのスケールに応じて適切に表示さ
れる。次にこの負荷線を所望の傾斜にすべく表示器34
の画面を見ながら操作パネル36で最大ピーク電力Pw
を変更する。これによって、負荷線(の傾斜)を変更で
きる。
【0017】本発明のさらに他の実施例によれば図4に
示すように、最大ピーク電圧Vpを操作パネル36によ
り所望の値に設定した後、電圧が零のときに負荷に供給
する電流Ipを設定する。これによって、電圧が零のと
き電流の点Ipと最大ピーク電圧Vpで電流が零の点と
を結んで負荷線として表示しても良い。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば、素子特性測定装置にお
いて最大ピーク電力供給時の負荷線を表示するので、被
測定デバイス(負荷)に過剰に電力を供給するのを防止
できる。また、最大ピーク電力供給時の負荷線を画面上
に表示しながらその傾斜を変更することもでき、被測定
デバイスに供給している電力を容易に把握することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の素子特性測定装置のブロック図であ
る。
【図2】本発明の一実施例による最大ピーク電力供給時
の負荷線の表示を示した図である。
【図3】本発明の他の実施例による最大ピーク電力供給
時の負荷線の表示を示した図である。
【図4】本発明の他の実施例による最大ピーク電力供給
時の負荷線の表示を示した図である。
【図5】従来の素子特性測定装置のブロック図である。
【図6】従来の素子特性測定装置によりトランジスタの
エミッタ・コレクタ電圧に対するコレクタ電流の特性曲
線を表示した例である。
【符号の説明】
10 被測定デバイス 12 ステップ・ジェネレータ 13 定電圧源 14 電力供給手段 15 内部抵抗 16 電圧検出器 18 差動増幅器 20 電流検出抵抗器 22 アナログ・デジタル変換器 24 アナログ・デジタル変換器 26 バス 28 制御手段 30、32 記憶手段 34 表示手段 36 設定手段

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定デバイスに電力を供給する電力供
    給手段と、 上記被測定デバイスに供給する最大ピーク電圧又は最大
    ピーク電力を設定する設定手段と、 上記最大ピーク電力、上記最大ピーク電圧及び上記電力
    供給手段の内部抵抗の値の関係を記憶する記憶手段と、 上記被測定デバイスの電気特性を表示する表示手段と、 上記最大ピーク電力を上記被測定デバイスに供給したと
    きの負荷線を演算して上記表示手段に表示させる演算制
    御手段とを具えることを特徴とする素子特性測定装置。
JP20026993A 1993-07-20 1993-07-20 素子特性測定装置 Expired - Lifetime JP2889089B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20026993A JP2889089B2 (ja) 1993-07-20 1993-07-20 素子特性測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20026993A JP2889089B2 (ja) 1993-07-20 1993-07-20 素子特性測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0735812A JPH0735812A (ja) 1995-02-07
JP2889089B2 true JP2889089B2 (ja) 1999-05-10

Family

ID=16421524

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20026993A Expired - Lifetime JP2889089B2 (ja) 1993-07-20 1993-07-20 素子特性測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2889089B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2526763C2 (ru) * 2008-02-11 2014-08-27 Квалкомм Мемс Текнолоджис, Инк. Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0735812A (ja) 1995-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1584923A (en) Electrosurgical unit
CA2072711A1 (en) Electronic welding current generator for impulse arc welding
JPH0148982B2 (ja)
JP2889089B2 (ja) 素子特性測定装置
US4476432A (en) Waveform measurement system
JPH102921A (ja) 保護継電器の試験装置
US5869952A (en) Battery charge indicator having improved resolution
US4074195A (en) Semiconductor tester
JPS6390775A (ja) オシロスコープ
JP2001015060A (ja) 四極子質量分析計または熱陰極電離真空計の測定子用熱電子放出電流制御回路
JPH0623981Y2 (ja) 電気計測装置の自己診断装置
JP3418941B2 (ja) 電子線発生装置
KR920007426B1 (ko) Ccd 카메라에 채용된 브라운관의 수직면 검출수단
JPH07107508A (ja) モニター装置
JP2638502B2 (ja) アナログ集積回路の故障診断装置
JP3556796B2 (ja) 漏れ電流計
JPH0712852A (ja) 波形生成機能付き波形測定装置
JP2866655B2 (ja) カソード電流安定化回路
JPH05227800A (ja) 自動電圧調整装置
JPH06300813A (ja) 素子特性測定装置
KR100192210B1 (ko) 전자총 제1제어전극의 단선 검출장치
JPH0634700A (ja) 素子特性測定装置の試験信号制御方法
JPH0585859B2 (ja)
JP2992845B2 (ja) 測定電圧補正装置
JPH01221899A (ja) X線管電流調整装置